SJ 20784-2000
基本信息
标准号： SJ 20784-2000
中文名称：微型杜瓦总规范
标准类别：电子行业标准(SJ)
英文名称： General specification for micro dewar
标准状态：现行
发布日期：2000-10-20
实施日期：2000-10-20
出版语种：简体中文
下载格式：.rar.pdf
下载大小：316027
标准分类号
中标分类号：>>>>L5911
关联标准
出版信息
出版社：工业电子出版社
页数：9页
标准价格：8.0 元
出版日期：2004-04-19
相关单位信息
起草人：柳汉莹、朱魁章、纪斌、田渠
起草单位：信息产业部第十六研究所
归口单位：中国电子技术标准化研究所
发布部门：中华人民共和国信息产业部
标准简介
本规范规定了微型杜瓦(以下简称杜瓦)的要求、质量保证规定及交货准备等。本规范主要适用于红外探测器用杜瓦的研制和生产，其它用途的杜瓦也可参照采用。 SJ 20784-2000 微型杜瓦总规范 SJ20784-2000 标准下载解压密码：www.bzxz.net
标准图片预览
标准内容
中华人民共和国电子行业军用标准FL5911
微型杜瓦总规范
SJ 20784—2000
General specification for micro Dewar2000-10-20发布
2000-10-20实施
中华人民共和国信息产业部批准中华人民共和国电子行业军用标准微型杜瓦总规范
General specification for micro Dewar1范围
1.1主题内容
SJ 20784—2000
本规范规定了微型杜瓦（以下简称杜瓦）的要求、质量保证规定及交货准备等。1.2适用范圈
本规范主要适用丁红外探测器用杜瓦的研制和生产，其它用途的杜瓦也可参照采用2引用文件
GB191—90包装储运图示标志
GJB1788—93红外探测器试验方法方法2040低温贮存试验GJB1788—93红外探测器试验方法方法2010温度冲击试验GJB1788-—93红外探测器试验方法方法2080振动试验GJB1788—93红外探测器试验方法方法2070冲击试验3要求
3.1详细规范
杜瓦的要求应符合本规范和详细规范的规定。若本规范的要求与详细规范的要求相抵融时，应以详细规范为准。
3.2合格鉴定
按本规范提供的杜瓦应是经鉴定合格的产品。3.3材料
材料的等级、规格和型号应满足本规范和详细规范的所有.1.作和环境要求。3.4设计和结构
杜瓦的外形尺寸、结构、功能及接口的设计应符合详细规范的规定。3.5性能特性
3. 5. 窗口特性
按4.5.2试验，窗口波段范用和窗口峰值透视比应符合详细规范的规定。3.5.2静态热负载
按4.5.3试验，社瓦的静态热负载应不人了详细规范的规定。3.5. 3真空完善性
中华人民共和国信息产业部2000-10-20发布TKANrKAca-
2000-10-20 实施
SJ 20784—2000
接4.5.4试验，杜瓦的真空完筹性应符合详细规范的规定3.5.4引线电阻
按4.5.5试验，杜瓦的引线电阻应符合详细规范的规定。3.5.5绝缘电阻
按4.5.6试验，杜瓦引线的的绝缘电阻应符合详细规范的规定。3.5.6气密性
按4.5.7试验，杜瓦封装前的氮气泄凝率应不大下详细规范的规定。3.6环境试验
3.6.1低温贮存试验
按4.6.1试验后，杜瓦的静态热负载应满足3.5.2的要求。3.6.2温度冲击试验
按4.6.2试验后，性瓦的静态热负载应满足3.5.2的要求。3.6.3振动试验
按4.6.3试验后，杜瓦的静态热负载、真空完善性、气密性应满足3.5.2，3.5.3、3.5.6的要求。
3.6.4冲市试验
按4.6.4试验后，杜瓦引线应导通，且应满足3.5.4、3.5.5的要求，3.7外观质量与机械检查
3.7. 1重量
杜瓦的重量应符合详细规范的规定。3. 7.2 尺寸
杜瓦的尺寸和公差应符合详细规范的规定。3. 7. 3 标患
杜瓦的标志应有产品型号、编号及生产厂代号，且应消晰可见。3.7.4外观
杜瓦的外观应光滑平，无毛刺、裂纹等影响寿命和使用的缺陷。4质量保证规定
4.1检验职责
除合同或订单另有规定外，承制方应负责完成本规范规定的所有检验。必要时，订购方或上级鉴定机构有权对规范所述的任-一检验项日进行检查。4.2检验分类
