JB/T 5847-1991
基本信息
标准号： JB/T 5847-1991
中文名称：高温阻断试验方法导则
标准类别：机械行业标准(JB)
英文名称： High temperature blocking test method guide
标准状态：现行
发布日期：1991-10-24
实施日期：1992-10-01
出版语种：简体中文
下载格式：.rar.pdf
下载大小：1284209
标准分类号
中标分类号：电工>>输变电设备>>K46电力半导体期间、部件
关联标准
出版信息
页数：7 页
标准价格：12.0 元
相关单位信息
归口单位：西安电力电子技术研究所
发布部门：西安电力电子技术研究所
标准简介
本标准规定了普通整流管、普通晶闸管及其派生器件的高温阻断试验方法。 本标准适用于产品逐批检验、周期检验。本标准不适用于产品可靠性定级、维持等试验。 JB/T 5847-1991 高温阻断试验方法导则 JB/T5847-1991 标准下载解压密码：www.bzxz.net
标准图片预览
标准内容
中华人民共和国机械行业标准
高温阻断试验方法导则
丰题内容与适用范留
JB/T5847--91
本际准规定了普通整流管、普通晶闸管及其派生器件（以下称产品）的高温阻断试验方法。本标准适用于产品逐批检验、周期检验。本标准不适用于产品可靠性定级、维持等试验。引用标准
GB4939
普通整流管
GB4940普通晶闸管
GB3187可靠性基本名词术语及定义GB2900.32电工名词术语电力半导体器件GB4936.1半导体分立器件总规范GB2828逐批检查计数抽样程序及抽样表3术语
3.1高温阻断试验
在规定的时间内对产品施加规定的温度和PN结反向偏置电压的试验。3.2耐久性
产品在规定的使用和维修条件下，达到某种技术或经济指标极限时，完成规定功能的能力、3.3失效
产品丧失规定的功能。
3.4失效模式
失效的表现形式。
3.5失效机理
引起失效的物理、化学变化等内在原因。3.6早期失效
产品由于设计制造上的缺陷等原因而发生的失效。（GB3187一82中2.2.6条）。3.7筛选试验
为选择具有一定特性的产品或剔除早期失效而进行的试验。3.8耐久性试验
为考察产品的性能与所加的应力条件的影响关系而在一定时间内所进行的试验。3.9PN结
半导体P型区和N型区之间的结。试验目的
筛选试验的月的是剔除早期失效的产品。耐久性试验的目的是考核产品在规定的条件下完成规定功能的能力。5电路原理
机械电子工业部1991—10-24批准176
1992-10—01实施
T电源交压器
RI-—试验回路限流电阻，
S—熔断器：
JB/T5847-91
加热备
需电滤测盘系统
图1高温阻断试验电路
一试验主回路限流电阻；
Rc门设电阻；
断态峰值电压测量表：
漏电流取样电阻；
受试产品；
空温系统
逆温保
护电路
反向降值电压测僵表。
注：在某些类型的晶闸管中，由于电源接通或试验电路的噪音等原因，有时会引起晶闻管的开通。Ro可降低门极灵敏度，达到防止开通的目的。6抽样数量
筛选试验抽样推荐按表]，亦可按生产方或交货合同规定的详细要求进行全数或抽样试验。裹
产品容量
《100A
按GB2828，
AQL为2.5或4.0
6.2耐久性试验按GB4939的3.2、GB4940的3.2，或有关详细规范的B8、C8分组规定的抽样方案进行。
7试验条件
7.1试验电压
试验电压按有关标准规定值或本标准的表2选取。试验电压的变化应在规定值的0%～-10%之内。7.2试验温度
筛选试验温度的变化应符合表2规定。耐久性试验温度按GB4939的3.2或GB4940的3.2的规定。177
7.3试验持续时间免费标准下载网bzxz
筛选试验的时间推荐采用表2的值。JB/T5847—91
