本部分代替ＧＢ／Ｔ１５９７２．２—１９９８《光纤总规范 第２部分：尺寸参数试验方法》的第５章、第６章和第８章。本部分为第一次修订，它与ＧＢ／Ｔ１５９７２．２×其他部分一起代替ＧＢ／Ｔ１５９７２．２—１９９８ 。本标准规定了测量未涂覆光纤几何参数的试验方法，确立了测量的统一试验程序和技术要求。 本部分适用于对Ａ 类多模光纤和Ｂ类单模光纤的测量和成品光纤光缆的商业性检验。 本部分与ＧＢ／Ｔ１５９７２．２—１９９８第５章、第６章和第８章相比主要变化如下：———删除了“折射率剖面法”的提法，将其包括的试验方法直接作为本部分的两种试验方法：方法Ａ：折射近场法，方法Ｂ：横向干涉法(１９９８年版的第５章；本版的附录Ａ、附录Ｂ)；———修改了折射近场法对单模光纤聚焦光斑尺寸要求，光斑尺寸改为小于１．５μｍ(１９９８年版的第５章；本版的附录Ａ 中Ａ．２．２)；———规定了光纤几何参数的基准试验方法(见本版的第４章)；———对每一种试验方法的特定要求分别用附录的形式给出(１９９８年版的第５章、第６章、第８章；本版的附录Ａ、附录Ｂ、附录Ｃ 和附录Ｄ)。 GB/T 15972.20-2008 光纤试验方法规范 第20部分：尺寸参数的测量方法和试验程序 光纤几何参数 GB/T15972.20-2008 标准下载解压密码：www.bzxz.net

ICE 33.180.10
中华人民共和国国家标准
GB/115972.202008
部分代誉GB/T15972.2—1998
光纤试验方法规范
第20部分：尺寸参数的测量方法和试验程序一光纤几何参数
Specifications for optical fibre test metnodis-Part 20: Measurement methods and test procedures for dimensions-Fiber geometry
(IFC 60793-1-20:200l,Optical fibresPart J-20: Mcasuremcnt methods and test procedures-Fiber geometry,MOD)
2008-04-10发布
数码防伪
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2008-11-01实施
GB/T 15972.20—2008
规范性引月文件
术语和笼义
测量方法概述
8计算
谢录A（现范性两录）
附录3（现范性附录）
附录C（规范性附录）
附翠(规范性附录）
方浩A
方法B
方法C
折射近场法的特定要求
横向沙法的特定要求
一近场光分布法的特定要求
一机被直径法的特定要求
GB/T15972.20—2008
GI3/I-5972《光纤试验方法规范》闻若下部分组，其预期结构及对应的国际标准和将代替的国家标滩为：
第10部分-~第19部分：测童方法新1试验程序总刘（对应IEC69793-1-10至TEC60793-1-19；代替GB/T 15972.1 -1998);
第20部分~第29部分：寸参数的测量方法和试验程序（对应IEC60793-1-20至IEC60793-1-29;代替 GB/T 15972.2---1998);一第30部分～第39部分：机被性能测量方法和诚验程序（对应IEC60793-1-30至IEC60793-1-39:代替G13/T 15972.31998);-第40部分～第45部分：光学特性和传输特性的测量方法和试验程序（对应IFC60793-1-40至IEC 60793-1·49;代替 GB/T 15972.4—1998);第50部分～第59部分：环境性能的测量方法和试验带序（对应IEC60793-1-50牟IEC60793--59;代替G3/T15972.5-1998)