本规范规定的检验分为：
8鉴定检验；
b．质量一致性检验。
4.2.1生产批
一个生产批应由在同一条件下采用相同的设计、1艺、材料、设备制造的杜瓦组成。4.2.2捡验批
承制方在规定时间内提交质试一致性检验的全部杜瓦以确定是否符合详细规范和本2
规范的要求。
SJ20784—2000
一个检验批可由一个生产批组成，或由儿个在本质上属丁相同条件（材料、1.艺、设备等）下制造的生产批组成。4.3鉴定检验
鉴定检验应在上级鉴定机构认可的试验室中进行。4.3.1抽样
提交鉴定检验的杜瓦应从生产线上抽取，样品应是在生产中通常使用的设备和工艺生产的，其样品数应不少于3只。4.3.2检验
鉴定检验应按表1规定的项目及顺序进行。不满足其中一项检验都应成为拒绝授予鉴定批准的理由。
表1鉴定检验
检验项目
外观书机城检查\
窗凹特性\
引线电阻1）
绝缘电阻1
气密性”
静态热负载
真空完善性
低温贮存试验
溫度冲击试验
振动试验
神击试验
注：1）封装前检测，也可用其它封装样品代替。4. 3. 3监定合格资格的保持
要求章条号
方法章条好
为了保持鉴定合格资格，承制方应每隔12个月向鉴定机构提交一份报告。签定机构应规定起始报告H期。报告内容包括A组、C组检验的试验结果的汇总，至少应说明已通过检验批的数量和不合格批的数量：任何零性失效的数量和类型；一年中究成的试验项目：应别所有返修批的试验结果并加以说明。在每12个月周期结束前的30 大内不提交报告者，将可能导致丧失该产品的鉴定合格资格。除周期地提交捡验资料外，在12个月周期内的任何时候，若检验资料显示已鉴定合格的产品不能满足本规范的要求时，承制方应立即通知鉴定机构。如果在报告周期内未生产时，应提交一份报告证明承制方仍具有生产这产品的所必需能力和设备。如架相继两个报告周期内仍卡生产，根据鉴定机构的决定，可以要求承制方提供产品鉴定检验要求进行检验，并说明未生产的原网，4.4质革一致性检验
质量致性捡验应按 A 组、C 组进行（见表 2、表 3),A 组为逐批检验，C 组为围期捡验。
iKAoNrKAca
4.4.1A组检验
sJ 20784---2000
A组检验应在封装前进行，检验项目由表2组成，均为100%检验，不合格品剔除。表2A组检验
捡验项
外观与机械检查
密口特性
绝缘电阻
氢密性
要求章条号
方法章条号
如果样品未通过A组检验，承制方应向鉴定机构和有关主管部门报告失效情况，并根据不合格的原因，对材料或工艺或对两者采取纠止措施，而且认为适当时，对用基本相同的材料和！艺在基本相同的条下制造的，以及认为经受相同失效时，可以修复的全部产品采取纠正措施。在采取纠正措施之后，应对追加的样品重新进行A组检验（由鉴定机构决定进行全部项尽的检验或进行原来样品失效项目的检验）。同时，可以重新开始\A组检验。
4.4.2C组检验
C组检验应从已通过A组检验的批中抽取，抽样按4.4.3.1的规定，检验周期为12个月月且按表3规定目及顺序进行。表 3 C纽检验
检验项目
静态热负载
真空完善性
低溢贮存试验
温度冲击试验
报动试验
冲击试验
4.4.2.1抽样检验
要求章条号
C纽检验的样品应按下列方式抽取，不允许出现不合格品。表4抽样方案
100~299
300~499
500~999
1000 以上
4. 4. 2.2样品处理
经C纽检验的样品不得按正品交付4.4.2.3不合格
方法章条号
如果样战术通过C组捡验，承制方应向鉴定机构和有关主管部门报告失效情况，并-4 -
SJ 20784-2000
根据不合格的原因，对材料或工艺或对两者采取纠正措施，而且认为适当时，对用基本相同的材料和工艺在基本相同的条件下制造的，以及认为经受相同失效的，可以修复的全部产品采取纠正措施。在鉴定机构认可的纠正措施之前暂停产品的验收和交货。采取纠正措施后，应对追加的样品重新进行C组检验（由鉴定机构决定进行全部项目的检验或进行原来样品失效项目的检验）。同时，可以重新开始A组检验。但在C组复验表明纠正措施是成功的之前，不得进行最后的验收和交货。若复验后仍然失效，则应将有关失效的资料提供给鉴定机构和有关主管部门。4. 5检验方法
除非另有规定，杜瓦静态热负载测试环境条件如下：温度：20±2C：
相对凝度：≤60%；此内容来自标准下载网
气压：86106kPa.
