本标准适用于器件的研制、生产和采购。 SJ 20157-1992 半导体集成电路JT54LS32和JT54LS86型LS—TTL或门详细规范 SJ20157-1992 标准下载解压密码：www.bzxz.net

中华人民共和国电子行业军用标准SJ20157---92
半导体集成电路
JT54LS32和JT54LS86型
LS一TTL或门详细规范
Detail specification for types JT54LS32 and JT54LS86 OR GATESof LS-TTL semiconductor integrated circuits1992-11-19发布
1993-05-01实施
中华人民共和国机械电子工业部发布1范洲
主题内容
1.2适川范用，
1.3分类
2引用文件
3婴求
3.1详细要求，
3.2设计、结构和外形尺寸
引线材料和涂覆
电特性
电试验要求
微电路组的划分
质量保证规定
抽样利检验
鉴定检验
4.4质量--致性检验
检验方法
5交货准备
5.1包装要求
6说明事项
6.1预定用途·
6.2订货资料
6.3缩写、符号和定义
6.4替代性
TYKAONKACa-
中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路
5SJ20157-92
JT54LS32和JT54LS86型LS一TTL或门详细规范Detail specification for types JT54LS32 and JT54LS86 OR GATESof LS-TL semiconductor integrated circuits1范围
1.1主题内容
本规范舰定了半导体集成电路JT54LS32和JT54LS86型LS---TTL或门）（以卜简称器作）的详细要求。
1.2适川范围
本规范适用丁器件的研制、生产租采购。1.3分类
本规范给出的件按器件型号、器件等级、封装形式、额定值和推荐工作条件来分类。
1.3.1器件编号
器件编号应按GJB597微电路总规范》第3.6.2条的规定。1.3.1.1器件型号
器件型号如下：
JT54LS32
JT54LS86
1.3.1.2器件等级
器件名称
四2输入门
四2输入异或门
器件等级为GJIB597第3.4条规定的B级和本规范规定的BI级。1. 3. 1. 3封装形式
封装形武如下：
中华人民共和国机械电子工业部1992-11-19批准1993-05-01实施
绝对最人额定值
绝对最人额定值如下
电源电压
输入压
胺存温度
功1）
引线碱焊接热（10s）
SJ 20157—92
封装形式（按GB7092“半导体集成电路外形尺寸”）C20P3（陶瓷无引线片式载休封装）D14S3（陶瓷双列封装）
F14X2（陶瓷扇平封装）
H14X2（陶瓷烯封扁平封装）
J14S3（陶瓷熔封双列封装）
注：1）器件应能经受测试输出短路电流（or）时所增加的功耗。1.3.3排.1作条件
推荐「作条件如下：
出源电压
输入高电电用
输入低电平电压
输入高电平电流
输入低电平电流
T作环境遍度
引用文件
GB3431.1—82半导体集成电路文学符号电参数文字符号半导体集成电路文字符号引山端功能符号GB 3431.2—86
GB3439-82半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理GB4590·84半导体集成电路机械和气候试验方法GB4728.12—83电气图用图形符号二进制逻辑单元GB 709293
GJB 548--88
GIB 597—88
半导体集成电路外形尺寸
微电了器件试验方法和程序
微电路总规范
HTTKAONKAca-
SJ20157—92
GJBZ105出子产品防静电放出控御手册3要求
3.1滋继婴求
各须要求应按GIB597和本规范的规定。3.2设计、结构和外形尺寸
设计、结构和外彦尺寸应符合GJB597和本规范的规定。3.2.1逻辑符号、逻懿图和引出端排列逻辑符子、逻辑图租引出端排列应符合图1的姚定。引出端排列为俯视图。狱符号
邀辩图
JT54LS32
JT54LS86
引出端排列
D、F、H、J型
3.2.2功能表
功能表如下：
SJ20157—92
#1n111213
图1逻辑符号、逻辑图利弘山端排列输出
JT54LS32
3.2.3电源理图
JT54LS86
制造厂在鉴定之前应将电原理图提交给鉴定机构。电原理图应中鉴定机构存档备查。3.2.4封装形式
封形式应按本规范1.3.1.3条的规定。3.3引线材料和涂覆
引线材料和涂覆应按GJB597第3.5.6条的规定。3.4电特性
啦特性应符合表1的规定。
TTKAONKAa-
筑心候中中中！
输入钳笠也川
最人输入也左时输入也流
输入高比电流
绞入低电平电流
输出路电路23
高电平电源电流
低电平电源电流
传输延送付间
SJ 26157—92
表 1—1JT54LS32 的电特性
条件）
注：1）完整的测试条件列于表 3。2）每次只能矩路个轭山端
旁无其他是
-55 °C≤T≤125 °C
Ycc=4.5 V, ViH-2.0 V
Io--400μA
Vcc=4.5 V, Vrh-2.0 V
ViL=0.7 V, foL=4 mA
Vec=4.5 V, Inx--18 mA
T-25 °℃
Vece-5.5 V. Vi-7.0 V
Vec=5.5 V, V,-2.7 V
Yer=5.5 V, V-0.4 V
Vcc=5.5 V
Ycc=5.5 V, V=4.5 V
Vcc=5.5 V. V=0 V
Vec=5.0 V, Rt-2 ks2.
