本方法规定了离子型稀土矿混合稀土氧化物中三氧化二铝含量的测定方法。本方法适用于离子型稀土矿混合稀土氧化物中三氧化二铝含量的测定。测定范围(质量分数)：０．０３０％～２．００％。 GB/T 18910.5-2008 液晶和固态显示器件 第5部分：环境、耐久性和机械试验方法 GB/T18910.5-2008 标准下载解压密码：www.bzxz.net

ICS31.120
中华人民共和国国家标准
GB/T18910.5—2008/IEC61747-5:1998液晶和固态显示器件
第5部分：环境、耐久性和机械试验方法Liuidcrystaland solid-statedisplaydevices-Part 5.Environmental,endurance and mechanical test methods(IEC61747-5:1998,IDT)
2008-06-18发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局数码防
中国国家标准化管理委员会
2008-11-01实施
1概述
1.1范围
1.2规范性引用文件
术语、定义和文字符号
1.4标准大气条件
1.5目检和尺寸检验
电学和光学测试
1.7加电工作条件
2机械试验方法
引出端强度
可焊性
振动（正弦）
恒定加速度
粘接强度试验
3环境和耐久性试验方法
3.1温度变化
贮存（在高温下）
贮存（在低温下）
低气压·
稳态湿热
循环湿热（12+12h循环）
温度/湿度组合循环试验
光暴露
静电放电(ESD)试验
4其他试验方法
标志的耐久性·
刮擦试验（针对显示表面）。
4.3寿命试验
5单色矩阵液晶显示模块的目检
概述·
显示目检
6单色液晶显示屏的目检
显示目检
边框胶检验
GB/T18910.5—2008/IEC61747-5:199810
GB/T18910.5-2008/IEC61747-5:19986.4电极引线的目检（见图14）
6.5屏的电极侧边角缺损的目检（见图14、图15)附录A（资料性附录）本部分与IEC61747-5:1998中表编号的对照图1
粘接强度图例
温度剖面
温度剖面
预处理
图5a）
图5b)
相对湿度和温度条件
相对湿度和温度条件~
可视区内的缺陷
方形单元的偏离和畸形
图形的边缘锯齿
湿热后暴露于低温
湿热后未暴露于低温
图形单元及其周边区内的缺陷
观察区内的缺陷
尺寸和形状er～e的偏差
字段中的缺陷
边框胶内的缺陷
接触区缺陷
边角缺损
仲裁测试和试验的标准大气条件频率范围
频率范围
推荐的频率范围
推荐振幅
冲击试验条件
加速度条件
低温试验温度
高温试验温度
低温试验温度
高温试验温度
温度和湿度条件
器件应检验的外观缺陷
器件应检验的特性
器件应检验的缺陷
器件应检验的缺陷
器件应检验的缺陷
器件应检验的特性
器件应检验的缺陷
器件应检验的缺陷
器件应检验的缺陷
器件应检验的缺陷
器件应检验的缺陷
器件应检验的缺陷
器件应检验的缺陷
GB/T18910.5—2008/IEC61747-5：199822
表A.1本部分与IEC61747-5：1998中表编号的对照一览表24
GB/T18910《液晶和固态显示器件》的预计结构如下：第1部分：总规范；
——第2部分：液晶显示模块分规范；GB/T18910.5—2008/IEC61747-5:1998一第2-1部分：无源矩阵单色液晶显示模块空白详细规范；—第3部分：液晶显示屏分规范；第3-1部分：液晶显示屏空白详细规范；第4部分：液晶显示模块和屏基本额定值和特性；第5部分：环境、耐久性和机械试验方法，第6部分：液晶显示模块测试方法透射型。本部分是GB/T18910的第5部分，等同采用IEC61747-5：1998《液晶和固态显示器件第5部分：环境、耐久性和机械试验方法》（英文版）。为便于使用，本部分做了下列编辑性修改：用小数点“”代替作为小数点的逗号“，”；a)
删除国际标准的前言；
取消了第2章引用文件中的“IEC60747-5及其补充件”，并将有对应国家标准的IEC标准改c
为国家标准；
所有表均加了编号，对照表见附录A；删除1.4中所有的（860mbar~1060mbar）；原附录A是资料性附录，其内容是相关引用文件对照表，表中所列文件在该部分中并未引用，f)
因此删除该附录。
本部分的附录A是资料性附录。