4.5.1外观与机械检查
4.5.1.1以目测和满足准确度要求的量具和衡器对杜瓦进行检查，以便验证材料、设计结构、功能、标志、重盘、外表面是否满足相应要求（见3.3、3.4、3.7条）。4.5.1.2目测光窗口表面，应光亮沾净无划痕。4.5.2窗口特性
用经鉴定合格且在有效期内的红外光谱分光计检测窗口波段范围和波段蜂值透视比。
4.5.3静态热负载
在芯片未工作情况下，将杜瓦存入液氮，使其达到平衡后，用经鉴定合格且在有效期内的天平和计时器监测液氮重量变化，在液氮蒸干前用规定时问或规定液氮量的方法测量液氮耗损的平均速率并按公式计算其静态热负载。Q醇=r鼠Vm×103
式中：9静一为静态热负载，mW；r为液氮蒸发潜热值196.7J/g：
—为液氮损耗平均速率，/s。
4.5.4真空完善性
在室温下将杜瓦放入恒温箱内，升溢至71°C并保温72h。从恒温箱取出杜瓦，恢复至室温。试验后，静态热负载的变化率应不人丁试验前的15%或符合详细规范的规定。4.5.5引线电阻
封装前用经鉴定合格且在有效期内的电阻测量仪测量，其测量点和阻值应符合详细规范的规定。
4.5.6绝缘电阻
封装前用经鉴定合格且在有效期内的电阻测拭仪测垃，其测量点和阻值应符合详细规范的规定，
4.5.7气密性
用经鉴定合格且在有效期内的高灵敏度氮质谱仪进行检测，其漏率应符合详细规范，4.6环境试验
除非另有规定，环境试验应按GB1788利以下规定进行。5
TKANiKAca-
4.6.低温贮存试验
SJ 20784--2000
按GJB1788中方法2040规定的试验程序进行试验。贮存温度为~55°C，试验条件及试验设备应根据探测器选择。4.6.2温度冲击试验
按GJB1788中方法2010规定的试验程序进行试验。温度范用为-55°C～70°C，试验条件及试验设备应根据探测器选择。4.6.3振动试验
按GJB1788中方法2080规定的试验程序进行试验。试验条件及试验设备应根据探测器选择。
4. 6. 4 冲击试验
按GJB1788中方法2080规定的试验程序进行试验。试验条件及试验设备应根据探测器选择。
4.7包装检验
应符合本规范第5章及详细规范要求。5交货准备
5.1包装要求
杜瓦应有专用的包装箱，并有防震保护，箱内应有产品说明和合格证，会格证上应注明：
a．制造单位：
b．产品型号：
c.详细规范编号：
d、检验或重新检验日期：
e：检验员章。
5.2贮存要求
杜瓦应在真空箱内或保护性密封容器中贮存。其贮存温度为-10～40C。贮存环境应保持洁净、通用且应无腐蚀性气体。5.3运输要求
杜瓦运输时应有牢固的包装箱，并应加注GFB191一90规定的“小心轻放”、“怕凝”等标志，装有杜瓦的包装箱按规定方式运输，运输中应避免雨、雪真接淋袭和机械碰撞。6说明事项
6.1预定用途
符合本规范的杜瓦用于红外探测器组成。6.2订货文件内
合同或订单中应载明下列内容：a.本规范名称、编号和发布日期：b．适用的详细规范名称、编号租发布日期：c.应提供的试验数据；
d．订货数量：
B.防护包装和装箱要求。
6.3定义
SJ 20784—2000
6.3.1微型杜瓦（亦称微型杜瓦瓶），是用米封装红外芯片、且应具有与制冷器（机）红外整机的接口，并维持其纸温下正常工作的真空器件，亦可用丁配制冷器（机）。6.3.2静态热负载
静态热负载是在芯片工.作时，杜瓦装载面冷却到规定温度达到热平衡后，在规定的环境条件下，杜瓦的“无功冷量损耗”，单位为mW。6.3.3真空完善性
真空宪善性是反映杜瓦的选材、结构、表面处理、消洁排气和焊接1.艺的一个综合指标，能够集中体现杜瓦真空性能的完美程度。6.4供货保证
杜瓦的吸气剂的激活周期大于1年，杜瓦的贮存寿命一般应保证3年，详细规范应规定杜瓦的贮存寿命。
附加说明：
本规范由中国电子技术标雄化研究所归口。本规范由信息产业部电子第十六研究所起草。本规范主嬰起草人：柳汉莹、朱魁章、纪斌、田渠。计划项目代号：B710190。
