GB/T 2423的本部分是关于散热和非散热试验样品低温(温度渐变或突变)和低气压综合试验。 GB/T 2423.25-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AM：低温/低气压综合试验 GB/T2423.25-2008 标准下载解压密码：www.bzxz.net

ICS19.040
中华人民共和国国家标准
GB/T2423.252008/IEC60068-2-40:1976代替GB/T2423.25-1992
电工电子产品
环境试验
第2部分：试验方法
试验Z/AM：低温/低气压综合试验Environmentaltestingforeletricandelectronicproducts-Part 2:Tests methods--
Test Z/AM:Combined cold/low air pressure tests(IEC60068-2-40:1976,Basic environmental testingprocedures-Part 2: Tests Test Z/AM:Combined cold/low air pressure tests,IDT)2008-12-30发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2009-10-01实施
1引言
低气压
规范性引用文件
一般说明
试验设备
试验箱
严酷度等级
一般要求
温度、气压和持续时间的优选组合预处理
初始检测
条件试验
一般规定
GB/T2423.25—2008/IEC60068-2-40：1976次
无人工冷却的散热试验样品和非散热试验样品的试验程序8.2
带人工冷却的试验样品进行试验时的注意事项中间检测
恢复·
最后检测，
相关规范中给出的资料，
附录NA（资料性附录）GB/T2423标准的组成部分前言
GB/T2423.25—2008/1EC60068-2-401976GB/T2423.25是GB/T2423标准的第25部分。GB/T2423标准的组成部分见资料性附录NA。本部分等同采用国际电工委员会IEC60068-2-40：1976（第一版）《基本环境试验规程第2部分：试验试验Z/AM：低温/低气压综合试验》（英文版）及其修订1：1983。为便于使用，本部分做了下列编辑性修改：
为与新版IEC60068的标题名称一致，本部分标题名称由“基本环境试验规程”改为“电工电子产品环境试验”；
_“IEC60068-2-40：1976本部分”修改为“GB/T2423.25—2008本部分”删除了IEC60068-2-40：1976的前言和序；增加了国家标准的前言；
增加了规范性引用文件一览表的引导语；引用了与国际标准有对应关系的国家标准，并改变了排列顺序；
一增加了资料性附录GB/T2423标准的组成部分”（见附录NA）。本部分代替GB/T2423.25一1992《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AM：低温/低气压综合试验》。本部分与GB/T2423.25一1992相比主要变化如下：-GB/T2423.25—1992是参照采用国际电工委员会IEC60068-2-40：1976（第-版）《基本环境试验规程第2部分：试验试验Z/AM：低温/低气压综合试验》（英文版）及其修订1：1983，本部分是等同采用；
—-为与IEC原文一致，本部分将图1和图2改为图1a)和图1b)，并蟹于正文最后；为与IEC原文编写格式一致，本部分将4.1.1和4.1.2合并在一起；5.1.1、5.1.2和5.1.3合并在一起；8.1.1和8.1.2合并在一起；一本部分表1中没有列出与温度、气压对应的商度值，三者的关系见专门标雅；并增加了以mbar为单位的气压值；
本部分8.2.8压力升高期间不要求温度控制。本部分的附录NA为资料性附录。本部分由全国电工电子产品环境条件与环境试验标准化技术委员会（SAC/TC8）提出并归口。本部分由广州电器科学研究院起草。本部分主要起草人：胡利芬。
本部分所代替部分的历次版本发布情况为：-GB2423.25—1981,GB/T2423.25—1992。团
1引言
1.1概述
GB/T2423.25-2008/1IEC60068-2-40：1976电工电子产品环境试验
第2部分：试验方法
试验Z/AM：低温/低气压综合试验GB/T2423的本部分是关于散热和非散热试验样品低温（温度渐变或突变）和低气压综合试验，见8.2.2和8.2.8。
本试验目的是确定元件、设备和其他产品对其贮存和使用中巡到的低温-低气压综合环境的适应性。
本综合试验通常只有在试验样品进行单一环境试验不能揭示综合环境影响时使用。本部分规定的试验程序只适用于在试验期间能够达到温度稳定的试验样品。本部分规定的试验方法一次只能试验一个散热试验样品。1.2低气压
本试验程序适用于气压大于1kPa的压力试验。当气压小于或等于1kPa时，可不必考您试验程序的内容。
本部分没有指明高度、压力和温度的关系。三者的关系见专门标准。1.3温度
1.3.1GB/T2423.1试验A中有关非散热试验样品和热试验样品试验应用对比的指导适予本部分。
注：非散热试验样品的定义按GB/T2421相关的规定，不应在低气压下测册其圾热点的温度1.3.2GB/T2423.1试验A中散热试验样品应该优先在无强迫空气循环的试验箱中进行试验。1.4规范性引用文件