其中GB/T15972.2×由以下部分组成：一-第20部分：尺小参数的测最方法和试验程序——光红儿何参数；第21部分：尺寸参数的测方法和试验程序涂覆层儿何参数：
一第2部分：尺寸参数的测量方法和试验程序：长度。本部分为GB/T15972的第20部分。本部分修改采用国际电工技术委员会标准IEC.60793-1-2G：2001；《光纤第1-20部分：测最方法和试验程序光纤儿何参数》，本部分与IEC60793-120：2001主要差异如下：
一-按照我国标准的编排格式和衰述要求，对-些内容安排做了调懿，筹1章某盛内容放在第4章，删除了第5章和第 11章,将其内容分别放在第 4章和第9章,其他膏马重编；纠正了某些不恰当的叙述。
本部分代替GBT159?2.2-198光纤总规范第2部分：尺寸参数试验方法》的第5章，第6章和第8章。
本部分与（GB/T 15972.2—1998第5章、第6章和第8章相比主要变化如下：删除了“折射率制面法\的提法，将其包括的试验方法首接作为本部分的两神试验方法：方法A：折蔚近场潜：行法B：搅问法（198年版的第5竞；本版的附录A、附录)；修改了新射近场法对草模光纤案焦光發尺要求，光避尺可改为小于1.501998年版的第5 章;本版的附录 A 中 A, 2. 2);规楚了光纤几何蔡的雅试验寿法（见态版的第章）；-“-对每一种战验方法的特定要求分别用附录的形式给出(1998年版的第5 章,第6 章、第8 章，本版的附录 A、附录 B,附录 C和附录 D),本部分的附录A、附录B、录C和附录D为规范悦附录。本部分由中华人民共和国信息产业部提凹。本部分出中国通信标准化协会购口。本部分起草单位武汉都电科学研究院，本部分主要起草人：陈永诗、程淑冷、刘泽忙、吴金良。本部分为第--次修订，它与（GI3/T15972.2×其他部分起代替（GJ3/T15972.21998。1范围
光纤试验方法规范
第20部分：尺寸参数的测量方法和试验程序一一光纤几何参数
GB/T 15972.20—2008
GB/T15972的本部分规定了测景未涂覆夏光纤几何参数的试验方法，确立了测量的统-试验程序和技术要求。
本部分适用于对A类多模光纤和B类单模光红的测品和我品光红光缆的商业件检验。2规范性引用文件
下列义作中的条款道过（1/T15972的本部分的引用面成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括谢误的内容)或修订版均不翔于本部分，然丽,敲励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版术。凡是不建用期的引眉文件，其最新版本适用丁本部分。
GB/T15972.10一2008光纤试验斤送期范第10部分：测带办法和试验猴岸一一总则(IEC 6o793-1-l.2002,Optica. fibres Part -l; Mcasurcmcnt mcthods and test proredurcs (encralnad guidance,MOD)
3术语和定义
下列术语利定义适用于本部分
基准面refercnce surface
基雅面蔽在产岳规范中规定，它可以红恐或包层的表而，3.2
rore concentricity error
恐同心度误差
B类光纤·近场间中心到包层中心的叫距；A类光纤;芯区中心到包层中心的间距。3.3
core liareter of category A muitimode fibreA类多模光纤的芯真径
多模光纤慈点径从折影率剖面确定，定义为在折射率剖而上通过芯区中心与折射率剖面在3点相交的直经，n：的位置由下式硫定：g--+k)
式中：
纤芯的最大折射率；
n2——最内均句包层的折射率；称为“因子\的常数。
