本规范规定了半导体集成电路Jμ8259A型可编程中断控制器(以下简称器件)的详细要求。本规范适用于器件的研制、生产和采购。 SJ 20075-1992 半导体集成电路Jμ8259A型可编程中断控制器详细规范 SJ20075-1992 标准下载解压密码：www.bzxz.net

中华人民共和国电子行业军用标准SJ 20075—-92
半导体集成电路
Ju8259A型可编程中断控制器
详细规范
1992-11-19 发布
1992-05-01实施
中华人民共和国机械电子工业部发布1范用
1.1上题内容·
1.2用范闹
1.3分类…．
2引文件
3要求
3.1详细要求
3.2设计。结构和外形尺寸
3.3引线材料利涂覆.
3.4电特性
3.5电试验要求
3.7徽电路组的划分
4质单保证规定
批样和检验
4.3鉴定检验·
4.4质量一致性检验
4.5检验方法·
5交货准备
5.1包装要求
6说明事须
6.1关丁测试矢量的一般规定
6.2订货资料
6.3功能说明、符号和定义
6.4替代性
TYKAONKACa-
中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路
Ju8259A型可编程中断控制器详细规范1范围
1.1主题内容
SJ 20075--92
本规范规定了半导体集成电路Ju8259A型可编程中断控谢器（以下简称器件）的详细要求。
1.2适用范
本规范适用于器件的研制、生产和采购。1.3分类
本规范对微电路按器件型号、器件等级、封装形式、额定值利推荐工作条件米分类1.3.1器件编号
器件编号应按GJB597《微电路总规范》第3.6.2条的规定。1.3.1.1器件型号
器件型号如下：
器件型号
Jμ8259A
1.3.1.2器件等级
器件名称
可编程中断控制器
器件等级应为GJB597第3.4条规定的B级和本规范规定的B1级。本规范中未对B1级另加说明的条款应理解为与B级相同。1.3.1.3封装形式
封装形式如下：
封装形式1
D28L3（28死线陶瓷直插封装）
C28P3（陶瓷无引线片式载体封装）注：1）按GB7092《半导体集成电路外形尺寸》。1.3.2绝对最人额定值
绝对最人额定值如下：
中华人民共和国机械电子工业部1992-11-19批准1993-05-01实施
财存温度范围
在·i端相对于yss端电压
非绒耐接温度（5s）
结（7,=125\C)
1.3.3推荐7作条件
推荐1作条件如下：
山源电
轻入站电平电
输入低出单电压
外充工作温度范制
引用文件
SJ29075—92
中参数文字符号
GB3431.1—82半导体集成电路文字符号GB3431.2—86半导体集成电路文学符号引山端功能符号GB4590—84半导体集成电路机械和气候试验方法3平导体集成电路外形大寸
GB7092—93
微电子器件试验方法利程序bzxz.net
GJB 548--88
GJB597—88
微电路总规范
GJB105电子产品防静电放电控制手3要求
3.1详细要求
各项婴求应按GJB597和1本规范的规定。3.2设计、结构和外形尺寸
设计、构和外形尺寸应符合GJB597和本规范为规定、3.2.1端排列
引山端排列应符合图1的规定。引端持列为俯视图，2-
TTKAONKAa-
5##3如的#
SJ 20075-—92
国IR4
国IRI
中AR风风
片式载体封装引出端排列
图「引出端排列
3.2.2功能柜图
功能框图应符合图2的规定。
DO-~D7
数据总线
缓冲器
级联缓
冲器/比
中医服务
寄存器
CASO12
CASI13
V'ss14
16SP/EN
双列封装引出端排列
优先权
分解器
中断所蔽寄存器
(IMR）
图2功能框图
中商诗求
寄行器
3.2.3功能说明、符号和定义
SJ 20075—92
功能说明、符号和定义，应符合本规范6.3条的规定。3.2.4封装形式
封装形式应符合本规范1.3.1.3条的规定3.3引线材料和涂覆
引线材料和涂覆，应按GJB597第3.5.6条的规定。3.4电特性
心特性应符合表1的规定：若光其它规定，适合于全工作温度范司3.5也试验要求
各级器件的电试验婴求，应为表2所规定的有关分组，各分组的也测试按表3的规定。
3.6标悲
标志应按GJB597第3.6条的规定。3.7微电路组的划分
本规范所涉及的器栏为第I07微山路组（见GJBS97附录E）。表1电特性
输入低电平电压
输入高虐非电压
输出低电平电压
输出高电平电压
中断输出高电平
入负载电流
给出阻态时商
电子电流
翰出高阻态时低
电平电缆
电源电流
输入电容
输入/瀚出电容
AU/CS建立时间
到RD/INTA+)
RD.INTAT后 A0
CS保持时间
RD脉究
YoHOINT)
fsu AN-RJ)
Th(RIE-AX)
TwiRLI
条价2
IoL-2.2mA
ToH — -400 μA
TOH--100μA
