SJ/T 10543-1994 彩色显像管玻壳总规范(可供认证用) SJ/T10543-1994 标准下载解压密码：www.bzxz.net

中华人民共和国电子行业标准
SJ/T10543—94
彩色显象管玻壳总规范
General specification for colour picture tube bulbs1994-08-08发布
1994-12-01实施
中华人民共和国电子工业部发布中华人民共和国电子行业标准
彩色显象管玻壳总规范
Generalspecificationforcolourpicturetubebulbs（可供认证用）
1主题内容和适用范围
SJ/T10543-94
本规范规定了彩色显象管玻壳质量评定的程序，并给出了玻屏和玻锥的缺陷、尺寸、玻璃特性，性能的检验及其试验方法。本规范适用于彩色显象管玻屏和玻锥。2总则
2.1优先顺序
无论什么理由引起的矛盾，各级规范（或文件）应按下述先后顺序执行。详细规范：
总规范；
基础规范；
d。中国电子元器件质量认证委员会有关文件；e.
其他引用文件。
2.2有关文件
GB3100
GB3189
GB3505
GB4597
GB8557
GB11484
包装储运图示标志
国际单位制及其应用
电子管引出帽连接尺寸
表面粗糙度术语表面及其参数
电子管名词术语
阴极射线管玻壳检验规范
显象管玻壳残余应力测试方法
彩色显象管用屏玻璃色品坐标测试方法彩色显象管屏玻璃光透射比（1546)的测试方法电子玻璃密度的测试方法——浮沉法电子玻璃平均线热膨胀系数测试方法电子玻璃软化点测试方法
电子玻璃退火点和应变点测试方法阴极射线管参考线量规尺寸
中华人民共和国电子工业部1994-08-08批准1994-12-01实施
SJ/T14010
SJ/T10543-94
阴极射线管玻壳试验方法
SJ/Z9007（IEC410）计数抽样方案和程序IECQQC001002
ZZR/01—001
2.3单位和术语
IEC电子元器件质量评定体系程序规则中国电子元器件质量认证章程
本规范所用的单位和术语应从2.2条“有关文件”所列的标准中选取。并补充下列术语；2.3.1麻点pit
由于灰尘、玻璃料等异物附着在模具上，致使成型后在玻璃表面留下的痕迹。2.3.2黑线blackline
玻璃与玻璃或玻璃与金属零件封接过程中，由于还原性火焰造成铅还原，致使成型后留下的线状痕迹。
2.4标志
2.4.1玻屏上应有如下标志：
制造厂识别代号；
X射线吸收特性识别标志；
制造编号或制造年、月、日；
尺寸识别代号（如要求）；
其他。
玻锥上应有如下标志：
制造厂识别代号：
X射线吸收特性识别标志；
制造编号或制造年、月、日（如要求）；尺寸识别代号；
其他。
玻屏和玻锥包装箱上应有如下标志：制造厂识别代号；
商标；
产品型号：
制造编号或出厂年、月、日；
装箱数量；
合格标志或认证合格标志；
符合GB191中有关要求的标志；
其他。
3质量评定程序
3.1初始制造阶段
初始制造阶段为玻璃配料和熔制、玻屏成型和销钉封接、玻锥成型和阳极帽封接、退火等工艺过程。
这些工艺过程应在被批准的制造厂的监控之下，但不要在同一地点完成。禁止转包这些工艺过程（见IECQQC001002中11.1.2条）。2
3.2结构类似的玻屏和玻锥
SJ/T10543-94
当具有共同性能的几种被批准的玻屏和玻锥同时或连续生产时，其共同性能的检验可以从其中种玻屏和玻锥中抽样进行，其结果可以替代其他玻屏和玻锥的检验。可采纳的共同性能和有关检验项目如下：a.玻璃特性；
一平均线热膨胀系数
—软化点
一退火点
—一应变点
色品坐标
光透射比
—X射线吸收系数
销钉及销钉封接区缺陷：
阳极帽及阳极帽封接区缺陷；
锥颈封接区缺陷：
管颈缺陷。
3.3鉴定批准程序
制造广应：
满足IECQQC001002鉴定批准的总要求；a.
