SJ 20641-1997
基本信息
标准号： SJ 20641-1997
中文名称：红外探测器用锑化铟单晶规范
标准类别：电子行业标准(SJ)
英文名称： Specification for Indium Antimonide Single Crystal for Infrared Detectors
标准状态：现行
发布日期：1997-06-17
实施日期：1997-10-01
出版语种：简体中文
下载格式：.rar.pdf
下载大小：198421
标准分类号
中标分类号：>>>>L5971
关联标准
出版信息
页数：7页
标准价格：12.0 元
相关单位信息
标准简介
SJ 20641-1997 红外探测器用锑化铟单晶规范 SJ20641-1997 标准下载解压密码：www.bzxz.net
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标准内容
中华人民共和国电子行业军用标准FL5971
SJ20641-97
红外探测器用锑化铟单晶规范
Specification for indium antimonide singlecrystals for used in infrared detector1997-06-17发布
1997-10-01实施
中华人民共和国电子工业部批准中华人民共和国电子行业军用标准红外探测器用锑化铟单晶规范
Specifieation for indium antimonide singlecrystals for used in infrared detector1范围bzxZ.net
1.1主题内容
SJ 20641—97
本规范规定了红外探测器用掺杂与非掺杂化铟单品的要求，质量保证规定，交货准备和其他要求。
1.2适用范围
本规范适用于直接法制备供红外探測器用锑化铟单晶。1.3分类
1.3.1规格
按导电类型分为N型和P型锑化铟单晶。1.3.2型号
梯化单晶型号按GJB11296-89(红外探测材料型号命名方法>规定。2引用文件
GB 11296 - 89
红外探测材料型号命名方法
GB 11297.6 - 89
锑化铟单晶位错蚀坑的腐蚀显示及测量方法GB 11297.7 - 89
GJB 1209 - 91
ZBN 30003 -88
3婴求
3.1合格鉴定
锑化单晶电阻率及蛋耳系数的测试方法微电路生产线认证用试验方法和程序光学零件包装
按本规范提交的产品应是经鉴定台格或定型批准的产品。3.2规格尺寸
单晶的规格尺寸见表1
中华人民共和国电子工业部1997-06-17发布1997-10-01实施
TYKAONKACa-
3.3宏观质最
长方向
单晶表面无裂纹、空洞和李晶线。3.4 晶面与定向
SI 20641-- 97
直径(短轴)
晶面为(111)或(211).晶向偏差≤±13.5位错腐蚀坑密度（EPD）
EPD<100 个/cm2。
3.6电学特性
单品的电学特性见表2；
表2单晶电学特性（77K）
导电类型
质量保证规定
4.1检验责任
掺杂剂
非掺杂
载流子浓度
#3×1014
1×106
1×1016
3 × 1014 = 2.0 × 1013
霍耳迁移率
cmn*/vs
5× 105
5×103
5×103
1× 10s
长度(有 效)
电阻率
23 ×10 2
0.2 ~ 1.3
0.2 ～.3
4 4 × 10 -2 ~
除合同或订单中另有规定外，承制方应负贵完成本规范规定的所有检验。必要时，订购方或上级鉴定机构有权对本规范所述的任一检验项月进行检查。4.1.1合格责任
所有产品必须符合本规范第3章和第5章的所有要求。本规范中规定的所有检验应成为承制方整个检验体系或质量大纲的一个组成部分。若合同中包括本规范未规定的检验要求，承制方还应保证所提交验收的产品符合合同要求。质量一致性检验不允许提交明知有缺陷的产品，也不能要求订购方接收有缺陷的产品。4.2检验分类
