SJ 50597.2-1994 半导体集成电路 ＪＨ２０１４型ＨＴＬ型触发器详细规范 SJ50597.2-1994 标准下载解压密码：www.bzxz.net

中华人民共和国电子行业军用标准FL5962
SJ 50597.2-94
半导体集成电路JH2014型
HTL触发器详细规范
Detail specification for type JH2014HTL flip-fiop of semiconductor integrated circuits1994-09-30发布
1994-12-01实施
中华人民共和国电子工业部批准中华人民共和国电子行业军用标准·半导体集成电路JH2014型
HTL 触发器详细规范
Detail specifcationfortypeJH2014HTL ip-fiop af semicondaetor integrated cincuits1范围
1.1主题内容
SJ 50597.2-94
本规范规定了半导体集成电路JH2014型HTL触发器(以下简称器件)详细要求。1.2适用范
本规范适用于器件的研制，生产和采购。1.3分类
本规范给出的器件按器件型号、器件等级、封装形式、额定值和挂荐工作条件分类。1.3.1器件编号
器件编号应按GJB597<微电路总规范第3.6.2条的规定。1.3.1.1器件型号
器件型号如下：
器件型号
JH2014
1.3.1.2器件等级
器件冬移
与门输入下降 J-K 触发器
器件等级应为GJB597第3.4条所规定的B级和本规范规定的B级。1.3.1.3封装形式
封装形式按GB7092《半导体集成电路外形尺寸>的规定如下：字
1.3.2绝对最人额定值
绝对最大额定如下：
D14S3(陶瓷双列封装）
F14X2(陶瓷平封装）
H14X2(陶瓷焙封肩平封装）
JI1S3（陶瓷熔封双列封装）
中华人民共和国电子工业部1994-09.30式
1994-12-01实施
rKAONKAca-
电源电压
输入电压
入电流
输出电缆
贮存温度
引线耐焊接滤度（10g）
1.3,3推荐工作条件
推荐工作条作如下：
电源电旺
辅人高电平电压
输入任电平电压
输出高电平电流
输出低电平电流
工作环境温度
引用文件
GB 3431.1—82
GB 3431.2--86
GB 3440—82
GB 4590--84
SJ 50597.2-94
半导体集成电路文字符号电参数文字符号毕导体集成电路文符号引出端功能符号镇
半导体集成电路HTL电路测试方法的基本原理半导体集成电路机械和气候试验方法CGB4728.12—85电气图用图形符号二进制逻辑单元GB7092
GJB 548—88
GJB 597--88
GJB 1649---93
3要求
3.1 详细要求
半导体集成电路外形尺寸
微电子器件试方法和程序
微电路总规范
电子产品防静电放电控制大纲
各项要求应按GJB597和本规范的规定。3.2设计、结构和外形尺寸
设计、结构和外形尺寸应按GJB597和本规范的规定。m2
SJ50597.2—94
3.2.1、避辑图、逻辑符号种引出端排列逻辑图、逻辑符号和引出端排列应符合GR4728.12《电气图用图形符号二进制逻辑单元》和本规范图1的规定。引出端排列为俯视图。JH2014逻辑图
3.2.2功能表
功能表如下：
翌辑符号
引出端排列
图1逻辑图、逻辑符号和引出端列口vee
rKAoNiKAca-
注;J=Ja'JJc,K=Ka-Kg-Kco
H高电平,L—-
低电平,X
+——从高电平划低电平的跳变。3.2.3电原理图
SJ 50597.2- 94
任意态,—不定态
制造厂在鉴定前应将电原理图提交给鉴定机构，各制造厂的电原理图应由鉴定机构存档备查。
3.2.4封装形式