b.满足总规范3.1条初始制造阶段的要求；c.按详细规范的要求提供三个连续批的逐批检验和一批周期检验的一致性检验资料。3.4质量一致性检验（见IECQQC001002中第12章）空白详细规范应规定包括每一详细规范在内的最低限度的检验规范表。此规范表也可按逐批检验和周期检验的目的分组规定。为适用于不同的评定水平，空白详细规范可以列成多个规范表。3.5不合格批的再次提交
当样本不能满足逐批检验的要求时，应按IECQQC001002中12.4条处理。3.6放行批证明记录
当在有关的空白详细规范中，给出了放行批证明记录，且订货方也有要求时，最低限度应给出下列信息：
a，周期检验各分组中所包含的特征信息（通过或不通过)，不包括已造成拒收的参数；b可变信息；
放行批证明记录的内容应遵循IECQQC001002中第14章。c
3.7延期交货
玻屏和玻锥经检验合格后，在制造厂贮存超过了-12个月时，应按详细规范中规定的A组检验或其他检验重新提交。
3.8非检验参数
在详细规范中未规定工作条件的性能是不能保证的，也不应作为检验项目。如果要求在这样条件下工作时，必须制定单独的详细规范。应完整地说明所采用的任何补3
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充试验方法，同时规定出相应的极限值、AQL和检查水平。3.9周期检验
当样本不能满足周期检验的要求时，应按IECQQC001002中12.6条处理。3.10B组检验结束之前的发货
当全部B组检验已满足SJ/Z9007放宽检查的条件时，允许制造厂在结束这些试验之前放行连续批的玻屏和玻锥。
4试验和试验方法
4.1替代法
本规范所列的试验和试验项目，应采用相应的国家标准所规定的方法，但也允许详细规范给出与规定方法相等效的替代法。凡详细规范中已指明引证规定的方法，就不能采用替代法。4.2试验的标准大气条件
除非另有规定，所有的试验都应在温度15～35℃、相对湿度45%～75%和气压86～106kPa的试验的标准大气条件下进行。每试验都应按规定的程序进行。4.3直观检验
玻屏和玻锥应在工厂的正常照明条件下检验，一般不需要专用的观察工具。检验要求应符合GB8557或详细规范的规定。必要时与极限样品进行比较或用专用量具检验。检验项目包括：
4.3.1玻屏缺陷
4.3.1.1有效屏面气泡、不透明杂质等缺陷；4.3.1.2从有效屏面边缘到模圈线区域的气泡、不透明杂质等缺陷；4.3.1.3
侧面气泡、不透明杂质缺陷；
4.3.1.4其他缺陷：
划伤；
碰伤；
裂纹；
缺口；
铁锈；
剪刀痕；
条纹；
玻璃粘附：
脏污、雾痕及油污；
有效屏面内表面麻点；
销钉及销钉封接区缺陷；
封接面缺陷；
其他。
4.3.2玻锥缺陷
4.3.2.1锥体缺陷
a.气泡、不透明杂质等缺陷；
划伤，
碰伤；
裂纹：
缺口：
剪刀痕；下载标准就来标准下载网
脏污、雾痕及油污：
阳极蜡及阳极帽封接区缺陷，
封接面缺陷：
其他。
管颈缺陷
划伤；
碰伤；
裂纹；
缺口；
擦伤；
玻节；
长气泡；
结石；
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破气泡和结石等缺陷相互间隔；其他。
锥颈封接区缺陷
气泡：
雾状气泡；
黑线；
其他。
4.4玻屏和玻锥尺寸检验和检验方法玻屏和玻锥详细规范应给出标注尺寸的外形图和相关的检验要求。阳极帽连接尺寸和参考线量规尺寸应符合GB3189和GB11484的规定或详细规范的规定。凡在详细规范中需检验下列尺寸时，应按下列给出的相应方法进行检验（亦见上述4.1条的内容）。
