HG/T 4357-2012
基本信息
标准号： HG/T 4357-2012
中文名称：薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)用偏光片
标准类别：化工行业标准(HG)
标准状态：现行
出版语种：简体中文
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下载大小：3536829
标准分类号
关联标准
出版信息
相关单位信息
标准简介
HG/T 4357-2012.Polarizer for the thin film transistor-Liquid crystal display (TFT-LCD).
1范围
HG/T 4357规定了薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display, 简称TFT-LCD)用偏光片的术语和定义,产品分类,要求,试验方法,检验规则,标签、标识、包装,运输和贮存以及其他注意事项。
HG/T 4357适用于薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)用偏光片。
2规范性引用文件 .
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅所注8期的版本适用于本文件。凡是不注8期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 191包装 储运图示标志
GB/T 2410透明塑料透光率和雾度的测定
GB/T 2423.1电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验 A:低温
GB/T 2423.2电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验 B:高温
GB/T 2423.3电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验 Cab:恒定湿热试验
GB/T 2423. 34电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验Z/AD:温度/湿度组合循环试验
GB/T 6739-2006色漆和清漆铅笔法测定漆膜硬度(idt ISO 15184 : 1998)
GB/T 16422.3塑料实验室光源暴露试验方法第3部分:荧光紫外灯
GB/T 20631.2电气用压敏胶粘带 第2部分:试验方法
GB/T 25257光学功能薄膜翘曲度测定方法
3术语和定义
下列术语和定义适用于本标准。
3.1
显示不均 aniso display
在暗态画面(黑画面),即所有色阶调为零的状态下,出现的亮度显示不均匀现象。
注:也叫姆拉(Mura)现象,起源于日本。
3.2
平面扭转 In-Plane Switching; IPS
利用横向电场驱动,使液晶分子在平面内扭转，
1范围
HG/T 4357规定了薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display, 简称TFT-LCD)用偏光片的术语和定义,产品分类,要求,试验方法,检验规则,标签、标识、包装,运输和贮存以及其他注意事项。
HG/T 4357适用于薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)用偏光片。
2规范性引用文件 .
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅所注8期的版本适用于本文件。凡是不注8期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 191包装 储运图示标志
GB/T 2410透明塑料透光率和雾度的测定
GB/T 2423.1电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验 A:低温
GB/T 2423.2电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验 B:高温
