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SJ/T 11140-1997

基本信息

标准号: SJ/T 11140-1997

中文名称:铝电解电容器用电极箔

标准类别:电子行业标准(SJ)

标准状态:现行

发布日期:1997-09-03

实施日期:1998-01-01

出版语种:简体中文

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下载大小:564091

标准分类号

标准ICS号:31.030

中标分类号:医药、卫生、劳动保护>>医药、卫生、劳动保护综合>>C01技术管理

关联标准

出版信息

出版社:电子工业部标准化研究

页数:23页

标准价格:11.0 元

出版日期:1998-01-01

相关单位信息

起草人:宋永祥、杨宏燮、陈华昌、吴旭霞、郭茹萍

起草单位:浙江横店机电集团公司和北京市无线电元件十厂

归口单位:电子工业部标准化研究所

发布部门:中华人民共和国电子工业部

标准简介

本标准规定了铝电解电容器用电极箔(以下简称电极箔)的型号命名、要求、试验方法、检验规则、包装、贮存、运输、标志。本标准适用于铝电解电容器用的电极箔(包括:阴极箔、阳极未形成箔、阳极形成箔)。 SJ/T 11140-1997 铝电解电容器用电极箔 SJ/T11140-1997 标准下载解压密码:www.bzxz.net

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标准内容

ICS31—030
备案号:709-1997
中华人民共和国电子行业标准
SJ/T11140-1997
铝电解电容器用电极箔
Electrodefoilfor aluminum
electrolytic capacitor
1997-09-03发布
1998-01-01实施
中华人民共和国电子工业部
-YYKAONYKAa
1范围
试验方法
检验规则
包装、标志、运输和贮存
附录A(标准的附录)
附录B(标准的附录)
附录C(标准的附录)
附录D(标准的附录)
附录E(标准的附录)
附录F(标准的附录)
附录G(提示的附录)
附录H(提示的附录)
氧化膜耐压及升压时间试验方法·电容量试验方法
耐水性试验方法
箔表面残留氟离子浓度试验法
拉力试验法
折弯试验法
未形成箱形成处理法
箔厚和单位质量的面积对照
TYKAoNrKAca
本标准以国内“铝电解电容器用电极箔\的生产和使用需要为基础制定。本标准的附录A~附录F都是标准的附录。本标准的附录G和附录H是提示的附录。本标准由电子工业部标准化研究所归口。本标准起草单位:浙江横店机电集团公司和北京市无线电元件十厂。本标准主要起草人:宋永祥、杨宏燮、陈华昌、吴旭霞、郭茹萍。YkAoNrKAa
1范围
中华人民共和国电子行业标准
铝电解电容器用电极箔
Electrodefoil foraluminum
electrolytic capacitor
SJ/T11140-1997
本标准规定了铝电解电容器用电极箔箱(以下简称电极箔)的型号命名、要求、试验方法、检验规则、包装、存、运输、标志。本标准适用于铝电解电容器用的电极箔(包括:阴极箔、阳极未形成箔、阳极形成箔)。2定义
本标准采用下列定义:
2.1箔etched foil
用于铝电解电容器电极的腐蚀铝箔。2.2光箔plainfoil
没有经过腐蚀的箔。
2.3形成处理formingprocedue
箔表面经过电化学阳极氧化生成作为介质的铝氧化膜(ALO)的处理。2.4未形成箔etchedanodefoil
表面没有进行形成处理的箱。
2.5形成箔formingfoil
表面进行过形成处理的箔。
2.6阳极箔anodefoil
电容器阳极用的箱。
2.7阴极箔cathodefoil
电容器阴极用的箔。
2.8额定工作电压(Vw)ratedworkingvoltage铝电解电容器额定工作电压值。2.9额定形成电压(V)ratedformingvoltage箔表面氧化膜额定耐压值。
2.10形成电压(V)formingvoltage对未形成箱形成处理时,所加的最终电压。2.11升压时间(T,)timetoreachVr中华人民共和国电子工业部1997-09-03批准YKAONKa
1998-01-01实施
SJ/T11140-1997
对形成箔按规定电流升压到形成箔额定形成电压(V)的90%值(Vr)所用的时间。2.12氧化膜耐压值(V)testvoltageforfoiloxidefilm形成箱的耐压值为升压时间(T)3min时的电压值。V.值应大于或等于V.值。2.13纯水purewater
