本标准规定了测量光纤涂覆层几何参数的试验方法，确立了测量的统一试验程序和技术要求。本部分代替ＧＢ／Ｔ１５９７２．２—１９９８《光纤总规范 第２部分：尺寸参数试验方法》第７章、第８章。本部分与ＧＢ／Ｔ１５９７２．２—１９９８第７章、第８章相比主要变化如下：———原正文中的两种试验方法详细描述分别用附录Ａ 和附录Ｂ 的形式给出(１９９８年版的第７章、第８章；本版的附录Ａ、附录Ｂ)；———规定了方法Ａ 为基准试验方法(见本版的第４章)；———规定了方法Ｂ也适用于Ａ３类、Ａ４类多模光纤(见本版的表１)。 GB/T 15972.21-2008 光纤试验方法规范 第21部分：尺寸参数的测量方法和试验程序 涂覆层几何参数 GB/T15972.21-2008 标准下载解压密码：www.bzxz.net

1S 33. 180. 10
中华人民共和国国家标
G/T 15972.21—2008
部分代替GB/T15972.2—1998
光纤试瑜方法规范
第21部分：尺寸参数的测量方法和试验程序涂覆层几何参数
Specifications for optical fihre test melhods--Parl 21 : Measurement methoas and test procedures for limensions-Coating geormetry
(IEC 60793-1-21:2001,Optical fibres - Part 1-2l:Measurernenl rnethodsand test procedures-Coating gcomctry, MOD)2008-03-31发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标雅化管理委会
数码防您
2008-11-01实施
GB/T 15972.21-2008
规范性引用文件
3术语定义
测最方法概述
6试样和战样制备
＆计算
附录A（规范性附录）
附录B（规范性附录）
方法A
一侧视光分布法的特定要求
机法的特霆娶求
GB/T15972.21..--2008
GB/工15972《光纤试验方法规范施出若十部分组成，其预期结构及对应的国际标证和将代替的润家标准为：
觉10部分～第19部分：测量方法和试验程序总则（对成IEC60793-1-10至1EC60793119：代替GB/T15972.1—1998)；
第20部分~第29部分：尺寸参数的测量万法利诚验程序（对应IFC60793-1-20至IFC60793-1-29代G13/T15972.2—1998)；
第30部分～第39部分：机械性能的测量方法和试验程序（对应IEC60793130至1EC607931-39代替GB/T15972.3-1998)；
一第40部分第49部分：传输等在利光学特性的测量力法和试验程序（对应IFC69793-1-40全IEC60793-1-4U;代替GB/T15972.4.:1998);第50部分~第59部分：环境性能的测方法和试猩序（对应IEC60793150至1FC6C793-1-59代替GB/T5S72.51958)。
H中（G13/T15972.2×由以下部分组成：*第20部分：尺参数的测晟方法和试验程序光纤几何参数；
-一第21部分：尺寸参数的测量方法和试验程序——涂覆层儿何参数；第22部分：尺寸参数的测量方法和试验程序—-长度。本部分为GB/T15972的第21部分。本部分修改采用国际电工反术委员会标准IEC60793-1-21：2001《光年第121部分：测风方法和试验程序涂短层几何参数》。本部分与[EC6G793-1-2F:20H)1半要差异如下：按照我围标准的编排格式和装述要求，对一些内容安排做了调整，删除丁IEC版本的第5章，将其内容利第1章某些内容放在木部分第：章；将第1C章利第11章合并作为本部分第9章；纠正了某些不恰当的叙述。
本部分代替（-13T5972.21198《光纤总规范，第2新分尺参数试验方法》第7竞第8章。本部分与（3/T15972.2---1998第7章、第8章相比主要变化如下：原正文中的两种试验方法详细描述分别用附录A和附录3的形式给出（1998年版的第7章，第 8 章;不版的附录 A,附录 [3];一一规定了方法A为滩试验方法（见本版的篇4章）；规定了方法也适用于A3类A4类多模光纤（呢本版的装1）本部分的附录A、附录B为规范性附录，本部分山中华人民共和国信息产业部提出。本部分间中国通信标准化协会门。本部分起草单位：武汉邮电科学研究院本部分主要起草人：程激玲、陈永诗、刘泽恒，员金良，本部分为一次修订，它与GI3/T15972.2×其他部分一起代替GB/T15972.2：19981范围
光纤试验方法规范
第21部分：尺寸参数的测量方法和试验程序一一涂覆层儿何参数
GB/T 15972.21—2008
GI3/T15972的本部分规定了测最光纤预涂覆层几何参数的试验方法，确立了测量的统·试验程序和技术萎求。