GB/T 2423.3电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验 Cab:恒定湿热试验
GB/T 2423. 34电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验Z/AD:温度/湿度组合循环试验
GB/T 6739-2006色漆和清漆铅笔法测定漆膜硬度(idt ISO 15184 : 1998)
GB/T 16422.3塑料实验室光源暴露试验方法第3部分:荧光紫外灯
GB/T 20631.2电气用压敏胶粘带 第2部分:试验方法
GB/T 25257光学功能薄膜翘曲度测定方法
3术语和定义
下列术语和定义适用于本标准。
3.1
显示不均 aniso display
在暗态画面(黑画面),即所有色阶调为零的状态下,出现的亮度显示不均匀现象。
注:也叫姆拉(Mura)现象,起源于日本。
3.2
平面扭转 In-Plane Switching; IPS
利用横向电场驱动,使液晶分子在平面内扭转，
标准图片预览
标准内容
ICS71.080.99
备案号：37882—2013
中华人民共和国化工行业标准
HG/T4357—2012
薄膜晶体管液晶显示器（TFT-LCD）用偏光片
Polarizer for the thin film transistor-Liguid crystal display (TFT-LCD)2012-11-07发布
2013-03-01实施
中华人民共和国工业和信息化部发布前言
规范性引用文件
术语和定义
产品分类
粘着性能
光学性能
耐久性
试验方法
表观试验
尺寸测定
厚度测定
粘着性能测定
光学性能的测定
耐久性的测定
7检验规则
7.1出厂检验
7.2型式检验
7.3抽样方法与判定规则-
8标签、标识、包装
9运输和贮存·
10其他注意事项
参考文献
建筑321-
标准查询下载网
jz321.net
HG/T4357—2012
本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。本标准由中国石油和化学工业联合会提出。本标准由全国光学功能薄膜材料标准化技术委员会（SAC/TC431)归口。本标准起草单位：深圳市盛波光电科技有限公司、中国乐凯胶片集团公司。HG/T4357—2012
本标准主要起草人：邱韶华、钟伟宏、陈敏、钱琨、林汉唐、黄绍停、刘洪雷、陈骏献。1范围
薄膜晶体管液晶显示器（TFT-LCD）用偏光片HG/T4357—2012
本标准规定了薄膜晶体管液晶显示器（ThinFilmTransistor-LiquidCrystalDisplay，简称TFT-LCD）用偏光片的术语和定义，产品分类，要求，试验方法，检验规则，标签、标识、包装，运输和贮存以及其他注意事项。
本标准适用于薄膜晶体管液晶显示器（TFT-LCD)用偏光片。2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅所注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T191包装储运图示标志
GB/T2410透明塑料透光率和雾度的测定GB/T2423.1电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温GB/T2423.2电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验B：高温GB/T2423.3电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Cab：恒定湿热试验GB/T2423.34电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Z/AD：温度/湿度组合循环试验
GB/T6739—2006色漆和清漆铅笔法测定漆膜硬度（idtISO15184：1998）GB/T16422.3塑料实验室光源暴露试验方法第3部分：荧光紫外灯GB/T20631.2电气用压敏胶粘带第2部分：试验方法GB/T25257光学功能薄膜翘曲度测定方法3术语和定义
下列术语和定义适用于本标准。3.1
