SJ 2674-1986
标准分类号
中标分类号:综合>>标准化管理与一般规定>>A01技术管理
出版信息
出版社:电子工业出版社
页数:9页
标准价格:15.0 元
出版日期:1986-09-01
相关单位信息
起草人:满开来、何德隆
起草单位:国营第七一八厂
归口单位:电子工业部标准化研究所
发布部门:中华人民共和国电子工业部
标准简介
SJ 2674-1986 电子器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RJ16型金属膜固定电阻器 评定水平E SJ2674-1986 标准下载解压密码:www.bzxz.net
标准内容
中华人民共和国电子工业部部标准SJ2674-86
电子元器件详细规范
低功率非线绕固定电阻器
RJ16型金属膜固定电阻器
评定水平E
1986-02-18发布
中华人民共和国电子工业部
1986-10-01实施
中华人民共和国电子工业部部标准电子元器件详细规范
低功率非线绕固定电阻器
RJ16型金属膜固定电阻器
评定水平E
中国电子技术标准化研究所
按BC5729-85进行质量评定的电子元器件按1EC11E-
外形图:(见表1)
(第一角视图)
·引线根部踪层长度
SJ2674-86
GB5731-85
IEC115-2-1
低功率非线绕固定电阻器
(RJ16型金属膜电阻器)
绝缘型
评定水平:E
稳定度等级:2%
SJ2674-86
按本详细规范鉴定合格的元器件的有效资料在鉴定合格产品一览表中给出。第一章一般数据
1一般数据
1.1推荐的安装方法
电阻器应以正常方式安装。
在振动试验中,电阻体与安装点之间的距离应为6±1mm1.2尺寸、额定值和特性
电子工业部193602-18发布
1986-10-01实施
70℃额定
温度系数
(10-*/℃)
全部尺寸以毫米为单位。
阻值范围*
标称阻值允许偏差
气侯类别
低气压
稳定度等级
阻值变化极限值:
长期试验
短期试验
温度系数
1.2降功耗
SJ2674-86
元件极限电压
(直流或交流
有效值)
绝缘电压
(直流或交流
蜂值)
10%至10MQ
±2%,±5%
55/125/56
8.5kPa(85mbar)
±(2%R+0.19)
最大尺寸
±(0.5%R+0.052)
α;±250×10-*/℃
本规范包括的电阻器按下曲述线降功耗:定办率
的百分
推荐工作区域
-55℃
1.3有关文件
GB5729-85
·优先值为IEC63的E系列。
125℃
环壤温度
电子设备用固定电阻器
d标称:
公差:
BG5730-85
1.4标志
SJ2674-86
第一部分:总规范
电子设备用固定电阻器
第二部分:分规范:
低功率非线绕固定电阻器
元件和包装上的标志应符合总规范BG5729-85第2.4条的要求,电阻器上的最少标志内容:
a.标称阻值;
b.标称阻值允许偏差;
c.制造年、月(或周)。
电阻器包装上的标志内容:
a.标称阻值;
b.标称阻值允许偏差;
c.制造年、月(或周);
d.详细规范号和品种标记
e.制造厂的名称和商标;
f.包装内的数量;
g.包装人员的姓名和代号;
h.检查部门印章。
1.5订货资料
订购本规范电阻器的订单应该用一般文字或代码形式列出下述最少内窄:a.标称阻值:
b.标称阻值允许偏差;
c.详细规范的编号和版本号以及品种标记。1.6放行批证明记录
要求提供本记录时,应与制造者协商解决,1.7附加内容(不检验)
电阻器的重量应不超过2g/只。
1.8对总规范和(或)分规范的规定而言,增加或提高的严酷度和要求无规定。
第二章检验要求
2检验要求
2.1程序
2.1.1鉴定批准程序应符含分规范GB5730-85第3.2条的规定3
SJ2674-86
2.1.2对于质量一致性检验,其试验一览表(表2)包括抽样、周期、严酷度和要求。分规范第3.3.1条规定了检验批的组成。注:要求干燥时,应采用总规范GB5729-85第4,3条的程序I。表2
注:①除了阻值变化要求应从分规范GB5729-85的表1和表2相应地逸定外,试验项目和性能要求的条款号引自总规范GB5729-85。
②检查水平(IL)和合格质量水平(AQL)选自IEC410:计数检查抽样方案和程序。?表中:
p一周期,月,
n一样本大小:
C一合格判定效(充许不合格品数)D一破环性的;
ND一非破环性的,
IL一检套水平
AQL一合格质量水平
条款号和试验项目
(见注①)
A组检验
(逐批)
A1分组
4.4.1外观检查
A2分组
4.4.2尺寸(量规检
4.5阻值
B纽检验
(遂批)
B1分组
4.7耐电压
IEC410。
试验条件
(见注@)
应使用1/:0mm量具
方法:V形块法,
加峰值交流电压并为绝
缘电压值的1.42倍
(见注?)
