根据IEC 60172:1987，本试验方法规定了评定漆包和薄膜绕包圆、扁线温度指数的试验方法。本试验方法不适用于纤维绝缘线或无机纤维薄膜绕包线。 GB/T 4074.7-2009 绕组线试验方法 第7部分：测定漆包绕组线温度指数的试验方法 GB/T4074.7-2009 标准下载解压密码：www.bzxz.net

ICS29.060.10
中华人民共和国国家标准
GB/T4074.7—2009/IEC60172:1987绕组线试验方法
第7部分：测定漆包绕组线温度
指数的试验方法
Winding wires-Test methods-Part 7:Test procedure for the determinationof thetemperatureindex of enamelledwinding wires(IEC 60172:1987, Test procedure for the determination of thetemperatureindexof enamelledwindingwires,IDT2009-03-19发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2009-12-01实施
范围及规范性引用文件
术语和定义
试验方法提要
老化温度
试验电压及其施加方法
试验报告
附录A（规范性附录）计算回归线的方法附录B（规范性附录）
相关系数
GB/T4074.72009/IEC60172:1987前言
GB/T4074《绕组线试验方法》分为八个部分：第1部分：一般规定；
第2部分：尺寸测量；
第3部分：机械性能；
第4部分：化学性能；
第5部分：电性能；
第6部分：热性能；
第7部分：测定漆包绕组线温度指数的试验方法；GB/T4074.7-2009/IEC60172:1987快速法。
第8部分：测定漆包绕组线温度指数的试验方法本部分为GB/T4074的第7部分。
本部分等同采用IEC60172：1987《测定漆包绕组线温度指数的试验方法》第3.0版（英文版）和第1号修改单（1997年）。
为便于使用，本部分做了下列编辑性修改：删除了IEC60172：1987的前言和引言；用小数点“，”代替作为小数点的逗号“，”；将IEC60172：1987前言中的“规范性引用文件”调整为1.2本部分的附录A、附录B为规范性附录。本部分由中国电器工业协会提出。本部分由全国电线电缆标准化技术委员会（SAC/TC213）归口。本部分起草单位：上海电缆研究所、铜陵精达特种电磁线股份有限公司、上海申茂电磁线厂、广东蓉胜超微线材股份有限公司、福州大通机电有限公司、露笑科技股份有限公司、佛山市威奇电工材料有限公司、无锡市锡洲电磁线厂、长沙鑫雄仪器科技有限公司、浙江长城电子科技集团有限公司、上海裕生特种线材有限公司、宁波金田电工材料有限公司、浙江洪波线缆股份有限公司、浙江宏磊铜业股份有限公司。
本部分主要起草人：李福、郑守国、刘明福、刘贵忠、刘冰、鲁小均、林志雅、陈惠民、张李晶、潘建忠、徐进法、任京湘、姚桂华、张家化、董千里、曹恒泰、魏浙强。本部分为首次制定。
1范围及规范性引用文件
1.1范围
绕组线试验方法
GB/T4074.7—2009/1EC60172:1987第7部分：测定漆包绕组线温度
指数的试验方法
根据IEC60216-1:1987，本试验方法规定了评定漆包和薄膜绕包圆、扁线温度指数的试验方法。试验方法不适用于纤维绝缘线或无机纤维薄膜绕包线。1.2规范性引用文件
下列文件中的条款通过GB/T4074的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。
GB/T6109.1-2008
漆包圆绕组线第1部分：一般规定（IEC60317-0-1：2005IDT）GB/T6109.2-2008
漆包圆绕组线第2部分：155级聚酯漆包铜圆线（IEC60317-3：2004，IDT)
GB/T6109.3--2008
漆包圆绕组线第3部分：120级缩醛漆包铜圆线（IEC60317-12：1990，IDT)
GB/T6109.4-2008漆包圆绕组线
第4部分：130级直焊聚氨酯漆包铜圆线（IEC60317-4：2000，IDT)
GB/T6109.5—2008
漆包圆绕组线
GB/T6109.6-2008
漆包圆绕组线
GB/T6109.7-2008漆包圆绕组线