本规范规定的检验分为：
a、鉴定检验；
b。质量一致性检验;
4.3环境条件
环境温度：15~35；
相对湿度:45%~75%！
大气压力：86~106kPa
4.4鉴定检验
SJ 20641-97
鉴定检验在产品正式投产前进行，当原材料或制造工艺发生重大变化，有可能影响鉴定检验结果时，也应进行鉴定检验。4.4.1检验地点
鉴定检验应在有关主管部门认可的试验室进行。4.4.2检验样品
样品应为生产中通常使用的设备和工艺制造的产品，鉴定检验的样品应从提交的鉴定检验样品总数中随机抽取。
4.4.3捡验
鉴定检验的项目，检验顺序，受试样品数量及允许不合格品数应按表3的规定。表3 鉴定检验
检验项目
规格尺寸
宏姚质量
崩面与定向
位错腐蚀坑密度
电学特性
4.4.4不合格判定
要求的章号
检验方法章条号
受试样品数量
允许不合格品数
若受试样品通过表3中列举的各项检查或检验，则鉴定检验合格；其中一项或·项以上检验超过表3规定的允许不合格品数，则不授予鉴定合格资格。4.4.5鉴定合格资格的保持
鉴定合格资格是通过质量一致性检验来保持，根据需要，应由承制方每年一次向上级鉴定机构提交质量一致性检验记录的副本。4.5质量一致性检验
4.5.1逐批检验
对锑化铟单晶以根为单位进行100%检验，检验项目和顺序按表4规定进行。表4逐批检验
规格尺寸
宏观质量
位错滴蚀坑密度
电学特性
要求章条号
检验方法章茶号
ITKAONKAca-
4.5.2周期检验
SI 20641-97
周期检验应按表5规定进行；周期检验的样品数量为二根；厨期检验每年进行一次。表 5周期检验
晶面与定向
4.5.3不合格
婴求章条号
检验方法章条号
逐批检验不合格的产品应剔除后交货；周期检验不合格，承制方应根据对产品质量的保证，加倍提交样品进行重新检验，并通知订货方。如果重新检验仍不合格应将不合格情况和所采取的措施提供给上级鉴定机构4.6包装检验
用目检方法进行第5章规定的包装和标志要求的检验，任一运输包装箱不符合第5章的要求时应拒收。
4.7检验方法
4.7.1规格尺寸
锑化钢单晶规格尺寸用分辨率为0.02mm的游标卡尺和塑料透明直尺用目视检验应符合3.2 条的规定。
4.7.2宏观质量
用目视或5～10倍的放大镜检验单晶的宏观质量应符合3.3条的规定。4.7.3电学特性
按 GB 11297.7方法进行。
4.7.4晶面与定向
4.7.4.1测试方法
按GJB1209方法1520进行
4.7.4.2受试样品的准备与处理
直拉法生长的单晶按生长方间切去收预放肩的头部和尾部，余下的有效长度的对称两面，用M10的磨料磨掉切割损衡层备用。4.7.4.3结果评定
单晶切割面的晶面和定向精度应符合3.4茶的规定。4.7.5位错腐蚀坑密度
按 GB 11297.6方法进行。
5交货准备
5.1包装与装箱
5.1.1包装
将锑化铟单晶放入特制的塑料盒内。5.1.2装箱
按ZBV30003第2章“I级“包装要求进行装箱，如运输条件良好，也可按“Ⅱ级\包装要求装箱，包装箱内应备有产品合格证和检测报告。4
5.2运输
SJ 20641-97
产品可用任何运辅工具运，但应采用防冲击，防振动，防挤压的措施，以免由于跌落和碰撑导致产品损伤。
5.2.2贮存
产品应在洁净、干燥无腐蚀性环境中贮存。5.2.3标志
5.2.3.1外包装
在外包装箱面上应按ZBN30003第5章的要求标志。5.2.3.2内包装
在锑化姻晶体的特制内包装盒上应注明下列内容：a．产品名称和型号；
b：军用标记\J\;
制造年、月；
d．产品编号和生产批号；
数量；
f，承制方名称。
6说明事项
6.1预定用途
本规范规定的锑化铟单晶预定用于各种军事应用红外探测器。6.2订货文件内容
