首页 >  国家标准(GB) >  GB/T 22586-2008 高温超导薄膜微波表面电阻测试

基本信息

标准号: GB/T 22586-2008

GB/T 22586-2008高温超导薄膜微波表面电阻测试

标准类别:国家标准(GB)

发布日期:2008-12-15

实施日期:2009-05-01

出版语种:简体中文

下载格式:.rar.pdf

相关标签: 微波 测试 薄膜 高温 超导 表面电阻

标准分类号

标准ICS号:冶金>>金属材料试验>>77.040.99金属材料的其他试验方法

中标分类号:冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法

关联标准

采标情况:IDT IEC 61788-7:2006

出版信息

出版社:中国标准出版社

书号:155066·1-35935

页数:24页

标准价格:20.0 元

计划单号:20032460-T-491

出版日期:2009-03-01

相关单位信息

首发日期:2008-12-15

起草人:罗正祥、刘宜平、李宏成、吉争鸣、郑东宁、许伟伟、张其劭、魏斌、曾成

起草单位:电子科技大学、清华大学、南京大学等

提出单位:中国科学院

发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会

主管部门:中国科学院

标准简介

本标准规定了在微波频率下利用双谐振器法测试超导体表面电阻的方法。测试目标是在谐振频率下Rs随温度的变化。本标准适用于表面电阻的测试范围如下:———频率:8GHz<f<30GHz———测试分辨率:0.01mΩ(f=10GHz) GB/T 22586-2008 高温超导薄膜微波表面电阻测试 GB/T22586-2008