GB/T 15972.51-2008
基本信息
标准号:
GB/T 15972.51-2008
中文名称:光纤试验方法规范 第51部分: 环境性能的测量方法和试验程序 干热
标准类别:国家标准(GB)
标准状态:现行
发布日期:2008-03-31
实施日期:2008-11-01
出版语种:简体中文
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下载大小:1584112
相关标签:
光纤
试验
方法
规范
环境
性能
测量方法
程序
干热
标准分类号
标准ICS号:电信、音频和视频技术>>光纤通信>>33.180.10光纤和光缆
中标分类号:通信、广播>>通信设备>>M33光通信设备
关联标准
采标情况:MOD IEC 60793-1-51:2001
出版信息
出版社:中国标准出版社
页数:8页
标准价格:10.0 元
计划单号:20068468-T-339
出版日期:2008-10-01
相关单位信息
首发日期:2008-03-31
起草人:陈永诗、程淑玲、刘泽恒、吴金良
起草单位:武汉邮电科学研究院
归口单位:信息产业部(通信)
提出单位:中华人民共和国信息产业部
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
主管部门:信息产业部(通信)
标准简介
本部分为GB/T15972的第51部分。本标准规定了评估光纤在给定环境中干热性能的测量方法和试验程序。适用于确定A1类多模光纤和B类单模光纤在实际应用、贮存和运输过程中可能发生的高温环境条件下的适应性能。本部分与IEC60793-1-51:2001主要差异如下:———适用范围由A1a至A1d类光纤改为A1类光纤,B1至B4类光纤改为B类光纤;———最小弯曲直径150mm 改为绕圈直径应大于150mm;———在进行基准测量前应使试验箱和试样稳定在标准大气条件下改为稳定在GB/T15972.10—2008规定的标准大气条件下;———在试验前后要对光纤涂覆层平均剥离力进行测量改为对光纤涂覆层剥离力进行测量;———纠正了“建议在试验开始时,35℃ 下的湿度应不低于50% RH”的错误,改为“应不高于50%RH”。 GB/T 15972.51-2008 光纤试验方法规范 第51部分: 环境性能的测量方法和试验程序 干热 GB/T15972.51-2008 标准下载解压密码:www.bzxz.net
标准内容
ICS 33. 180. 10
中华人民共和国国家标准
GB/T 15972.51-2008
光纤试验方法规范
第51部分:环境性能的测量方法和试验程序,
Specifications for optical fibre test methods-Part 51:Measurement methods and test procedures for environmentalcharacteristics-Dry heat
(IEC 60793-1-51:2001,Optical fibres-Part 1-5l:Measurement methods and test proceduresDry heat,MOD)
2008-03-31发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2008-11-01实施
GB/T15972.51-2008
GH/T159724光纤试验方法规范由若干部分组成,其预期结构及对应的国际标准和将代誉的国家标准为:
第10部分~第19部分:测量方法和试验程序总则(对应IEC60793-1-10至IEC60793-1-19:代誉GB/T15972.1—1998);
第20部分~第29部分:尺寸参数的测量方法和试验程序(对应IEC60793-1-20至IEC60793-1-29;代替GB/T 15972.2—1998);第30部分~第39部分:机械性能的测量方法和试验程序(对应IEC60793-1-30至IEC60793-1-39;代替 GB/T 15972.3—1998);-第40部分~第49部分:传输特性和光学特性的测量方法和试验程序(对应IEC60793-1-40至IEC60793-1-49;代替GB/T15972.4—1998)第50部分~第59部分:环境性能的测量方法和试验程序(对应IEC60793-1-50至IEC60793-1-59;代替 GB/T 15972. 5—1998)。其中GB/T15972.5X由以下部分组成:第50部分,环境性能的测量方法和试验程序恒定湿热;第51部分:环境性能的测量方法和试验程序第52部分:环境性能的测量方法和试验程序一干热:
温度循环
第53部分:环境性能的测量方法和试验程序-浸水;一第54部分:环境性能的测量方法和试验程序——伽玛辐照。本部分为GB/T15972的第51部分。本部分修改采用国际电工技术委员会标准IEC60793-1-51:2001光纤第1-51部分:测量方法和试验程序-,于热》(英文版)。本部分与 IEC 60793-1-51,2001 主要差异如下:适用范围由 Ala 至 A1d 类光纤改为 A1 类光纤,BI 至 B4 类光纤改为 B类光纤;最小弯曲食径150mm改为绕因直径应大于150mms在进行基准测量前应使试验箱和试样稳定在标推大气案件下效为稳定在GB/T 15972.102008规定的标雅大气条件下;
在试验前后要对光纤涂层平均剥离力进行测章改为对光纤涂履层剥离力进行测宣:纠正了“建议在试验开始时,35℃下的湿度应不低于50RH”的错误,改为\应不高于50必RH\.
