SJ 20158-1992
基本信息
标准号： SJ 20158-1992
中文名称：半导体集成电路JT54S151、JT54S153和JT54S157型S—TTL 数据选择器详细规范
标准类别：电子行业标准(SJ)
标准状态：现行
发布日期：1992-11-19
实施日期：1993-05-01
出版语种：简体中文
下载格式：.rar.pdf
下载大小：760002
标准分类号
中标分类号：电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路
关联标准
出版信息
出版社：中国电子工业出版社
页数：26页
标准价格：15.0 元
出版日期：1993-05-01
相关单位信息
起草人：胡燕、童本敏、孙杰
起草单位：机械电子工业部电子第四研究所
提出单位：中国电子工业部总公司
发布部门：中华人民共和国机械电子工业部
标准简介
本标准适用适用于器件的研制、生产和采购。 SJ 20158-1992 半导体集成电路JT54S151、JT54S153和JT54S157型S—TTL 数据选择器详细规范 SJ20158-1992 标准下载解压密码：www.bzxz.net
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标准内容
中华人民共和国电子行业军用标准SJ20158—-92
半导体集成电路
JT54S151、JT54S153和JT54S157型S-TTL数据选择器详细规范
Detail specification for types JIT54S151.JT54S153 and JT54S157DATASELECTORS/MULTIOLEXERSwwW.bzxz.Net
of S-TrL semiconductor intcgrated circuits1992-11-19发布
1993-05-01实施
中华人民共和国机械电子工业部发布1范困
1.1主题内容．
1.2适用范围
1.3分类
2引用文件
3要求
3.1详细要求·
3.2设计、结构和外形尺寸
3.3引线材料和涂覆
3.4电特性
电试验要求
3.6标惠
3.7微电路组的划分
4质敏保证规定
抛样和检验
鉴定检验：
质量一致性检验
检验方法
5交货准备
5.1包装要求…
6说明项
6.1预定用途·
6.2订货资料
6.3缩写、符号和定义
6.4替代性
TIKAONKAa-
中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路
JT54S151、JT54S153和JT54S157型S-TTL数据选择器详细规范
Detail specification for types JT54S151, JT54S153 and JT54S157DATA SELECTORS/MULTIOLEXERS ofS-TTL semiconductor integrated circuits1范围
1.1主题内容
SJ20158—92
本规范规定了导体集成电路JT54S151、JT54S153和JT54S157型S-TTL数据选择器（以下简称器件）的详细要求。1.2适用范围
本规范适用于器件的研制、生产和采购。1.3分类
本规范给出的器件按器件型号、器件等级、封装形式、额定值和推荐工作条件来分类。
1.3.1器件编号
器件编号应按GJB597《微电路总规范》第3.6.2条的规定。1.3.1.1器件型号
器件型号如下：
器件型
Jr54S151
JT54S153
JT54S157
1.3.1.2器件等级
器件名称
8选1数据选择器（有选通输入端，互补输出）双4选1数据选择器【有选通输入端）四2选！数据选择器（有公共选通输入端）器件等级为GJB597第3.4条规定的B级和本规范规定的B1级，1.3.1.3封装形式
封装形式如下：
中华人民共和国机械电子工业部1992-11-19批准1993-05-01实施
1.3.2绝对最人额定值
绝对最大额定值如下：
电源电压
输入压
财存温度
JT54S151
JT54S153
JT54S157
引线耐焊接温度（10 s）
绍温2)
5J2013892
封装形式（按GB7092《半导伴使成心路外形尺寸》）C20P3（瓷无引线武载体封装）
D16S3（陶瓷双列封装）
F16X2（陶瓷扁平封装）
H16X2（陶瓷熔封瘤平封装）