本部分由中华人民共和国信息产业部提出。本部分由中国电子技术标准化研究所（CESI)归口。本部分起草单位：中国电子技术标准化研究所（CESI)。本部分主要起草人：赵英。
1概述
GB/T18910.5—2008/IEC61747-5：1998液晶和固态显示器件
第5部分：环境、耐久性和机械试验方法1.1范围
GB/T18910的本部分列出用于液晶显示器件的试验方法，同时尽可能考虑到IEC60068中规定的环境试验方法。
本部分也包括液晶显示屏和模块的目检方法。注1本部分是从IEC60749中抽取出来的，因为液晶显示器件技术完全不同于半导体器件，例如：一形状和尺寸；
使用的材料和结构；
功能；
—测量方法；
一工作原理。
注2：器件包括液晶显示屏和模块。本部分的目的是为评价液晶显示器件的环境性能，确定统一的优选试验方法及应力等级优选值。本部分若与相关规范不一致时，应以相关规范为准。1.2规范性引用文件
下列文件中的条款通过GB/T18910的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。
GB/T2421--1999电工电子产品环境试验第1部分：总则（idtIEC60068-1：1988）电工电子产品基本环境试验第2部分：试验方法试验A：低温GB/T2423.1-2001
(idtIEC60068-2-1:1990)
电工电子产品基本环境试验第2部分：试验方法试验B：高温GB2423.2—2001
(idt IEC 60068-2-2:1978)
GB/T2423.3—1993
(eqvIEC60068-2-3:1984)
GB/T2423.4—1993
(cqvIEC60068-2-30:1980）
电工电子产品基本环境试验规程电工电子产品基本环境试验规程试验Ca：恒定湿热试验方法
试验Db：交变湿热试验方法
金第二部分：试验方法试验Ea和导则：冲击GB/T2423.5—1995电工电子产品环境试验(idtIEC60068-2-27:1987)
GB/T2423.15--1995
度（idtIEC60068-2-7：1983)
电工电子产品环境试验
第二部分：试验方法试验Ga和导则：稳态加速试验N：温度变化
GB/T2423.22—2002
2电工电子产品环境试验
(idtIEC60068-2-14:1984)
第2部分：试验方法动
第2部分：试验方法
GB/T2423.24—1995电工电子产品环境试验阳辐射（idtIEC60068-2-5：1975）试验Sa：模拟地面上的太
试验T：锡焊试验方法（eqvIEC60068-GB/T2423.28—1982电工电子产品基本环境试验规程2-20:1979)
GB/T18910.5--2008/IEC61747-5:1998GB/T2423.30一1999电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验XA和导则：在清洗剂中浸渍（idtIEC60068-2-45：1980）GB/T2423.34—1986电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AD.温度/湿度组合循环试验方法（idtIEC60068-2-38：1974）GB/T2424.19—1984
电工电子产品基本环境试验规程模拟贮存影响和环境试验导则(eqvIEC60068-2-48:1982)
GB/T16464-1996半导体器件集成电路第1部分总则idtIEC60748-1：1984）GB/T18910.1-—2002液晶和固态显示器件第1部分：总规范（IEC61747-1：1998，IDT）IEC60068环境试验
IEC60068-2-6：1995环境试验第2部分：试验方法试验Fc：正弦振动IEC60068-2-13：1983环境试验第2部分：试验方法试验M:低气压IEC60068-2-21：1983电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验U：引出端及整体安装件强度
IEC60747
半导体器件
IEC60747-1:1983半导体器件分立器件第1部分概述补充1（1991）
补充2(1993）
补充3（1996）
IEC60749:1996半导体器件机械和气候试验方法1.3术语、定义和文字符号
GB/T18910、GB/T2423、GB/T16464、IEC60068、IEC60747的定义和文字符号适用于本部分。1.4标准大气条件
