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SJ 2215.12-1982

基本信息

标准号: SJ 2215.12-1982

中文名称:半导体光耦合器入出间隔离电容的测试方法

标准类别:电子行业标准(SJ)

标准状态:现行

发布日期:1982-11-30

实施日期:1983-07-01

出版语种:简体中文

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相关标签: 半导体 耦合 隔离 电容 测试方法

标准分类号

中标分类号:通信、广播>>通信、广播综合>>M01技术管理

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出版信息

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标准价格:8.0 元

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标准简介

SJ 2215.12-1982 半导体光耦合器入出间隔离电容的测试方法 SJ2215.12-1982 标准下载解压密码:www.bzxz.net

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SJ 2215.12-1982 半导体光耦合器入出间隔离电容的测试方法

标准内容

中华人民共和国电子工业部部标准半导体光耦合器入出间
隔离电容的测试方法
SJ2215.12—82Www.bzxZ.net
本标准适用于光耦合器人出间隔离电容Ciso的测试测试输人一输出间电容Ciso的要求应符合SJ2215.1一82《半导体光耦合器测试方法总则》。2输人一输出间电容Crso的测试
2.1定义
光耦合器件输入端和输出端之间的电容值。2.2输人至输出间电容Ciso的测试原理图应符合下图。电容计
3测试步骤
调节零位,然后放上被测管在指示器上显示出来的读数,即为该管的输人输出间的隔离电容。注:测试、频率及讯号幅度在产品标准中规定。中华人民共和国电子工业部1982-11-30发布1983-07-01实施
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