4.4.1玻屏
4.4.1.1玻屏总高
将玻屏封接面向下放在基准平台上，用高度规等量规进行测量。4.4.1.2封接面外径
用卡尺或其他量具分别卡在封接面的长轴、短轴和对角线上，测量其长度。4.4.1.3模圈线外径（面板尺寸）用卡尺或其他量具分别卡在模圈线的长轴、短轴和对角线上，测量其长度。4.4.1.4有效径（有效屏面尺寸）测量示意图如图1所示。
用如图2所示的专用量规紧靠屏内表面过渡半径处，测量屏内表面过渡半径中心间的距5
离s。
有效径按下式计算：
封接线
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有效径=s+2rc0s60°=s十r
式中，r—屏内表面过渡半径，mm。分别在长轴、短轴、对角线上测量。4.4.1.5屏外表面曲率
将玻屏封接面向下放在平台上，把屏外表面曲率量规放在屏外表面上，测量各规定点相对基准点的高度差。或用其他量具、仪器进行测量。4.4.1.6屏内表面曲率
用专用量规支撑规定的三个销钉的基准线（例如5.61mm）部位，定出销钉平面及其轴线，销钉支撑部位在水平、垂直方向应被固定，且在轴线方向可自由移动。以销钉平面为基准，用屏内表面曲率量规或其他量具对屏内表面规定点进行测量。4.4.1.7封接面周边
将玻屏封接面向下放在周边量规水平垫块上，用三个球面触头顶住玻屏裙边上的三个定位点进行准确定位，在距封接面规定高度上分别以规定角度测量各规定点（通常为16点）的坐标值，并求得与设计值的偏差
4.4.1.8屏中心厚度
将厚度量规的两臂轻轻插入屏中心处，然后，使量规的两触头在屏面中心的被测点并拢。调整触头，当触头轴线垂直于被测点的曲面时，测量屏中心厚度。或用其他量具、仪器进行测量。
4.4.1.9模圈线周长
用已知长度的测量钢带套在被测玻屏模圈线规定部位，并使钢带的中心线与被测部位重合，双手拉紧钢带卡头，读出刻度值，将刻度值加上标准差值即为模圈线周长。4.4.1.10销钉平面到屏内表面的距离用专用量规支撑规定的三个销钉的基准线（例如5.61mm）部位，定出销钉平面及其轴线，销钉支撑部位在水平、垂直方向应被固定，且在轴线方向可自由移动。用自动量规或其他量具测量销钉平面至屏内表面各规定点（通常为9点）的垂直距离，并求得与设计值的偏差。
4.4.1.11销钉间隔
SJ/T10543—94
用专用量规支撑规定的三个销钉的基准线（例如5.61mm）部位，定出销钉平面及其轴线，销钉支撑部位在水平、垂直方向应被固定，且在轴线方向可自由移动。用自动量规或其他量具分别测量规定销钉基准线（例如5.61mm）与销钉平面长轴和短轴间的距离。
4.4.1.12销钉系统偏移
用专用量规支撑规定的三个销钉的基准线（例如5.61mm）部位，定出销钉平面及其轴线，销钉支撑部位在水平、垂直方向应被固定，且在轴线方向可自由移动。测量位置如图3所示。
用自动量规或其他量具分别测量销钉平面中P1、P、Ps、P.、M1、M2六个规定点相对于销钉系统长轴和短轴的距离A、B、C、D、E、F，除非另有规定，销钉系统偏移以IA一BI、IC一DI、IE-F|及I(A—B)/2(C一D)/2|的值表示。P
4.4.1.13销钉平面和封接面平行度0.75-
短霜？
