GB/T 4197-1984 钨,钼及其合金的烧结坯条,棒材晶粒度测试方法 GB/T4197-1984 标准下载解压密码：www.bzxz.net

中华人民共和国国家标准
钨、钼及其合金的烧结坏条、
棒材晶粒度测试方法
Method for measuring the average grainsize of sinteredbar and rod oftungstenmolybdenumand alloys本方法适用于钨、钼及其合金的烧结坏条、棒材晶粒度的测定。1定义
UDC669.27+669
.28-422:620
GB4197-84
晶粒度即指金属及其合金材料组织中晶粒大小的尺度。用单位面积上晶粒数表示晶粒度，也可用每个晶粒截距表示。
2仪器、设备、工具和材料bzxz.net
2.1卧式或立式金相显微镜
2.2砂轮机一台
2.3金相砂纸
2.4试剂：
氢氧化钠（化学纯）
铁氰化钾（化学纯）
硫酸（化学纯）
无水乙醇、甲醇
烧杯、帆布、呢子、绸子、氧化铬或氧化铝抛光粉2.6
电解抛光装置一套
机械抛光机一台
3样品制备
垂熔坏条应在上端标准刻度线处取样。对于棒材，应避开温变偏低的端头取样。3.2
在砂轮机上磨平试样的横断面。3.3按金相磨样的方法依次在280~03*砂纸上磨，如用机械抛光应磨到06*砂纸。3.4抛光：
3.4.1电解抛光：钨制品的电解抛光液推荐用1%~5%氢氧化钠水溶液。钼制品的电解抛光液推荐20%~30%硫酸乙醇溶液，或12.5%硫酸甲醇溶液。阴极材料用不锈钢或镍板。3.4.2．机械抛光：按机械抛光工序进行粗抛和细抛。4晶粒度的测试
4.1面积法是在显微镜的毛玻璃上划出Φ79.8mm的圆（面积为5000mm2），或面积为5000mm2的矩形做为测试点。
线切割法可用测微目镜中的测微尺调不同方位，也可在显微镜的毛玻璃上划一条或均匀地划几条国家标准局1984-03-09发布
1984-11-01实施
GB4197-84
等长线段做为测试点。
4.2·在100×～200×的放大倍数下，观察整个磨面的晶粒大小及其分布的均匀性，记下其显著特征。例如烧结孔分布的均匀性，有否裂纹等。4.3在烧结坏条的任一对角线上选取五个位置作为测试点，测试位置如图所示。对于棒材应沿直径方向均匀地选取五点作为测试点。4.4根据不同的材料选用不同的放大倍数，对于面积法应保证暗箱毛玻璃上的测试面积内晶粒数至少在50个以上。对于线切割法，每条测试线切割晶粒数不少于15个，测试线组切割晶粒总数应不少于50个。5晶粒度计算
5.1·面积法
按以下公式计算：
其中：
式中：N
2，3，4，5)
n:（i等于1，
试样单位面积上的晶粒数，个/mm2，放大倍数；
第个测试点已知面积内完整的晶粒个数；第i个测试点与边线相割的晶粒个数；一五个测试点已知面积内平均晶粒个数；一第i个测试点已知面积内晶粒个数；K——放大倍数的平方与测试面积比值。(1)
5.2线切割法
测试线通过三个晶粒晶界交点时按11/25.2.1测试线端头不切割整个晶粒的按1/2个晶粒计算；：计算；通过两个晶粒相切处时，按1个晶粒计算；当晶粒的形状不规则，测试线二次切割同一晶粉时，仍按一个晶粒计算。
5.2.2计算：
其中：1：
式中：1
2，3，4，5)
i=1，
晶粒平均截距，mm；
测试线组总长，mm，
Z;———第i次测试线组切割晶粒总数;4L2
乙——五个测试点测试线组平均切割晶粒数。20
GB4197-84
附录A
(补充件）
A.1当C.VSo =(EAZ)
式中：so-
一均方根误差。
一偏差系数。
将乙±S代人（1）式（使用面积时）或（2）式（使用线切割法时）可求出所测材料样品的晶粒度范围。
当C.V>0.2时可报实测晶粒度数值和偏差系数C.V值。A.2
附加说明：
本标准由电子工业部标准化研究所提出。本标准由744厂起-.
本标准主要起草人牛尚梅。
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