SJ/T 11043-1996
标准分类号
中标分类号:综合>>标准化管理与一般规定>>A01技术管理
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标准简介
SJ/T 11043-1996 电子玻璃高频介质损耗和介电常数的测试方法 SJ/T11043-1996 标准下载解压密码:www.bzxz.net
标准内容
中华人民共和国国家标准
电子玻璃高频介质损
耗和介电常数的测试方法
Test method for high frequencydielectric losses and dielectric constant of electronic glass本标准适用于测试电子玻璃的高频介质损耗和介电带数。1方法提要
GB9622.9—88
降为SJ/T11043-96
本标准利用Q表,在高频波段,根据谐振原理,对不接入和接入试样的调谐回路进行两次测量,求得在谐振回路的品质因数和回路电容,通过计算获得介质损耗角的正切值和介电常数。2测试仪器及材料
2.1高频Q表,振荡频率范围:50kHz~50MHz,电容调节范围:40~400pF,Q值测量范围:20~300。2.2游标卡尺。
2.3无水乙醇,分析纯。
2.4低温银膏。
3试样制备bzxz.net
3.1选取无结石、气泡和条纹等缺陷的玻璃圆片,直径为40mm,厚度为3mm,进行退火处理,消除应力。
3.2将试样表面研磨至厚度为2.5士0.5mm。3.3试样用蒸馅水、无水乙醇清洗、烘干,在两平面涂以低温银膏,量于高温炉中,在460500℃保温10min,缓慢冷却到室温。表面涂覆层应紧密均匀、导电良好。最后用细砂纸磨去边缘的银层,再用无水乙醇清洗干净。
3.4在每个试样两面对称位置焊接导线。4测试步骤
4.1准确测量试样直径和厚度。
.4.2接通Q表电源,预热。
4.3根据试样要求的频率,选择Q值最大的电感线圈接在Q表电感线圈接线柱上,并在频段调节盘上选取测试所要求的频率。
4.4调整Q表。
4.5调节回路电容,使之谐振,记录Q表的读数Q和电容C1。4.6将试样接入Q表接试样的接线柱上,再调节回路电容到谐振,记录Q表的读数Q2和电容C2。5计算
5.1用(1)式计算介质损耗角正切值t8p中华人民共和国电子工业部1988-03-21批准1
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1989-02-01实施
GB9622.9—88
(QQ2)(Ch—Co)
(C,— C2) Q . Q2
式中:Co——电感线圈的分布电容,pF,一般可忽略不计,Q—未接入试样时,回路的品质因数;Ci-未接入试样时,回路的电容,pF;Q——接入试样时,回路的品质因数;C,——接入试样时,回路的电容,pF。5.2用(2)式计算试样的介电常数e(pF/m)c.8
式中:C—试样的电容量,pF;
o-试样的厚度,m;
D-试样的直径,m。
6测试结果
·(2)
本方法允许测定误差,以t9表示,为0.0002,同一批试样五次平行测定数据之间相差在此范围内时,取平均值作为测试结果。
附加说明:
本标准由电子工业部4401厂、4404厂4400厂、标准化研究所负责起草。本标准主要起草人:沈雁迅、罗声华、白义祥、庞淑琴、刘承钧。2
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