GB/T 2423的本部分是关于散热和非散热试验样品高温(温度渐变或突变)和低气压综合试验。 GB/T 2423.26-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/BM：高温/低气压综合试验 GB/T2423.26-2008 标准下载解压密码：www.bzxz.net

ICS19.040
中华人民共和国国家标准
GB/T2423.26—2008/IEC60068-2-41:1976代替GB/T2423.26--1992
电工电子产品环境试验
第2部分：试验方法
试验Z/BM：高温/低气压综合试验Environmental testing for electric and electronic products-Part2:Testsmethods
TestZ/BM:Combined dryheat/lowair pressure tests(IEC 68-2-4l:1976,Basic environmental testing procedures--Part 2:Tests--Test Z/BM:Combined dry heat/low air pressure tests,IDT)2008-12-30发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2009-10-01实施
一般说明
试验设备
严酷度等级
预处理
初始检测
条件试验
中间检测
最后检测
相关规范中给出的资料·
......
）GB/T2423标准的组成部分
附录NA（资料性附录）
GB/T2423.26—2008/IEC60068-2-411976I
GB/T2423.26—2008/IEC60068-2-41:1976GB/T2423.26是GB/T2423标准的第26部分。GB/T2423标准的组成部分见资料性附录NA。本部分等同采用国际电工委员会IEC60068-2-41：1976（第一版）《基本环境试验规程第2部分：试验试验Z/BM：高温/低气压综合试验》（英文版）及其修订1：1983。为便于使用，本部分做了下列编辑性修改：
一为与新版IEC60068的标题名称一致，本部分标题名称由“基本环境试验规程”改为“电工电子产品环境试验”，
—“IEC60068-2-41：1976本部分”修改为\GB/T2423.26—2008本部分”；删除了IEC68-2-41：1976的前言和序；增加了国家标准的前言；
一增加了规范性引用文件一览表的引导语；引用了与国际标准有对应关系的国家标准，并改变了排列顺序；
一增加了资料性附录“GB/T2423标准的组成部分”（见附录NA)。本部分代替GB/T2423.261992《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BM：商温/低气压综合试验》。本部分与GB/T2423.26一1992相比主要变化如下：—GB/T2423.26-1992是参照采用国际电工委员会IEC60068-2-41：1976（第一版）《基本环境试验规程第2部分：试验试验Z/BM：高温/低气压综合试验》（英文版）及其修订1：1983，本部分是等同采用；
一为与IEC原文一致，本部分将图1和图2改为图1a)和图1b)，并于正文圾后；—为与IEC原文编写格式一致，本部分将4.1.1和4.1.2合并在一起；5.1.1、5.1.2和5.1.3合并在一起；8.1.1和8.1.2合并在一起；本部分表1中没有列出与温度、气压对应的高度值，三者的关系见专门标准；增加了以mbar为单位的气压值；并改变了最后两行参数的排顺；本部分8.2.8压力升高期间不要求温度控制。本部分的附录NA为资料性附录。本部分由全国电工电子产品环境条件与环境试验标准化技术委员会（SAC/TC8）提出并归口。本部分起草单位：广州电器科学研究院。本部分主要起草人：胡利芬。
本部分所代替部分的历次版本发布情况为：-GB2423.26-1981GB/T2423.26—1992。I
1引言
1.1概述
GB/T2423.26—2008/IEC60068-2-41:1976电工电子产品环境试验
第2部分：试验方法
试验Z/BM：高温/低气压综合试验GB/T2423的本部分是关于散热和非散热试验样品高温（温度渐变或突变）和低气压综合试验，见8.2.2和8.2.8。
本试验目的是确定元件、设备和其他产品对其贮存和使用中巡到的高温-低气压综合环境的适应性。
本综合试验通常只有在试验样品进行单一环境试验不能揭示综合环境影响时使用。本部分规定的试验程序只适用于在试验期间能够达到温度稳定的试验样品。本部分规定的试验方法一次只能试验一个散热试验样品。1.2低气压
本试验程序适用于气压大于1kPa的压力试验。当气压小于或等于1kPa时，可不考患试验程序的内容。
本部分没有指明高度、压力和温度的关系。三者的关系见专门标准。1.3温度
1.3.1GB/T2423.2试验B中有关非散热试验样品试验和热试验样品试验应用对比的指导适用可本部分。
注：非散热试验样品的定义按GB/T2421中相关规定，不应在低气压下测册其最热点的温度，1.3.2GB/T2423.2试验B中散热试验样品应该优先在无强迫空气循环的试验箱中进行试验。1.4规范性引用文件