显示不均aniso-display
在暗态画面（黑画面），即所有色阶调为零的状态下，出现的亮度显示不均匀现象。注：也叫姆拉（Mura）现象，起源于日本。3.2
平面扭转In-PlaneSwitching；IPS利用横向电场驱动，使液晶分子在平面内扭转。3.3
垂直列阵VerticalAlignment；VA利用垂直方向的纵向电场，来驱动垂直配置于玻璃基板上的液晶分子。不施加电压时为黑色显示状态。施加电压时，使液晶分子倒向水平方向，成为白色显示状态。3.4
扭曲向列TwistedNematic;TN
利用液晶分子扭曲不同角度。
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HG/T4357—2012
4产品分类
TFT-LCD用偏光片按液晶显示模式可以分为平面扭转IPS型面板用偏光片、垂直列阵VA型面板用偏光片与扭曲向列TN型面板用偏光片。5要求
5.1表观
偏光片的表观应符合表1的规定。表1
偏光片规格
检查位置
偏光片
离型膜面
偏光片
裁切面
偏光片保
护膜面
偏光片
保护膜内
直角度
裁切精度
翘曲度
吸收轴
偏光片
缺陷项目
点状异物
线状异物
表面凹痕
胶剥离
点状缺陷
线状缺陷
表面凹痕
点状缺陷
线状缺陷
长方向
宽方向
保护膜面
离型膜面
显示不均
(Mura)
注：$
尺寸一
大尺寸TFT
(>25.65cm)
缺陷规格
≤0.15mm
L≤1.5mm
W≤0.03mm
TFT用偏光片表观要求
中尺寸TFT
(≥12.70cm≤25.65cm）
缺陷容
许个数n
不计数
不应有
不应有
缺陷规格
L≤1.5mm
缺陷容
许个数n
不计数
不应有
不应有
小尺寸TFT
(>2.54cm.<12.70cm)
缺陷规格
≤0.15mm
L≤1.5mm
W≤0.03mm
加温加压（温度为50℃，压力为0.49MPa，时间至少为15min）后应消失不应伤及偏光片中三醋酸纤维素酯（TAC)层由边缘起算不应超过0.5mm
90°±0.2°
缺陷的直径，（L+W）/2；
缺陷的长；
缺陷的宽：
不应有
不应有
不应有
不应有
不应伤及偏光片中三醋酸纤维素酯（TAC)层不应伤及偏光片中三醋酸纤维素酯(TAC)层不应有
不应有
液晶显示器面板的对角线长度。>0.2mm
<\+\7%
<“—”3%
不应有
不应有
不应有
90°±0.3°
缺陷容
许个数n
不计数
不应有
不应有
不应有
不应有
5.2尺寸
按客户的要求进行裁切。
5.3厚度
偏光片的厚度应符合表2的规定。项目
整片厚度偏差/μm
有效厚度：偏差/μm
胶黏剂厚度偏差/μm
IPS用偏光片
有效厚度指除去离型膜和外保护膜后的厚度。5.4
粘着性能
偏光片的粘着性能应符合表3的规定VA用偏光片
表3粘着性能
离型膜剥离力/（gf/25mm）
保护膜剥离力/（gf/25mm）
与ITO玻璃的粘接力/（gf/25mm）aITO玻璃指LCD用导电玻璃。
5.5光学性能
偏光片的光学性能应符合表4的规定。项目
单体透过率/%
直交透过率\/%
紫外吸收率（380nm）/%
偏振度/%
色相a/NBS
色相b/NBS
色相L/NBS
雾度/%
透过率波长扫描范围为380nm~780nm。5.6硬度
IPS用偏光片
表4光学性能
IPS用偏光片
VA用偏光片
VA用偏光片
(41.0~43.0)±1.5
HG/T4357—2012
TN用偏光片
TN用偏光片
TN用偏光片
(41.5~43.0)±1.5
(1.2~—1.5)±1.5
(3.0~4.0)±1.5
TFT-LCD用偏光片硬度应满足≥2H。5.7耐久性
偏光片的耐久性应符合表5的规定。建筑321---标准查询下载网
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(3.5~4.0)±1.5
HG/T4357-2012
高温耐久性（80℃×500h）
低温耐久性（-40℃×500h）
湿热耐久性
(60℃X90%RHX500h)
高低温循环耐久性
(-30℃~+80℃,0.5h，
100次循环或视需要而改变）
紫外环境耐久性
(25℃.500W50h)
气泡与加湿剥离试验
表5耐久性
IPS用偏光片
VA用偏光片
TN用偏光片
单体透过率（T），偏振度（P)<3%，无发泡、分层、剥离、缩边等外观变化尺寸变化率≤1.0%