第5部分：180级聚酯亚胺漆包铜圆线（IEC60317-8：1997，第6部分：220级聚酰亚胺漆包铜圆线（IEC60317-7：1997，第7部分：130L级聚酯漆包铜圆线（IEC60317-34：1997，GB/T6109.92008漆包圆绕组线1
第9部分：130级聚酰胺复合直焊聚氨酯漆包铜圆线IEC60317-19:2000，IDT）
GB/T6109.10-2008漆包圆绕组线第10部分：155级直焊聚氨酯漆包铜圆线（IEC60317-20：2000，IDT)
GB/T6109.11-2008漆包圆绕组线第11部分：155级聚酰胺复合直焊聚氨酯漆包铜圆线(IEC60317-21:2000，IDT)
第12部分：180级聚酰胺复合聚酯或聚酯亚胺漆包铜圆GB/T6109.12—2008漆包圆绕组线线（IEC60317-22：2004，IDT)
GB/T 6109.132008
3漆包圆绕组线
23:2000,IDT)
第13部分：180级直焊聚酯亚胺漆包铜圆线（IEC60317GB/T6109.14—2008
漆包圆绕组线第14部分：200级聚酰胺酰亚胺漆包铜圆线（IEC60317-26:1990,IDT)
GB/T6109.15-2008
(IEC 60317-2:2000,IDT)
漆包圆绕组线
第15部分：130级自粘性直焊聚氨酯漆包铜圆线GB/T4074.7-2009/IEC60172:1987GB/T6109.16—2008
(IEC60317-35:2000,IDT)
漆包圆绕组线
GB/T 6109.17—2008
3漆包圆绕组线
(IEC60317-36:2000,IDT)
GB/T6109.18--2008
(IEC60317-37:2000,IDT)
漆包圆绕组线
第16部分：155级自粘性直焊聚氨酯漆包铜圆线第17部分：180级自粘性直焊聚酯亚胺漆包铜圆线第18部分：180级自粘性聚酯亚胺漆包铜圆线GB/T6109.19—2008漆包圆绕组线第19部分：200级自粘性聚酰胺酰亚胺复合聚酯或聚酯亚胺漆包铜圆线（IEC60317-38：2000，IDT）GB/T6109.20—2008漆包圆绕组线包铜圆线（IEC60317-13：1997，IDT）GB/T6109.21—2008
42:1997,IDT)
第20部分：200级聚酰胺酰亚胺复合聚酯或聚酯亚胺漆漆包圆绕组线第21部分：200级聚酯-酰胺-亚胺漆包铜圆线（IEC60317-GB/T6109.22—2008漆包圆绕组线46:1997,IDT)
GB/T 6109.23
2001,IDT)
GB/T7095.1
GB/T7095.2
GB/T7095.
GB/T7095.
1990,IDT)
GB/T7095.5
47:1997，IDT)
GB/T7095.6-
第22部分：240级芳族聚酰亚胺漆包铜圆线（IEC60317-漆包圆绕组线/第23部分：180级直焊聚氨酯漆包铜圆线（IEC60317-51：漆包铜扁绕组线
漆包铜扁绕组线
第1部分：
般规定（IEC60317-0-2：2005，IDT）第2部分：120级缩醛漆包铜扁线（IEC60317-18：2004，（IEC60317-16:1990，
漆包铜扁绕组线第3部分：155级聚酯漆包铜扁线漆包铜扁绕组线
漆包铜扁绕组线
第4部分：180级聚酯亚胺漆包铜扁线（IEC60317-28：第5部分：240级芳族聚酰亚胺漆包铜扁线（IEC60317-2008漆包铜扁绕组线
第6部分：200级聚酯或聚酯亚胺/聚酰胺酰亚胺复合漆包铜扁线（IEC60317-291990，IDT）GB/T7095.7-2008包铜扁绕组线第7部分：130级聚酯漆包铜扁线GB/T23310—2009
GB/T23311—2009
级芳族聚酰亚胺薄膜绕包铜扁线（IEC60317-44:1997，IDT)240
240级务族聚酰亚胺薄膜绕包铜圆线（IEC60317-43:1997，IDT）IEC60216-1：1987确定电气绝缘材料耐热性能的指南第1部分：老化过程和试验结果评定IEC60216-3:1980
确定电气绝缘材料耐热性能的指南第3部分：计算方法IEC60455-3-5：1989电气绝缘用无溶剂树脂基反应性化合物规范第3部分：单项材料规范第5页：不饱和聚酯基浸渍树脂
IEC60464-3-2：1989有溶剂电气绝缘漆规范第3部分：单项材料规范第2页：热固性浸渍漆2目的