J16S3（陶瓷熔封双列封装）
注：1）器件应能经受测试输出短路电流（oE）时所增加的功耗：2）除本规范4.3条老化试验外，结温不应超过175°C1.3.3推荐T作条件
推荐工作条件如下：
电源电压
输入高电平电压
输入低电平电
输入高电平心流
输入低电平流
工作环境温度
2引用文件
GB3431.1—82半导体集成电路文字符号电参数文字符号GB3431.2一86半导体集成电路文字筹号引出端功能符号殿大
GB3439—82平导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理GB4590—84学导体集成电路机械和气候试验方法GB4728.12—83电气图用图形筹号二进制逻锌单元2
HTTKAONKAca-
$20158—92
GB7092—93半导体集成电路外形尺寸GJB548-88微电子器伴试验方法和程序GJB597—88微电路总规范
GJB/Z105电子产品防静电放电控制手册3要求
3.1详细要求
务项要求应接GJB597利本规范的规定。3.2、设计、结构和外形尺寸
设计、结构和外形尺寸应符合GJB597和本规范的规定：3.2.1逻辑符号、逻辑图和引山端排列逻辑符号、逻辑图利引出端排列应符合图1的规定。引出端排列为俯视图。a：JT54S151
逻辑符号
、F、H、J型
引拍端排列
1 择
逻辑图
h.JT54S153
逻辑符号
SJ20158—92
(14)(15)(1)(2)(3)(A)
(11)(12) (13)
D、F、H、J型
引出端洋列
1ehYec
15h23T
1 20 19
TKAONKAa-
遥骅图
SJ20158—92
2ST2D2D22P12DoAp
c.JT54S157
逻符号
AIDID2IDIIDa1ST
引山端排列
E)、F、H、J型
逻辑阁
16 Yec
130：
212019
174401
14g300
910111213.
4D14Do3D13Do 2D12De 1D11Dr
图1逻辑符号、逻辑图和小端排列5
TKAONKAa-
3J 20158—92
3.2.2功能表
功能衣如下：
a.JTS4S151
JT54S153
JT54S157
注：为高电：I.为低电：×为任意态。D～D,为相应D~D的补码。3.2.3电源理图
制造厂在鉴定之前应将电原理图提交给鉴定机构。电原理图应出鉴定机构存档备查3.2.4封装形式
sJ 20158—92
封装形式应按本规范1.3.1.3条的见定,3.3引线材料和涂覆
引线材料和涂覆应按GJB597第3.5.6的规定。3.4电特性
电特性应符合本规范表1的规定。表1-1JT54S151的电特性
条件1)
输出高也电压
输山低平电压
输入登电压
最大输入电压时输入电流
输入商电平流
输入低电半电流
输山知路屯流2）
电源电流
传输延避时间
注：1）完整的测试条件刻于表3。2）每次只能短路一个输出。
（若无其他规定
-55\C≤T≤125°C)
Vre=4.5 V, Vr-2.0 V
on-1mA
Pcc=4.5 V, VIH-2.0 V
Vn=0.7 V, fot=20 mA
Vcc-4.5 V, Iik--18 mA
Vec=5.5 V, V=5.5 V
Vcc=5.5 V, Vi-2.7 V
Vcc-5.5 V, Vf-0.5 V
R,=2802
Ci-15 pF
任～A→Y
任—A→W
任—D→Y
任—D→W
ST-→Y
ST-→W
规范值
输：高电平电压
轮低示
输入针位电
最人输入电东时输入电流
输入电平电流
输入低平流
输山短路电流2）
电源电流
传输延迟时间
SJ20158—92
表1—2JT54S153 的电性
条件1
法：1）完整的测试条件列于表3。2）每次只能知路一个输出端。
（茗无H他就定
55°C≤T≤125 \C
Vc-4.5 V, Vmr=2.0 V
or=-I mA
Vcc=4.5 V. ViH-2.0 V
Vr-0.7 V, lot-20 mA
Ycc-4.5 V, Jk--18 mA
Yce-5.5 V, Vr-5.5 V
Vcc=5.5 V, Vi-2.7 V
Vcc=5.5 V, V-0.5 V
Yco-S.5 v
RL=280
Cr=15 pF
任A→Y
任·D→Y
规范個
TTKAONKAa-
输出高电平电压
输出低电平电压
输入钳位电压
最大输入电压时输入电流
输入高电平电流
输入低电平电流
