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GB/T 4956-2003

基本信息

标准号: GB/T 4956-2003

中文名称:磁性基体上非磁性覆盖层 覆盖层厚度测量 磁性法

标准类别:国家标准(GB)

英文名称:Oon-magnetic coatings on magnetic substrates?Measurement of coating thickness?Magnetic method

英文名称:Oon-magnetic coatings on magnetic substrates?Measurement of coating thickness?Magnetic method

标准状态:现行

发布日期:1985-02-01

实施日期:2004-05-01

出版语种:简体中文

下载格式:.rar.pdf

下载大小:KB

标准分类号

标准ICS号:机械制造>>表面处理和涂覆>>25.220.40金属镀层

中标分类号:综合>>基础标准>>A29材料防护

关联标准

替代情况:GB/T 4956-1985

采标情况:ISO 2178:1982,IDT

出版信息

出版社:中国标准出版社

书号:155066.1-20459

页数:平装16开, 页数:6, 字数:11千字

标准价格:8.0 元

出版日期:2004-04-03

相关单位信息

首发日期:1985-02-14

复审日期:2004-10-14

起草人:喻晖、钟立畅、冯永春、贾建新、郑秀林

起草单位:武汉材料保护研究所

归口单位:全国金属与非金属覆盖层标准化技术委员会

提出单位:中国机械工业联合会

发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

主管部门:中国机械工业联合会

标准简介

本标准规定了使用磁性测厚仪无损测量磁性基体金属上非磁性覆盖层(包括釉瓷和搪瓷层)厚度的方法。本方法仅适用于在适当平整的试样上的测量。非磁性基体上的镍覆盖厚度测量优先采用GB/T 13744规定的方法。 GB/T 4956-2003 磁性基体上非磁性覆盖层 覆盖层厚度测量 磁性法 GB/T4956-2003 标准下载解压密码:www.bzxz.net
本标准规定了使用磁性测厚仪无损测量磁性基体金属上非磁性覆盖层(包括釉瓷和搪瓷层)厚度的方法。本方法仅适用于在适当平整的试样上的测量。非磁性基体上的镍覆盖厚度测量优先采用GB/T 13744规定的方法。


