中华人民共和国机械行业标准 电力半导体器件检验抽样方法 1 主题内容与适用范围 本标准规定了计数型一次抽样方案、追加抽样方案及抽样程序。本标准适用于电力半导体器件（包括模块、组件和附件）的出厂（或逐批）检验、型式（或周期）试验和交收检验。 2 引用标准 GB 2828 GB 2829 GB 4589.1 半导体器件 分立器件和集成电路总规范 3 术语 3.1 单位产品：为实施抽样检查的需要而划分的基本单位。例如：一只器件、一个部件、一组产品等。 3.2 检查批（简称：批）：为实施抽样检查汇集起来的产品。 3.3 批量 (N)：批中所包含的单位产品数。 3.4 样本单位：从批中抽取用于检验的单位产品。 3.5 样本：样本单位的全体。 3.6 样本大小；样品量 (n)：样品中所包含的样品单位数。 3.7 不合格：单位产品的质量特性不符合规定。 3.8 不合格品：有一个或一个以上不合格的单位产品。 3.9 每百单位产品不合格品数；批质量 (p)：批中所有不合格品数 D 除以批量 N，再乘以 100，即：每百单位产品不合格品数 = (批中不合格总数 (D) / 批量 (N)) × 100。 3.10 过程平均 (p)：一系列初次提交检验批的批质量平均值。注：初次提交检验批不包括第一次提交检验判为不合格，经返工后再次提交检验的批。 3.11 合格质量水平 (AQL)：在抽样检查中，认为可以接受的连续提交检验批的过程平均上限值。 3.12 检查；检验：用测量、试验或其它方法，把单位产品与技术要求对比的过程。 3.13 计数检查：根据产品技术标准规定的一组或一项技术要求，确定单位产品是合格品还是不合格品的检查。 3.14 逐批检查：为判断每个提交检验批的批质量是否符合规定要求，对每个批的单位产品进行百分之百或从批中抽取样本的检查。 3.15 周期检验：为判断在规定周期内（按时间规定，也可按制造的单位产品数量规定）生产过程的稳定性是否符合规定要求，从逐批检查合格的某个批或若干批中抽取样本的检查。 3.16 生产定型检查：为判断某一生产线能否成批制造符合规定质量要求的产品而进行的周期与逐批检查。 3.17 批量生产检查：为判断某一生产线在生产定型检查通过后，能否继续保持成批制造符合规定质量要求的产品进行的周期与逐批检查。 3.18 合格判定数 (Ac, c)：作出批合格判断，样本中所允许的最大不合格品数。 3.19 不合格判定数 (Re, r)：作出批不合格判断，样本中所不允许的最小不合格品数。 3.20 判定数组：合格判定数和不合格判定数或合格判定数系列和不合格判定数系列结合在一起。 3.21 抽样方案：样本大小或样本大小系列和判定数组结合在一起。 3.22 抽样程序：使用抽样方案判断批合格与否的过程。 3.23 一次抽样方案：由样本大小 n 和判定数组 [Ac, Re] 或 [c, r] 结合在一起组成的抽样方案。注：一次抽样方案按检查的宽严程度，分为正常检查、加严检查和放宽检查三种。 3.24 检查水平 (IL)：提交检查批的批量与样本大小之间的等级对应关系。 3.25 样本大小字码：根据提交检查批的批量和检查水平确定的样本大小字母代码。 3.26 批合格概率 (Pa)：对一个批质量已知的批，按给定抽样方案判该批合格的可能性大小。 3.27 抽查特性曲线 (OC 曲线)：由给定的抽样方案所确定的批合格概率与批质量之关系曲线。 4 抽样检查的程序与实施 4.1 抽样检查的程序 a) 明确或制订考核单位产品合格的判据； b) 组成与提出检查批； c) 规定合格质量水平 (AQL) 和检查水平 (IL)； d) 确定样本大小字码； e) 检索抽样方案 (n, Ac)； f) 抽取样本 n 和对样本进行检查； g) 判定检查批合格或不合格。 4.2 抽样检查的实施 4.2.1 考核单位产品性能合格的判据在产品标准或订货合同中给出，并通过测试或试验实施。 4.2.2 检查批的组成 检查批通常由同设计、同类型（基本型号、尺寸、属性等）、同生产条件和基本相同生产时间的单位产品组成。检查批可以是生产批、销售批或运输批，也可以和它们不同。检查批可以是一个生产批，也可以由几个生产批组成。 4.2.3 合格质量水平的规定 合格质量水平 (AQL) 按产品性能参数或不合格（缺陷）的重要程度不同规定不同的值。确定 AQL 值的原则是： a) 关系到使用安全和可靠性的基本性能参数或属致命缺陷的 AQL 值应小于一般重要性能参数或严重缺陷的 AQL 值； b) 重要性能参数或属严重缺陷的 AQL 值应小于一般性能参数或属轻微缺陷的 AQL 值；器件、组件或模块的 AQL 值应不大于