为了便于使用,对IEC60793-1-51:2001本部分还做了下列编辑性修改:按照我国标准的编排格式和表述要求,对一些内容安排做了调整,删除“第8章”,“IEC60793的本部分\改为\GB/T15972的本部分”;…对于 IEC 60793-1-51引用的其他国际标准中有被修改采用为我国标推的,GB/T 15972.51 引用我国的这些国家标准或行业标摊代替对应的国际标摊。本部分由中华人民共和国信息产业部提出。本部分由中国通信标准化协会归口。本部分起草单位:武汉邮电科学研究院。本部分主要起草人:陈永诗、李海清、刘泽恒、程淑玲。本部分为第一次发布。
光纤试验方法规范
第51部分:环境性能的测量方法和试验程序——干热
GB/T15972.51—2008
GB/T15972的本部分规定了评估光纤在给定环境中干热性能的测量方法和试验程序。多模光纤和B类单模光纤在实际应用、贴存和(或)运输过程中可能发生本部分适用于确定A7
的高温(干热)环境条件
注:该试验对其他类
2规范性引用文件
下列文件中自
的造应性能。
适用性在研究中
通过GB/T15972的本
分的引月而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文
单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成件,其随后所有的
协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文,其最新版本适用于本部分。
GB/T242路
试验B高温(IEC60068-
第2部分:
2001电工
电子产品环境试验
试验方法
ontal testing
Par2.TestsTest B,Dry heat,MOD)2-2.1974,Envi
GB/T159
60793-1-1:2002
法规范 第10部分,测量方法和试验程序光纤试
cal fibres
guidance.MOD
GB/T15972
覆层可剥性(IEC
L.Measurement
iethods
总则(IEC
General and
and test
procedlires
第32部分:机械性能的测量方法和试验程序光轩试验方法规范
60g-1-32:2001.Optipaltibres
dures-Coating str
CB/T15972.40
光纤武验方法规范
衰减(IEC609
Attenuation,MO
3试验装置
3.1试验箱
Part 1-32.Measureme
cthods and test proce-
第40部分:传输特性和光学特性的测量方法和试验:2001,Opticalfibres-Part1-40.MeasaremcnEmethodsandtestproce-
根据GB/T2423.2一2001试验B,试验装置包括一个环境试验箱,试验箱的大小应能够容纳试验样品,不得使试样受到直接辐射热和便于条件调节时的测量,它也能维持规定的温度在规定的容差内,可用空气循环维持试验箱内的均匀条件。3.2其他装置
需要完成试验和测量所必须的其他装置(或如详细规范中规定的装置)。4试样和试样制备
为达到所要求的衰减测量重复性,光纤试样长度,对A1类光纤应至少为1000m,对B类光纤应至少为2000m。暴露在试验箱外面的光纤应尽可能短,如果暴露在外面的部分超过试样总长度的10%,则宜记录说明。
GB/T15972.51—2008
在试样的准备过程中不应有在测量环境下给光纤造成危音的影响。除非在详细规范中另有规定,建议将光纤试样松绕,并且在试样光纤上涂一层例如滑石粉的材料使光纤间可自由滑动。将试样垂直或永平放罩,为避免任何宏弯影啊,绕圈直径应大于150mm。如果试样涂有滑不粉,那么在试验环境中应有一段未涂滑石粉的光纤,该段光纤的长度应足够长,使得能够在试验前和试验后便于进行任何物理检验:
为了完成所要求的与试验后机械性能对比测量,进行对比测量样品长度在试验前应移去。用于机械性能对比测量的光纤上应不涂滑石粉。5试验程序
5.1试验条件
试验过程应遵循GB/T2423.2--2001中试验B,试验温度和试样放置时间见表1.试验过程中对湿度不进行挖制.但穿议在试验开始时,35℃下的湿度应不高于50%RH。表1试验温度和试样放置时间
+85℃
5. 2 测量
试样放置时间
5.2.1传输特性测量
在试验并始前,试验过程中(当样品稳定在规定温度和相对湿度条件下)和试验结束后都要对样品的衰减进行测量,测量方法和试验程序按照GB/T15972.40—2008的规定,应记录衰减的变化量。注:如果采用GB/T15972.40-2008的方法A,则应注意记录一系列测量中截断的长度:如果来用GB/T15972.40-200S的方法B,则应证明整个过程中连接的稳定性;如果采用GB/T15972.40.-2C08的方族C,则应注意确保结果的不激移性1GB/T15972.40—2008的方法D不可采用。5. 2.2机械特性测量
在试验前后都要对光纤涂疆层剥离力进行测量,用来评估涂覆层可剥特性的变化。测最方法和试验程序按照GB/T15972.32—2008的规定,5.3预处理
如有要求,则样品应按照详细规范进行预处理。5.4条件调节
在进行基准剩量前应使试验箱和试样稳定在GB/T15972.10—2008规定的标难大气条件下,按照规定的严醛度调整试验箱的温度和湿度:在最长5min时间内,平均升温速度应不超过1℃/Ⅱin。使样品温度达到稳定,并在规定期间内维持该温度和湿度不变。试验完成后,让试样继续保留在试验箱内,直到试验箱温度降到标准大气条件。在最长5min时间内,平均降温速度应不超过1℃/min。详细规范可要求在条件调节期间进行测盘,姐有此要求,详细规范应规定什么时候,进行哪些方面的测量,在做这些测量时不得将样品移山试验箱:5.5恢复
如果没有特殊要求,样品应在标准大气条件下恢复12h以上,但不得超过48h。详细规范可要求在恢复阶段进行测量。如有此要求,详细规范应规定什么时候,进行哪些方面的测量。6合格判定标准
试验前后衰减变化和剥离力变化的相关要求按有关产品规范的规定。7结巢
7.1试验结果报告应包括下列内容:2
试验名称;
试样识别号;
试祥长度:
一测盘波长,
衰减测量变化;
-剥离力测量变化;
试验日期和操作人员。
.2根据要求报告中也可包括下列内容:对关键测量装置的描述;
合格判据:
应报告的信息;
应用程序中出现的任何偏差。
快17hzan羧壁蕴
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标准授摄网W各实标准钉业资科免费下载CB/T15972.51—2008bzxZ.net
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