iiiKAoNrkAca
小提示：此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容，若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。
微型杜瓦总规范
SJ 20784—2000
General specification for micro Dewar2000-10-20发布
2000-10-20实施
中华人民共和国信息产业部批准中华人民共和国电子行业军用标准微型杜瓦总规范
General specification for micro Dewar1范围
1.1主题内容
SJ 20784—2000
本规范规定了微型杜瓦（以下简称杜瓦）的要求、质量保证规定及交货准备等。1.2适用范圈
本规范主要适用丁红外探测器用杜瓦的研制和生产，其它用途的杜瓦也可参照采用2引用文件
GB191—90包装储运图示标志
GJB1788—93红外探测器试验方法方法2040低温贮存试验GJB1788—93红外探测器试验方法方法2010温度冲击试验GJB1788-—93红外探测器试验方法方法2080振动试验GJB1788—93红外探测器试验方法方法2070冲击试验3要求
3.1详细规范
杜瓦的要求应符合本规范和详细规范的规定。若本规范的要求与详细规范的要求相抵融时，应以详细规范为准。
3.2合格鉴定
按本规范提供的杜瓦应是经鉴定合格的产品。3.3材料
材料的等级、规格和型号应满足本规范和详细规范的所有.1.作和环境要求。3.4设计和结构
杜瓦的外形尺寸、结构、功能及接口的设计应符合详细规范的规定。3.5性能特性
3. 5. 窗口特性
按4.5.2试验，窗口波段范用和窗口峰值透视比应符合详细规范的规定。3.5.2静态热负载
按4.5.3试验，社瓦的静态热负载应不人了详细规范的规定。3.5. 3真空完善性
中华人民共和国信息产业部2000-10-20发布TKANrKAca-
2000-10-20 实施
SJ 20784—2000
接4.5.4试验，杜瓦的真空完筹性应符合详细规范的规定3.5.4引线电阻
按4.5.5试验，杜瓦的引线电阻应符合详细规范的规定。3.5.5绝缘电阻
按4.5.6试验，杜瓦引线的的绝缘电阻应符合详细规范的规定。3.5.6气密性
按4.5.7试验，杜瓦封装前的氮气泄凝率应不大下详细规范的规定。3.6环境试验
3.6.1低温贮存试验
按4.6.1试验后，杜瓦的静态热负载应满足3.5.2的要求。3.6.2温度冲击试验
按4.6.2试验后，性瓦的静态热负载应满足3.5.2的要求。3.6.3振动试验
按4.6.3试验后，杜瓦的静态热负载、真空完善性、气密性应满足3.5.2，3.5.3、3.5.6的要求。
3.6.4冲市试验
按4.6.4试验后，杜瓦引线应导通，且应满足3.5.4、3.5.5的要求，3.7外观质量与机械检查
3.7. 1重量
杜瓦的重量应符合详细规范的规定。3. 7.2 尺寸
杜瓦的尺寸和公差应符合详细规范的规定。3. 7. 3 标患
杜瓦的标志应有产品型号、编号及生产厂代号，且应消晰可见。3.7.4外观
杜瓦的外观应光滑平，无毛刺、裂纹等影响寿命和使用的缺陷。4质量保证规定
4.1检验职责
除合同或订单另有规定外，承制方应负责完成本规范规定的所有检验。必要时，订购方或上级鉴定机构有权对规范所述的任-一检验项日进行检查。4.2检验分类
本规范规定的检验分为：
8鉴定检验；
b．质量一致性检验。
4.2.1生产批
一个生产批应由在同一条件下采用相同的设计、1艺、材料、设备制造的杜瓦组成。4.2.2捡验批
承制方在规定时间内提交质试一致性检验的全部杜瓦以确定是否符合详细规范和本2
规范的要求。
SJ20784—2000