折射率剖面可道过折射场法（RNF)或横同T涉法（JI)获得，也可以用近场光分布法（TVF)测量被余部照明的纤恐近场来获得，1
GB/T 15972.20--2008
为改菩芯百径测量精度，痒设在测量折射率部面时采用两线拟合技术：证：对拟合的尺NP或不拟合的TNP法，的典型最值为.25，这与合的TNF法的值为零等效注2：对纤/包层交界区或斯射率剖闻是渐变的光纤,不拟合的TNF绘的值取为(.等效于拟会的TNF的收值为零。
兰3；对于类光纤，朋近场图中心而不是用折射卒剖断图中心作为芯区的中心，人规延恶区逆异而是规定模场异。
4测靠方法概述
来涂覆光纤的儿何特性是光纤的基本特性，在进行光纤熔接连接、成缆和测量等后续1.序时需要预知未涂疆光纤的几何特性。
本部分给出广测光纤几何参数的四种试验方法，国种试验方法及其适用范围如表1所列。表1光纤几何特性的试验方法
试验方法
方法A，新射近场送
（见障A）
方法B：极向干涉法
（觅附录B)
力法C近场光分有题D
方法D:机被直径法
(卫附录 D)
适用光纤类型
所有A类和B类光纤
所有A类光纤
AI类、A2类、A3类和所有B类
所有光纤
注1：不规定单漠光红的芯直径
适川的参数
包层直径
包层不圆度
纤芯直径
纤芯不圆度
芯/包同心度误光
班论数值孔径
折射率面
纤恶直径
纤芯不度
理论数值孔径
除理论数值孔经外
的所有多数
包层直径
不圆度
注2：纤志直径、纤芯不国度和理论效值孔经仪适用于A类水纤1S98准版不方法称调
GB/T 15072-AIA
GB/T 15972-A1B
GB/T 15972 A2
G/T 15972 A4
3：近场在措泌可以川于测量美光纤的芯区直径，但由于纤芯不橱度的影响其测量结是与实际的求直径可能有差别。纤芯不度叫通过多独扫描来确定控4：在实际应用中，对了平滑内科充分圆的光纤川方法可给出同方法A、方法和方德C相近的结累，并且也能得到光纤的不圆发的诞结果。上述叫种试验方法中，方法（是测量A类光纤瓦何参数(纤芯直径除外)和B类光纤几何参数的准试验方法(RTM），可用作忙裁试验：方法A是测量A类光纤纤感直径的基准试验方法（RTM）注：A类光纤的芯区是根据方法A测定的折时率制定义的,因此方法C不可以作为A类光纤纤芯直径的仲裁试验方法。
本部分的第2～9章中给出了对「述匹种试验方法其同的要求。而对每一种试验方法的特定要求分别见附录 A、附录 B、附录 C希附录 D中的详细敏述。5装置
在阿录A,附录了附录C和附录D中分别提供了衔一种或验方法的装置图和对仪器的相应要求。6试样
6.1试样长度
分别见附录 A,附录B,随录C和附录 1)中的应月要求。6.2
2试样端面
GB/T15972.20-2008
仪对于方法A利方法C,试样的光输入端和输出端的端血应清洁、光滑并与光纤轴垂点。准用方法A，方法测最时端百倾斜会影响测最精度，其端面倾斜角应小于”对端面更详细的露求见方法中的C.2由于方法D是便使用侧视法别最.对于试样端面小作要求。7程序
测量应在 GB/T =5972. 10 2008 规定的标雅大气别量和试验条件下进行。对于方法 A,方法 I3,方法（和方法D分别见阴录A、附录附录C和附录D中的程序。8计算
对于方法 A、方法 B、方法 C和方法D分别见录 A,附录B、附录 C利附录L)中的计算方法9结果
9.1测萱绩果报告应包撞下列内容：试验名称：
试样识别号；
试验结果(见相应录）;
试验日期和操作人员，
9.2据要求报告中也可包捞下列内容：一所用诚验方法：
———试样长度
被测光纤类型：
”\失效或合格判据；
环境温度和相对湿度;
仪器装置说明：
试验装置最近校准期
G5715972.20—2008
A.1概述
方法 A—
附录A
（规范性啊录）
折射近场法的特定要求
折射近场法红接测量光纤（纪蕊和包层）横截面折射率变化，经定标给止折射率绝对值。折射近场法能得到单模兆纤和多模光纤的折射率剖面。A.2装置