用专用量规支撑规定的三个销钉的基准线（例如$5.61mm）部位，定出销钉平面及其轴线，销钉支撑部位在水平、垂直方向应被固定，且在轴线方向可自由移动。用自动量规或其他量具对销钉平面和封接面平行度进行测量：4.4.1.143号销钉位置（适用于4个销钉玻屏）用专用量规支撑规定的三个销钉的基准线（例如$5.61mm）部位，定出销钉平面及其轴线，销钉支撑部位在水平、垂直方向应被固定，且在轴线方向可自由移动。用自动量规或其他量具分别测量3号销钉轴线与短轴的距离和垂直方向偏离销钉平面的距离。
4.4.1.15封接面宽度
将玻屏封接面向上放在平台上，用厚度量规或其他量具，在距封接面规定高度测量其宽度。
6封接面平面度
SJ/T10543--94
将玻屏封接面向下放在基准平台上，用自动量规或厚度量规测量封接面与基准平台之间的间隙。
4.4.1.17封接面倾斜
将玻屏封接面向上放在平台上，用封接面倾斜量规对封接面规定宽度（通常为4.7mm）测量其倾斜值。
4.4.1.18屏内表面粗糙度
在玻屏规定部位取样，用粗糙度测量仪对所取样品进行测量。并按GB3505的规定进行计算。
4.4.2玻锥
4.4.2.1玻锥总高
将玻锥封接面向下放在基准平台上，用高度规测量封接面至喇叭口的距离。4.4.2.2参考线至封接面的距离
将玻锥封接面向下放在基准平台上，用规定的参考线量规套在锥体上，用高度规测量参考线至封接面的距离。
4.4.2.3封接面外径
用卡尺或其他量具分别卡在封接面的长轴、短轴和对角线上，测量其长度。4.4.2.4封接面周边
将玻锥封接面向下放在周边量规的水平垫块上，用三个球面触头顶住定位块进行准确定位，在距封接面规定高度上分别以规定角度测量各规定点（通常为16点）的坐标值，并求得与设计值的偏差。
4.4.2.5电子束余隙
在余隙测试台上，将规定参考线量规和锥体塞规紧贴在一起，并将百分表的读数调至规定值，提起锥体塞规放入锥体，使它们相互靠紧并处于同一轴线上。此时从百分表的指示即可测量出电子束余隙。
4.4.2.6锥体塞规插入深度
将规定的锥体塞规和参考线量规分别紧贴玻锥偏转部的内侧和外侧，并使两种量规同轴，用量具测量锥体塞规顶部平面至参考线的距离。4.4.2.7锥体壁厚
将玻锥插入百分表的两触头之间，调整玻锥和百分表的触头，使触头轴线垂直于被测点的曲面，测量玻锥规定部位的壁厚。或用其他量具、仪器进行测量。4.4.2.8封接面宽度
将玻锥封接面向上放在平台上，用厚度量规或其他量具在距封接面规定高度测量其宽度。4.4.2.9封接面平面度
将玻锥封接面向下放在基准平台上，用自动量规或厚度量规测量封接面与基准平台之间的间隙。
4.4.2.10阳极帽位置偏移
用量具测量阳极帽中心与玻锥短轴（或长轴)平面的偏移。4.4.2.11参考线至阳极帽的距离将玻锥封接面向下放在基准平台上，用高度规等量具测量玻锥参考线平面至阳极帽中心的距离。
4.4.2.12锥颈封接区外径
测试示意图如图4所示。
SJ/T10543--94
用规定尺寸的专用量规卡在锥颈封接区。当量规的预端能超过锥颈封接线3mm时，测量锥颈封接区最大外径。
封接线
或用其他量具、仪器进行测量。4.4.2.13锥颈封接区内径
测试示意图如图5所示。
用规定尺寸的专用塞规插入锥颈封接区，当塞规的顶端能超过锥颈封接线3mm时，测量锥颈封接区最小内径。
或用其他量具、仪器进行测量。4.4.2.14锥颈封接区厚度
用厚度量规或其他量具对锥颈封接区进行测量。4.4.2.15锥颈封接区厚度差
用厚度量规在锥颈封接处测量径向二点（或四点）的值，用所测出的最大值减最小值即为锥颈封接区的厚度差。
4.4.2.16管颈偏移和管颈倾斜
测试示意图如图6所示。
方法A：