一个检验批可由一个生产批组成，或由儿个在本质上属丁相同条件（材料、1.艺、设备等）下制造的生产批组成。4.3鉴定检验
鉴定检验应在上级鉴定机构认可的试验室中进行。4.3.1抽样
提交鉴定检验的杜瓦应从生产线上抽取，样品应是在生产中通常使用的设备和工艺生产的，其样品数应不少于3只。4.3.2检验
鉴定检验应按表1规定的项目及顺序进行。不满足其中一项检验都应成为拒绝授予鉴定批准的理由。
表1鉴定检验
检验项目
外观书机城检查\
窗凹特性\
引线电阻1）
绝缘电阻1
气密性”
静态热负载
真空完善性
低温贮存试验
溫度冲击试验
振动试验
神击试验
注：1）封装前检测，也可用其它封装样品代替。4. 3. 3监定合格资格的保持
要求章条号
方法章条好
为了保持鉴定合格资格，承制方应每隔12个月向鉴定机构提交一份报告。签定机构应规定起始报告H期。报告内容包括A组、C组检验的试验结果的汇总，至少应说明已通过检验批的数量和不合格批的数量：任何零性失效的数量和类型；一年中究成的试验项目：应别所有返修批的试验结果并加以说明。在每12个月周期结束前的30 大内不提交报告者，将可能导致丧失该产品的鉴定合格资格。除周期地提交捡验资料外，在12个月周期内的任何时候，若检验资料显示已鉴定合格的产品不能满足本规范的要求时，承制方应立即通知鉴定机构。如果在报告周期内未生产时，应提交一份报告证明承制方仍具有生产这产品的所必需能力和设备。如架相继两个报告周期内仍卡生产，根据鉴定机构的决定，可以要求承制方提供产品鉴定检验要求进行检验，并说明未生产的原网，4.4质革一致性检验
质量致性捡验应按 A 组、C 组进行（见表 2、表 3),A 组为逐批检验，C 组为围期捡验。
iKAoNrKAca
4.4.1A组检验
sJ 20784---2000
A组检验应在封装前进行，检验项目由表2组成，均为100%检验，不合格品剔除。表2A组检验
捡验项
外观与机械检查
密口特性
绝缘电阻
氢密性
要求章条号
方法章条号
如果样品未通过A组检验，承制方应向鉴定机构和有关主管部门报告失效情况，并根据不合格的原因，对材料或工艺或对两者采取纠止措施，而且认为适当时，对用基本相同的材料和！艺在基本相同的条下制造的，以及认为经受相同失效时，可以修复的全部产品采取纠正措施。在采取纠正措施之后，应对追加的样品重新进行A组检验（由鉴定机构决定进行全部项尽的检验或进行原来样品失效项目的检验）。同时，可以重新开始\A组检验。
4.4.2C组检验
C组检验应从已通过A组检验的批中抽取，抽样按4.4.3.1的规定，检验周期为12个月月且按表3规定目及顺序进行。表 3 C纽检验
检验项目
静态热负载
真空完善性
低溢贮存试验
温度冲击试验
报动试验
冲击试验
4.4.2.1抽样检验
要求章条号
C纽检验的样品应按下列方式抽取，不允许出现不合格品。表4抽样方案
100~299
300~499
500~999
1000 以上
4. 4. 2.2样品处理
经C纽检验的样品不得按正品交付4.4.2.3不合格
方法章条号
如果样战术通过C组捡验，承制方应向鉴定机构和有关主管部门报告失效情况，并-4 -
SJ 20784-2000
根据不合格的原因，对材料或工艺或对两者采取纠正措施，而且认为适当时，对用基本相同的材料和工艺在基本相同的条件下制造的，以及认为经受相同失效的，可以修复的全部产品采取纠正措施。在鉴定机构认可的纠正措施之前暂停产品的验收和交货。采取纠正措施后，应对追加的样品重新进行C组检验（由鉴定机构决定进行全部项目的检验或进行原来样品失效项目的检验）。同时，可以重新开始A组检验。但在C组复验表明纠正措施是成功的之前，不得进行最后的验收和交货。若复验后仍然失效，则应将有关失效的资料提供给鉴定机构和有关主管部门。4. 5检验方法
除非另有规定，杜瓦静态热负载测试环境条件如下：温度：20±2C：
相对凝度：≤60%；此内容来自标准下载网
气压：86106kPa.