输出短路电流2）
电源电流
传输延迟时间
sJ 20158—92
表1-3 JT54S157的电特性
注：1）完整的测试条件列于表3。2）每次只能短路个输山蹦。
电试验要求
（无其他规定
55 °C≤T≤125 °℃)
Ycc=4.5 V, Vu-2.0 V
Ton--1 mA
Vcc=4.5 V. VtH-2.0 V
Vr=0.7V, lor=20 mA
Vcc=4.5V, IIk=-18mA
Vec=5.5 V, Vr-5.5 V
Vox-5.5 V. V,-2.7 V
Voc=5.5 V, V-0.5 v
Vox=5.5 V,A、ST输入端
Rt=2800
CL=15 pF
—A→1
任D→Y
ST→+Y
规范值
各级器件的电试验要求应为本规范表2所规定的有关分组，各分组的电测试按表3的规定。
表 2电试验要求
中间（老化前）电测试
中间（老化后）出测试
最终电测试
A组试验要求
C组懿点电测试（方法5005）
C组检验增加的分组
B级器件
A2.A3,A7、A9
分组（见表3）
BI级器件
A2, A3. A7、A9
A1, A2, A3 A7、A9, A10, At1
A1,A2,A3
不要求
D组终点电测试（方法5005）
A1,A2,A3
注：1）该分组要求PDA计算（见4.2条）。AI. A2, A3, A7、A9
A1, A2, A3
AlU，All
Al. A2, A3
引用标雅
GB3439
SJ 20158—92
表3—1 JT54S151电测试
（若无其他规定，T=25°C）
Vcc-4.5 V,A输入端 Vlr=0.8 V,测Y(被测输山端 IoH=-1 mA）A 输入端接 Vm=2.0V，测W（被测输出端In=-1mA）
Vcc=4.5V，A输入端Fi=0.8V.测W（被测输出端Fal =20 mA）A输入端 Vu-2.0 V,测 Y(被测输出 IoL=20 mA)
Vcc=4.5 V,被测输入依次 Ik=18 mAVcc=5.5V，ST和A按功能表顶置，被测输入V-5.5 V
Ycc=5.5V,ST和A端按功能表预置，被测输入V-2.7 V
Vcc=5.5V，ST和A端按功能表预置，被测输入V-0.5 V
Vcc=5.5 V,测W输出时，A端V-5.5 V,ST，D7接地
测Y输出时，DO0接V,=5.5V、ST，A端接地
Vcc=5.5V，所有输入接地，输出端开路规范值
最小最人
T,-125\C外，除 VIk不测试外，参数、条件、规范值婴求同 A1 分组TA=-55℃C外，除 Vik不测试外，参数、条件、规范值要求同 AI分组。功能
Vcc=5.0V，按功能表测试
Vcc5.0V，见本规范图2
任— A→Y
任—A→W
在 D-→Y
任— D→W
ST→Y
ST-→W
KAONKAca-
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半导体集成电路
JT54S151、JT54S153和JT54S157型S-TTL数据选择器详细规范
Detail specification for types JIT54S151.JT54S153 and JT54S157DATASELECTORS/MULTIOLEXERSwwW.bzxz.Net
of S-TrL semiconductor intcgrated circuits1992-11-19发布
1993-05-01实施
中华人民共和国机械电子工业部发布1范困
1.1主题内容．
1.2适用范围
1.3分类
2引用文件
3要求
3.1详细要求·
3.2设计、结构和外形尺寸
3.3引线材料和涂覆
3.4电特性
电试验要求
3.6标惠
3.7微电路组的划分
4质敏保证规定
抛样和检验
鉴定检验：
质量一致性检验
检验方法
5交货准备
5.1包装要求…
6说明项
6.1预定用途·
6.2订货资料
6.3缩写、符号和定义
6.4替代性
TIKAONKAa-
中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路
JT54S151、JT54S153和JT54S157型S-TTL数据选择器详细规范
Detail specification for types JT54S151, JT54S153 and JT54S157DATA SELECTORS/MULTIOLEXERS ofS-TTL semiconductor integrated circuits1范围