下列文件中的条款通过GB/T2423的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注目期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，歧励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。
GB/T2421电工电子产品环境试验第1部分：总则（GB/T2421--1999，idtIEC60068-1：1988）GB/T2423.2电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验B：高温（GB/T2423.2-2008,IEC68-2-2.2007,IDT)
GB/T2423.21电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验M：低气压（GB/T2423.21-2008,EC68-2-13:1983,DT)
GB/T2423.22电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化（GB/T2423.22~2002,IEC68-2-14:1984,IDT)
GB/T2424.1电工电子产品环境试验高温低温试验导则（GB/T2424.1--2005，IEC60068-3-1:1974,IDT
GB/T2424.15电工电子产品基本环境试验规程温度/低气压综合试验导则（GB/T2424.15-2008,EC68-3-2:1976,IDT)
1）IEC60068-2-41引用文件中没有列出该标准，但正文中引用了，见8.2.2的注，GB/T2423.26—2008/IEC60068-2-41.19762目的
提供标准试验程序以确定元件、设备或其他产品在高温/低气压综合环境使用和/或贮存的适应性。3一般说明
本试验是GB/T2423.2试验Bb或试验Bd和GB/T2423.21试验M的综合。试验中，试验样品首先应经受相关规范规定的严酷度等级的高温试验。如果试验过程中试验样品要工作，则要对其进行检测，以保证试验样品能够正常作。然后在温度保持规定值的情况下，将试验箱压力降到相关规范规定的试验压力将此温度、压力条件保持规定时间。图1a)和图1b)是这一程序的曲线图。
4试验设备
4.1试验箱
试验箱应能保持B2423.试验Bb（非数热试验样品）或试验B（散热试验样品）和GB/T2423.21试验/4中规定的试验条件。但在漏度和压力变化期间，对箱壁的激度要求不适用。恢复压力时、应
4.2安装
武验箱的辅助设备、装置和乳入的空气对试验箱内空忆产生污染。救热试验样进行试验时，其安装应符合GB/T2423.2试验Bd中规定的要求。5严酷度等级
5.1一般要求
相关规范应规定由温度、气压和暴露持续时闻表示的试验严醛度等级。温度、低气压值及装容整和持续时间应符合GB/T2423/2试验Bb或试验助和B/T2423.21试验M中的规定。补一综合试验，不管试验箱大小如何，温度的容差允许大些T≤100℃时为±3℃，100℃温度、气压和持续时间的优选组合温度/
持续时间/
6预处理
相关规范可要求进行预处理。
7初始检测
GB/T2423.26—2008/IEC60068-2-41:1976按相关规范规定，对试验样品进行外观检查及电气和机械性能检测。8条件试验
8.1一般规定
散热试验样品
应按GB/T2423.2试验Bd规定优先在无强迫空气循环的试验箱进行试验。如果用于试验的试验箱体积足够大，能够满B以2423.2试验Bd附录A规定的条件，但试验箱的加热只能通过强迫空气循环完成，则可以使用SB/T2423.2.试验Bd的方法.A进行试验非散热试验样
可以在有或无强迫案气循环的试验箱中进行试验。8.2无人工冷却的傲热试验样品和非散热试验样品的试验程序8.2.1试验箱温度州试验室环境温度。将处于不装不通电和准备使用状态的试验样品按其正常工作位盘，或按相关规范规定装人试验箱。此时试验温度为试验室环境温度、散热试验样品应通电戴加电负裁。8.2.2以不超近rC/min的速率(不超过-5min时间的率均值)将试验箱内灌度谢]合乎严醋度等级的试验温度，并验样品在此温度下达到温度稳定、试验温度B/T2421的关于嫩热试验样品的定义相关注释进行测量注：1℃/m品这一摄大变化速率不盘用于能经受热冲击的试验样品，例如通常能经受GB/2423.22中的试验Na或试验N的快速温变的试验样品。8.2.3本条仅适试验过程中要求工作的试验样品：检查试验样品精其能否按相关规范要求工维。然后按相关规范规定梗试验样品保持此工作状态或断开电源。
注：试验样品可能准有费热的情况下运行或加负载，导致其温度高于环境想度，此时有必要根据G13/T2421中相关规定的散热影验纤品的定义进行做热。相关规范可以规定高蕴微卡进行的其他检测程序。8.2.4以不超过10kPa/mi的速率将试验箱内压力降到符合严醛度等级的试验值。8.2.5本条仅适用于试验过程中要求工作的试验样品：对试验样品进行检测，看其能否按相关规范要求工作（如果此时试验样品已不处于工作状态，则此检测前应先通电或施加负载）。检测后，散热试验样品应保持工作状态；非散热试验样品应按相关规范规定保持此工作状态，或切断电源。如果相关规范有要求，可按照第9章进行中间检测。进行中间检测前，散热试验样品应先达到温度稳定。
