本标准规定了地面炮瞄雷达天线(以下简称天线)的通用的技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存，是大线设计、制造和验收的基本依据。本标准适用于编写产品标准(技术条件)。本标准未包括的内容，如有必要，应在产品标准(技术条件)中明确规定。 SJ 3251-1989 地面炮瞄雷达天线通用技术条件 SJ3251-1989 标准下载解压密码：www.bzxz.net
本标准规定了地面炮瞄雷达天线（以下简称天线）的通用的技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存，是大线设计、制造和验收的基本依据。本标准适用于编写产品标准（技术条件）。本标准未包括的内容，如有必要，应在产品标准（技术条件）中明确规定。

GB 3784 雷达名词术语
GJB 74.2 军用地面雷达通用技术条件 常用名词术语
GJB 16 地面炮瞄雷达可靠性试验方法
GJB 74.1～14 军用地面雷达通用技术条件
GJB 2534.1～18 天线测试方法
SJ 2267 军用电子设备及机械电气装配通用技术条件

中华人民共和国机械电子工业部部标准SJ3251-89
地面炮瞄雷达天线通用技术条件1989-03-20发布
1989-03-25实施
中华人民共和国机械电子工业部发布中华人民共和国机概电子工业部部标准地面炮瞄雷达关线通用技术条件1主题内容与透用范围
SJ3251—89
本标准规定了地面炮瞄雷达天线（以下简称天线）的通用的技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和存、是天线设计、制造和验收的基本依据。本标准适用于编写产品标准（技术条件）本标准未包括的内容，如有必要，应在产品标准（技术条件)中明确规定、2引用标准
GB3784
GJB74.1~14
SJ2534.1~18
SJ2267
3术语
留达名词术语
军用地面雷达通用技术条件常用名词术语地面炮瞄雷达可靠性试验方法
军用地面雷达通用技术条件
天线测试方法
军用电子设备及机械电气装配通用技术条件凡本标准未定义的名词术语、均以国家标准GB3784《雷达名词术谭》、GJB74.2为准。
3.1损坏
损坏包括以下几项内容：外部和内部结构破裂，或有裂缝，结构不可恢复的应变或变形，螺齿的损坏、玻璃纤维天线或天线罩剥离、环氧树脂粘接点或金属焊接点破裂、公差极限的改变。
3.2变质
变质包括以下几项内容，因不适当的表面处理引起的褪色、腐蚀擦伤电镀层或油漆起泡，起坑或剥离、零部件扭曲或弯曲、过度的磨损、长霉和内部受湿等，3.3性能下降
性能下降的含义包括机械和电气性能的任何降低，以至不满足规定值，3.4三通道单脉冲需达
典型的比幅单脉需达，它有三个中频通道，一个和信号通道、一个方位误差信号通道和-~个俯仰误差信号通道，三个通道均以和信号作为参考信号，以此确定角误差检波器误差信号的极性。
中华人民共和国机械电子工业部1989-03-20批准1989-03-25实施
3.5单通道脉冲雷达
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系指单脉冲雷达接收机中只有一个中频通道：它能通过某种方式使和，差信号合并，并在输出端分别恢复，
3.6双通道单脉冲雷达
系指单脉冲雷达接收机中有二个中频通道，它有两种形式，一种是和加差及和减差，种是和差分开。
4技术要求
4.1一般要求
4.1.1天线及其整件，部件和零件应符合承制方设计的图纸和编制的文件4.1.2天线及其整件、部件应在适当的位置印上检验合格印章，如有特殊要求，应在设计图纸上规定印字位置。
4.1.3材料
应使用保证满足天线性能和环境要求的材料。4.1.4表面处理
表面处理应符合GJB74.5《军用地面雷达通用技术条件设计制造要求》中4.11条的规定，颜色应符合GJB74.5中4.11.3的要求4.1.5电气和机械装配要求
天线应按设计图纸装配。除非在产品标准（技术条件）中另有规定，天线的电气和机械装配要求应按SJ2267执行。
4.1.6电气和结构设计制造要求