耐久性试验的时间按GB4939的3.2或GB4940的3.2确定。由于各种原因使试验中断，应尽可能在24h内恢复试验，试验时间允许接续计算。筛选试验可按表2所列组合条件进行。裘2
试验电压V
VRM和（或）VDR
注；T=为受试产品额定结温。
试验设备、仪器、仪表
试验温度
8.1试验仪器、仪表的精度率应不低于1.5级。8.2试验保护措施
试验时间
试验时，加热装置应有过热控制保护措施以限制最高温度。试验电路须采用抑制瞬态过电压的措施，以防止由于瞬态过电压使产品损坏。失效判据
试验后，判定器件失效的失效判据见表3。裘3
器件类别
普通晶管2）
普通整流管\）
派生器件3》
注：1）
USL=规范的上限值
判定失效电参数
单个元件加热方式
失效判据
>2xUSL或>1xUSLt)
>2×USL或>1×USL
>2×USL或>1×USL
如果产品在试验时丧失了规定的阻断电压能力，则认为该器件失效；可参照表3中普通晶阐管和普通整流管制订相应的失效判据。测试结束后，试品在常温下放置2h再进行测试。全部测试均应在96h内完成。9.2
批试验不合格时，则应按GB4936.1的3.6.2.4周期检验不合格时的程序处理。178
10试验记录和试验报告
10.1试验记录
JB/T584791
在试验过程中，应做好准确、完整的试验记录，对每一试品要按时间顺序，在规定时间内或失效发生后进行漏电流数据记录。当因误试（如试验设备故障或测量仪器故障或操作人员失误）而使器件失效时，应将失效记入试验记录，并说明原因。10.2试验报告
试验报告是在试验结束后根据试验记录和分析作出最后结论的文件，其内容应按附录A要求。179
制造单位
试验日期
试验条件
试验口
累积试验时间（h）
失效产品编号
产品型号和规验
累积失效数
试验结论和建议采取的措施
填表人：
试验负责人：
附加说哦，
失效发生时间
JB/T5847-91
附录A
高温超断试验报告表
（补充件）
高题断试报告表
批益效量
试验持准、方察等文件名称、代号性
[naIGT
试验设备、仅严敬障发生时间
试整单：
本标准由机就电子工业部雷安电力电子技术研究所提出并归口，本标准出机检电子工业帮西安电力电子技术码究所负责起萃。本标准主要起草人王梦龙、李学敏。日
IanxIat
投试数量
失效判据
职积维修时间
(盖章)
维修人
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高温阻断试验方法导则
丰题内容与适用范留
JB/T5847--91
本际准规定了普通整流管、普通晶闸管及其派生器件（以下称产品）的高温阻断试验方法。本标准适用于产品逐批检验、周期检验。本标准不适用于产品可靠性定级、维持等试验。引用标准
GB4939
普通整流管
GB4940普通晶闸管
GB3187可靠性基本名词术语及定义GB2900.32电工名词术语电力半导体器件GB4936.1半导体分立器件总规范GB2828逐批检查计数抽样程序及抽样表3术语
3.1高温阻断试验
在规定的时间内对产品施加规定的温度和PN结反向偏置电压的试验。3.2耐久性
产品在规定的使用和维修条件下，达到某种技术或经济指标极限时，完成规定功能的能力、3.3失效
产品丧失规定的功能。
3.4失效模式
失效的表现形式。
3.5失效机理
引起失效的物理、化学变化等内在原因。3.6早期失效
产品由于设计制造上的缺陷等原因而发生的失效。（GB3187一82中2.2.6条）。3.7筛选试验
为选择具有一定特性的产品或剔除早期失效而进行的试验。3.8耐久性试验
为考察产品的性能与所加的应力条件的影响关系而在一定时间内所进行的试验。3.9PN结
半导体P型区和N型区之间的结。试验目的
筛选试验的月的是剔除早期失效的产品。耐久性试验的目的是考核产品在规定的条件下完成规定功能的能力。5电路原理
机械电子工业部1991—10-24批准176