1.1主题内容
SJ20158—92
本规范规定了导体集成电路JT54S151、JT54S153和JT54S157型S-TTL数据选择器（以下简称器件）的详细要求。1.2适用范围
本规范适用于器件的研制、生产和采购。1.3分类
本规范给出的器件按器件型号、器件等级、封装形式、额定值和推荐工作条件来分类。
1.3.1器件编号
器件编号应按GJB597《微电路总规范》第3.6.2条的规定。1.3.1.1器件型号
器件型号如下：
器件型
Jr54S151
JT54S153
JT54S157
1.3.1.2器件等级
器件名称
8选1数据选择器（有选通输入端，互补输出）双4选1数据选择器【有选通输入端）四2选！数据选择器（有公共选通输入端）器件等级为GJB597第3.4条规定的B级和本规范规定的B1级，1.3.1.3封装形式
封装形式如下：
中华人民共和国机械电子工业部1992-11-19批准1993-05-01实施
1.3.2绝对最人额定值
绝对最大额定值如下：
电源电压
输入压
财存温度
JT54S151
JT54S153
JT54S157
引线耐焊接温度（10 s）
绍温2)
5J2013892
封装形式（按GB7092《半导伴使成心路外形尺寸》）C20P3（瓷无引线武载体封装）
D16S3（陶瓷双列封装）
F16X2（陶瓷扁平封装）
H16X2（陶瓷熔封瘤平封装）
J16S3（陶瓷熔封双列封装）
注：1）器件应能经受测试输出短路电流（oE）时所增加的功耗：2）除本规范4.3条老化试验外，结温不应超过175°C1.3.3推荐T作条件
推荐工作条件如下：
电源电压
输入高电平电压
输入低电平电
输入高电平心流
输入低电平流
工作环境温度
2引用文件
GB3431.1—82半导体集成电路文字符号电参数文字符号GB3431.2一86半导体集成电路文字筹号引出端功能符号殿大
GB3439—82平导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理GB4590—84学导体集成电路机械和气候试验方法GB4728.12—83电气图用图形筹号二进制逻锌单元2
HTTKAONKAca-
$20158—92
GB7092—93半导体集成电路外形尺寸GJB548-88微电子器伴试验方法和程序GJB597—88微电路总规范
GJB/Z105电子产品防静电放电控制手册3要求
3.1详细要求
务项要求应接GJB597利本规范的规定。3.2、设计、结构和外形尺寸
设计、结构和外形尺寸应符合GJB597和本规范的规定：3.2.1逻辑符号、逻辑图和引山端排列逻辑符号、逻辑图利引出端排列应符合图1的规定。引出端排列为俯视图。a：JT54S151
逻辑符号
、F、H、J型
引拍端排列
1 择
逻辑图
h.JT54S153
逻辑符号
SJ20158—92
(14)(15)(1)(2)(3)(A)
(11)(12) (13)
D、F、H、J型
引出端洋列
1ehYec
15h23T
1 20 19
TKAONKAa-
遥骅图
SJ20158—92
2ST2D2D22P12DoAp
c.JT54S157
逻符号
AIDID2IDIIDa1ST
引山端排列
E)、F、H、J型
逻辑阁
16 Yec
130：
212019
174401
14g300
910111213.
4D14Do3D13Do 2D12De 1D11Dr
图1逻辑符号、逻辑图和小端排列5
TKAONKAa-
3J 20158—92
3.2.2功能表
功能衣如下：
a.JTS4S151
JT54S153
JT54S157
注：为高电：I.为低电：×为任意态。D～D,为相应D~D的补码。3.2.3电源理图
制造厂在鉴定之前应将电原理图提交给鉴定机构。电原理图应出鉴定机构存档备查3.2.4封装形式
sJ 20158—92
封装形式应按本规范1.3.1.3条的见定,3.3引线材料和涂覆
引线材料和涂覆应按GJB597第3.5.6的规定。3.4电特性
电特性应符合本规范表1的规定。表1-1JT54S151的电特性
条件1)
输出高也电压
输山低平电压
输入登电压
最大输入电压时输入电流
输入商电平流
输入低电半电流
输山知路屯流2）
电源电流
传输延避时间
注：1）完整的测试条件刻于表3。2）每次只能短路一个输出。
