基本信息

标准号： SJ/T 10739-1996

中文名称：半导体集成电路 ＭＯＳ随机存储器测试方法的基本原理

标准类别：电子行业标准(SJ)

标准状态：现行

发布日期：1996-11-20

实施日期：1997-01-01

出版语种：简体中文

下载格式：.rar.pdf

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相关标签： 半导体 集成电路 随机 存储器 测试方法 基本原理

标准分类号

中标分类号：化工>>化工综合>>G01技术管理

关联标准

替代情况：原标准号GB 3443-82

采标情况：IEC 147-2 NEQ

出版信息

页数：31页

标准价格：22.0 元

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标准简介