合同或订单中应载明下列内容
本规范的名称和编号；
b.型号，
c。外形尺寸、切割面和重量；
d．数量：
装箱级别：
其他。
附加说明：
本规范由中国电子技术标准化研究所归口。本规范由中国电子技术标准化研究所负责起草。木规范主要起草人刘筠、李兆瑞。计划项目代号：B55001
TTKAONKAca-
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SJ20641-97
红外探测器用锑化铟单晶规范
Specification for indium antimonide singlecrystals for used in infrared detector1997-06-17发布
1997-10-01实施
中华人民共和国电子工业部批准中华人民共和国电子行业军用标准红外探测器用锑化铟单晶规范
Specifieation for indium antimonide singlecrystals for used in infrared detector1范围bzxZ.net
1.1主题内容
SJ 20641—97
本规范规定了红外探测器用掺杂与非掺杂化铟单品的要求，质量保证规定，交货准备和其他要求。
1.2适用范围
本规范适用于直接法制备供红外探測器用锑化铟单晶。1.3分类
1.3.1规格
按导电类型分为N型和P型锑化铟单晶。1.3.2型号
梯化单晶型号按GJB11296-89(红外探测材料型号命名方法>规定。2引用文件
GB 11296 - 89
红外探测材料型号命名方法
GB 11297.6 - 89
锑化铟单晶位错蚀坑的腐蚀显示及测量方法GB 11297.7 - 89
GJB 1209 - 91
ZBN 30003 -88
3婴求
3.1合格鉴定
锑化单晶电阻率及蛋耳系数的测试方法微电路生产线认证用试验方法和程序光学零件包装
按本规范提交的产品应是经鉴定台格或定型批准的产品。3.2规格尺寸
单晶的规格尺寸见表1
中华人民共和国电子工业部1997-06-17发布1997-10-01实施
TYKAONKACa-
3.3宏观质最
长方向
单晶表面无裂纹、空洞和李晶线。3.4 晶面与定向
SI 20641-- 97
直径(短轴)
晶面为(111)或(211).晶向偏差≤±13.5位错腐蚀坑密度（EPD）
EPD<100 个/cm2。
3.6电学特性
单品的电学特性见表2；
表2单晶电学特性（77K）
导电类型
质量保证规定
4.1检验责任
掺杂剂
非掺杂
载流子浓度
#3×1014
1×106
1×1016
3 × 1014 = 2.0 × 1013
霍耳迁移率
cmn*/vs
5× 105
5×103
5×103
1× 10s
长度(有 效)
电阻率
23 ×10 2
0.2 ~ 1.3
0.2 ～.3
4 4 × 10 -2 ~
除合同或订单中另有规定外，承制方应负贵完成本规范规定的所有检验。必要时，订购方或上级鉴定机构有权对本规范所述的任一检验项月进行检查。4.1.1合格责任
所有产品必须符合本规范第3章和第5章的所有要求。本规范中规定的所有检验应成为承制方整个检验体系或质量大纲的一个组成部分。若合同中包括本规范未规定的检验要求，承制方还应保证所提交验收的产品符合合同要求。质量一致性检验不允许提交明知有缺陷的产品，也不能要求订购方接收有缺陷的产品。4.2检验分类
本规范规定的检验分为：
a、鉴定检验；
b。质量一致性检验;
4.3环境条件
环境温度：15~35；
相对湿度:45%~75%！
大气压力：86~106kPa
4.4鉴定检验
SJ 20641-97
鉴定检验在产品正式投产前进行，当原材料或制造工艺发生重大变化，有可能影响鉴定检验结果时，也应进行鉴定检验。4.4.1检验地点