1992-10—01实施
T电源交压器
RI-—试验回路限流电阻，
S—熔断器：
JB/T5847-91
加热备
需电滤测盘系统
图1高温阻断试验电路
一试验主回路限流电阻；
Rc门设电阻；
断态峰值电压测量表：
漏电流取样电阻；
受试产品；
空温系统
逆温保
护电路
反向降值电压测僵表。
注：在某些类型的晶闸管中，由于电源接通或试验电路的噪音等原因，有时会引起晶闻管的开通。Ro可降低门极灵敏度，达到防止开通的目的。6抽样数量
筛选试验抽样推荐按表]，亦可按生产方或交货合同规定的详细要求进行全数或抽样试验。裹
产品容量
《100A
按GB2828，
AQL为2.5或4.0
6.2耐久性试验按GB4939的3.2、GB4940的3.2，或有关详细规范的B8、C8分组规定的抽样方案进行。
7试验条件
7.1试验电压
试验电压按有关标准规定值或本标准的表2选取。试验电压的变化应在规定值的0%～-10%之内。7.2试验温度
筛选试验温度的变化应符合表2规定。耐久性试验温度按GB4939的3.2或GB4940的3.2的规定。177
7.3试验持续时间免费标准下载网bzxz
筛选试验的时间推荐采用表2的值。JB/T5847—91
耐久性试验的时间按GB4939的3.2或GB4940的3.2确定。由于各种原因使试验中断，应尽可能在24h内恢复试验，试验时间允许接续计算。筛选试验可按表2所列组合条件进行。裘2
试验电压V
VRM和（或）VDR
注；T=为受试产品额定结温。
试验设备、仪器、仪表
试验温度
8.1试验仪器、仪表的精度率应不低于1.5级。8.2试验保护措施
试验时间
试验时，加热装置应有过热控制保护措施以限制最高温度。试验电路须采用抑制瞬态过电压的措施，以防止由于瞬态过电压使产品损坏。失效判据
试验后，判定器件失效的失效判据见表3。裘3
器件类别
普通晶管2）
普通整流管\）
派生器件3》
注：1）
USL=规范的上限值
判定失效电参数
单个元件加热方式
失效判据
>2xUSL或>1xUSLt)
>2×USL或>1×USL
>2×USL或>1×USL
如果产品在试验时丧失了规定的阻断电压能力，则认为该器件失效；可参照表3中普通晶阐管和普通整流管制订相应的失效判据。测试结束后，试品在常温下放置2h再进行测试。全部测试均应在96h内完成。9.2
批试验不合格时，则应按GB4936.1的3.6.2.4周期检验不合格时的程序处理。178
10试验记录和试验报告
10.1试验记录
JB/T584791
在试验过程中，应做好准确、完整的试验记录，对每一试品要按时间顺序，在规定时间内或失效发生后进行漏电流数据记录。当因误试（如试验设备故障或测量仪器故障或操作人员失误）而使器件失效时，应将失效记入试验记录，并说明原因。10.2试验报告
试验报告是在试验结束后根据试验记录和分析作出最后结论的文件，其内容应按附录A要求。179
制造单位
试验日期
试验条件
试验口
累积试验时间（h）
失效产品编号
产品型号和规验
累积失效数
试验结论和建议采取的措施
填表人：
试验负责人：
附加说哦，
失效发生时间
JB/T5847-91
附录A
高温超断试验报告表
（补充件）
高题断试报告表
批益效量
试验持准、方察等文件名称、代号性
[naIGT
试验设备、仅严敬障发生时间
试整单：
本标准由机就电子工业部雷安电力电子技术研究所提出并归口，本标准出机检电子工业帮西安电力电子技术码究所负责起萃。本标准主要起草人王梦龙、李学敏。日
IanxIat
投试数量
失效判据
职积维修时间
(盖章)
维修人
小提示：此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容，若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。