除非产品标准（技术条件）中另有规定，天线的高频接插件，波导、同轴线及馈电元器件、天线反射体的设计制造要求应按GJB74.5中4.4、4.5和4.6条执行。4.2性能要求
4.2.1三通道单脉冲炮瞄留达天线4.2.1.1天线的工作频带宽度
天线的工作频带宽度应在产品标准（技术条件）中规定，在规定的频带宽度内，天线的平面方向图，电轴漂移，电压驻波比和功率容量应满足相应的规定。4.2.1.2天线平面方向图
4.2.1.2.1和支路波束宽度
天线和支路波束宽度应满足规定要求（见产品标准或技术条件。下同）4.2.1.2.2和支路副瓣电平
天线和支路的副瓣电平应满足规定要求，4.2.1.2.3和支路增益
天线和支路增益应满足规定要求。4.2.1.2.4差支路副瓣电平
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天线差支路的副游电平应满足规定要求4.2.1.2.3差支路增
天线方位差支路机高低差支路的增益都应满足规定要求。4.2.1.2.6差支路幅度不平衡度
天线方位差支路和高低差支路的幅度不平衡度都应满足规定要求。4.2.1.2.7差支路零值深度
天线方位差支路和高低差支路的零值深度都应满足规定要求，4.2.1.3电轴漂移
在规定的频带宽度内，天线电轴在方位面及俯仰面的位罩随频率的相对变化量，应满足规定要求，
4.2.1.4电压驻波比
天线的电压驻波比应满足规定要求。4.2.1.5功率容量
天线的功率容量应满足规定要求，4.2.2单通道和双通通单脉冲雷达天线对于单通脉道和双通道单脉冲雷达天线，4.2.1的全留内容均适用，此外还应包括以下内容，
4.2.2.1合成波束的交叉电平
天线合成波束的交义电平应满足规定要求。4.2.2.2合成波束和副避电平
天线合成波束的副瓣电型应满足规定要求。4.2.3圆锥打扫描雷达天线
4.2.3.1天线的工作频带宽度
同4.2.1.1条，
4.2.3.2天线平面方向图
4.2.3.2.1天线波束宽度
天线的波束宽度应满足规定要求，4.2.3.2.2天线副瓣电平
天线副电乎应满足规定要求。
4.2.3.2.3天线增益
天线增益应满足规定要求，
4.2.3.2.4锥扫波束交义电平
天线锥扫波束交叉电平应满足规定要求。4.2.3.3电轴漂移
间4.2.1.3条。
4.2.3.4电压驻波比
间4.2.1.4条。
4.2.3.5功率容量
同4.2.1.5条，
4.3环境条件要求
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本标准只包括天线总的环境条件要求，产品标准（技术条件）还应根据需要列人一些其他环境，或综合环境试验，并对环境试验的项目和顺序作出规定。除非在产品标准中另有规定，环境试验的通用要求按GJB74.6《军用地面雷达通用技术条件环境技术要求和试验方法》中第三章“通用要求”执行，天线的环境试验可与炮瞄留达总站一起进行，如有必要，也可单独进行，4.3.1温度
4.3.1.1工作温度
天线热稳定在-45℃～+55℃之间的任何温度时，天线不应有结构松动、损坏、变质和性能下降，
4.3.1.2贮存温度
天线在一50℃～+65℃每种极限温度下贮存不少于4h后，天线不应有结构松动、损坏、变质和性能下降。
4.3.2恒定湿热
炮瞄雷达天线暴露于环境湿度为+35℃，相对湿度为95%~98%的大气压中不少于48h后不应有结构松动、损坏、变质和性能下降。4.3.3冲击
天线在沿三个相互垂直的轴的每个轴的正反方向上各3次冲击后（即总共18次冲击)，天线应无结构松动、损坏和性能下降，4.3.4振动
天线应按正常工作位置安装在振动台上，振动试验应在正常的试验大气条件下进行，并沿三个相互垂直的轴线循环扫颊.经扫频振动后天线不应有结构松动、损坏和性能下降4.3.5淋雨
天线在强度为5mm/min的雨中1h后，天线应无损坏和变质，应能满足4.2的要求。
4.4可靠性的要求
天线可靠性的要求应满足整机对天线分系统可靠性的要求：在产品标准（技术条件）中规定MTBF的值。
4.5维修性的要求
如果在产品标准（技术条件）中未规定天线可维修性的要求，则按4.5.1条执行，如果规定了可维修性的要求，建议按4.5.2条执行，4.5.1不可维修的
未规定为可维修产品（见产品标准）的天线，应认为有不可维修的，一经损坏，应进行更换.