注：车载用偏光片高温耐久性试验条件推荐90℃×500h，湿热耐久性试验条件推荐75℃×90%RH×500h。
6试验方法
6.1表观试验
6.1.1试验环境
温度：（23±2）℃。
相对湿度：65%±15%。
样品测试之前，需在此环境条件下平衡放置≥2h。6.1.2检验方法
用三种检验方法：反射式检查法、透射式检查法与直交检查法。a）反射式检查法：在荧光灯正反射的角度中缓慢移动被检查样品，利用反射光检查样品有无缺陷；
缺陷：
透射式检查法：将样品放置在背光源上侧，缓慢移动被检查样品，利用透射光检查样品有无直交检查法：在背光源上侧贴一吸收轴与样品吸收轴直交的偏光片，然后将被检查样品在背光源上侧缓慢移动，利用直交透过检查样品有无异常。不同的尺寸，缺陷检查的区域不一样，尺寸小于17.78cm的样品整面均为有效检查区域，尺寸大于等于17.78cm的样品距边缘0.5mm距离的缺陷可以忽略不计。6.1.3直角度偏差的测定
直角度偏差6用光学影像测量仪或二/三轴显微镜测量，其精度要求0.01mm，具体的计算方法见式（1)及图1所示，单位以度表示。o=Arctan
式中：
L--样品两边之间的垂直距离，单位为毫米（mm）：D
测量边与标准边的偏差，单位为毫米（mm）。(1)
6.1.4翘曲度的测定
图1直角度测试示意图
HG/T4357—2012
翘曲度的测定应符合GB/T25257的规定，其中保护膜朝上时，结果以“+”表示，离型膜朝上时，结果以“一”表示。计算方法见式（2)：翘曲度一
式中：
h一弯曲度最高部分，单位为毫米（mm）；L-偏光片长边的长度，单位为毫米（mm）。6.1.5显示不均(Mura)测定
将样品贴合在TFT型液晶盒上，经过耐久性试验后，放置在零色阶画面前，从不同角度仔细观察其是否存在条纹、斑点等亮度显示不均匀现象，6.2尺寸测定
离型膜朝上，用精度为0.01mm的测量工具量测样品的长度与宽度，每个样品平行测3次，取三次的算术平均值作为最后的测量结果，以mm为单位。6.3厚度测定
先用精度为0.001mm千分尺测出宽方向样品的厚度d1，然后撕去离型膜与保护膜，分别测量出离型膜d2、保护膜d3与偏光片余下部分d4的厚度，再用无水乙醇或其他能溶解压敏胶而又不会破坏样品结构的溶剂将压敏胶层清除干净，测出除去压敏胶部分后的厚度ds。每个样品测试三个不同的点，取三次的算术平均值作为最后的测量结果，以mm为单位。整片厚度=di；
有效厚度=d1—d2—d3
胶黏剂厚度=d4一ds。
6.4粘着性能测定
粘着性能的测定应符合GB/T20631.2的11的规定。6.5光学性能的测定
6.5.1透过率、偏振度与色相的测定6.5.1.1要求
6.5.1.1.1环境要求
除非另有规定，试验室温度为（23士2）℃，相对湿度为65%士15%。6.5.1.1.2试样要求此内容来自标准下载网
将样品放置在规定的环境要求下，2h后再进行测试操作。5
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HG/T4357—2012
以PVA膜拉伸方向（也即光学轴）为基准边，沿45°或0方向将样品裁切成40mm×30mm大小原光片两片，膜应平整且平行，无灰尘、气泡、顶伤、划痕、条纹等肉眼可见的缺陷，同时需撕去保护膜与离型膜。
6.5.1.1.3材料
切纸刀、无尘纸
6.5.1.1.4仪器与设备
-般采用分光光度计（2°视野XYZ系统），其检测装置如图2所示。1光源；
棱镜；
样品，
检出器。
图2光学性能检测装置示意图
6.5.1.1.5测试步骤
6.5.1.1.5.1打开已经预热好的分光光度计样品室盖子，将单片样品放人样品测试架上，盖好样品室盖子，以空气为参比，扫描间隔为1nm，进行光波长为380nm～780nm的光谱扫描，得到此范围内各波长下的相应单体透过率。
6.5.1.1.5.2将两片样品的光学轴平行后再放人样品测试架上，重复6.5.1.1.5.1的操作，得到光波长为380nm～780nm范围内各波长下的相应平行透过率。6.5.1.1.5.3将两片样品的光学轴垂直后再放入样品测试架上，重复6.5.1.1.5.1的操作，得到光波长为380nm～780nm范围内各波长下的相应直交透过率。注：对于带有偏光棱镜的分光光度计，在测试的时候，只需单片样品就可得到所需的测试结果。6.5.1.1.6结果的计算与表述
