本标准适用于角跟踪天线的特殊测量。 SJ 2534.12-1987 天线测试方法 角跟踪天线的特殊测量 SJ2534.12-1987 标准下载解压密码：www.bzxz.net
本标准适用于角跟踪天线的特殊测量。

中华人民共和国电子工业部部标准天线测试方法
角跟踪天线的特殊测量
本标准适用于角跟踪天线的特殊测量。1概述
1.1电轴、基准轴和指向误差
1.1.1电轴
SJ2534.12-87
由天线方向图某一电气参数所确定的方向称为电轴。电轴是相对于称为基准轴的参考方向确定的。
1.1.2基准轴
由电轴、机械轴或光轴所确定的方向作为天线指向的基准，该指向基准称为基准轴。1.1.3指向误差
天线的电轴与其基准轴的角度偏差称为指向误差。它是一个被测的量，应以基准轴为基准，通过测量对关线系统的电轴进行校准。1.2电轴指向精度
1.2.1单一主瓣天线的电轴指向精度通常以最大响应方向或最大值两边等响应点之间的中间方向定为具有单个主瓣的天线的电轴方向。按此方法确定的精度通常约为十分之一半功率波束宽度。1.2.2角跟踪天线的电轴指向精度采用角跟踪天线可得到较高的电轴指向精度，如图1所示，角跟踪天线具有两个或多个波瓣
差方向图的最
小值或零值
/波避2或在斤一个时刻
的波瓣1
波瓣/+波瓣2和）
/淡/-波2（差）
一角度
跟踪天线所接收的信号与目标角度的关系（a）.单脉冲或圆锥扫描的波瓣方向图（b).单脉冲的和差方向图
电子工业部1987-01-06发布
1987-06-01实施
SJ2534.12-87
重送波束或波瓣。对这些波瓣进行比较可得出一个幅度或相位相等的方向，即电轴方向。当比较是顺序进行时，称为顺序波束转换，并且一般是比较幅度。顺序波束转换的两个例子是圆锥扫描和波束转换。当比较是同时进行时，称为同时波束转换或单脉冲。在这种情况下，，可以比较幅度或相位。角跟踪天线的电轴指向精度与信噪比有关，一般约为百分之一半功率波束宽度。
2圆锥扫描角跟踪
2.1圆锥扫描天线
圆锥扫描天线采用单一波束，使波束的轴形成一个圆锥形扫描。图1（a）表示通过波束圆形路径上两个相对的极限位置的方向图的截面。2.2幅度调制包络线中的基波信号和谐波信号当目标不在如图1（a）所示的两个波瓣的等电压点所确定的交叉轴上时，信号随波束位置而变化，故在扫描周期中，天线所接收或发射的射频电压是幅度调制的。幅度调制的包络线是一个复杂的信号，在该信号中观察到的最低频率，或基波，是扫描频率。基波对射频电压的调制度在跟踪系统中是重要的。基波扫描频率的谐波是由扫描过程中固有的非线性引起的。在交叉轴上，谐波信号理论上与基波信号一样应趋于零。然而在实际上，由于天线方向图的不理想性，例如E面和H面的波束宽度不等，轴向仍会留下残余谐波信号。2.3电轴及误差信号
通常用基波和高次谐波调制来度量目标误差，即目标对电轴方向的角偏移。电轴由基波调制（或误差信号）的零点确定。与目标误差有关的误差信号的斜率和线性度以及误差信号保持单一极性的角度范是跟踪系统的重要设计指标，极性的单一性确定了天线系统能捕获目标的角度范围。调制包络线的谐波分量对解调器的设计是重要的。2.4调制度的测量
可以用单程传输系统（同普通方向图测量中所用的系统）来测量调制特性，此系统利用检波器的平方律特性来模拟正常雷达角跟踪的双程传输。该系统的设备包括微波发射机、检波器、放大器及波形分析仪。安装在远场的发射机用来模拟目标的位置，发射机可以是方波调制的速调管或是以适当的重复频率进行幅度调制的脉冲磁控管。为了测量基波调制，检波器一放大需组合在指定的频带内应具有基本上平坦的响应，该频带的上、下边频分别为重复频率加上和减去圆锥扫措频率。用波形分析仪比较被放大信号的基波和第一边带来确定调制度，第一边带处在重复频率加上或减去扫描频率上。调制度M定义为M下边带幅度+上边带幅度
重复频率的幅度
上、下逆带幅度在理论上是相等的，但是实际上由于测量误差它们可能略有差别。在上式中取的是平均值。
在着手进行系统测量之前，应检查线性度。具体方法是在检波器前插入射频衰减器，对给定的衰减量变化记下波形分析仪上所显示的相对输出电压。至少应在20dB的输入电平变化范围内以分贝计的输出电压的变化是射额衰减改变量的两倍。2.5角灵敏度测量
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由于双程基频调制的角灵敏度不易测量，故通常按公式（2)确定角灵敏度S。该式至少在交叉区域内（在此区域内调制波形的谐波分量不大）有令人满意的近似程度。X100%1.67D
S=_21n10
式中，D—交叉深度，dB
β—3dB波束宽度，（）。
角灵懿度也可用分贝差V表示，分贝差是如图1（a）所示的极限扫描位置上两个方位方向图之间的代数差，数据以分贝计，V~（20lge）（
）=8.686（
3单脉冲角跟踪
单脉冲角跟踪天线的测量在和端口与差端口上进行。电轴由差方向图的最小点确定。其主要测量内容为电轴测量与差斜率测量。3.1电轴测量
3.1.1测试系统
测试系统包括：
a.被测天线；
b，对信号进行道当处理以获得误差信号的附加电路：C.远距离信号源（包括地球外射电源）：d，使天线（或运动的信号源）定向的精密装置：e.指示天线方向的高精度光学或机械指示机构。3.1.2测量
天线（或信号源）按电路的适当误差信号端口上的最小输出取向，然后在特定频率、环境或其它测试变量条件下记下这一方向（或信号源的位置）。对该方向与基准轴进行比较，即可确定该端口的指向误差。若不能连续地记录天线系统输出随信号源角度的变化，可以用内插法求得最小点，因为在测试过程中电轴随系统参量的变化比电轴的绝对方向重要，因此天线方向指示机构的主要要求是在小角度范围内有很高的精度。可以用紧固在天线座上的望远镜来对准远距离信号源处的定标的光学目标，或者也可以用装在长径向臂上的度盘式指示器。当跟踪运动目标时，可用照相机或激光器来测量电轴和基准轴之间的动态误差。3.2差斜率测量
差斜率K的定义与参照基准有关。当以各向同性辐射器为参照基准时K=dVGA
当以同一天线的和增益为参照基准时K
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式中：GA天线的差通道的功率增益；Go一天线的和通道的峰值功率增益；0角度，弧度或度。
也可以以其它的量作参照基准。实际测量时只能求得电轴附近的一个适当角度范围内的平均值，其测量方法与普通方向图测量方法相同。
附加说明：
本标准由电子工业部标准化研究所提出。本标准由电子工业部第三十九研究所负责起草。本标准主要起草人：柯树人
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