4.5.2可维修的
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当对天线及其整件、零部件的可维修性有规定时，应符合以下通常的维修性原则：a。采用对维修时涉及的设备和人员最为安全的设计方案，b。设计时，要求尽量减低为达到适当的维修技术熟悉水平，而需要的维修技能与训练。
c.设计时，尽量减少为完成维修任务而需要的工具和试验设备的类型。d。采用最便于接触需要维修、检验、拆卸或更换所有元器件的设计方案。e.为减少维修工作的复杂性，应最大限度地使用简单设计，包括最佳的互换性使用标准化的元器件，
f.设计时，应使完成预定的维修和更换元器件的平均时间足够短，以保证天线具有所要求的工作效率。
g，采用能增强和便利于基地的野外级维修操作的设计方案。5试验方法
5.1般要求的试验方法
应对天线进行外观和机械检验，并对照设计图纸、产品标准验证天线是否满足4.1的规定。
5.2技术要求的试验方法
5.2.1天线测试场的设计要求
除非另有规定，天线测试场的测试设备的要求应按SJ2534.1《天线测试方法天线测试场的测试设备》执行，
除非在产品标准中另有规定，测试场的辅助天线和被测天线之间的距离应使辐射波在被测天线口径上的最大相位误差不超过22.5°；同时两天线间的距离不可小于10个波长；应对辅助天线的方向性进行选择，以提供一个在被测天线口径上幅度锥削小于0.5dB的辐射波阵面，由反射和其它源来的无关信号的最高电平不得超过由辅助天线经直接路径到达被测天线的-40dB，这应通过对被测天线口径的场强探测来验证。5.2.2三通道单脉冲炮瞄雷达天线5.2.2.1天线工作频带宽度的测试方法见5.2.2.2、5.2.2.3、5.2.2.4和5.2.2.55.2.2.2天线平面方向图的试验方法除非产品标准（技术条件）另有规定，对于非点频工作的炮瞄雷达，应在规定的工作频率范围内，选取若干频率点测量天线的平面方向图，相邻频率点的频率间隔按以下原则选取：
中心频率在2000MHz～5000MHz时频率间隔不大于250MHz。a.
b.中心频率高于5000MHz时，频率间隔应不大于500MHz5.2.2.2.1和支路波束宽度的试验方法a，典型的天线测试系统方框图如图1所示，接收系统接在天线和支路的输出口，5
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b。将辅助天线与被测天线的极化状态调至匹配，将信号源的频率调至调书测试场的控制装置，使辅助天线和被测天线的主瓣最大值在方位面扣筛仰面部对准，c.调节可变衰减器至AdB(A值可以从衰减器线性轮好的一段中任意送定，调节接收系统使记录设备至某参考电平。d.将可变衰减器调至（A~3)dB，将被测天线在方位面上额时针旋转直至记录设备的指示低于原来的参考电平、再逆时针旋转使指示达原来的参考电平、记下这时被测天线支座的方位刻度（，义将被测天线继续逆时针旋转：使记录设备的电平经最大值又回到参考电平，记下这时天线支座的方位刻度02。被测天线三分贝波束宽度.5、按下式计算005=|0,--021()-
将信号源频率依次调至其它频率点，重复c到d步骤，可得其他频率点的波束宽度值、
f.调节天线试验场的控制设备，将被测天线和辅助天线的极化位置旋转90。，重复5.2.2.2.1.b到c的步骤，可得另一主平面被测天线的波束宽度值极化定位器
被测天线
测试定位器
接收机
辅助大生
定危寿测试促问意
泰指示器
方商窗
妃表绶备
源塔控输
图1典型的天线测试系统方框图
?信号源
源控制
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5.2.2.2.2和支路副瓣电平的试验方。同5.2.2.2.1a.
