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SJ 50033/150-2002

基本信息

标准号: SJ 50033/150-2002

中文名称:半导体分立器件 2DW230-236型硅电压基准二极管详细规范

标准类别:电子行业标准(SJ)

标准状态:现行

发布日期:2002-10-30

实施日期:2003-03-01

出版语种:简体中文

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相关标签: 半导体 分立 器件 电压 基准 二极管 详细 规范

标准分类号

中标分类号:电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L41半导体二极管

关联标准

出版信息

出版社:工业电子出版社

页数:9页

标准价格:12.0 元

出版日期:2003-03-01

相关单位信息

起草单位:国营第八七三厂

归口单位:信息产业部电子第四研究所

提出单位:中华人民共和国信息产业部

发布部门:中华人民共和国信息产业部

标准简介

本规范规定了2DW230~236型硅电压基准二极管的详细要求。本规范适用于器件的研制、生产和采购。 SJ 50033/150-2002 半导体分立器件 2DW230-236型硅电压基准二极管详细规范 SJ50033/150-2002 标准下载解压密码:www.bzxz.net

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标准内容

中华人民共和国电子行业军用标准FL5961
SJ50033/150—2002
半导体分立器件
2DW230~236型硅电压基准二极管详细规范
Semiconductordiscretedevice
Detail specification for silicon voltage-regulator diode for type 2DW230-2362002-10-30发布
2003-03-01实施
中华人民共和国信息产业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体分立器件
2DW230~236型硅电压基准二极管详细规范
Semiconductor discrete deviceDetail specification forsiliconvoltage-regulatordiode fortype2DW230~2361范围
1.1主题内容
SJ50033/150—2002
二极管(以下简称器件)的详细要求。本规范规定了2DW230~236型硅电压基准1.2适用范围
本规范适用于器件的研制、生产和采购。1.3分类
本规范根据器件质量保证等级进行分类,1.3.1器件的等级
按GJB33A《半导体分立器作总规范》1.3.1的规定,提供的质量保证穿级为普军,特案和超特军三级,分别用字母JPT和JCT表承2
引用文件
GB/T6571-1995半导体器件:分立器件第3部分猎号(包括开关)和调整二极管GB/T7581-1987平导体分立器件外形尺寸GJB33A97
GJB128A-97
3要求
半导体分立器件总规范
半导体分立器件试验方法
3.1详细要求
各项要求应按GJB33A和本规范的规定。3.2设计、结构和外形尺寸
器件的设计和结构应按GJB33A和本规范的规定。3.2.1引出端材料和涂层
引出端材料为可伐,引出端表面应为金层或镍层,对引出端涂层另有要求时,在合同或订货单中予以规定。
3.2.2器件的结构
器件采用金属管壳全密封封装结构。中华人民共和国信息产业部2002-10-30发布2003-03-01实施
SJ50033/150--2002
管芯采用平面工艺,管芯与管座之间采用高温冶金键合。3.2.3器件电原理图
3.2.4外形尺寸
外形尺寸应符合GB/T7581中的A3-02B(B4)型及图1的规定。Fa
标志区
极性排列:输出端1或2以色点表示为负极端,另一端为正极端,3为空。图1外形图
3.3最大额定值和主要电特性
3.3.1最大额定值
最大额定值见表1。