电阻率大于2MQ·cm的去离子水。2.14沸水处理waterboilingtreatment箱在高温纯水中煮沸处理。
2.15耐水性试验waterresistancetest对箔经水煮处理后稳定性的试验。2.16沸水处理后升压时间(T,60)Trafterboilingtreatment形成箔经水煮60min后,所测定的升压时间。2.17箔的电压分类voltageclassificationforfoil7.7V≤V<170V为低压阳极形成箔,V≥170V为中高压阳极形成箱。3
型号命名
3.1电极箔的品名由下列三部分组成:xx
3.2示例:
用数字表示该种类箱的序号
用英文字母表示电极箔的种类(C-阴极箱;L一低压阳极箱;H-中高压阳极箱)。
用二位或三位数字表示电极箔的厚度(um)。50C01一表示厚度为50μm的第一种阴极箔。65L01一表示厚度为65um的第一种低压形成箱。95H01一表示厚度为95um的第一种中高压形成箔。3.3为了区别铝原箱的纯度,可在序号后加英文字母。如不加字母为纯度大于或等于99.99%,加B为99.98%。
4.1外观
电极箱外观应均一致其表面不允许出现影响使用效果的斑点、色调变化、针孔、皱折、箱边不平整、粉状物、裂口等。
4.2尺寸
4.2.1电极箔厚度及其允许偏差应符合表1规定。2
YKAONrKa
阴极箱
阳极箱
SJ/T11140—1997
表1电极箔厚度及其允许偏差
15、20、30、40、50、60、
40、50、55、60、65、70、75、80、85、90、95、100、104电极箔卷宽度及允许偏差应符合表2规定。表2箔卷宽度及允许偏差
电极箔卷种类
阴极箔卷
低压阳极箱卷
中高压阳极箔卷
箔卷宽度
电极箱卷直径及允许接头数应符合表3规定。表3箱卷直径及允许接头数
箔卷类型
箔卷外径
充许偏差
允许偏差
允许接头数
接头处应有明显标识,且两个接头之间最短距离为50m;接头与箔末端之间最短距离应大于50m。
4.3电容量标称值(C)的排列
4.3.1电容量标称值应按表1、表4、表5等系列规定要求排列。4.3.2
电容量的允许偏差,应符合如下规定:-10%~+15%
阳极箱
阴极箔≥-10%
4.3.3电容量离散率≤14%(只对阳极箱)。4.4
额定形成电压(V)
低压阳极形成箔额定形成电压应符合表4规定。表4低压阳极形成箔额定形成电压系列表V
中高压阳极形成箔额定形成电压应符合表2规定。33
YKAONKa
升压时间(T)
SJ/T11140—1997
表5中高压阳极形成箔额定形成电压系列表200
升压时间应符合如下规定:
低压阳极形成箔T≤(0.5Vr+100)sb)
中高压阳极形成箔T≤(0.2V,+150)sc)未形成箔经形成处理后,判定标准同a)或b)。4.6氧化膜耐压值(V.)
氧化膜耐压值V,≥Vto
耐水性
阳极形成箔:升压时间T,60≤150s。阴极箔:
C≥90%C。(C。为标称值)。
表面残留氯离子浓度(X)
X≤1.0mg/m(以投影面积计算)4.9
抗拉强度和折弯次数
阴极箱的抗拉强度、折弯次数应符合表6规定。350
表6阴极箔的抗拉强度和折弯次数箱
抗拉强度
阳极形成箔的抗拉强度、折弯次数应符合表7规定。表7阳极形成箔的抗拉强度和折弯次数箱厚
55(50)
65(60)
低压阳极形成箱
抗拉强度
折弯数
折弯次数
中高压阳极形成箱
抗拉强度
YKAoMYKAa
折弯次数
箔摩厚
75(70)
80(85)
90(95)
104(100)
SJ/T11140-1997
续表7
低压阳极形成箱
抗拉强度
注:括号内数字为参考值。
试验方法
试验气候条件
折弯次数
中高压阳极形成箔下载标准就来标准下载网
抗拉强度
折弯次数
除特殊规定外,一般应在温度15℃~35℃,相对湿度45%~75%,大气压力86kPa~106kPao
5.2试样选取位置
除特殊规定外,下列取样位置适用于氧化膜耐压试验,电容量试验和耐水性试验。5.2.1箱卷左、右部位定义见图1。箔宽
图1箱卷左、右部位定义示意图
5.2.2阴极箱取样位置示意图见图2。左
阴极箔取样位置示意图
YKAoMYKAa
阳极箱按图3位置取样。
SJ/T11140—1997
图3阳极箔箱取样位置示意图
5.3外观
箔外观检验采用目视检查。
5.4尺寸
箱厚度用1级千分尺检验:箱卷宽度采用精度为1mm的直尺检验:接头数用目视检查。5.5升压时间(Tr)
升压时间测定按附录A(标准的附录)进行测定。5.6氧化膜耐压值(V.)