本部分适用对A类多模光纤和B类单模光纤的测和成品光纤光缆的商业性检验，2规范性引用文件
下列文件中的条款通过13/T15972的本部分的引用而成为本部分的条。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，敏励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本，凡是不注日期的引用文件，其最新版木适用于本部分
GB/T15972.1C--2008光纤试验方法规范第10部分：测法和试验租序总则
(lEc 60973-1-1:2002,Oplical fibres--Part I-l: Mcasureme:tt methods znd lest procedures Gcncraland guidanre, MOD)
G13/[5972.202008光纤试验万法规范第20部分尺寸参数测量方法利诚验程序光纤几何参数（IFG0793-1-20:200l，Opiicalfibres·Part2-20：Mcasuretmemmethodsand testpruceduresFibcrgcomctry,MoDy3术语和定义
下列术定义适拥于本部分。
预涂覆层primary coaling
在光纤拉制时或效制后在光纤色层表面涂覆单/多层起保护作用的涂覆材料，为光纤提供所需的最小保护（例姐250产m保护层）
二次涂覆层或“缓冲\涂覆层secondary m“buffer”coating在单/多层顾涂获的光红上再施加单/多层涂覆材料，为光纤提供额外要求的保护，或使预涂覆光纤集合在·-起形成一种特殊的结构（如9001m缓冲层、紧套层或光纤带）。A测量方法概述
光纤涂微层几何参数是光纤的基本参数，在选行光纤熔接、连接、成缆和测量等后续序时需婴预知光纤的涂覆层瓦何特性，
本部分给出了测量光纤涂覆层儿何参数的网种试验方法，两动试验方法及其适范国如衣1所列。1
GB/F 15972,21---2008
试验方法
方法A：侧视法
（附策A）
方法B:机械法
(阳）
表1光纤涂爱层几何特性试验方法透用光纤类型
所有光纤
所有光综
适用的参数
涂婆层直径
被层不圆爽
涂覆唇/包慶间心度误券
涂获层育径
激微层不国度
1998版本方法款调
GR/T 15972-A3
CB/T 15072 A4
注1：为了计算涂效层的柒些几何参数随宦采川方法A训出光纤的包会直径,出于该试验方法的测昼精度相对较很，得到的包层直径值保能作为G激2008中已有整哦筑验方法测量结来的替代位。注艺：对类光奇不定义徐覆层/包层厨心度误差方法 A是测景光纤涂覆厨
摄特性的苯涯试验方法（RTM），雅仲裁验5装置
在附录A和附录
6试样和试样制备
6.1试样长度
试样应该是
6.2试样端面
由于测量过科
7程序
中容别提
晟光纤或按产
样端面无美
测量减在G372.102
分别见附录A和附的程序
8计算
对试样端面不需产
标准大气测罩
对于方法A和方法剪分
期见随A和附录计算方法。
9结果
测量结果报告成新下刻馨
试验名称；
试样识别号：
…试验结果(觅相成附录）；
试验日期和操作人员。
9.2根据要求报告凸也可包活下列内容：“所用试验方法；
试样长度：
.被测光纤类型，
----失效或合格判船；
坏磨温度利相对湿度：
…仪器装置说明；
试验装置最近校推日期。
其他设务相顾的要求。
科下进行。树对十防法 A利方法BA.1装置
方法A-
附录A
（规范性附录）
侧视光分布法的特定要求
该装置可以山一个光学显微镜或微光幕测童垒店A.1.1包含光学显微镜的装置
图A，1是一个典型的再学显微镜缇减俯试验毅管示意图，效
新的幕匹配
被试光路
GR/715972.21—2008
转台（与政试纤和
纤爽只一起》
A.1.1.1物镜
采用·个高质量懒镜用透射光照明。A.1.1.2光纤支持架
学显微镜
被试光纤应置于显微镜需光纤辅与物镜光轴垂息试样应薇在用透明材料制作的盒子息，并浸人合适的折射率匹配液市为定位读释宅与称光平行，盒忘萨如必要）应固定在旋转平台！。应用夹只国定整个盒子战拿中的光纤馈能旋转系少18C°，并能婚释足够多的位置上固定，以使测量涂證层尺寸参数。当光纤从一个位置旋转至另二登时航裁公差应非常小，使得需要的重复定位和重复聚集次数最少，
A，1.1.3图像观察仪
可以直接用「字准线用镜观察图像(溅察汰),或者采用电莅耦合器件像机将图像显示在显示耀上（摄像机法）。采用观察法时，系统典型效人倍效是100~200；采用摄像机法时，图像直接送到电荷耦合器件摄像机，典划改大借数是20，采用规察法时，光绗图像人寸参数是道过字准线回镜确定，采用摄像机法时，光纤图像尺小参数是适过在显示器上月电于标尺对图像定位确定，或名感通过计算机对储存图像遵行数耕分析确定。
A，1.2包含激光测量仪的装置
图A.2是一个典型的阳激光测量仪组成的试验装吾示意图：3