下列文件中的条款通过GB/T2423的本部分的引用而成为本部分的条。凡起注目期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而，歧励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。
GB/T2421.1电工电子产品环境试验第1部分：总则（GB/T2421.12008，IEC60068-11988,IDT
GB/T2423.1电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温（GB/T2423.1~-2001IEC60068-2-1:2007,IDT）
GB/T2423.21电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验M：低气压（GB/T2423.21-*2008,IEC60068-2-13:2005,IDT)GB/T2423.22电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验N温度变化（GB/T2423.22一2002,IEC60068-2-14:1984,IDT)\GB/T2424.1电工电子产品环境试验高温低温试验导则（GB/T2424.1--2005，IEC60068-3-1：1974T)
GB/T2424.15电工电子产品基本环境试验规程温度/低气压综合试验导则（GB/T2424.15--2008IEC60068-3-2:1976,IDT)
1）IEC60068-2-40引用文件中没有列出该标准，但正文中引用了，见8.2.2的注。1
GB/T2423.25-—2008/IEC60068-2-40:19762目的
提供标准试验程序以确定元件、设备或其他产品在低温/低气压综合环境使用和/或贮存的适应性。3一般说明
本试验是GB/T2423.1试验Ab或试验Ad和GB/T2423.21试验M的综合。试验中，试验样品首先应经受相关规范规定的严酷度等级的低温试验。如果试验过程中试验样品要工作，则要对其进行检测，以保证试验样品能够正常工作。然后在温度保持规定值的情况下，将试验箱压力降到相关规范规定的试验压力。将此温度、压力条件保持规定时间。图1a)和图1b)是这一程序的曲线图。
4试验设备
4.1试验箱
试验箱应能保持/QB2423.Y试验Ab（非散热试验样品）或试验A&（散热试验样品）和GB/T2423.21试验M中规定的试验条件。但在温度和压力变化期间，对箱整的温度要求不适用。恢复压力时，应免试验箱的辅助设备、装置和引入的空气对试验箱内空气产生污染。4.2安装
救热试验样品逃行验时，其安装应符合GB/T2423.11试验Ad中规定的要求。
5严酷度等级
5.1一般要求
相关规范应最温度、气压和暴剪特婆时间表示的试验严酯度等级。温度、低气/及其容差和持续时间应符合GB/T2423/1试验Ab或试验Ad和GB/T2423.21试验M中的规定！
注：当空气压力做
容差。
kPa时，难以达到GB/T2423.1试整A中规定的容差要求。此时，相肤规范可规定更大的添磷持续时间应众试验样品在低气压条件下达到溢度稳定时算起[(见图/a)秘图1b)]。5.2温度、气压和持绩时回的优选组合见表1。
温度/℃
6预处理
温度、气压和持续时间的优选组合气压
相关规范可要求进行预处理。
持续时间/h
7初始检测
GB/T2423.25—2008/IEC60068-2-40:1976按相关规范规定，对试验样品进行外观检查及电气和机械性能检测。8条件试验
8.1一般规定
散热试验样品
应按GB/T2423.1试验Ad规定优先在无强追空气循环的试验箱中进行试验。如果用于试验的试验箱体积足够大，能够满足GB/T2423.1试验Ad规定的涤件，但试验箱的冷却只能通过强迫空气循环完成，则可以使用GB/T2A23.1试验Ad的方法_A进行试验。非散热试验样品
可以在有或无强迫气循环的试验箱中进行试验。8.2无人工冷却的散热试验样品和非散热试验样品的试验程序8.2.1试验箱温度为试验垒环境温度。将处于不包装不通龟和准备使用状态的试验样品按其正常作位或按关规范规定装入试验箱。此时试验样帛温綫伪试验室环境温度。8.2.2以不超避min的速率(不超过5min时间的平均值)将试验箱内温度期到合乎)严酷度等级的试验温度，并使试验样品在此温度下达到温度稳定。试验温度成dB/T2421的关于散热试验样品的定义中相关注释进行测册。注：1℃/mG①最大变化速率不适用于能经受热冲击的试验样品，例如通常能经受GB/T2423.22中的试验Na或试验NJ减定的快速温变的试验样品。8.2.3本条仅遵角于试验过程中要求工作的试验样品！试验样品避电并对其进行检测，帮其能否按相关规范要求工作。然后试验样品断电并使共达到温度稳定。
相关规范可以魔定低温常压下进行的其他检测程序，8.2.4以不超逆@pa/min的速率将试验箱内压力降到符合严骼度等级确试验值。8.2.5本条仅适精试验过程中要求工作的试验样品：使试验样品通电或脑加电负载，开其能否按相关规范要求工作。然按相淡规范规定，仪试验样品保持工作状态或者断开项源
如果相关规范有要求舒按照第9章进行中间检测。8.2.6保持此温度和压为条件刻规定的时间。8.2.7本条仅适用于试验逆程中要求工作的试验样品：在低气压时间的最后1h期间，按相关规范要录进行中间检测。气压恢复前切断电源或卿去负裁。8.2.8试验箱内压力以不超过10kP-/min的速率恢复至正需值，压力升高期间不要求温度控制。样品保留在试验箱内，试验箱温度以不超过1℃/min的速率（不超过5min时间的平均值）逐渐升商至试验标准大气条件的温度范围，