6.5.1.1.6.1透过率
对每个试样的单体透过率、平行透过率、直交透过率按式（3)计算：T
式中：
P(a)yca)da
标准光源光谱能量分布值：
P()y()T(A)dA
以2度视野XYZ系为基准的等色系数；透过率分布值。
6.5.1.1.6.2偏振度
对于每个试样，以%表示的偏振度按式(4)计算：D
式中：
偏振度，以%表示；
平行透过率，以%表示；
（3）
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中华人民共和国化工行业标准
HG/T4357—2012
薄膜晶体管液晶显示器（TFT-LCD）用偏光片
Polarizer for the thin film transistor-Liguid crystal display (TFT-LCD)2012-11-07发布
2013-03-01实施
中华人民共和国工业和信息化部发布前言
规范性引用文件
术语和定义
产品分类
粘着性能
光学性能
耐久性
试验方法
表观试验
尺寸测定
厚度测定
粘着性能测定
光学性能的测定
耐久性的测定
7检验规则
7.1出厂检验
7.2型式检验
7.3抽样方法与判定规则-
8标签、标识、包装
9运输和贮存·
10其他注意事项
参考文献
建筑321-
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HG/T4357—2012
本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。本标准由中国石油和化学工业联合会提出。本标准由全国光学功能薄膜材料标准化技术委员会（SAC/TC431)归口。本标准起草单位：深圳市盛波光电科技有限公司、中国乐凯胶片集团公司。HG/T4357—2012
本标准主要起草人：邱韶华、钟伟宏、陈敏、钱琨、林汉唐、黄绍停、刘洪雷、陈骏献。1范围
薄膜晶体管液晶显示器（TFT-LCD）用偏光片HG/T4357—2012
本标准规定了薄膜晶体管液晶显示器（ThinFilmTransistor-LiquidCrystalDisplay，简称TFT-LCD）用偏光片的术语和定义，产品分类，要求，试验方法，检验规则，标签、标识、包装，运输和贮存以及其他注意事项。
本标准适用于薄膜晶体管液晶显示器（TFT-LCD)用偏光片。2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅所注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T191包装储运图示标志
GB/T2410透明塑料透光率和雾度的测定GB/T2423.1电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温GB/T2423.2电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验B：高温GB/T2423.3电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Cab：恒定湿热试验GB/T2423.34电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Z/AD：温度/湿度组合循环试验
GB/T6739—2006色漆和清漆铅笔法测定漆膜硬度（idtISO15184：1998）GB/T16422.3塑料实验室光源暴露试验方法第3部分：荧光紫外灯GB/T20631.2电气用压敏胶粘带第2部分：试验方法GB/T25257光学功能薄膜翘曲度测定方法3术语和定义
下列术语和定义适用于本标准。3.1
显示不均aniso-display
在暗态画面（黑画面），即所有色阶调为零的状态下，出现的亮度显示不均匀现象。注：也叫姆拉（Mura）现象，起源于日本。3.2
平面扭转In-PlaneSwitching；IPS利用横向电场驱动，使液晶分子在平面内扭转。3.3
垂直列阵VerticalAlignment；VA利用垂直方向的纵向电场，来驱动垂直配置于玻璃基板上的液晶分子。不施加电压时为黑色显示状态。施加电压时，使液晶分子倒向水平方向，成为白色显示状态。3.4