GB/T 15972.21--2008
A. 1.2.~般元件
装置应由个合适工作波长（例如633m)的激光光源，一个扫描器件和二个检豁纠聪，如必娶，扭来雁透镜系统将光束对谁试群，焦.1.2.2光纤支持架
应府介适的川旋转光纤火只固定试样，光纤轨与装暨光轴恶直。试样成能旋转至少180，并能够在足够多的位置「质定，以便测量涂覆层的尺寸参数，遥组
A.2程序
A.2.1装置校准
裁试光纤
光热测器
激采岸
图A.2侧视光分布法试验装置(包含激光器）应通过测量八寸己知的标雄物质(校准样品)对装置行校雄。出于测视光分布法的劑虽精度的典型俏为，校推样品的尺精度应优0.5IA.2.2图像分析
通过光纤图像的分析确定对成不厕旋转角度的覆展尺寸。采用如图A.2所示装紫，尺寸参数间过测激光光束透过光纤的偏转函数获得，A.2.3数据分析
数据采集后，有两种数据分析的方法：平商分析和椭圆拟合分析A.2.3.1平面分析
采用合适的光纤夹其跨转试样，测出最大立径和最小直签，为找山图像最大时和最小封的角度位置：需旋转试样,测量出作不同角度位置上的包层直径、涂寇层得度和涂覆层直径，计算出涂获层直径最大值(A)和最小值(B)。
A.2.3.2椭圆拟合分析
为获得涂覆层外径的数据，对光纤的放大侧视图像进行分析。只要有尽够可利用的数锯点，就可将涂覆层数据按最小二法拟合成个椭厕，确定椭圆的长轭(A)和短轴（3)。A.3计算
A.3. 1对于平面分析
A, 3. 1. 1 涂短层点径(μm)
A.3.1.2涂覆层不圆度（%）：
涂覆层首径×100
淳度比(%)：
. 3. 1. 3bZxz.net
武中：
A和B-
inx100
分别是最大和最小直径：单位为微米(um)；分别是最小和最大涂覆层厚度.单位为微米(m）。A.3.2
2对于圆拟合分析
A. 3. 2. 1
涂覆层直径（μm)：
涂疆层不圆度（%）：
涂覆层直径
涂覆层/创层同心度误差（μI)：（X—X）+(Yp—Y）\A. 3. 2. 3
A和B一分别是最佳拟合椭网的长轴和短轴：单位为微米（\m)：一是涂爱层中心的坐标，单位为微米（打）；Xp和 I
Xa和Ye
包层中心的坐标，单位为微米（um）。G2/T15972.21—2008
GB/T 15972.21—2008
.1装置
附录B
（规范性附聚）
一机概法的特定要求
方法B—
采用两个表面平的乎砧，半砖与光纤侧而州接融。两平矿装而下相平行，平础与光红涂层或缓冲层的接触力应足够小，以保证平矿对光纤涂覆层和/或缓冲层不产生物理变形。如果砧表面不平期，或者平站对光纤涂疆房或缓冲层产生变形，则应对测量绪果作贴修正，试验凝置姐图B,1所示。
试样支架
后向反射说
羽定平站
电子创微计
精班平台上的平宿
，1.1平砖
战样支渠
徽计螺汗
图B.1典型的电子测微计系统(顶视图)采用两个平础，…个固定，另-个可移动。可移动平站安装在精密控制器上或者可以白曲移动。通过弹簧（或自总挂重物产生拉力、或采用其他类似于段)将可移动平砖贴紧固定平础（或光纤）。B.1.2电子测微计系统
应采用象双通路迈克尔邀干涉仪这样的电了测微计系统。它与后润反对器或平面镜一起用下精确测量平台的移动，即闻移动平祜的移动。B.1.3试样支架
支架将试样支举在网平矿佰之间，短试样可从套圈（或V型夹具改其他类型固定器)中伸出。B.2程序
3.2. 1测晕原理
在试样的对侧用两个平砧与试样相接触，接触力应为可调。测叠时，成将平砧表面和试样表而的按触力调是够小，使得战释或平黏产牛的变形可以忽咯，所要求的平砧与试样的接触打敢次了试样平破的友，接船为大小施在用和广家之间送成称设用电子测微计精确地测量两平砧的间隙。如果变形不能被忽略，测应对测结果作出修正。S
B.2.2测量
GB/T 15972.21-20D8
清洁平砧表面，转动测微计線杆使两平砖装而相接触。将测微计爆杆转避头“点，使两个平黏仪靠弹张力贴在起：记录电子测微计读数L。然后调节测微计，使平衣面之间的间隙大于试样直径，确认试样衰面清洁并保让试样对于被测光来说真有代表性：将试样置于两平础之间的支架七。缓缓转动螺杆使平砧表面接触光纤，将测微计杆转过头点，使平砧仪靠弹张力夹在光纤。记录电子测微计读数12（一L)加上补偿压缩影响的修正值就是试样直径，转动试样进行-系列测量就可确定试样的不因度。
B.3计算
记录涂覆层或缓冲层的一系列测景结果的半均值。涂爱层不度（头)是外径最大值和最小位之差除以平均俏再乘以三00。B.4结果
除了第9章中结采报告应包括的内客外，根据规范要求还应给出下列内容：…试验装紫捕述，包括平站材料知接触力人小；如需要，可提供修正系数
GB/T 15972. 21-2008
中华人共和
国家标准
光纤试验方法规范
第21部分：尺寸参数的测量方法和试验程序——涂短展几何参数
GB/T 15972.21 2608
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