（若无其他规定
-55\C≤T≤125°C)
Vre=4.5 V, Vr-2.0 V
on-1mA
Pcc=4.5 V, VIH-2.0 V
Vn=0.7 V, fot=20 mA
Vcc-4.5 V, Iik--18 mA
Vec=5.5 V, V=5.5 V
Vcc=5.5 V, Vi-2.7 V
Vcc-5.5 V, Vf-0.5 V
R,=2802
Ci-15 pF
任～A→Y
任—A→W
任—D→Y
任—D→W
ST-→Y
ST-→W
规范值
输：高电平电压
轮低示
输入针位电
最人输入电东时输入电流
输入电平电流
输入低平流
输山短路电流2）
电源电流
传输延迟时间
SJ20158—92
表1—2JT54S153 的电性
条件1
法：1）完整的测试条件列于表3。2）每次只能知路一个输出端。
（茗无H他就定
55°C≤T≤125 \C
Vc-4.5 V, Vmr=2.0 V
or=-I mA
Vcc=4.5 V. ViH-2.0 V
Vr-0.7 V, lot-20 mA
Ycc-4.5 V, Jk--18 mA
Yce-5.5 V, Vr-5.5 V
Vcc=5.5 V, Vi-2.7 V
Vcc=5.5 V, V-0.5 V
Yco-S.5 v
RL=280
Cr=15 pF
任A→Y
任·D→Y
规范個
TTKAONKAa-
输出高电平电压
输出低电平电压
输入钳位电压
最大输入电压时输入电流
输入高电平电流
输入低电平电流
输出短路电流2）
电源电流
传输延迟时间
sJ 20158—92
表1-3 JT54S157的电特性
注：1）完整的测试条件列于表3。2）每次只能短路个输山蹦。
电试验要求
（无其他规定
55 °C≤T≤125 °℃)
Ycc=4.5 V, Vu-2.0 V
Ton--1 mA
Vcc=4.5 V. VtH-2.0 V
Vr=0.7V, lor=20 mA
Vcc=4.5V, IIk=-18mA
Vec=5.5 V, Vr-5.5 V
Vox-5.5 V. V,-2.7 V
Voc=5.5 V, V-0.5 v
Vox=5.5 V,A、ST输入端
Rt=2800
CL=15 pF
—A→1
任D→Y
ST→+Y
规范值
各级器件的电试验要求应为本规范表2所规定的有关分组，各分组的电测试按表3的规定。
表 2电试验要求
中间（老化前）电测试
中间（老化后）出测试
最终电测试
A组试验要求
C组懿点电测试（方法5005）
C组检验增加的分组
B级器件
A2.A3,A7、A9
分组（见表3）
BI级器件
A2, A3. A7、A9
A1, A2, A3 A7、A9, A10, At1
A1,A2,A3
不要求
D组终点电测试（方法5005）
A1,A2,A3
注：1）该分组要求PDA计算（见4.2条）。AI. A2, A3, A7、A9
A1, A2, A3
AlU，All
Al. A2, A3
引用标雅
GB3439
SJ 20158—92
表3—1 JT54S151电测试
（若无其他规定，T=25°C）
Vcc-4.5 V,A输入端 Vlr=0.8 V,测Y(被测输山端 IoH=-1 mA）A 输入端接 Vm=2.0V，测W（被测输出端In=-1mA）
Vcc=4.5V，A输入端Fi=0.8V.测W（被测输出端Fal =20 mA）A输入端 Vu-2.0 V,测 Y(被测输出 IoL=20 mA)
Vcc=4.5 V,被测输入依次 Ik=18 mAVcc=5.5V，ST和A按功能表顶置，被测输入V-5.5 V
Ycc=5.5V,ST和A端按功能表预置，被测输入V-2.7 V
Vcc=5.5V，ST和A端按功能表预置，被测输入V-0.5 V
Vcc=5.5 V,测W输出时，A端V-5.5 V,ST，D7接地
测Y输出时，DO0接V,=5.5V、ST，A端接地
Vcc=5.5V，所有输入接地，输出端开路规范值
最小最人
T,-125\C外，除 VIk不测试外，参数、条件、规范值婴求同 A1 分组TA=-55℃C外，除 Vik不测试外，参数、条件、规范值要求同 AI分组。功能
Vcc=5.0V，按功能表测试
Vcc5.0V，见本规范图2
任— A→Y
任—A→W
在 D-→Y
任— D→W
ST→Y
ST-→W
KAONKAca-
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