4.5.1外观与机械检查
4.5.1.1以目测和满足准确度要求的量具和衡器对杜瓦进行检查，以便验证材料、设计结构、功能、标志、重盘、外表面是否满足相应要求（见3.3、3.4、3.7条）。4.5.1.2目测光窗口表面，应光亮沾净无划痕。4.5.2窗口特性
用经鉴定合格且在有效期内的红外光谱分光计检测窗口波段范围和波段蜂值透视比。
4.5.3静态热负载
在芯片未工作情况下，将杜瓦存入液氮，使其达到平衡后，用经鉴定合格且在有效期内的天平和计时器监测液氮重量变化，在液氮蒸干前用规定时问或规定液氮量的方法测量液氮耗损的平均速率并按公式计算其静态热负载。Q醇=r鼠Vm×103
式中：9静一为静态热负载，mW；r为液氮蒸发潜热值196.7J/g：
—为液氮损耗平均速率，/s。
4.5.4真空完善性
在室温下将杜瓦放入恒温箱内，升溢至71°C并保温72h。从恒温箱取出杜瓦，恢复至室温。试验后，静态热负载的变化率应不人丁试验前的15%或符合详细规范的规定。4.5.5引线电阻
封装前用经鉴定合格且在有效期内的电阻测量仪测量，其测量点和阻值应符合详细规范的规定。
4.5.6绝缘电阻
封装前用经鉴定合格且在有效期内的电阻测拭仪测垃，其测量点和阻值应符合详细规范的规定，
4.5.7气密性
用经鉴定合格且在有效期内的高灵敏度氮质谱仪进行检测，其漏率应符合详细规范，4.6环境试验
除非另有规定，环境试验应按GB1788利以下规定进行。5
TKANiKAca-
4.6.低温贮存试验
SJ 20784--2000
按GJB1788中方法2040规定的试验程序进行试验。贮存温度为~55°C，试验条件及试验设备应根据探测器选择。4.6.2温度冲击试验
按GJB1788中方法2010规定的试验程序进行试验。温度范用为-55°C～70°C，试验条件及试验设备应根据探测器选择。4.6.3振动试验
按GJB1788中方法2080规定的试验程序进行试验。试验条件及试验设备应根据探测器选择。
4. 6. 4 冲击试验
按GJB1788中方法2080规定的试验程序进行试验。试验条件及试验设备应根据探测器选择。
4.7包装检验
应符合本规范第5章及详细规范要求。5交货准备
5.1包装要求
杜瓦应有专用的包装箱，并有防震保护，箱内应有产品说明和合格证，会格证上应注明：
a．制造单位：
b．产品型号：
c.详细规范编号：
d、检验或重新检验日期：
e：检验员章。
5.2贮存要求
杜瓦应在真空箱内或保护性密封容器中贮存。其贮存温度为-10～40C。贮存环境应保持洁净、通用且应无腐蚀性气体。5.3运输要求
杜瓦运输时应有牢固的包装箱，并应加注GFB191一90规定的“小心轻放”、“怕凝”等标志，装有杜瓦的包装箱按规定方式运输，运输中应避免雨、雪真接淋袭和机械碰撞。6说明事项
6.1预定用途
符合本规范的杜瓦用于红外探测器组成。6.2订货文件内
合同或订单中应载明下列内容：a.本规范名称、编号和发布日期：b．适用的详细规范名称、编号租发布日期：c.应提供的试验数据；
d．订货数量：
B.防护包装和装箱要求。
6.3定义
SJ 20784—2000
6.3.1微型杜瓦（亦称微型杜瓦瓶），是用米封装红外芯片、且应具有与制冷器（机）红外整机的接口，并维持其纸温下正常工作的真空器件，亦可用丁配制冷器（机）。6.3.2静态热负载
静态热负载是在芯片工.作时，杜瓦装载面冷却到规定温度达到热平衡后，在规定的环境条件下，杜瓦的“无功冷量损耗”，单位为mW。6.3.3真空完善性
真空宪善性是反映杜瓦的选材、结构、表面处理、消洁排气和焊接1.艺的一个综合指标，能够集中体现杜瓦真空性能的完美程度。6.4供货保证
杜瓦的吸气剂的激活周期大于1年，杜瓦的贮存寿命一般应保证3年，详细规范应规定杜瓦的贮存寿命。
附加说明：
本规范由中国电子技术标雄化研究所归口。本规范由信息产业部电子第十六研究所起草。本规范主嬰起草人：柳汉莹、朱魁章、纪斌、田渠。计划项目代号：B710190。
iiiKAoNrkAca
小提示：此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容，若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。