8.2.6保持此温度和压力条件到规定的时间。8.2.7本条仅适用于试验过程中要求工作的试验样品：在低气压时间的最后1h期间，按相关规范要求进行中间检测。气压恢复前切断电源或卸去负载。8.2.8试验箱内压力以不超过10kPa/min的速率恢复至正常值，压力升高期间不要求温度控制。样品保留在试验箱内，试验箱温度以不超过1C/min的速率（不超过5min时间的平均值）逐渐降低至试3
GB/T2423.26—2008/IEC60068-2-41:1976验标准大气条件的温度范围。
注：1C/min这一最大变化速率不适用于能经受热冲击的试验样品，例如通常能经受GB/T2423.22中的试验Na或试验Nc规定的快速温变的试验样品。试验样品在试验箱内，或按相关规范规定进行恢复。8.2.9
8.3带人工冷却的试验样品进行试验时的注意事项见GB/T2423.2试验Bd。
9中间检测
见GB/T2423.2试验Bb和试验Bd，10恢复
见GB/T2423.2试验Bb和试验Bd。11
最后检测
按相关规范规定，对试验样品进行外观检查及电气和机械性能检测。2相关规范中给出的资料
相关规范应用本试验方法时，应给出下列适用的细节：a)
预处理；
初始检测；
安装架与支撑件详细要求（适用于敏热试验样品）；试验样品状态(包括冷却系统)；严酷度等级：温度、压力和暴露持续时间，，温度变化是突变还是渐变；降压前商温下应逃行的检测；
高温/低气压条件试验期间检查，测量和加载要求；恢复期间裁荷状况；
最后检测。
GB/T2423.26—2008/1EC60068-2-41:1976最
1'* 9*8*g'*8
GB/T2423.26—2008/IEC60068-2-41:19760液
附录NA
(资料性附录)
GB/T2423.26—2008/IEC60068-2-41:1976GB/T2423标准的组成部分
除本部分外，GB/T2423标准的组成部分如下：GB/T2423.1一2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法1:2007,IDT)
GB/T2423.2—2008
2:2007,IDT)
GB/T2423.3-2006
电工电子产品环境试验第2部分：试验方法电工电子产品环境试验
(IEC60068-2-78:2001,IDT)
试验A：低温（IEC60068-2
试验B：高温（IEC60068-2-
第2部分：试验方法
GB/T2423.4—2008
电工电子产品环境试验
金第2部分：试验方法
12h循环)（IEC60068-2-30：2005，IDT）GB/T2423.5—1995
(idtIEC60068-2-27:1987)
GB/T2423.6—1995
(idtIEC60068-2-29:1987)
GB/T2423.7—1995
电工电子产品环境试验
电工电子产品环境试验
电工电子产品环境试验
试验Cab：恒定湿热试验
试验Db交变湿热（12h+
第2部分：试验方法
第2部分：试验方法
第2部分：试验方法
倒（主要用于设备型样品）(idtIEC60068-2-31：1982）GB/T2423.8—1995
(idtIEC60068-2-32:1990)
电工电子产品环境试验
GB/T2423.10—2008
3电工电子产品环境试验
(IEC60068-2-6:1995,IDT)
3电工电子产品环境试验
GB/T2423.15--2008
速度（IEC60068-2-7：1986，IDT)GB/T2423.16---2008
(IEC60068-2-10:2005,IDT)
GB/T2423.17--2008
2-11:1981,IDT)
GB/T2423.18—2000
试验Ea和导则：冲击
试验Eb和导则：碰
试验Ec和导则：倾跌与翻
第2部分：试验方法
第2部分：试验方法
第2部分：试验方法
电工电子产品环境试验
电工电子产品环境试验
电工电子产品环境试验免费标准下载网bzxz
钠溶液)(idtIEC60068-2-52：1996)GB/T2423.21-2008
2-13:1983,IDT)
GB/T2423.22-—2002
(IEC60068-2-14:1984,IDT)
试验Ed：自山跌游
试验Fc：振动（正弦）
试验Ga和导则：稳态加
第2部分：试验方法
试验丁和导则，长链
第2部分：试验方法
试验Ka：盐雾（IEC60068-
第2部分：试验方法
试验Kb：盐穿，交变（氯化
试验M：低气压试验方法（IEC60068-电工电子产品基本环境试验规程1电工电子产品环境试验
GB/T2423.23—1995电工电子产品环境试验GB/T2423.24—1995
电工电子产品环境试验
阳辐射（idtIEC60068-2-5：1975）GB/T2423.25—2008电工电子产品环境试验综合试验（IEC60068-2-40：1976，IDT）GB/T2423.27—2005
电工电子产品环境试验
压/湿热连续综合试验（IEC60068-2-39：1976，IDT)第2部分：试验方法试验N；温度变化试验Q：密封
第二部分：试验方法试验Sa：模拟地面上的太第2部分：试验方法
试验Z/AM低温/低气压
第2部分：试验方法
试验Z/AMD：低温/低气
小提示：此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容，若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。