b.同5.2.2.2.1b
c。设产品标准(技术条件)中规定的削辨电平极限值是AdB，将衰减器调至AdB，调整接收系统，使记录设备指示到某一参考电平。d.将被测天线在方位面旋转到各副馨位置并在旋转过程中逐渐地将衰减器恢复到零位，被测天线在各个副瓣位置处的指示电平不应超过参考电平，e，将信号源频率依次调到其他频率点，重复c、d步骤。f。将被测天线和辅助天线的极化位均旋转90”，重复c、d、e的步骤。测试另一主平面的副瓣电平值。
5.2.1.2.3和支路增益的试验方法8.同5.2.2.2.1。a;
b.同5.2.2.2.1.b;
c.调节衰减器到A，dB(A，值由试验人员视情况选定），调节接收系统，使记录设备的指示为某一参考电平：
d.将除被测天线以外的全部接收、记录设备接收到标准增益天线，在同一位置调整标准增益天线的仰角和方位，使信号电平最大。调节衰减器到A，dB，使记录设备指示仍为参考电平；
e.被测天线在f。的增益按下式计算G=Go+A,-A2
其中G是标准增益天线在f时的增益，应预先校正。(dB)
f.将信号源频率依次调至其他频率点，重复c至c的步骤，可得其他频率点上的天线增益。
5.2.2.2.4差支路副瓣电平的试验方法依次将接收系统接到方位差支路输出口的高低差支路输出口，董复5.2.2.2.2的全部步骤。
5.2.2.2.5差支路增益的试验方法依次将接收系统接到方位差支路输出口和高低差支路输出口，重复5.2.2.2.3的全部步骤，应注意两个差波瓣的增益都应测试，并均应满足要求。5.2.2.2.6差支路幅度不平衡度的试验方法a。将接收系统接至天线方位差支路输出口，将信号源频率调到fob.同5.2.2.2.1.b这时被测天线的主瓣可以是差波束中任意一个；c。调整可变衰减器至AdB(A值可从衰减器线性较好的一段中任意选定)，调整接收系统，使记录设备的指示为某一参考电平，在方位面上旋转被测天线，使记录电平下降至零点位置又上升至另一最大值；7
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d调整可变衰减器至BdB，使记录设备的指示仍为参考电平；e.对应的差支路幅度不平衡度按下式计算：不平衡度=A一B（dB)..
f.将信号源频率调至其他频率点，重复b至e的步骤；·(3)
g.将辅助天线和被测天线的极化位置均旋转90°，并将接收系统接至高低差支路的输出口重复b至f的步骤。
5.2.2.2.7差支路零值深度的试验方法同5.2.2.2.6a
b.同5.2.2.2.6b;
c。在方位面上旋转被测天线至差支路零点位置，调节接收系统，使记录设备的指示为第一参考电平；
d，旋转被测天线至差波束的最大值位置，调整衰减器至A，dB，使记录指示仍为参考电平；
e、旋转被测天线至差波束的另一个最大值，调整衰减器至AzdB，使记录指示仍为参考电平；
f.被测天线对应差支路的零值深度按下式计算：零值深度=max-A-A2
g，将信号源频率调至其它频率点，重复c至「的步骤；h。将辅助天线和被测天线的极化位置均旋转90°，并将接收系统和记录设备接至天线高低差支路的输出口，重复b至g的步骤，5.2.2.3电轴源移的试验方法
除非在产品标准（技术条件)中另有规定，对非点频工作的天线，应在规定的频率范围内选取若干频率点测盘电轴位置的变化（漂移），相邻测试频率点的间隔应按以下原则选取；
中心频率在2000MHz~5000MHz时，频率间隔应不大于25MHz；a.
中心频率高于5000MHz时，频率间隔应不大于50MHzb.
5.2.2.3.1方位面
同5.2.2.2.1a，接收和记录设备接至方位差支路输出口b.
同5.2.2.2.1b；
在方位面上旋转被测天线至差波束零点位置，记下这时电轴的方位位暨的刻c.
d。依次将信号源调至其他频率点，重复c步骤，在测量的频率点上，电轴方位位置的相对变化量应不大于规定值。5.2.2.3.2俯仰面
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将接收系统和记录设备接至高低差支路的输出口，将信号源调至fo；a.