将玻锥封接面向下放在管颈偏移和管颈倾斜量规上，并进行准确定位后，在距封接面规定距离的平面A和平面B处分别测量管颈内表面的三个互成120角的规定点（其中一点应在有定位块一侧的短轴上）。
在平面B处测量三个规定点，三点中任意二点的测量值之差的最大值即为管颈偏移值。在平面A和平面B处分别测量三个规定点，其相对位置上二点测量值之差的最大值即管颈倾斜值。
方法B：
将玻锥封接面向下放在管颈偏移管颈倾斜量规上，并进行准确定位后，旋转量规平台，在9
SJ/T10543-94
距封接面规定距离的平面A和平面B处，分别测量管颈外表面的三个互成120°角的规定点(其中一点应在有定位块一侧的短轴上）。在平面B处测量三个规定点，三点中任意二点的测量值之差的最大值即为管颈偏移值。在平面A和平面B处分别测量三个规定点，其相对位置上二点测量值之差的最大值即为管颈倾斜值。
平面A
平面1
4.4.2.17管颈外径
用规定尺寸的专用管颈卡规卡入管颈.并旋转90°，测量管颈外径，或用其他量具进行测量。
4.4.2.18管颈内径
用规定尺寸的专用塞规插入管颈，测量管颈最小内径，或用其他量具进行测量。4.4.2.19管颈壁厚
用具测量管颈的壁厚。
4.4.2.20管颈喇叭口外径
用量具在管颈喇叭口处进行测量。4.4.2.21管颈喇叭口高度
用量具在测量管颈喇叭口至管颈直线部位与喇叭口部位转折线的高度。4.4.2.22定位块研磨面宽度
用量具测量定位块规定位置的研磨面宽度。4.4.2.23锥体内表面粗糙度
在玻锥规定部位取样，用粗糙度测量仪对所取样品进行测量。并按GB3505的规定进行计算。
4.5玻璃特性试验和试验方法
凡在详细规范中规定检验下列有关的玻璃特性时，应按下列给出的相应方法进行试验（亦见上述4.1条的内容）。
4.5.1色品坐标
色品坐标按GB9474.2进行试验。4.5.2光透射比
光透射比按GB9474.3进行试验。4.5.3密度
密度按GB9622.1进行试验。
4.5.4平均线热膨胀系数
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平均线热膨胀系数按GB9622.2进行试验。4.5.5软化点
软化点按GB9622.4进行试验。
4.5.6退火点和应变点
退火点和应变点按GB9622.5进行试验。4.5.7X射线吸收系数
X射线吸收系数可按玻璃的密度、玻璃中各氧化物的含量及其在规定波长下各氧化物的质量吸收系数来计算。其计算公式如下：=pX=PXE(PRmOXR0%)
式中：μ-——X射线吸收系数，1/cm；HRm0a—氧化物RmO.的质量吸收系数，cm/g；RO。一一氧化物的百分含量：
p玻璃密度，g/cm；
一玻璃的质量吸收系数，cm/g。除非另有规定，X射线吸收系数通常以在0.06nm（20.6keV)波长的吸收系数来表示。常见氧化物在0.06nm波长下的质量吸收系数见下表：RmOn
μRmDe
4.6玻屏和玻锥性能试验和试验方法Sro
凡在详细规范中规定检验下列有关的玻屏和玻锥性能，应按下列给出的相应方法进行试验。（亦见上述4.1条的内容）。4.6.1耐热冲击
耐热冲击按SJ/T14010中3.1条进行试验。4.6.2耐压强度
耐压强度按SJ/T14010中3.2条进行试验。4.6.3残余应力
残余应力按GB9474.1进行试验。4.6.4阳极帽封接牢固性
阳极帽封接牢固性按SJ/T14010中3.6条进行试验。11
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