封装形式应按本规范1.3.1.3条的规定。3.3引线材料和涂覆
引线材料和涂模应按GTB597第3.5.6条的规定。3.4电特性
电特性应符合本规范表1的规定。表1电待性
输出高电平电压
輪出低电平电压
翰人高电平电流
输入低电平电流
出短路电流2
（若无其他规定，-55℃。125℃）Vee 13.5V; Vut - 9V
Vn = 6.5V; lom - - 0.5mA
Vec = 13.5V; VH - 9V :
ViL = 6.5V ; Iat = 12.6mA
Vee = 15V;
Vm - 16.5V
/Ka.Kg.Ke
Vec = 16.5V :
Vu = 1.sv
Ka,K, Kc
Vce - 15.5V, Ve - 0V
凝范值
输出高电平时电源电流
输出低电平时电源电流
输出由高电平到低电平传
擀延※时间
输出由低电半到高电半传
韬延退时间
SI50597.2-94
续表1
（若无其他规定，-55C≤T，125)Vec = 16.5V
: Vre = 16.5V
Vcc - 15V :
Rt = 1.5kn
Cr = 100pE;f = 500kHz1
t,s15na +
注11)完整的测试条件列于表3。2)每次只能短路一个输山端。
3.5电试验要求
规范值
各级器件的电试验要求,应为本规范表2 所规定的有关分组。各个分组的电测试接本规范表3的规定。
表2 电试验要求
中司(老化前)电测试
中间[老化后)电魂试
最终电测试
A组检验电测试
C 组终点电测试
C 组检验增加的电测试
D 组终点电测试
B级器件
A2, A3, A7, A9
A1, A2, A3, A7, A9, A10,
A1, A2.A3
不要求
A1,A2,43
注;1)该分组署求PDA计算（见4.2条）表 3 JH2014 的电测试
引月标准
GB 3440
【若无其他规定，T。=25℃】
Vo= 13.5V
被测输出
Tot = - U.5mA
Sp 和各个 I. K 归接
Vn. = 6.5v
RCP按VH
9V.测输出
R,和各个 J. K 端接
Vu. = 6.5v
Sn、CP 接 Ven
9V.克摘出
B级器件
A2, A3, A7, A9
A1, A2.A3,A7, K9
A1,A2,A3
A10,All
A1,A2,43
-TrKAONTKAa-
分组符号
引用标准
GB 3440
SJ 50597.2 -- 94
续表3
（若无其他规定，TA－25U）
Vu - 13.5V被
谢鞘出
IcL = t2.6mA
J、S 接 Vm = 9V :
、D 鞍 VuL =
6.5V测Q输出
K.R,按 Vm= 9V;
J.S,妾 Vu= G,5V
凝Q输出
Vcc=15V、被谢测J.K时，各个K
输竭接
端分别测尽，非被测
J、K和Ru、s、CP接
ViH - 16.5V,Q、13
及空载
测 Rn、So啦.J、K,CP
悬空分删测RSo：
①测 R, 时 Sn 接地,
测S时R接地。
测CP时，分两次测；
(DR。悬空 SD、J.K 接
地。S,总空SpJ、K
接池。
Vcc = 16.5V 被测 J.K 时,各个 J. K泌辅人斓接 Vr.
瑞分别测量。 测J 时
Rn 接地 Sn 悬空; 调 K
=1.5V,9.0空
时:Sn 接池, R甚空。
其他非被测J.K 和 CP
鞘魁控。
R、S, 时,J, K CP
悬空,分测,S+
①谢死。时学接地,
心满S,时 R,接地
测CP时，分两次；
①R,接地 SpJ、K 悬
空;@S,接地 RJ、K
规恺值
引用标准
GR3440
S.I 50597.2-94
续表3
（若无其他规定，T=25℃）
Vc=16.5V被
测输出端 Vo=
Vr: = 16.5V
Vcc - 16.5V
R, 接 Vu = 9V?