标准图片预览






标准内容

GB/T4956—2003/1S02178:1982
本标准等同采用1S2178:1982%磁性基体上非磁生履当层后度
去标准费G/T4956
二标业根据1S0217H::332作下细据性改:a)“本标准\代“本国际标窄”;b!取消国际标准的前司;
为使于使月,引用了采用同际标准致国家标准:d)增加「规范烂引用文件。
本标用,出中国机恢二业医合会据出,本标准由全国金属与非金后理益层标滩化技术委员会口.本标准年责草总位:式法材料保护研究所。本标推象灿起草单位:斯江乐消市新十企出有限公可木杯痛主要起益人:响阵、邮立畅、冯永春、觉独新、郑秀林。本标准所代替标准的历次版本发布情况对,GT/T 195F—198.1。
磁性运英文
越方法。
1范围
Gl/T4956—2003/1902178;19B2
磁性基体上非磁性覆盖层
蕉盖层厚度测磁性法
本标推规定了用磁性划厚仪大批测盐磁生基体金属上非在凝益层(包活轴免抑墙瓷层)厚度节方法
本方法说适用于在适当平整的试择上的谢量,非其体上的锦更益灵原度测量优先来用GB/T13744规定的方运。
2规范性引用文件
下可文件中的条款通过本标准的引岗而成为本标术为条款。凡是社口期的引用文件,其随后所有的够改单(不包括斯误的内客》或能订版均不适用于本标推,然面,鼓励根烟本标业法,成协议的各力研究件可使这当文件的最新版木。是不注口相的引用文件,其战新版本适用了本标准,(B12334金属和龙他非有划覆盖层干序度测的定义式一般规则(idtIS)2551)CB/13744越性和非性位单层原能景(e0V1)2351)3原理
磁性侧厚仪则过水久磁铁和基伴金尽之间的驱引力,该愿引力改到资责层疗在的影州1成者测量穿过题益层与基体会同的磁通略的磁阻,4系响测量准确度的因
下列因索可凭影前摄盖后厚度测量的准确度,4.1要益层厚度
创量准确度随益层厚使能变化取决仪的设计,对工游的覆益尽,其测是准确度与益的厚变无关,为一常数对于孕的覆益层,其测量确度举下落一延似试定的分数与压度的录积2.2基体金属的链性
基位金性的变化能影响感性法序度药测是,为「实际用的日的,认为低破钢的醛变化正不年要的。为了势免齐不柜司的或局部的热处理和冷证工的影响·仪端应义片性质与试择基伴金员相同的余概校准标准片进行校准,可能的活,最采旧待链两的零件作标样让行议器程消,4.3基体金网的厚度
对每一台仪器有一人基体金屏的异掌度。大于此临界厚度时,典国本厚虑加,测景将不受基体金属厚度增切的影询。临界度取决于仅器请头和点体金减的巨质,除非制洗商有所规定,临界渡的大小应通过式验确定。
4.4边挚效应
本方法列式样去血的不连续敏感,岗此,太靠近这象或内转负处的建对将是不可厚的,除非仪留专门对这类测量进行了校:这逆续效应可能从不连续处升近向前延伸大约20m,法取决于仪器本。
-)与对车忘性测所不确度定义为:采用正确怪准和动能的化而种的不试定的量站果1
GB/T4956—2003/TSO217B:13824.5曲率
试样的由率影量,由率的影顺用收器制造和举型的不同而有狼大差异,但总型殖曲密经制减小而更为明显。
回果您用双极式证买仪驾时,将两极匹配在平行于退过伴轴向的平面内进行滤直或匠配在并十医打体轴向的平内进行前或,也可能得到不同的读效。如是逆假或测头的前需磨损人均也能产生同样的绍果,
因注.在李曲试样上进行划效可能尽不可非的,亲非仅器为这类则盘作了专门的校唯4.6表面粗度
如果在租概表面上的同一遂比(见GR/T1234内划得的一系数值的动范围显超过没需周有的重现证,则所需的测量次数至少度增加到5次。4.7需体金测机械加工方向
使用具有双极式测头或已本为匀膀报的单拨式测头仪费进行测景,可能受邀性体会属礼械加工(如剂判)方向的影响,读数随测头在衣面上的项向示异,4.8两磁
基外金质的到差可能响使用固定磁均的到厚依的需值,但对使用交变磁场的磁型仪器的证热的彬响很小《元6.7),
4.9磁场
短微频,例如客和电解设备产生的强药,彩产量地扰使用固定场的净收的工作(见,),4.10外来附誉尘埃
仪器试头必系与战排表血紫密接触,因为这些仪器的碍测头与覆益层表面系帮接翘的外来物质教感。虚检查测头前端的清洁理4.11摄益层的导电性
末些离性测享仪的工作频率在200[1z-235IIz之间,在这个加率范用内,高导电性享遗益房内产生的涡流,可能影询读数,
4.12测买压力
施加于测头出板1的点力必须适当、世定,使软的题益层不放变形,另一方面,款的猫前层可月全刚消覆益会再测年,然后质测量值中减去金属范的厚度,如测量碎化膜也有必要这杆换汇,4.13测实取
与地球场有关,应尴!为原理的测厚议测将的读效可能变随体取向的影项:因此,仪器测关在水乎或倒置的位胃进行的测点:可能需要分别进行校准,或川能无法世行。5收器的校准
5.1概述