注：1℃/min这一最大变化速率不适用于能经受热冲击的试验样品，例如通常能经受GB/T2423.22中的试验Na或试验Nc规定的快速温变的试验样品。8.2.9试验样品在试验箱内，或按相关规范规定进行恢复。8.3带人工冷却的试验样品进行试验时的注意事项见GB/T2423.1试验Ad，
9中间检测
见GB/T2423.1试验Ab和试验Ad。3
GB/T2423.25—2008/IEC60068-2-40:1976恢复
见GB/T2423.1试验Ab和试验Ad。11
最后检测
按相关规范规定，对试验样品进行外观检查及电气和机械性能检测。相关规范中给出的资料
相关规范应用本试验方法时，应给出下列适用的细节：a)
预处理；
初始检测；
安装架与支撑件详细要求(适用于救热试验样品)；试验样品状态(包括冷却系统)；严醋度等级：温度，压力，和暴露持续时间，，温度变化是突变还是渐变；降压前低温下应进行的检测；
低温/低气压条件试验期间检查，测册和加载要求；恢复期间载荷状况；
瑕后检测。
GB/T2423.25-—2008/IEC60068-2-40:1976r
289°\8'98
程解的程
60068-2-40：1976
GB/T2423.25-—2008/IEC
1289858
严能的程
附录NA
（资料性附录）
GB/T2423.25—2008/IEC60068-2-40:1976GB/T2423标准的组成部分此内容来自标准下载网
除本部分外，GB/T2423标准的组成部分如下：GB/T2423.1—2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温（IEC60068-2-1：2007,IDT)
GB/T2423.2—2008电工电子产品环境试验货第2部分：试验方法试验B：商温（IEC60068-2-2：2007IDT)
GB/T2423.3—2006电工电子产品环境试验(IEC60068-2-78:2001,IDT)
第2部分：试验方法试验Cab：恒定湿热试验GB/T2423.4-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Db交变湿热(12h+12h循环)(IEC60068-2-30：2005，IDT)GB/T2423.5一1995电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ea和导则：冲击(idt IEC60068-2-27:1987)
GB/T2423.6—1995
电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Eb和导则：碰撤
(idtIEC60068-2-29:1987)
GB/T2423.7--1995电工电子产品环境试验货第2部分：试验方法试验Ec和导则：倾跌与翻倒（主要用于设备型样品）(idtIEC60068-2-31：1982）GB/T2423.8-—1995
电工电子产品环境试验
第2部分，试验方法
落（idtIEC60068-2-32：1990）试验Ed，自由跌
GB/T2423.10—2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Fct振动（正弦）(IEC60068-2-6:1995IDT)
GB/T2423.15---2008
电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Gn和导则：稳态加速度（IEC60068-2-7：1986，IDT)电工电子产品环境试验
GB/T2423.16-1999
(idtIEC60068-2-10:1988)
第2部分：试验方法
试验）和导则，长
GB/T2423.17--2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ka：抛穿（IEC60068-2-11：1981,IDT
GB/T2423.18—2000
电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Kb：盐雾，交变（氟化钠溶液）)(idtIEC60068-2-52：1996）第2部分：试验方法试验M：低气压试验方法GB/T2423.21-2008
电工电子产品环境试验
(IEC60068-2-13:1983,IDT)
GB/T2423.22—2002电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化（IEC60068-2-14:1984,IDT)
电工电子产品环境试验
GB/T2423.23—1995
试验Q：密封
GB/T2423.24--1995电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Sa：模拟地面上的太阳辐射（idtIEC60068-2-5：1975）GB/T2423.26—2008日
电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Z/BM：高温/低气压综合试验（IEC60068-2-41：1976，IDT)金第2部分：试验方法
GB/T2423.27-2005电工电子产品环境试验压/湿热连续综合试验（IEC60068-2-39：1976，IDT）试验Z/AMD：低温/低气
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