表1最大额定值
2DW230~236
TA=50℃
TA=50℃
1)当T>50℃时,按1.6mW/K的速率线性地降额。2
A3-02B(B4)
-55~175
3.3.2主要电特性
主要电特性(TA=25℃)见表2。
电参数
2DW230
2DW231
2DW232
2DW233
2DW234
2DW235
2DW236
z=10mA
电测试要求
电测试应符合GBT6571段
3.5标志
SJ50033/150—2002
表2主要电特性参数
1=10mA
3.5.1标志应符合GJB33A
和本规范的规定
器件上的标息示例!
VR=l V
2RW232JCT
质量保证规定
抽样和检验
抽样和检验应按GJB33A和本规范的规定4.2鉴定检验
4.2.1鉴定检验应按GJB33A及本规范的规定。4.2.2E组检验(仅供鉴定)
E组检验应按GJB33A和本规范表7的规定进行。Ia
≤50×103
4.3筛选(仅对JT和JCT级)
器件应按GJB33A表2的规定,具体项日按表3进行100%的筛选,其测试应按本规范表1的规定进行,超过本规范表1极限值的器件应予剔除。序号
筛选项
内部目检(封帽前)
高温寿命(不工作)
温度循环(空气一空气)
恒定加速度
粒子碰噪声检测
(PIND)(仅对JCT级)
PDA的中间电参数测试和(△)变化量功率老炼
终点测试
PDA的中间测试和电参数变化量
细检漏
2)粗检漏
目视检查
SJ50033/1502002
表3筛选要求
试验方法号
GJB128A
2072、2073
仅对JCT级器件。
TA-175℃-96 h
试验条作:G
次数:20次
Y1方向196000m/s2
试验条件A
本规范表4的2分组、4分组
测试Vz、Isrz
试验条件B
1=30mA t=96hTa=25℃
按本规范表4的2分组、4分组
a)14Vz/≤初始值的1%。
141R!≤初始值的100%或
0.5uA,取较人者。
b)【Ar,≤0.2倍初始值
试验条件H
最大漏泄率:5×103Pacm/s
试验条件C:加压517kPa、2h
打标志后进行
注:GJB33A表2中的第6、7、8、9、10、15项不要求,第7项由第14项完成。质量一致性检验
质量一性检验应按GJB33A和本规范的规定。4.4.1A组检验
A组检验应按GJB33A的规定,具体检验项日按表4的规定进行。4.4.2B纽检验
B组检验应按GJB33A的规定,具体检验项目按表5的规定进行。4.4.3C组检验
C纽检验应按GJB33A的规定,具体检验项目按表6的规定进行。4.4.4D组检验(不适用)
4.5检验和试验方法
检验和试验方法应按本规范相应的表和下列规定进行。4.5.1脉冲测试
脉冲测试条件应按GJB128A中的4.3.2.2的规定。4.5.2工.作电压温度系数测试
在规定的环境温度T2=(75土1)℃下,施加测试电流Izo(见本规范表6第4栏),测出其基准电压值Vz2,再在Ti=(25土1)℃下施加同一测试电流,测出基准电压Vz(有效数等于或火于5位),按下述公式计算:
SJ50033/150-2002
100(V22-Vz)(% / C)
(T, -T)·Vz
要求恒流电源电流变化值14Izl≤0.005mA,每个温度下的测试时间为1min。式中:Vz—T温度下的基准电压,单位为伏特(V);VnT2温度下的基准电压,单位为伏特(V)。表4A组检验
或试验
1分组
外观及
机械检验
2分组
基准电压
反向电流
3分组
高溢工作
反向电流
低溢工作
微分电阻
4分组
微分电阻
7分组
工作电压温
GB/T6571中第IV章第2节
GJB128A
T=25~Ca
脉冲法
脉冲法
按表2第3栏规定
(125+3)
脉冲法
-55±3℃
脉冲法
Iz=10mA
脉冲法
8≤2%
I=10mA
最小值
极限值
最大值
表2第1栏
表2第学栏
表2第3栏
LTPD-10
直流法
按本规范4.5.3的规定
度系数
注:GJB33A表3中的第5、6分组不适用。fz
表2第2栏
表2第
检验或试验
1分组
可焊性
耐溶剂性
2分组
温度循环
(空气一空气)
a)细检漏
b)粗检漏
终点测试
3分组
稳态工作寿命免费标准下载网bzxz
终点测试
4分组
开帕内部目检
(设计核实)
6分组