实台仪靠在快前,频成按制造商说明用一些适当的校准标准片迹行校准:或采带法较法光行校准,迎从这些标准片中选出一种对其进行生法测厚,间时对其采用涉&该特定微益层的有关国际标准所规定的力法测原,熟归将测将的数据进行出较、对于不能投准的仪器,其与名义值的差虚通过与按非还谁片的比较来确定,而日所节的端量都要得这入候养李出进去.设望在用期间,每南一段时间成违行校准。应对第4章中所列举的因素和第5章中所规实的程序给·下适当的注意
5.2校准标准片
厚应的较通标准可以光成范的形式,或名原撞些层的款准片的举式提续使月。5. 2. 1疫油范
该:不美中,“范\这个指非医性会属的或非全质这相或斤。2
CB/T4956—2003/1SO2178:1982
因为难以保证良好接然,所以适常建设不用箱米校准磁引力原理的测厚仪:但在对翠融的必要的预备措施作出了规定的荣些情况下,箱还是适用的。错通常能用下校性其他类盈的仪监。对下校准曲面,拖有独到之处,而上比有覆盖层的标准片适用将客为了避免测量误差,应保证箱与基体命厚案曾接触如果可能的舌,放避免采用其有强的筛。校推箔象形改压痕,成经带更换。5.2.2有覆益层的标准片
有题益层内标准片山基体金属以改与基体金候牢结合的原度以知而且与匀的覆董层构成,5.3校准
5.3.校随标准的基体金厚应其有与或样的基体金属柜似的表面相稳度与磁性能。变议将从无领益的模准标准片的基件金属上得到的读救与从无显益层的诚样上得到的读数作比轻、以确认校准标准片的适用生,
5.3.2在荣些情况下,必须将函卖再旋转↓0来核对仪器的校准(见4.7和4.8]:5.3.3如果试样其体金属的厚变泛有超过4.3中所定义的临界厚度,则试样和较准标准片一者的基体金房厚度必额和同。
通可以用足能厚的相间金属将权痛标准片或试样的基体金尽垫以使数与基体金属的厚无关。
5.3.4如果寿副懂盖层的变曲状态使之不能靠平面方式夜准时,则有疆益尽的标准片的曲率或成置准箱的基依的由率,应与传测试栏的曲率相同。6测盘程序
6.1概述
遵黑制造商的说明去择华每台仪器、对第4中列举的内享给予相应的注商,在每次仅幕批人使用时,以及在使用中每隔定时间,都要在测氧现扬对仪器的投准进行模对卫第E卓),以保证仅器的性据正常。必须邀守下列注态事项。
6.2毫体全厚厚度
检查基体金厚度是7超过临界序度,划果没有,应采出3.3中所叙述的村芯方法,或者深证包降案回其有与读神陷向享虚和懿在能的校准恢准片进行过仪器教难。6.3边绿效应
不要在买近不迁续的部查妇事近边续,无和内转角等处进行测量,除非为这类测量所作的校准的有效件山轻得排了证实,
6.4曲率
不要在试栏的曲丧配上进行测量,除非为这类测些所性的校带的有效性已经得到证实6.5读数的次数
出十仪器的正营被动性,因而有必要在每·测量面(亦见GB/T12331)内取数个读数。既益层厚度的后部差异可能也要求在季比面内迷行孕欧目:面租时妞是加此,蔽引力类仪器对振动敏感,应当含弃过商的读。6.6机械加工方向
如果机效过工方向明最地影响读激,财注试样上进行测量时应侦测头的方向与在按准时该头所取的方向一致。如果不笔微到这样,划在同一测盘面内将测头每转91\增做一次测量,共做性阿次。6.7刻磁
使用定醛场的双极式议器测盘时,如果基休金质存在利磁,则必须在为180的两个方向工进行测量
CB/T4956-—2003/IS0>2175:1982为了默将可靠结果,可能需要消去试样的您性6.8表面清活度
在创就的,应除大试举求而上的任可外来钩质,如上、油脂和离谢产刻等;但不能除去任何谨蓝层材料,在测量时,应开件企难」除去的明品缺陷,如焊接或针焊焊润.酸坦斑.择清或氧化物前部位,6.9铂观盖
如采使用感引力型设案,铅再益是可能合粘在商术!,除一店很避的泪膜通带将极商测量的重观性;但在使用拉力型仅端测益时,应该案大过减的训·使表显实际上呈十媒状态。除厦益层之外,其他题苗层都小应涤油,
6.10技巧
测量闪结果可能取决下择作者的技而。例如,随加在测头上的压力或在商体上跑平餐方的速率将会因人而异。出将实施测盘等可一拱作各来对仅作校准,或使用定非力创头·这些增施能减少或量人限也池降低达类影响,在米比项,若大采用恒定压测3,测拨方推养使用测量架6.11测头定位
仪器测头应垂立放骨于改表面测量点上对盟习方型仅器这是些要的是对牙些仪器,则要求将测头略说侧斜,并选择燕得女小皮效的谢斜布。在光清表而上副妞时,若所得的结果随血发牛明显变化,则可能测女已率损:需要更换。如来车水平或倒暨的位置上来开磁引力型假器进行诞昆,而划量装微有在重心处将到支撑,则应分别在水平或面胃的位上校准议召,7准确度要求Www.bzxZ.net
设器的校准和柔作应快题益层压度能准刻真实厚度的10必或,5F以内,两~值取其轻大的(先第5商))。木方法有控好的难确度,
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