GB/T39343—2020 中华人民共和国国家标准 宇航用处理器器件单粒子试验设计与程序 Processor device single event effects experiment design and procedure for aerospace 2020-11-19发布 国家市场监督管理总局发布 国家标准化管理委员会发布 2021-06-01实施 前言 本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利，本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。 本标准由全国宇航技术及其应用标准化技术委员会（SAC/TC425）提出并归口。 本标准起草单位：中国航天科技集团有限公司第九研究院第十十一研究所。 本标准主要起草人：张群、刘洪卫、马振华、李春。 1 范围 本标准规定了宇航用处理器器件单粒子试验的设计与程序。 本标准适用于宇航用处理器器件的单粒子试验设计和过程控制，其他领域可参照执行。 2 规范性引用文件 GB18871—2002 电离辐射防护与辐射源安全基本标准。 3 术语和定义、缩略语 3.1 术语和定义 处理器器件：内部含有处理器，在正常使用中可取指并执行指令的器件。 单粒子效应（SEE）：描述单粒子事件中多种效应的统称。 单粒子事件（SEP）：由单个高能粒子撞击引发的半导体器件响应，包括中子、质子等引起的效应。 单粒子翻转（SEU）：单个高能粒子引发器件逻辑状态改变的辐射效应。 单粒子锁定（SEL）：单粒子触发器件内部可控硅导通，形成低阻大电流状态。 单粒子功能中断（SEFI）：单粒子导致器件功能丧失或紊乱，需复位或重新配置恢复功能。 线性能量传输（LET）：粒子沿入射方向在材料中单位长度沉积的能量。 LET阈值：一定比例饱和截面对应的LET值。 有效LET：离子倾角入射时等效于法线方向单位长度能量沉积。 注量（fluence）：单位面积粒子总数，单位为粒子数每平方厘米（n/cm²）。 注量率（flux）：单位时间单位面积垂直入射粒子数。 单粒子事件截面（SEP section）：单位注量下的单粒子事件数。 饱和截面：随着LET增加事件数不再增加时的截面。 单粒子事件率（SEPrate）：根据空间环境粒子分布及截面计算得到的事件发生概率。 缩略语：本标准对SEE、SEU、SEL、SEFI、LET等进行了定义与说明。 4 一般要求 4.1 试验环境 4.2 试验样品 4.3 基本原则 4.4 需求分析 4.5 试验准备 5 试验设计 5.1 硬件设计 5.1.1 概述 5.2 软件架构 5.3 软件设计 6 试验过程 6.1 试验流程 6.2 注意事项 6.3 试验判定 6.4 试验中断 6.5 试验故障判据 6.6 故障处理 6.7 试验安全 6.8 试验结果处理 7 试验数据与报告 7.1 试验数据记录 7.2 试验数据分析 7.3 试验报告 附录A（资料性附录）试验场所 附录B（资料性附录）宇航用处理器器件单粒子试验报告格式