CL=15 pF
表1—2JT54LS86的电特性
条价1
输山高电平电示
输出诞电心压
输入能位心压
较大输入心压时输入也流
输入癌心“电流
输入低电电流
怖出知短路电路
电源电流
若无其他规定
-55 °C≤T≤125 °C
Vcc=4.5 V, Vif-2.0 Vwww.bzxz.net
LO-400μA
Vcc=4.5 V, Vih-2.0 V
VIL-0.7 V, for=4 mA
Vcc-4.5 V, lk--18 mA
TA=25PC
Vcr=5.5 V, V-7.0 V
Vec5.5 V, V-2.7 V
Vor-5.5 V, Pj-0.4 V
Vox=5.5 V
Vec=5.s V
规范殖
规范值
传输延退时间
注：1）完整的测试条件列于表32）每次只能短路一个輪出端：
3.5电试验要求
SJ 20t57---.92
续表1—2
条件1
若无其他规定
55 °C≤T ≤125 °℃
Vcc=5.0V,
Rr=2 ko2,
Gt=15 pF
A、B→Y
（非被测输入
为低也平）
A、BY
（非被源输入
为高电平)
规范置
齐级器件的电试验要求应为表2所规定的有关分红，各分组的电测试按表3的既定，表2电试验要求
中间（老化前）电测试
中间（老化后）电测试
最终电测试
A继试验要求
C组终点心测试
C组检验增加的分组
D组终点电测试（方法5005）
B级器件
A2，A3，A9
分纸（见表3）
B1级器件
A2. A3,A9
Al,A2，A3,A9,A10,A11
At. A2, A3
不要求
Al,A2,A3
注：1）该分纽要求PDA汁算（双4.2条》。6
AI,A2,A3, A9
A1. A2、 A3
A10,A1l
Al,A2、A3
TTKAONKAa-
引用标准
GB 3439
SJ 20157—92
表3—1JI54LS32的A组电测试
Yce=4.5V，被测门一端输入V-2.0 V，另输入任意，其余所有输入以-4.5V，被测输出Jo--400μA
Vcc=4.5V，被测门所有输入VIL=0.7V，其余所有输入 V-4.5 V，被测输出 loL =4 mAVcc=4.5 V，被测门端输入 Iik=-18 mAVcc:=5.5 V，被测}一端输入 V=7.U V.H余所有输入Y=0 V
Vcc=5.5 V，被浏门一端输入V2.7 V，其余所有输入 V=0 V
Vec =5.5 V，被测门-端输入 Yi=0.4 V，其余所有输入V=4.5V
Vec-5.5V，被测门所有输入V,=4.5V，其余所有输入开路
Vcc=5.5V，被测门所有输入Y-4.5 VVcc-5.5V，被测门所有输入V=0V规范值
TA=125°C外，除Vik不测试外，参数、条件、规范值要求同AI分组。除IA--55°C外，除 Yk不测试外，参数、条件、规范值要求间 A1分组。tpHI.