折射近场法原理示意图和试验装置如图A.1.图A.2所示，对老纤级估汇轻
期注入的注入光
深光器
透镜组
报体盒
疑组心
光中二极管
瘦体食
仪为折射
传寻球萃
折射近场法示意图
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图A.2折射近场法试验装置框图
X证录仪
A.2.1死源
应采用一个输出功率为婚瓦级的稳定微光睾，输山模式为TEM模。GB/15972.20—2008
可采用波长为633nm的氮氛（He-Ne)激光器，但外推到其他波长对必须用修正系数对其结果加以修正：
光在空气一破璃界简的反射与缩度积偏振状态密切相关，应加人一个二/4波片将光束从线偏振变为医偏振。
如必要，用-个置于透镜1焦点处的小孔作为空间滤波器。A.2. 2注入光学系统
江人光学系统应对光纤的数值孔径满注入，并将光束聚焦到光纤平坦的输入端面上。光束光辑与光纤轴爽角应在1以内，装置的分辩率取决聚焦光斑尺寸，为了使分辨率最高，聚焦光斑尺寸应尽可能小，对多模光纤和单模光纤，光斑寸均小于1.um。聚焦光斑应能沿光纤直径扫损。A.2.3液体盒
盒中折射率匹配液的折射率应稍高于光纤包层折射率，A.2.4光检测器
采用任仰方便的方法收渠到全部的折射光产将其传到检测器。逛过计算确定圆想寸及在中心的使管。
注：选拦合造的圆盘尺寸，便其相成的数值孔径近拟等于注入光的数值孔径除2A.3试样
试样长度应小下2H，没人液作盒中光纤段上的全部涂覆层应去除。A.4程序
3.4.1折射率剖面测量
断射近肠法试验装置图见图A2
将被试光纤注入端浸准豌体企中。用一鸽灯从后端照明光纤，透镜2和3产生一个光纤的聚焦像。调节透镜3的位置使光纤像对中并焦;同时激光束对中并聚焦到光纤端面上：将圆想与输出光锥对中。对多模光纤，圆盘在光上的位置应恰好阻挡佐模；对单模光纤，圆盘的定位还要给出最佳分辨率。
收集通过圆盘的牟部抗射光并聚焦纠光电一极管上，聚焦的激光光斑横针光纤端间，真接获得光红的折射率分布业线：
A.4.2仪器校准
从液体盒巾取出光纤对装置进行校准。测量期间，光锥角随入射点处光纤折射率的不同而变化（即道过圆盘功率的变化），婚二从液体盒中取出光纤，并且已知液体折射率及液体盒厚度，可通过沿光辅平移圆盘模拟角度的变化，适过把圆盘移动到若干个预定位置，可褥到相对折射率剂所图。如果精碎知道在测景波长和温度下包层或匹配液的折射率，就可准确确定绝对折射率和2，值用国家标维机构等部门提供的多量校雅用介质，根据说明对仪器进行校雅。A.5讨算
通过上函测得的折射率剖山：计算出：纤虑直径；
一包层直径：
纤芯/包层同心度误差；
纤芯不则度；
GB/T15972.20—2008
一包层不圆度；
一最大现诊数值孔径：
折射率差：
对折射率差；
精度利意复性
可以使用不同的方法确定包层边界，例如可采用定位基准线法，若用跑方法确定包层边界，在校准仪器和测虽样品时均应府用同样的定位基推线，A.6结果
除了第9章中结果报皆应包括的内容外，根据规范要求在报告中地应包括下列内容：在指波长上遍过纤芯和包虞中心的折射率剃：……在指定波长上沿纤芯长、短勃的折射率部面；一在指定波长！包层长短轴的折射率部面：--仪塞装鹭图和坡长修正法光源波长不是633 11m时），1概述
附蒙B
（规范性附蒙）
一横向干涉法的特定要求
方法距—
GH/l1 15972.20—2008
横向干涉法可通过测量光纤试样的斯射率面来计算光纤玻璃区城的儿何特性参数，榄可干沙法用下泌显微镜在柔古跑射的光经样测面聚您，得到让逊图形，用视频探测器采想涉条纹并经计算机处理使下涉系纹数字化，从而得到光纤的折射率剖面。本试验方法特别合测是A类光纤的芯真径和最人现论数值孔径，但不太适合对光纤包层开何参数的测量，
B.2装置