LOH=-400 μA
,=0 V~ VDD
Vo=0.45 V~VDD
Vo-VpD
Tc=25 °C, VT, =0 V,
F-I MH/
Tc=25 °C, VDD =0 V,
非测试端接Yss
规范值
TTKAONKAa-
A0.CS建立时间
(到WRJ)
WRT活 AO/CS
保持时间
WR脉宽
数斑建时写
（到WRt）
WR个后数据保
持时闻
中断谱求脉宽
(低电华）
第二次或第兰次
INTAI 尚 CAS
建之附间（汉从
RD结束到下一
个命令并始的持
续时间
WR 结束到下
个命令开始持续
数据有效间
( RDI INTAY
并始）
RD/ INTA个后数
指慰牢时间
suAH-W)
thWH-AX
fauTVWHy
fh(W-Dx)
SJ 20075—92
续表1
条件3）
tqu(CASV-INTAL)
TarRI-DVy
Ti(RH-DZ)
，山渐输出延迟时：
IArERH-[NTH)
CAS有效时间
(从第-次INTA)
开始）
充许有效时间
(从RD个或
INTA\\开始）
I(INTAL-CASV)
ta(RI-ENL)
数据总线电容C为：
最大测试电容100 pF
最小测试电容 15pF
序号1）
允许无效时间
（从RDt或
INFA+开始）
数据有效时间
（从有效地址开
CAS 有效到数
据总线有效时间
(RH-ENH
TnAHE-DV
th (CASV-DV)
SJ 20075—92
续表1
条件2）
数据总线电容为：
段人测试电容100 pF
最小测试电容 15pF
注：1）本表中参数的序导与时序图中参数的编号是一致的。2）若无其它规定，Ts=-55~125°C，Vpp=5±0.5V，Vss-0 V表 2 电试验要求
试验要求
中司（老化前）电测试
（方法5004）
最终电测试\
（方法5004）
A试验要求2)
（方法5005）
B组YZAP试验
C组终点电测试
（法5005）
C 组检验增加的分组]
D组终点电测试
（方法5005）
A1, A?
B级器件
规范值
分组（见表3）
AI. A2, A3, A7+ A8, A9, A10.An
A1, A2, A3, A4, A7, A8, A9,
Aln,A11
见本规范4.5.3条
A2, A3, A8
不要求
A2，A8（仅125°C）
注：1）AI，A7分组要求 PDA计算（见本规范4.2 条）2）A4分组（C、G:g）仅用于鉴定（见本观范4.4.1条）。6
BI级器件
A1t A2, A3, A7, A9
A1. A2, A3, A4, A7. A9
见本规范4.5.3条
A2,A8 (仅125 °C)
A2，A8（仪125°℃)
TTKAONKAa-
YOHINT
SJ 20075—92
表3A组电测试
foL -2.2 mA
IoH =-400 μA
foH--100 μA
foH =-400 μA
Vi-0 V~Vpp
Vo =0.45 V~Vpp
Vo-Vep
1除T-125℃C外，参数、条件、规范值均同A1分组，除Tc--55C外，参数、条件、规范值均同A1分组G
Yop=0 V, F-I MHz
Yun=0 V.未测试端接 Vss
规范值
按6.2条的规定，Te-25°C，在Ypp=4.5V和Vpp=5.5V下分别进行功能测试除Tc55°℃和125℃C外，均同A7分组，FUAH-RLY
th (RH-AX)
Lsu(AH-WLI
hWH-AXI
s(DY-WHI
ThrWH-DX
Fu(CASV-INTAE)
drRL-DV
thrRH-DZ)
dIRH-INTHE
FaINTAL-CASV
Ld(RL-ENL).
LarRH-ENH
thrCASV-DV
数据总线电容C为：
最大测试电容100 pF
最小测试电容 15 pF
SJ 26075—92
表 3 A组电测试
除T-125°℃C外，参数、条牛、规范值均同A9分组。A11除Tc--55\C外，参数、条件、规范值均间A9分组。源
注：（i）RI取合适的限流电阻：② C1-100 pF+20%:
③VzAP=400V，在器件入端上溉得；淘脉冲转换时间（tTLH）≤5Uns（10%~90%）。o
图3高电压（Vap）试验电路
规范值
接被测器件
TYKAOIKAca-
SJ 20075—92
500 ns -
500 ns
老化前必须进行下列预置：
、17端的输出信号，
注：老化过程中观察12、13、15、D7
图4老化和寿命试验线路图
斌址总晚
数摄总线
RBINTA
堆琳想嫂
素猫总赖
SJ20075—92
测试点
图5交流测试输入/输出波形图
Ci-100 pFt)
注：1）C 包括夹具电容。
图6交流測试负载电路
图7写周期波形图
图8读/INTA时序图
TYKAOIKAca-
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