扭曲向列TwistedNematic;TN
利用液晶分子扭曲不同角度。
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4产品分类
TFT-LCD用偏光片按液晶显示模式可以分为平面扭转IPS型面板用偏光片、垂直列阵VA型面板用偏光片与扭曲向列TN型面板用偏光片。5要求
5.1表观
偏光片的表观应符合表1的规定。表1
偏光片规格
检查位置
偏光片
离型膜面
偏光片
裁切面
偏光片保
护膜面
偏光片
保护膜内
直角度
裁切精度
翘曲度
吸收轴
偏光片
缺陷项目
点状异物
线状异物
表面凹痕
胶剥离
点状缺陷
线状缺陷
表面凹痕
点状缺陷
线状缺陷
长方向
宽方向
保护膜面
离型膜面
显示不均
(Mura)
注：$
尺寸一
大尺寸TFT
(>25.65cm)
缺陷规格
≤0.15mm
L≤1.5mm
W≤0.03mm
TFT用偏光片表观要求
中尺寸TFT
(≥12.70cm≤25.65cm）
缺陷容
许个数n
不计数
不应有
不应有
缺陷规格
L≤1.5mm
缺陷容
许个数n
不计数
不应有
不应有
小尺寸TFT
(>2.54cm.<12.70cm)
缺陷规格
≤0.15mm
L≤1.5mm
W≤0.03mm
加温加压（温度为50℃，压力为0.49MPa，时间至少为15min）后应消失不应伤及偏光片中三醋酸纤维素酯（TAC)层由边缘起算不应超过0.5mm
90°±0.2°
缺陷的直径，（L+W）/2；
缺陷的长；
缺陷的宽：
不应有
不应有
不应有
不应有
不应伤及偏光片中三醋酸纤维素酯（TAC)层不应伤及偏光片中三醋酸纤维素酯(TAC)层不应有
不应有
液晶显示器面板的对角线长度。>0.2mm
<\+\7%
<“—”3%
不应有
不应有
不应有
90°±0.3°
缺陷容
许个数n
不计数
不应有
不应有
不应有
不应有
5.2尺寸
按客户的要求进行裁切。
5.3厚度
偏光片的厚度应符合表2的规定。项目
整片厚度偏差/μm
有效厚度：偏差/μm
胶黏剂厚度偏差/μm
IPS用偏光片
有效厚度指除去离型膜和外保护膜后的厚度。5.4
粘着性能
偏光片的粘着性能应符合表3的规定VA用偏光片
表3粘着性能
离型膜剥离力/（gf/25mm）
保护膜剥离力/（gf/25mm）
与ITO玻璃的粘接力/（gf/25mm）aITO玻璃指LCD用导电玻璃。
5.5光学性能
偏光片的光学性能应符合表4的规定。项目
单体透过率/%
直交透过率\/%
紫外吸收率（380nm）/%
偏振度/%
色相a/NBS
色相b/NBS
色相L/NBS
雾度/%
透过率波长扫描范围为380nm~780nm。5.6硬度
IPS用偏光片
表4光学性能
IPS用偏光片
VA用偏光片
VA用偏光片
(41.0~43.0)±1.5
HG/T4357—2012
TN用偏光片
TN用偏光片
TN用偏光片
(41.5~43.0)±1.5
(1.2~—1.5)±1.5
(3.0~4.0)±1.5
TFT-LCD用偏光片硬度应满足≥2H。5.7耐久性
偏光片的耐久性应符合表5的规定。建筑321---标准查询下载网
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(3.5~4.0)±1.5
HG/T4357-2012
高温耐久性（80℃×500h）
低温耐久性（-40℃×500h）
湿热耐久性
(60℃X90%RHX500h)
高低温循环耐久性
(-30℃~+80℃,0.5h，
100次循环或视需要而改变）
紫外环境耐久性
(25℃.500W50h)
气泡与加湿剥离试验
表5耐久性
IPS用偏光片
VA用偏光片
TN用偏光片
单体透过率（T），偏振度（P)<3%，无发泡、分层、剥离、缩边等外观变化尺寸变化率≤1.0%
注：车载用偏光片高温耐久性试验条件推荐90℃×500h，湿热耐久性试验条件推荐75℃×90%RH×500h。
6试验方法
6.1表观试验
6.1.1试验环境
温度：（23±2）℃。
相对湿度：65%±15%。
样品测试之前，需在此环境条件下平衡放置≥2h。6.1.2检验方法
用三种检验方法：反射式检查法、透射式检查法与直交检查法。a）反射式检查法：在荧光灯正反射的角度中缓慢移动被检查样品，利用反射光检查样品有无缺陷；
缺陷：