模向「涉法试验装聋如图B.1所示，广编碧
计算机
视像管摄像制
于涉整微镜
光进入
B.2.1透射光干渺显镜
视项激字
转换恶
图.1横向干涉法试验装置
Go品品
185886 6 80
这郊特定用途的正涉最微镜是台品微镜和-台干溉仪的组合，它怖试验物体的效大像与「涉翁纹-起出现。-个平行光聚光镜和物系统产生试样的试验光路和参考光路，它采用窄滤光器称向北光頭得到淮相1照胡光
B.2.2视像管摄像机和显示器
摄像机产生个能使条纹明暗度量化的电于图像，使得能采用解析方法精确确定条纹中心坐标。它也间以在可觅谱之外的波长上迹行测量，显示器应能使操作人员便于观察试样，有助于对试样和条纹进行适当调节。7
GB/T15972.20—2008
B.2.3视频数转换器
该单元与摄像机和计算机控制器越工作，使摄到的显微镜输出场图数宇化，计算杭对摄像管的位置行寻址，数字转赖器将该寻位暨处的度用一个&位二迹制数字表示，并送可到诈算机，自鼠示器上圆点光标指示被编码点的位置，B.2.4可编程计算机和绘图仪
计算机（可编程计算)采集作为位置数据函数的光独，确定条纹相对下包偿基准线的位慈（它是红忠径向位置的函数）。计算出公，作出径向新射率面图：确定一条最佳拟合的折射率间厚次分布山线，并出绘图仪绘出。
B.3试样
试样应是一段清的无涂覆层光纤，长度为20mm。B.4程序
B.4.1准备
试样锁放在最微镜试验物镜下的光学试样平板（山最微镜配备）上，将等量的油（新射率与试样包展折射率相同)注在试样平板和参考半板。选用10)倍油浸物镜，升高显微镜载物台直至物镜接触到润，将试样定位在物镜视场用龙在闭参考光乐情祝下进行聚焦，开启考光求，调节壶微镜以产如图13、1所示高对比度条纹图形,条纹曲线部分是山纤芯产生的B.4.2光纤辑定位
调整光纤使之与条纹线垂真，调节条纹间膜，使显示器上可吞到约1条条纹：为使分析，再调节显微镜操纵装置，使条纹线平行于摄像机的水平担绒。8.4.3扫描
一旦将条纹适当定向，间编计算机和视频数字转换器就自动扫描所选条纹：将层条纹位置作为零位移位暨（30)，可得出纤芯条纹位移量（轴）。垂直跨过包层的两条相邻条纹进行一次单独担描，获得条纹间距L。条纹撒结束后，可确定：组用下计算n，的条效位移点2.和条纹间距I。P是条纹位移測量处径问位置编号。
B.5讨算
为便丁分析,纤折射率分布由-维同心圆环迟似(图R.2所示）。图B2顶部示出系纹以及系纹位移点与纤心径问位置的祖互关系。这些条纹不必与光纤的沉积层一致，而取决于对\(r)要求的空间分辨率。环折射率包层折封率之差△n山下或给出：1
ZAn,Su
武中：
S.p光线在j环中传输的距离；
Q,—P点处条纹的位移；
L相邻条纹间距。
Sp. = 2.(R:R)1V2(
R,—环的半径。
+( B 1
-.- ( 13. 2)
条统位移
光纤舒恶
折射率印
反光镜
图B.2折射率剖面-
G3/T15972.202008
线位置处
的祭纹位移
创举光线
进行计算的断射率环
用一绘图仪画出n，的曲线，这就是光纤的折射率面。采用出线拟合法可族得与小面新射率力程最符合的套效：
An(r)-Anall-(r/a)*
武中：
a纤芯
处的折射率差
g折射率
部面形状因子，近似为2。
拟合确定的n
和α值最符合实际的折射率剖面。为避免山于中心折射率凹陷和纤态/包层边界不规则引起的不能接受的扰动，拟个时应仅私用0.15α~0.95a之闻的数值B.6结果
除了第0章中结果报告应包括的内容外，根据规范要求在报告中也应包括下列内容：照明光的中心波长和谱宽
仪器1涉仪类型。
小提示：此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容，若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。