鉴定检验应在有关主管部门认可的试验室进行。4.4.2检验样品
样品应为生产中通常使用的设备和工艺制造的产品，鉴定检验的样品应从提交的鉴定检验样品总数中随机抽取。
4.4.3捡验
鉴定检验的项目，检验顺序，受试样品数量及允许不合格品数应按表3的规定。表3 鉴定检验
检验项目
规格尺寸
宏姚质量
崩面与定向
位错腐蚀坑密度
电学特性
4.4.4不合格判定
要求的章号
检验方法章条号
受试样品数量
允许不合格品数
若受试样品通过表3中列举的各项检查或检验，则鉴定检验合格；其中一项或·项以上检验超过表3规定的允许不合格品数，则不授予鉴定合格资格。4.4.5鉴定合格资格的保持
鉴定合格资格是通过质量一致性检验来保持，根据需要，应由承制方每年一次向上级鉴定机构提交质量一致性检验记录的副本。4.5质量一致性检验
4.5.1逐批检验
对锑化铟单晶以根为单位进行100%检验，检验项目和顺序按表4规定进行。表4逐批检验
规格尺寸
宏观质量
位错滴蚀坑密度
电学特性
要求章条号
检验方法章茶号
ITKAONKAca-
4.5.2周期检验
SI 20641-97
周期检验应按表5规定进行；周期检验的样品数量为二根；厨期检验每年进行一次。表 5周期检验
晶面与定向
4.5.3不合格
婴求章条号
检验方法章条号
逐批检验不合格的产品应剔除后交货；周期检验不合格，承制方应根据对产品质量的保证，加倍提交样品进行重新检验，并通知订货方。如果重新检验仍不合格应将不合格情况和所采取的措施提供给上级鉴定机构4.6包装检验
用目检方法进行第5章规定的包装和标志要求的检验，任一运输包装箱不符合第5章的要求时应拒收。
4.7检验方法
4.7.1规格尺寸
锑化钢单晶规格尺寸用分辨率为0.02mm的游标卡尺和塑料透明直尺用目视检验应符合3.2 条的规定。
4.7.2宏观质量
用目视或5～10倍的放大镜检验单晶的宏观质量应符合3.3条的规定。4.7.3电学特性
按 GB 11297.7方法进行。
4.7.4晶面与定向
4.7.4.1测试方法
按GJB1209方法1520进行
4.7.4.2受试样品的准备与处理
直拉法生长的单晶按生长方间切去收预放肩的头部和尾部，余下的有效长度的对称两面，用M10的磨料磨掉切割损衡层备用。4.7.4.3结果评定
单晶切割面的晶面和定向精度应符合3.4茶的规定。4.7.5位错腐蚀坑密度
按 GB 11297.6方法进行。
5交货准备
5.1包装与装箱
5.1.1包装
将锑化铟单晶放入特制的塑料盒内。5.1.2装箱
按ZBV30003第2章“I级“包装要求进行装箱，如运输条件良好，也可按“Ⅱ级\包装要求装箱，包装箱内应备有产品合格证和检测报告。4
5.2运输
SJ 20641-97
产品可用任何运辅工具运，但应采用防冲击，防振动，防挤压的措施，以免由于跌落和碰撑导致产品损伤。
5.2.2贮存
产品应在洁净、干燥无腐蚀性环境中贮存。5.2.3标志
5.2.3.1外包装
在外包装箱面上应按ZBN30003第5章的要求标志。5.2.3.2内包装
在锑化姻晶体的特制内包装盒上应注明下列内容：a．产品名称和型号；
b：军用标记\J\;
制造年、月；
d．产品编号和生产批号；
数量；
f，承制方名称。
6说明事项
6.1预定用途
本规范规定的锑化铟单晶预定用于各种军事应用红外探测器。6.2订货文件内容
合同或订单中应载明下列内容
本规范的名称和编号；
b.型号，
c。外形尺寸、切割面和重量；
d．数量：
装箱级别：
其他。
附加说明：
本规范由中国电子技术标准化研究所归口。本规范由中国电子技术标准化研究所负责起草。木规范主要起草人刘筠、李兆瑞。计划项目代号：B55001
TTKAONKAca-
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