透射式检查法：将样品放置在背光源上侧，缓慢移动被检查样品，利用透射光检查样品有无直交检查法：在背光源上侧贴一吸收轴与样品吸收轴直交的偏光片，然后将被检查样品在背光源上侧缓慢移动，利用直交透过检查样品有无异常。不同的尺寸，缺陷检查的区域不一样，尺寸小于17.78cm的样品整面均为有效检查区域，尺寸大于等于17.78cm的样品距边缘0.5mm距离的缺陷可以忽略不计。6.1.3直角度偏差的测定
直角度偏差6用光学影像测量仪或二/三轴显微镜测量，其精度要求0.01mm，具体的计算方法见式（1)及图1所示，单位以度表示。o=Arctan
式中：
L--样品两边之间的垂直距离，单位为毫米（mm）：D
测量边与标准边的偏差，单位为毫米（mm）。(1)
6.1.4翘曲度的测定
图1直角度测试示意图
HG/T4357—2012
翘曲度的测定应符合GB/T25257的规定，其中保护膜朝上时，结果以“+”表示，离型膜朝上时，结果以“一”表示。计算方法见式（2)：翘曲度一
式中：
h一弯曲度最高部分，单位为毫米（mm）；L-偏光片长边的长度，单位为毫米（mm）。6.1.5显示不均(Mura)测定
将样品贴合在TFT型液晶盒上，经过耐久性试验后，放置在零色阶画面前，从不同角度仔细观察其是否存在条纹、斑点等亮度显示不均匀现象，6.2尺寸测定
离型膜朝上，用精度为0.01mm的测量工具量测样品的长度与宽度，每个样品平行测3次，取三次的算术平均值作为最后的测量结果，以mm为单位。6.3厚度测定
先用精度为0.001mm千分尺测出宽方向样品的厚度d1，然后撕去离型膜与保护膜，分别测量出离型膜d2、保护膜d3与偏光片余下部分d4的厚度，再用无水乙醇或其他能溶解压敏胶而又不会破坏样品结构的溶剂将压敏胶层清除干净，测出除去压敏胶部分后的厚度ds。每个样品测试三个不同的点，取三次的算术平均值作为最后的测量结果，以mm为单位。整片厚度=di；
有效厚度=d1—d2—d3
胶黏剂厚度=d4一ds。
6.4粘着性能测定
粘着性能的测定应符合GB/T20631.2的11的规定。6.5光学性能的测定
6.5.1透过率、偏振度与色相的测定6.5.1.1要求
6.5.1.1.1环境要求
除非另有规定，试验室温度为（23士2）℃，相对湿度为65%士15%。6.5.1.1.2试样要求此内容来自标准下载网
将样品放置在规定的环境要求下，2h后再进行测试操作。5
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HG/T4357—2012
以PVA膜拉伸方向（也即光学轴）为基准边，沿45°或0方向将样品裁切成40mm×30mm大小原光片两片，膜应平整且平行，无灰尘、气泡、顶伤、划痕、条纹等肉眼可见的缺陷，同时需撕去保护膜与离型膜。
6.5.1.1.3材料
切纸刀、无尘纸
6.5.1.1.4仪器与设备
-般采用分光光度计（2°视野XYZ系统），其检测装置如图2所示。1光源；
棱镜；
样品，
检出器。
图2光学性能检测装置示意图
6.5.1.1.5测试步骤
6.5.1.1.5.1打开已经预热好的分光光度计样品室盖子，将单片样品放人样品测试架上，盖好样品室盖子，以空气为参比，扫描间隔为1nm，进行光波长为380nm～780nm的光谱扫描，得到此范围内各波长下的相应单体透过率。
6.5.1.1.5.2将两片样品的光学轴平行后再放人样品测试架上，重复6.5.1.1.5.1的操作，得到光波长为380nm～780nm范围内各波长下的相应平行透过率。6.5.1.1.5.3将两片样品的光学轴垂直后再放入样品测试架上，重复6.5.1.1.5.1的操作，得到光波长为380nm～780nm范围内各波长下的相应直交透过率。注：对于带有偏光棱镜的分光光度计，在测试的时候，只需单片样品就可得到所需的测试结果。6.5.1.1.6结果的计算与表述
6.5.1.1.6.1透过率
对每个试样的单体透过率、平行透过率、直交透过率按式（3)计算：T
式中：
P(a)yca)da
标准光源光谱能量分布值：
P()y()T(A)dA
以2度视野XYZ系为基准的等色系数；透过率分布值。
6.5.1.1.6.2偏振度
对于每个试样，以%表示的偏振度按式(4)计算：D
式中：
偏振度，以%表示；
平行透过率，以%表示；
（3）
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