在GB/T2423、IEC60068中规定的大气条件适用于本部分。1.4.1基准大气条件
温度：25℃；
气压：86kPa~106kPa
1.4.2仲裁测试和试验的标准大气条件如果液晶显示器件的被测参数随温度、气压和湿度变化规律是未知，应从表1中选取规定的大气条件。
仲裁测试和试验的标准大气条件温度/℃
注：初始和最终测试的大气条件应该相同。1.4.3测试和试验的标准大气条件相对湿度/%
除非另有规定，所有试验和测试应在以下标准大气条件下进行：温度：15℃~35℃；
相对湿度：25%~85%，适用时；
气压：86kPa~106kPa。
大气的绝对湿度不应超过22g/m。2
大气压/kPa
86~106
86~106
86~106
86~106
1.4.4恢复条件
GB/T18910.5—2008/IEC61747-5：1998在最终测试之前，应使样品放置在即将进行测试的环境温度下达到热平衡，测试温度应规定。若待测电参数受吸收的湿气或试验样品表面条件的影响变化很大，例如：试验样品从潮湿箱中取出以后，在大约2h之内绝缘电阻明显上升，则应采用“控制的恢复条件”（见1.4.4.1)。若试验样品的电参数受绝对湿度或表面条件影响不大，样品可在1.4.3中规定的条件下恢复。1.4.4.1控制的恢复条件
除非另有规定，所有恢复应在控制大气条件下进行：温度：实际试验温度士1℃，但要符合1.4.3的范围，即在15℃～35℃之间；相对湿度：73%~77%，适用时；
气压：86kPa~106kPa
在测试前，器件应放置直至达到温度稳定。测试期间的环境温度应在试验报告中给出。在测试期间，器件不应受到能引起误差的气流、照明或其他因素影响。若恢复和测试在不同的房间进行，应保证试验样品放人测试房间后，器件表面不应受温度和湿度的影响出现凝露。
1.4.4.2恢复程序
在规定条件试验结束后10min内，应将试验样品放入恢复处。当相关规范要求在恢复后立即进行测试时，这些测试应在样品从恢复处取出后30min内完成，首先要测试的是那些预计变化最快的参数。1.4.5辅助干燥的标准大气条件
若在开始进行系列测试之前，要求进行辅助干燥，除非另有规定，样品应按下列条件干燥处理5h：温度：55℃2℃；
相对湿度：<20%；
气压：86kPa~106kPa。
当干热试验的规定温度低于55℃时，辅助干燥应在相应的较低温度下进行。1.5目检和尺寸检验
见第5章和第6章。
1.5.1目检应包括
标志的符合性和耐久性；
包括引出端在内的密封损伤；
包括引出端在内的密封质量。
1.5.2应检验相关规范给出的尺寸。1.5.3除非另有规定，目检应在制造商的标准光照和标准目检条件下完成。1.6电学和光学测试
1.6.1对于环境试验，被测参数应从GB/T18910、IEC61747的有关部分中选取。1.6.2测试条件应按照GB/T18910、IEC61747有关部分的“耐久性试验条件”表。1.6.3初始检测
若仅要求规范的上限值和/或规范的下限值为判据时，初始检测是否进行由制造商决定，如果以每个器件的各个值作为判据时应做初始检测。1.6.4环境试验期间的监测
适用时。
1.6.5最终检测
当相关规范把测试作为分组的一部分时，只要求在该分组试验全部完成后进行测试，对于某些试验，如可焊性、引出端强度，可采用电学或光学参数不合格的器件3
GB/T18910.5—2008/IEC61747-5:19981.7加电工作条件
应在相关规范中确定加电工作条件。2机械试验方法
根据器件类型选择适当的试验。相关规范将给出哪些试验是适用的。2.1引出端强度
2.1.1引线，管脚或带插针的连接器按IEC60068-2-21:1983中规定的试验方法U。2.1.1.1拉力试验
本试验应按试验方法Ual的规定，其特殊要求如下：试验后，在3～10倍放大镜下进行检查。如果出现断裂、松动或引出端与器件本体之间相对移动时，应拒收。2.1.1.2弯曲试验
本试验应按试验方法Ub的规定。2.1.1.3扭力试验
本试验应按IEC60749：1996中2.1.3的规定。本试验仅适用带管脚的液晶屏。2.1.1.4转矩试验
本试验应按IEC60749：1996中2.1.4.2的规定。本试验仅适用于带管脚的液晶屏。2.1.2易弯曲引出端
在考虑中。
2.2可焊性
GB/T2423.28—1982中规定的试验方法T是适用的。本试验应按试验Ta方法1、2和3）的规定。2.3振动（正弦）
