本标准规定了铆接式银铜复合触点(以下简称触点)的结构型式与尺寸系列。本标准适用于电力系统二次回路中保护继电器与控制继电器所选用的复合触点。 JB/T 4310-1999 铆接式银铜复合触点 结构型式与尺寸系列 JB/T4310-1999 标准下载解压密码：www.bzxz.net

JB/T4310-1999
JB/T 4310-1999
为节省贵金属银、铆接式银铜复合触点已广泛用于电气领域。按照电力系统二次回路中保护继电器和控制继电器对银铜复合触点的需要，特制定JB4310一86铆接式银铜复合触点结构型式与尺寸系列（第一版）
本标准是对JB4310-86的修订，修订时按照GB/T1.1--1993的要求，在格式上进行编辑性处理，基本内容不变。原标准的附录A(补充件取自于GB/T2828—1981，因GB/T2828—1981已由GB/T2828-1987所取代，本次修订取消该附录，并在有关抽样方法章条中直接引用GB/T2828一1987。本标准为推荐性标准。
本标准自实施之目起代替JB4310—86。本标准由全国量度继电器和保护设备标准化技术委员会提出并归口，本标准由许胃维电器研究所负责起草。本标准主要起草人：田薪、杨炜。10
中华人民共和国机械行业标准
铆接式银铜复合触点
结构型式与尺寸系列
Structuretypeanddimensionseriesforsilvercontactbasedoncopperof riveting
JB/T4310-1999
代替JB4310-86
20002268
本标准规定了铆接式银铜复合触点（以下简称触点）的结构型式与尺寸系列。本标准适用于电力系统二次回路中保护继电器与控制继电器所选用的复合触点。2
引用标准
下列标准所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时，所示版本均为有效。所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。GB/T2828—1987逐批检查计数抽样程序及抽样表3
触点的结构型式与尺寸系列
球面圆形触点结构型式与尺寸系列见图1与表1。图1
国家机械工业局1999-08-06批准2000-01-01实施
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（参考值）
）L尺寸小于1.5mm时，公差值为±0.15；L尺寸大于1.5mm时公差值为±0.20。3.2
球面圆柱形触点结构型式与尺寸系列见图2与表2。Ag
注：括号内尺寸限制使用、下同。L
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（参考值）
1）L尺寸小于1.5mm时，公差值为±0.15；L尺寸大于1.5mm时。公差值为±0.20。平面圆台型触点结构型式与尺寸系列见图3与表3。3.3
JB/T43101999
1）L尺寸小于1.5mm时。公差值为±0.15；L尺寸大于1.5mm时，公差集为±0.200.1
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参复合球面圆柱形触点结构型式与尺寸系列见图4与表4。Ag
当不采用表1~表4所列尺寸系列的触点时，由供需双方协商解决。4技术要求
触点头部银层部分表面粗糙度Ra为3.2Hm，其余部分表面粗糙度Ra为6.3um。触点尾部直径d一般不小于D。
触点头部直径D与触点尾部直径d的同轴度公差值为+0.1mm。触点工作面银复合层厚度t为0.1D≤t≤0.6T。触点尾部长度L-般为：L=d，最小值为L=d
触点应无裂纹、折登鼓泡、表面无凸痕、缺边、缺角等缺陷。结合面的结合强度应不小于10kg/mm2。结合面积应大于80%，不得有集中和肉眼可见的缺陷。触点材料银为99.9%，杂质不超过0.1%：铜为一号铜或二号铜。15
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1）由于各厂铆接工艺不同。专的尺寸由供需双方协商解决；2）.t为叁复合另一端银层厚度，本标准建议为0.3~1.5mm；0
(参考值)
3）L尺寸小于1.5mm时.公差值为±0.15；L尺寸大于1.5mm时，公差值为±0.2016
5.1复合触点标注方法
JB/1-4310--1999
H t.+Ae---o.r s n
3..:.t: 1 r.)
A×A+Ax2TP.a
T + ** p?+.
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触点复苔层厚度让确
触点头部直径D×高度T+尾部直径d×尾部长度T触点形状（用汉语拼音符号表示）触点材料名称（用化学符号表示），C表示触点叁复合触点标注方法
·CA/A/A
A×A+A×A
触点复合层厚度t/13
触点头部直径D×高度T+尾部直径d×尾部长度L触点形状（用汉语拼音符号表示）触点材料名称（用化学符号表示），C表示触点5.3触点形状标注采用汉语拼音字母符号表示方法，如表5。5.4触点材料表示方法采用化学符号表示。a）银铜复合触点的材料表示示例为：Ag/Cu；b）银铜叁复合触点的材料表示示例为：Ag/Cu/Ag。触点的标注示例见表6。
参球柱·
触点材料
Ag/Cu/Ag
触点形状
表示符号
标注方法
CAg/CuQY2×0.7+1×1.20.4
CAg/CuQZ3×1+2×2~0.8
CAg/CuPT 5×1+2.5×2-0.8Www.bzxZ.net
CAg/Cu/AgSQZ4×1+2×20.7/1.417
6检验方法
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6.1有关尺寸检查，生产厂可按GB/2828一1987中表3规定的数量抽样。6.2银铜复合触点头部直径D与尾部直径d、高度T、长度L的检查，用槽度为0.02mm游标-卡尺及精度为0.01mm的外径千分尺或样板模检查。6.3银铜复合触点球面及弧面山率半径用半径量规、球径仪或投影仪进行检测。6.4银铜复合触点工作面复合层厚度t检查，取纵剖面中心线及两边缘外三点测量数值的平均值：用带测量刻度的金相显微镜、工具显微镜或投影仪进行检测。具体测量位置如图5所示。谢量点
6.5银铜复合触点同轴度偏差检查采用样板模、投影仪或垂直于工作面截取中心面经磨样抛光、用带有测量刻度的金相显微镜、工具显徽镜进行检查。6.6银铜复合触点表面粗糙度检查，用样板块对比或表面粗糙度（光洁度）显微镜检测，6.7银铜复合触点表面缺陷检查应在正常照明与视觉条件下进行。7验收
7.1本标准规定的验收，主要是使用触点单位对触点产品进行验收的些具体要求。7.2银铜复合触点头部直径D、尾部直径d、长度L、高度T进行批量检查，按GB/T2828一1987要求。以二次正常检查抽样方案，Ⅱ级一般检查水平进行抽样，7.3银铜复合触点头部直径D、长度L，合格质量水平为4.0级，厚度T合格质量水平为2.5级。当第一次抽检不合格数不大于第一次合格判定数（A，）时，则该批触点可以接收；若抽检样品不合格数达到或超过第一次不合格判定数（R。），则该批触点应拒收。如果抽检样品不合格数大于第一次合格判定数，而又小于第一次不合格判定数，则进行二次抽样。第一、第二次抽样的样品累计不合格数总和小于或等于第二次合格判定数（A。）时（即2×A。），则该批产品可以接收；如果第一次第二次抽样的样品累计不合格数总和达到或超过第二次不合格判定数（R。）时（即2×A）则该批触点产品拒收。拒收的触点可以逐个检查，对尺寸合格触点验收：7.4对银铜复合触点的球面、弧面山率半径、复合层厚度、触点同轴度偏差及触点表面粗趟度定期进行检查，每次检查不少于5个。
7.5定期检查为每月一次。检查结果做为工艺整领和质常评定的依据。18
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