b.同5.2.2.2.1h；wwW.bzxz.Net
c.在俯仰面上旋转被测天线至高低差波束的零点位置，记下这时电轴的仰角位置，其相对变化量不大于规定值。5.2.2.4电压驻波比的试验方法
电压驻波比应按5.2.2.4.1、5.2.2.4.2或任何其它具有精度等级相同的方法进行测量，除非另有规定，天线应安装在一平整场地中央，必须采取预防措施以保证来自附近的物体(地面建筑物、金属体等)的反射信号至可以忽略的电平。5.2.2.4.1测量线测试
除非另有规定，用测线测试天线的电压驻波比，应在规定的频率范围内选取若干频率点进行测量，相邻的测试频率点的频率间隔选择原则同5.2.2.3条，测量数据应记录在交收试验记录上，或绘制在绘图纸上。用测量线测量电压驻波比的步骤如下：a：按图2布置连接设备和仪器；指示翻
信号源
波长计
衰减器
图2测量线测电压驻疲比方框图
测量线
披测天线
b.将信号调至fo，调节衰减器电平和测量线的探针，使所有测量都在测量检波器的平方律区域内进行；
C.移动测量线探针获得最大电平Imax和最小电平Imin电压驻波比S按下式计算：
d。将信号源频率调至其他频率点，重复b、c步骤注：测量线检波器晶体的平方律区域应预先校正5.2.2.4.2比值法
8.按图3布置连接设备和仪器，将扫频信号调至稳幅状态，这可用示波器观察检波输出波形来判断。同时将比值计调至工作正常；—9
扫频仪
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比值计
藕香春
檀波器
示波赛
入射放射
检波器愉波器
波射证
图3比值法测反射系数插信系统
澜天园
b.测数呈开路状态，反复仔细调节比值计的“满度调节控制器使比值计衰头指针达满刻度；
c.用反射所附的失配器作为标准参考元件验证测试系统的可靠性。例如：若失配器的电压驻波比为1.50±0.08，将失配器接人测试端口查看电压驻波比是否为1.50左右；
d.将被测天线接至反射计测量端，从示波器上观察规定频带范围内的反射系数。也可接至记录仪，画出反射系数曲线；e设观察到规定频带范围内的最大反射系数为Tmax，则在规定的频率范围内电压驻波比的最大值Smax按下式计算：1+Imax
1-Imax
5.2.2.4.3反射损耗法
反射损耗的测盘用直流替代法，其步骤如下：(6)
8.如图4书置连接设备和仪器，将扫频信号源调至稳幅状态，可用功率计在反射计输出端测量全频带功率起伏不大于士0.5dB来判断：b。根据被测天线电压驻波比的大小，选择相应的反射计的刻度板，装到显示器的屏幕上。用相应的失配器作为标准参考元件验证测试系统的可靠性，这和比值法”测量的步骤c相同。
扫類仪
环流器
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稳幅及射
破器凸拉腰器
改射计
披测天线
医配器
图4反射摄耗法测反射系数幅值系统c。将被测天线接至反射计的输出端，在示波器上直接读数，5.2.2.5功率容量的试验方法
天线功率容量试验可以在炮瞄雷达总站上进行，也可以在专用的高功率的试验台上进行。
应在产品标准（技术条件）中规定进行高功率试验的环境条件（例如温度、海拔高度等）。工作频率稳定后天线内部和连接处不应有打火或击穿现象，试验完毕后，天线不应有损坏，变质等，
可用打火声响来判断是否有打火或击穿现象。也可以用观察天线外部或内部有无打火或击穿痕迹来判渐。
损坏和变质用外观检验，
注：如果在某个频率上出现过短暂打火或击穿现象，建议加长该频率上的试验时间来判断。在加试时间内天线不应有打火或击穿，加试时间由产品标准(技术条件)规定。5.2.3单通道和双通道单脉冲雷达天线5.2.3.1合成波束交叉电平的试验方法除非在产品标准（技术条件）中另有规定，对于非点频工作的单通道和双通道炮瞄雷达天线，应在规定的工作频带范围内，选取若干频率点，测量合成波束的交叉电平，相邻的频率点间的频率间隔，选择原则同5.2.2.3条。3。将天线测试场的接收系统和记录设备接至合成波束的输出口，对顺序波束进行采样的器件（通常称为“快转关节”或“扫描部件）上应明确标有表征方位（例如称为“2”、“4\位置)和高低（例如称为“1\、“3\位置)位置标记，将信号源频率调至fo.b。调节天线试验场的控制装置，使辅助天线主瓣最大值指向被测天线。c依次将采样位置臀于“2”、“4”、“1”、“3”、并微调被测天线的方位与俯仰，直至无论采样的位暨“1\或“3\，“2”或“4”，记录器的指示电平都对应相同，记下这时电轴的方位角和仰角位置。
d。将采样位置置于“2\位置，调节接收系统，使记录器的指示为某一参考电平，在方位面旋转被测天线至波束最大值处，调节可变衰减器至AdB，使指示仍为参考电
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