性能要求
(见注)
按4.4.1条
标志清楚并符合本规范1.4
条规定
按本规范表1规定
按4.5.2条
无击穿戴飞题
条款号和试验项目
(见注)
B2分组
4.17可焊性
4.13过载
条款号和试验项目
(见注①)
C组检验
(周期)
C1A分组
(C1分组样本的一半)
4.16引出端强度
SJ2674-86
试验条件
(见注④)
要求老化:温度155
C,时间4h,方
法:球焊法,设备
的温度应调节并保
持在235±2℃
特基酵间男霜
施加的电压应为
2.5倍额定电压或2
倍元件极限电压,
取较低者
外观检查
试验条件
(见注①)
拉力:10N
(见注?)
样本大小和
合格判定数
(见注③)
弯曲(引出端数目的一半)
扭转(引出端数目的另
一半)
续表2
性能要求
(见注@)
焊料应在2S内流合
无可见损仿,标志清慈
AR<±(0.5%R+0.05Q)
续表2
性能要求
(见注)
条款号和试验项目
(见注①)
4.18耐焊接热
C1B分组
(C1分组样本的另一半)
4.19温度快速变化
4,22报动
C1分组
(C1A和C1B分组样品的
SJ2674-86
验条件Www.bzxZ.net
(见注①)
外观检查
方法:1A,槽温260±50,
没入时间:10士1s
没入深度:距元件主体
外观检查
e--55℃
Q:=+125℃
外观检查
安装方法:见本规范
程序:B4
额率范围:10Hz至500Hz
振幅:0.75mm或加速度
98ms/2(取较小
总持续时间:6h
外观捡查
样本大小和
合格判定数
(见注③)
续裹2
能要求
(见注@)
无可见损伤
AR<≤±(0.5%R+0.052)
无可见损伤,标志清楚
△R<±(0.5%R+0.05)
无可见损伤
△R<±(0.5%R+0.05Q)
无可见损伤
AR≤±(0.5%R+0.05Q)
条款号和试验项目
(见注①)
组合样本)
4.23气候顺序
循环湿热,试验
Db,第一个循环
一低气压
循环湿热,试验
Db,其余的循坏
—直流负荷
C2分组
4.25.170它耐久性
SJ2674-86
试验条件
(见注①)
8.5kPa(85mbar)
外观检查
绝缘电阻
持续时间:1000h
在48h,500h和1000b时
检查:
外观检查
在1000h时检查:
绝缘电阻
建议制造者每年将一次
季度试验延长至8000h
在2000h、4000五和
8000h时检查:
祥本大小和
合格判定数
见注③)
续裹2
性能要求
(见注④)
无可见损伤,标志消楚
△R≤±(2%R+0.12)
R≥100M2
无可见损伤
AR≤±(2%R+0.19)
R≥IGQ
△R<±(5%R+0.59)
(所得结果仅供参考)
条款号和试验项目
(见注?)
C3分组
4.8阻值随温度变化
D组检验
(周期)
D1分组
4.24稳态湿热
D2分组
4.4.3尺寸(详细的)
4.25.3上限类别温度
耐久性
附加说明:
SJ2674-86
试验条件
(见注①)
-55℃/20℃
20/+125℃
4,24.2.2条
第1组10只样品
第2组10只样品
外观检查
绝缘电阻
持续时间:1000五
在48h、500h和1000h时
检查:
外观检查
在1000h时检查:
绝缘电阻
1.本标准由电子工业部标准化研究所提供2.本标准由国营第七一八厂等单位负责起草。3.本标准主要起草人满开来、何德隆。8
样本大小和
合格判定数
(见注③)
性能要求
(见注?)
α±250×10-5/℃
α±250×10-a/
无可见损伤,标志清楚
△R<±(2%R+0.12)
R≥100MQ
符合本规范表1规定
无可见损伤
△R<±(2%R+0.1)
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