氧化膜耐压值按附录A(标准的附录)进行测定。5.7电容量(C)
箔电容量及其允许偏差,电容量离散率按附录B(标准的附录)进行测定。5.8耐水性
耐水性试验按附录C(标准的附录)进行测定。5.9表面残留氯离子浓度(X)
表面残留氯离子浓度测量按附录D(标准的附录)进行测定。5.10抗拉强度
抗拉强度试验按附录E(标准的附录)进行测定。5.11折弯次数
折弯次数按附录F(标准的附录)进行测定。6
检验规则
交收试验项目见表8
电极箱交收试验项目表
未形成箱
阴极箔
低压阳极
形成箱
中、高压阳
极形成箱
阳极形成箱
注:““为交收试验的项目。
电性能试验
升压时间及
氧化膜耐压
电容量
化学性能试验
耐水性
箱残留
氯离子
YKAoMYKAa
机械性能试验
6.2检验批
SJ/T111401997
由同--型号,同一规格在相同工艺条件下生产的电极箱组成。6.3抽样
在检验批中任意抽取个箔卷进行交收试验。6.4试验方法
试验方法按附录A~附录F(标准的附录)进行。6.5合格判定
根据本标准规定的性能指标,全部达到判为合格,如有任意一项不合格,则判为不合格。6.6不合格处理
如果检验批由数卷箔卷组成,则允许再抽取一卷或一卷以上箱进行交收,如合格,则除第一抽样箱卷不合格外其余仍判为合格并接收。如有一卷仍不合格,则该批判为不合格并拒收。7包装、标志、运输和贮存。
7.1包装
7.1.1内包装
内包装先用牛皮纸包紧,放进干燥剂后外面套塑料薄膜袋,两端扎紧,以防湿气浸入内部。在箔卷两端用木板,泡沫塑料等固定。7.1.2外包装
小卷产品用纸箱包装。对需要长途或海运时,可用木箱加固。7.2标志
7.2.1产品标志(出厂质量证明单)产品标志必须一式两份,一份贴在纸箱的端部,另一份装在箱卷包装塑料袋内。7.2.2产品标志内容
a)制造厂商标、名称、地址,需要时应加条码;b)品名:阳极形成箱,还应加额定形成电压(V,)值。如:65L01一33Vt;c)额定工作电压(V):
d)生产批号和生产日期:
e)该卷箔的长度(可含厚度)、面积、质量等;f)表8规定的项目检验值(电容量应标头、尾值);g)检验员(或代号)和检验日期。7.3运输
可用任何运输工具进行运输。
7.4贮存
箱卷应放在空气流通的仓库内,库房温度应在15℃~35C,相对湿度不超过80%。不直接与地面接触,周围环境应无氯化物或其他有害气体。箔箱片直到使用前均应密封保管不得与水接触。
贮存的有效期为六个月,超过此期限的产品在使用前应重新进行测量。7
HYKAONKa
试验装置
直流电源:
直流电压表:
直流电流表:
电压记录仪:
测定槽:
温度计:
试验电路
见图A1。
测定液
低压形成箔用:
纯水:
己二酸铵:
电阻率:
(70℃±2℃)
(50±2):
SJ/T11140—1997
附录A
(标准的附录)
氧化膜耐压及升压时间试验方法纹波电流≤2%;稳压精度±3%。内阻1MQ以上,准确度±0.5%。
内阻应远小于负荷阻值。
内阻1Mα以上,准确度±0.5%。容量500ml±50ml,深度100mm±20mm材料可用不锈钢(1Cr18Ni9Ti)或其它不影响测量结果的材料。量程为100℃精度为±1℃。
试验片
直流电源
测定槽
A:直流电流表:
V:直流电压表或电压记录仪。
氧化膜耐压测试电路图
1000ml
150g(电容级)
中、高压形成箔用:
1000ml
TYKAoNrKAca
电阻率:
(70℃±2)
50℃±2)
试验片尺寸
见图A2。
测定电流
SJ/T11140—1997
70g(电容级)
7500n.cm±300n·cm
被测定部分
[图A2试验片尺寸示意图
投影面积:5cm2,冲压毛刺<0.01mm,引出部分形状任意。1mA±0.1mA(低压形成箱),2mA±0.2mA(中、高压形成箱)。注:用于测定大形成箱(已经小样形成处理)时,测定电流为上述值的二倍。A6
测定液温度
85℃±2℃
测定程序
引出部分
a)把试验片浸入测定液内,使被测部分低于液面(6~8)mm通过上述规定的测定电流记录电压上升曲线。
b)从通电开始直到电压升至V,的90%(Vr)所用的时间,作为升压时间(Tr)进行记录。测定未形成箔(已经形成处理)和升压时间为低压箔的Vr与Vre相同;中高压箔的Vr为Vt的90%值。
e)把从Tr开始(180±10)s后到达的电压为氧化膜耐压(Vt)进行记录。电压
Tr(=Vfx0.9)
图A3升压时间和氧化膜耐压测试示意图YKNYKAca
时简(min)
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