Sn、CP 接 VEti
6.5V，其他输入端
墨空,被测输启 Q接
地,非被测互并路。
S 接 Vmr = V;
Re、CT 接 Va.=
6.5V，其他辑人端
悬空,被测输出反接
地，非被测Q开路。
S接地，其输入销
开路,輪出端开路
Rn接地，其他輪人
端开路,输出端开路
T，=125℃ 下测试,参效、条件、规范值要求间 AI 分组T，55℃下测试，参数、条件、规范值要求同A1分组Vec=15V，按功能装进行诞试。
Ve = 15V. V. = 15V. VrEr = 7.5Vtw = 1μs, f = 500kHz, 9 = 50% .t, = 15ns, tr = 15ns, R, = 1.5kn,C=100pF（见本规范图2）
TA= 125℃
其他酮试条件同 A9 分至。
T,=~55C下开关测试参数、条件、规范值要求同A9分组。负载线路图
规范值
试点sc=15V
接被测输出一
TrKAONKAca-
h．波形图
注：@负载
RL - 1.Sicn
S1 50597.2--94
图2开关时间測试负载线路和波形图C,= I10pF (包括探头和夹具电容)②输人坡形
魅冲瓣度：V.-Voc±1%
占空比：9=50%
觅; tw = 1.0±0.1us
上于，下降：，=≤15s
颖率：=500kHz
3.6标志
器件标志应按GJB597第3.6条的规定。4质量保证规定
4.1抽样和检验
除本规范另有规定外，抽样和检验程序应按GJB597和GJB548方法5005的规定。4.2筛选
在鉴定和质量一致性检验之前，全部器件应按GJB548方法5004和本规范表4的规定行筛选。
4筛选
若无其他规定,表中引用的方法系指GIB 548的试验方法条件和要求
筛选项目bZxz.net
内部国检
（封嗣前）
稳定性烘焙(不要
及终点电测试）
B级器件
试验条件B
试验条件C温度：
150℃，时间24h)
B缀器件
试验条件
1008 |试验条件 C(蛊度：
150七，时间243
筛选项目
温度循环
恒定加速度
中间【老化前}电
中间(老化后)电
允许的不合格品
率(PDA)及其计
最终电测试
1)组检漏
2)粗拉痛
外部目检
鉴定或质量
性检验的试验样
品抽取
试验条性C
SI 50597.294
续表4
和要求
级器件
试验条件 E，
(294 × 10*m/s3)
Yi方向
按方法1010的目
检判据
本规范 AI分组
试验条件门
[温度：1250
时间;16h）
本规范 A1 分组
5%。当本规范
A1分组的不合格
品率不超过10%
时可重新提交老
化,但只充许一次
本规范 A2、A3、
A7,A9 分组
第3.1条
第3.5条
试验紊件口
试验条件 D,
(196×10°m/)
Y1方向
按方法1010的月
检判据
本规范 A1 分组
1015试验条件D
度：125t，
时间：16h)
本规范 A1分组
10%。当本规范
A1分组的不合龄
品率不超过 20%
时可重新提交老
化，但其允许一次
本规范A2、A3、
A7、A9分组
第3.1条
5005 ／第3.5条
可用方法1011试验条件A(15
次循环)替代。
可在\密封\循选后进行。
引线断落、外壳破裂、封盖脱
慈为失效
可由制造厂决定是否进行本
筛选。
采用本规范图 3 或与其等效
！的线路。
对所有批。用老化失效数除
以接人老化的该检验批总的
器件数,即为该批的不合格品
率 PLA 值。不大于规定的
PDA 时,明该批应接收。
本项筛选后，若引线徐改变
或返工，别应再进行.A1分组
(或 A2,A7 分组)测试。
可老发货前按批进行。
-rKAONKAca-
注①Vo-15V
R = 1.2kn±5%
输人方婆信号：
B。萃：f = 100kHz;
b。 占空比:α = 50%
SF 50597.2--94
图3老化和稳态寿命试验线路
t，上升、下降：t,<1pg;
d. 幅度: V, = Vcc ±1%
4.3鉴定检验
鉴定检验应按 GJB597第4.4条的规定。所进行的检验应符合 GJB 548方法5005和本规范 A、R、C 和 D 组检验(见 4.4.1 -4.4.4 条)的规定。4.4质量一致性检验
质最一致性检验应按GJR 597第4.5条和本规范的规定。所进行的检验应符合GJB 548方法 5005 和本规范 A、B.C和 D 组检验(见 4.4.1 ~4.4.4 条)的规定4.4.1 A 组检验
A组检验应按本规范表5的规定。有关检验组对A组的电测试要求，按本规范表2的规定，各分组的电测试按本规范表3的规定。各分组的诞试可用同一个样本进行。当所要求的样本大小超过批的大小时，允许100%检验。各分组测试可接任意顾序进行。合格判定数(C)最大为2。10
A1分组
25℃下静态测试
A2分组
125℃下静态测试
A3分组
-S5℃下静态测试
A7分组
25七下功能测试
A9分绝
25℃下开关测试
A10分组
125芒下开关测试
A11分组
-55C下开关测试
4.4.2B组检验
B组检验应按本规范表的规笼。
SJ 50597.294
表 5A组检验
B级器件
B1 - B5 分组可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本。表 6 B组检验
若无其他规定,表中引用的方法系指 GJB S48的试验方法。条件科要求
B1分组
B分组
抗浴性
B级器件
级器件
样品数/(接收
数或LTPD
不婴求
不要求
著在间一检验
批中,对样品进
行 D1 分组检
验,则在鉴定践
质最致性检
验中,可不进行
B1 分组检验。
rYrKAoNiKAca-
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