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GB/T 22572-2008

基本信息

标准号: GB/T 22572-2008

中文名称:表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法

标准类别:国家标准(GB)

标准状态:现行

发布日期:2008-12-11

出版语种:简体中文

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相关标签: 表面 化学分析 二次 离子 质谱 参考 物质 评估 深度 分辨 参数 方法

标准分类号

标准ICS号:化工技术>>分析化学>>71.040.40化学分析

中标分类号:化工>>化工综合>>G04基础标准与通用方法

关联标准

采标情况:IDT ISO 20341:2003

出版信息

出版社:中国标准出版社

书号:155066·1-35762

页数:8页

标准价格:10.0 元

计划单号:20071058-T-469

出版日期:2009-03-01

相关单位信息

首发日期:2008-12-11

起草人:马农农、何友琴、何秀坤

起草单位:信息产业部专用材料质量监督检验中心

归口单位:全国微束分析标准化技术委员会

提出单位:全国微束分析标准化技术委员会

发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会

主管部门:国家标准化管理委员会

标准简介

本标准详细说明了在SIMS深度剖析中,用多δ层参考物质评估前沿衰变长度、后沿衰变长度和高斯展宽三个深度分辨参数的步骤。由于样品表面的物理和化学态受一次入射离子影响而不稳定,本标准不适用于近表面区域的δ层。 GB/T 22572-2008 表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法 GB/T22572-2008 标准下载解压密码:www.bzxz.net