SJ 2355.6-1983 半导体发光器件测试方法 光通量的测试方法 SJ2355.6-1983 标准下载解压密码：www.bzxz.net

中华人民共和国电子工业部部标准半导体发光器件测试方法
光通量的测试方法
本标准适用于半导体发光二极管、数码管等的光通量测试。SJ2355.6-83
1测试光通量总的要求应符合SJ2355.1一83《半导体发光器件测试方法总则》。
2光通量的测试
2.1定义
半导体发光器件的光通量，指该器件正前方半球空间所发射能为人眼感受的全部光功率。Φ=Km
式中：
C7600A
Pu,Va,d2
辐射量和光度量的换算因了，其值为680lm/W；发射器件的光谱功率分布；
视觉函数。bzxZ.net
2.2测试电原理图应符合下图。
恒流源
2.3要求
反射腔
2.3.1求出该测量系统的光通量常数K。，以用来校准测量系统。K.=-
式中：K。—-测试系统的光通量数，1m/格；中
一“标准”器件的光通量值，Im，一光电检流计对“标准”器件的读数，格。2.3.2反射腔形式
2.3.2.1测量器件的屏孔必须比反射腔的球面小。2.3.2.2
反射腔球内的涂层应均匀，反射率要高。2.3.2.3
接收器由某种光电探测器和合适的滤光器组成。光电检测计
在发光器件的发光光谱范围内，接收器的相对光谱灵敏度力求与视觉函数一致。中华人民共和国电子工业部1983-08-15发布(1)
1984-07-01实施
测试步骤
2355.6—83
将被测器件安装在预定位置，调节恒流源，使正向工作电流达到规定值。然后读取光电检流计的
读数，再按光通量常数计算被测器件的光通量值。2
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