高温寿命
(非工作状态)
终点测试
试验条件G
SJ50033/150--2002
表5B组检验
GJB128A
次数:25次
试验条件H1
最大漏泄率:5×10~pa·cm/s
试验条件C
加压517kPa、2h
按表8步骤1、2、4和5
TA=25℃
f=340h
IzM=30mA
按表8步骤3、4和6
样品从规定的试验条件取出4~96h内进行测试,当测试结果有争议时,以96h测试为准。按设计文件
TA=175℃
同B3分组
t=340h
注:GJB33A表4中的第5分组不要求,7分组在C组3分组进行。6
鉴定检验和大批量
的质量一致性
检验方案
LTPD=15
LTPD=10
LTPD=5
1(e=0)
LTPD=7
小批量的质量
一致性检验
4(c=0)
6(c=0)
12(c=0)
1(c=0)
12(c=0)
检验或试验
1分组
物理尺寸
2分组
热冲击
(液体一液体)
引出端强度
a)细检漏
b)粗检漏
外观及机械检验
终点测试
3分组
扫频振动
恒定加速度
终点测试
6分组
稳态工作寿命
键合强度
终点测试
SJ50033/150—2002
表6C组检验
GJB128A
按图1外形尺寸
试验条件A
试验条件A
验条件H
最大漏泄率:5×10pa·cm/s
试验条件C
加压517kPay2h
不婴求预处现
按表8步骤1、2、4和5
在X艺每个方上冲击5次,不工作,14700m/s..0.5ms
在乐2每个方向上做196000ms
时a:1min
按表8步骤1、2、4和5
TA-25 C 2 lz=30 mAtet 000 h
同B3分组
注:GJB33A表5中的第4分组、5分组不适用。表7E组检验(仅供鉴定)
检验或试验
1分组
温度循环
(空气一空气)
终点测试
GJB128A
试验条件;G
次数:200次
按表8步骤1和5
注:GJB33A表7中的第2、3、4和5分组不适用件
鉴定检验和大
批量的质量一
致性检验抽样
LTPD=15
LTPD=10
¥LTPD=10
LTPD=10
小批量的质量
一致性检验
6(c=0)
6(c-0)
6(c=0)
12(c=0)
LTPD=10
抽样方案
LTPD=20
反向电流
反向电流
反向电流变化量
微分电阻
基准电压
基准电压变化量
SJ50033/150—2002
表8B组、C组和E组终点测试
GB/T6571第IV第2节
TA=25℃
(脉冲测试)
VR=1 V
VR-I V
Iz=10mA
I=10mA
12=10mA
1)本测试超过A组极限值的器件不应接收。交货准备
5.1包装要求
包装要求应按GJB33A的规定。
5.2贮存要求
贮存要求应按GJB33A的规定。
5.3运输要求
运输要求应按GJB33A的规定。
6说明事项
6.1预定用途
符合本规范的器作供新设备设计使用和供现有的后勤保障用。6.2订货文件内容
合同或订单应规定下列内容:
本规范的名称和编号;
-器作型号:
数量:
等级(见1.3.1);
一一对引出端材料和涂层有特殊要求时:需要时,典型特性曲线:
一需要时,其他要求。
附加说明:
本规范由信息产业部电子第四研究所归口。本规范由国营第八七三厂起草。本规范主要起草人:邹盛琳、方宁。项目计划代号:B01010。
最小值
极限值
最大值
表2第3栏
初始值的100%或1uA,
取较大者。
表2第2栏
表2第1栏
表2第1栏
初始值的1%
如果买家需要PDF格式的本标准,可以提供邮箱给我(前提是购买了本标准)我免费发送到你的邮箱。
标淮王藝口
中华人民共和国
电子行业军用标准
半导体分立器件
2DW230~236型硅电压基准二极管详细规范
SJ50033/150—2002
中国电子技术标准化研究所出版中国电子技术标准化研究所印刷中国电子技术标准化研究所发行电话:(010)84029065传真:(010)64007812地址:北京市安定门东大街1号
邮编:100007
网址:www.cesf.ac.cn
开本:880×12301/16印张:
字数:20千字
2003年4月第一版2003年4月第一次印刷版权专有不得翻印
举报电话:(010)64007804
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