首页 >  电子行业标准(SJ) >  SJ 20843-2002 砷化镓单晶AB微缺陷密度定量检验方法

基本信息

标准号: SJ 20843-2002

中文名称:砷化镓单晶AB微缺陷密度定量检验方法

标准类别:电子行业标准(SJ)

标准状态:现行

发布日期:2002-10-30

实施日期:2003-03-01

出版语种:简体中文

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相关标签: 砷化镓 单晶 缺陷 密度 定量 检验 方法

标准分类号

中标分类号:>>>>H8 电子元器件与信息技术>>电子设备专用材料、零件、结构件>>L90电子技术专用材料

关联标准

出版信息

出版社:工业电子出版社

页数:7页

标准价格:10.0 元

出版日期:2004-04-19

相关单位信息

起草单位:中国电子科技集团公司第四十六所

标准简介

本标准规定了砷化镓单晶中AB微缺陷密度的定量检验方法。本标准适用于晶向为 SJ 20843-2002 砷化镓单晶AB微缺陷密度定量检验方法 SJ20843-2002

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