本试验应按IEC60068-2-6：1995试验Fc的规定，其特殊规定如下。2.3.1横向运动
垂直于规定轴线任何轴线上检测点的最大振幅应不大于规定振幅值的25%。2.3.2失真
失真应不大于25%。
2.3.3振幅容差
基准点：士15%。
检测点：土25%。
2.3.4严酷度
在相关规范中应从表2中选取一个下限频率和从表3中选取一个上限频率。表4给出了推荐的频率范围。
表2频率范围
下限频率ft/Hz
2.3.5振幅
表3频率范围
上限频率f:/Hz
GB/T18910.5--2008/IEC61747-5：1998上限
表4推荐的频率范围
推荐的频率范围
fi～fa/Hz
10~300
10~500
55~500
表5给出有关交越频率的推荐振幅。表5推荐振幅
低于交越频率时的位移振幅/mm
注：表5中所列的值适用于57Hz62Hz的交越频率。2.3.6耐久试验的持续时间
2.3.6.1扫频耐久试验
高于交越频率时的加速度振幅
每一轴向的耐久试验持续时间以扫频循环次数给出，相关规范从下列值中选取扫频循环次数1,2,5,10,20
2.3.6.2在危险频率上耐久试验
在振动响应试验中发现的适合于每一轴线的每一危险频率点上耐久持续时间，相关规范应从下列值中选取：
10 min±0.5min
30min±1min
90 min±1min
10h±5min
2.3.7器件本体在试验时应牢固固定。若器件有特殊固定方法，则应采用。2.4冲击
本试验按GB/T2423.5—1995试验Ea的规定，其特殊要求如下。GB/T18910.5—2008/IEC61747-5:1998根据器件质量和其内部结构，从表6中选取试验条件。表6冲击试验条件
峰值加速度A/m/s（gn）
50（5)
150(15)
150(15)
300(30）
300(30)
300(30)
500(50)
500（50）
500（50)
700(70)
1000(100)
1000(100)
2000(200)
2000(200)
注：有下横线的是优选值。
相关规范应给出采用的波形。
标称脉冲持续时间D/ms
相应的速度变化△m/(m/s)
半正弦波
后蜂锯齿波
应对器件最易暴露缺陷的三个相互垂直轴的两个方向上各施加三次连续的冲击，即总数为18次的冲击（见GB/T2423.5—1995的A.7），优选值有下横线。器件管体在试验时应牢固固定。若器件有特殊固定方法，则应采用。2.5恒定加速度
本试验按GB/T2423.15—1995试验Ga的规定，其特殊要求如下。应从表7中选取加速度条件。
表7加速度条件
加速度/（m/s）
程序：除另有规定外，应在三个主轴的二个方向上各施加加速度至少1min。器件管体在试验时应牢固固定，若器件有特殊固定方法，则应采用。2.6粘接强度试验
本试验的目的是测定粘接强度或确定是否符合规定的粘接强度要求。本试验适用于带柔性扁平电缆的器件。
2.6.1试验概述
如图1所示，拉伸柔性扁平电缆，衬底牢固固定。6
2.6.2预处理
在相关规范中应给出预处理方法。2.6.3初始检测
若相关规范有要求，应进行外观检验、电学和机械检验。2.6.4试验方法（见图1)
2.6.4.1适用范围
本试验用于测量柔性扁平电缆的粘接强度。GB/T18910.5—2008/IEC61747-5:19982.6.4.2程序
粘接器件的衬底应牢固固定。如图1所示应拉拔柔性扁平电缆直至它与器件完全分离。粘接强度等于拉力计指示的最小值。
应注意到拉拔速度应足够低
失效模式也许取决于拉拔速度。2.6.5在相关规范中应给出的信息适用时，应给出下列细节：
有关夹具固定的说明及柔性扁平电缆的制备；a）
b）预处理；
试验条件：
拉拨速度；wwW.bzxz.Net
拉力的最大值；
数据记录方法。
d）试验结果
拉力的最小值；
一分离种类。
拉力计
柔性扁平电缆
图1粘接强度图例
3环境和耐久性试验方法
根据器件类型选择适当的试验。相关规范应给出哪些试验是适用。3.1温度变化
GB/T2423.222002规定的试验N是适用的。3.1.1快速温度变化
本试验应按试验Na的规定，其特殊要求如下：大气绝对湿度不应超过20g/m；
低温T应在相关规范中规定，从表8试验温度中选择；高温T应在相关规范中规定，从表9试验温度中选择；7
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