基本信息
标准号：
SJ 2355.4-1983
SJ 2355.4-1983半导体发光器件测试方法 结电容的测试方法
标准类别：电子行业标准(SJ)
发布日期：1983-08-15
实施日期：1984-07-01
出版语种：简体中文
下载格式：.rar.pdf
下载大小：35.79 KB
相关标签：
器件
半导体
发光
标准分类号
标准ICS号：电子学>>31.260光电子学、激光设备
中标分类号：能源、核技术>>能源、核技术综合>>F01技术管理
关联标准
相关单位信息
标准简介
SJ 2355.4-1983 半导体发光器件测试方法 结电容的测试方法 SJ2355.4-1983
📥 下载资源
免费下载解压密码 www.bzxz.net
🌀 夸克网盘
下载大小：35.79 KB · rar
前往下载 →
💡
点击"前往下载"跳转网盘，直接保存文件
遇到问题？
标准内容
中华人民共和国电子工业部部标准半导体发光器件测试方法
结电容的测试方法
本标准适用于发光二极管、数码管、符号管结电容的测试。SJ2355.4-83
1测试结电容总的要求应符合SJ2355.1-83《半导体发光器件测试方法总则》。
2结电容C。的测试
2.1定义
在零偏压下，被测单元的电容值。2.2结电容的测试电原理图应符合下图。振荡器
选频放大器
2.3测试步骤
鉴频器
指示器
调节零位，调节频率至规定频率，放上被测管，在指示器上显示出来的读数即为该管的结电容值。中华人民共和国电子工业部1983-08-15发布1
1984-07-01实施
小提示：此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容，若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。