Vcc=5.0V，本规范图2
TA-125 °C. Vcc-5.0 V,见
本观范图2
A、B-→Y
除 T--55 °C 外，参数、条件、规范值均同A10 分组、最人
引用标准
GB3439
SJ 20157--92
表 3~2JT54LSB6的 A组电测试
Vcc=4.5 V，被测门分别翰入ViL=0.7V和Vm=2.0 V，其余所有输入Vt=4.5 V，被游输出 IoH =-400 μA
Vcc:=4.5V，被测门分别输入Vm-2.0V（或Vn=0.7V)，其余所有轮入H=4.5V，被测输出 JoL=4 mA
Ycc+4.5 V，被测门一端输入/k*-1B mAVcc-5.5V，被测门--端输入V=7.0V，其余所有输入 ;= V
Vce=5.5V被测门-端输入V=2.7V，其余所有输入 Y-0 V
Vcc=5.5V，被测门一端输入V=0.4 V，H余所有输入Y=4.5V
Vcc=5.5V，被测门所有输入V=0V，其余所有输入开路
Yc=5.5V，所有输入V,=0V
T=125℃外，除V不测试外，参数、条件、规范值要求同A1分组。规范值
除TA=-55℃外，除VIx不测试外，参数、条件、规范值要求同A1分组。fpir
Vec=5.0V，本规范图
TA-125°℃,
见本规范图2
A,B-→Y
（非被测输入为低
电率）
A,B-→Y
（非被测翰入为高
心平)
A、B-→Y
（非被测输入为低
（非被测输入为高
A11除TA=-55°C外，参数、条件、规范值均同A10分组。-8
TKAONKAa-
负载线路
测试点Yce
SJ 20157—92
实平位
+-telt
JT54LS32
JT54LS86
注：(输入波形：f-1MHz，t≤15ns，t6 ns，ts0.5μus。②R,=2k±5%，CL=15pF±10%（包括头和夹具电容），二极管为2CK76或其等效型号。图2负载线路和1波形
3.6标志
标志应按GJB597第3.6条的规定
微电路组的划分
本规范所涉及的器件为第8微电路组（见GJB597附录F)。4质量保证规定
4.1批样利检验
除本规范另有规定外，抽样和检验程序应按GJBS97和GJB548方法5005的规定。4.2筛选
在鉴定和质量致性检验之前，全部器件应按GJB548方法5004和本规范表4的规定进行筛选。
SJ 20157—92
表4筛选程序
若无其它规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法。方法和条栏
内部H稳
(封帽前;
稳定隆烘焙（茶
要求终点测试）
溢度循环
恒定加速度
南间（聚化前）
电测试
中间（老化据）
B级器件
2010|试验条仆B
试验条件C（150
试验条C
试验条件 L，YI
方向。
本规范A1分组
试验条件:D(125
oC,1G0h)
本规范 A1分红
充许的不合格品5%，本规A1分组，牵（PDA）计算
展终心测试
细检漏
翊检漏
外部日检
益不合格品率不超过
10%时可重新提交老化，
但只允许一次。
本规范 A2、A3、
A9分维
鉴定或质量一致‘5005
性检验的试验样
4.3鉴定检验
第3.5条
R1级器
！试验条件B
试验条作C（150
c℃,24h)
试验条件C
试验条仆D，YI
方间，
本规范 A1分组
1015 ！试验条伴 [（125
aC,160h)
本规范A1分组
10%，本规范AI分组，当
不合格品率不超过20%时
以壶新提交老化，任只充
许一·次。
本规范 A2、A3、
A9分组
第3.5条
可用方法 1011 试验条件
A替代。
叫在“豁封”筛选后逃
行。引线断蒋，外壳破
裂、封盖脱落为失效。
由制造！决定足否进行
本筛选。
采用本规范图3线路。
所有批。若老化前未进
行中间电测试，则中间
（老化后）电汉试A1分
纠的尖效也应计入
本筛选后，若引线涂度
改变或返工，则应再
行 A1分组测试。
鉴定检验应按GJB597的规定，所进行物捡验应符合GJB548方法5005和本规范A，- 10
TTKAONKAa-
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