本试验方法旨在通过空气和大气压力下电气强度的变化来确定漆包和薄膜绕包（裸线或漆包线）圆线、扁线的温度指数。温度指数的确定与IEC60216-1：1987相一致。试样可以是未浸渍或经浸渍剂浸渍的。对于浸渍试样，该试验可同时评定线绝缘和浸渍漆的相容性。因此，可以比较不同组合的温度指数。
注：按本试验方法得到的数据可为设计者和开发工程师提供进一步评定绝缘系统和设备试验并选择绕组线的资料。2
3术语和定义
温度指数temperatureindex
GB/T4074.7--2009/IEC60172:1987温度指数是对相对热寿命的测量值，是与按附录A中公式（A.6)计算并从热寿命曲线上查到的20000h所对应的摄氏温度数（℃)所对应的数值。3.2
试样失效时间specimenfailuretime在老化温度下引起试样耐电压试验失效的老化小时数（见8.1）。3.3
失效时间timetofailure
按8.2规定，从一个老化温度下的一组试样的各失效时间计算得到的失效小时数。试验方法提要
使符合第5章规定的一组试样经受一个试验周期的试验。这个试验周期包括第6章规定的老化期和其后第7章规定的室温耐电压试验。重复这样的试验周期直到足够数量的试样失效为止，然后按第8章的规定计算失效时间。试验在三个或更多的温度点进行，按8.4计算回归线。在热寿命图纸上按老化温度的函数关系绘出失效时间值。
回归线与纵坐标20000h寿命线的交点所对应的温度（以摄氏度表示）即代表被试绕组线的温度指数。5试样
5.1试样的制备
5.1.1导体标称直径0.800mm到及包括1.500mm漆包圆线注：对于漆包圆线，为避免试样受伤，经验表明，选用0.800mm到及包括1.500mm试样便于操作和试验。a）将一段长约400mm的漆包圆线对折后在图1所示的设备上扭绞成125mm的线对。扭绞时施加在线对上的力（质量）和扭绞数见表1。表1试样的扭绞数和受力
导体标称直径
小于或等于
施加于线对的力
125mm距离内扭绞数
按图2所示制备隔片。可用陶瓷或有机硅玻璃纤维层压板这类热稳定的绝缘材料作隔片。隔b）
片上标以适当的识别字母或数字。在一成型架上将试样定形，成型架的结构见图3。将一试样放入成型架，在扭绞对平行的两线端放上隔片，再将其推到图4所示的成型架的端面。将两线端弯成平行以使隔片固定在正确的位置。成型架使试样更均一化。如果使用试样架，则可不用隔片。GB/T4074.7-2009/IEC60172:1987d）应在两处（不应在一处）切断试样扭绞端的端环，以使切开的两端具有最大的间距。如图5所示。为使两极足够分开而需弯动扭绞端或非扭绞端时，应避免剧烈弯曲或损伤绝缘。e）为确保一批试样性能均匀，建议对所有试样按三倍于表3规定值的试验电压进行1s耐电压试验。
5.1.2薄膜绕包圆线、扁线和漆包扁线注：适合于任何尺寸的圆线、扁线，但为了便于成型，建议选取尺寸时应尽量使样品成型时用小的弯曲力。高强度的线在制备试样时将导致线与线表面接触处的损伤。a）从线盘上取两根长度为250mm的较直线样。b）
在每根线样的一端除去10mm～15mm的绝缘层作为电极。c)
每根线样在如图9所示的模型中成形，直线部分约150mm，然后制成两端均张开的线样。d)
将两根成形的线样并排放置，然后用玻璃丝紧密地绕在线样中心直线部分，如图10所示。应使两线样的中心部分紧密接触。捆绑后，远端部的弯曲部分是分开的。在试验前或浸渍前对试样进行退火处理可去除应力和裂纹，对于某些材料可得到合适的试样。试验前试样应进行交流1000V的耐电压试验。e）
5.2浸渍漆
经验表明，符合GB/T6109.1～6109.23—2008、GB/T7095.1～7095.7—2008、GB/T233102009、GB/T23311-2009的绝缘线和符合IEC60455-3-5：1989或IEC60464-3-2:1989的绝缘浸渍漆在热老化过程中可能会互相影响。与未浸溃的漆包线、薄膜绕包线试验寿命相比，浸渍漆和漆包线、薄膜绕包线绝缘层之间的相互作用，可能增加或减少浸渍漆和漆包线、薄膜绕包线组合体的相对寿命。因此，对于浸渍试样，本试验方法可以提供绝缘浸渍漆和漆包线、薄膜绕包线组合体的热寿命指标。如需浸渍处理，应遵循如下步骤：将试样垂直浸泡在浸渍漆中（60士10）s（见注），然后以大约1mm/s的速度匀速从浸渍漆中取出，横放滴干10min～15min，而后按制造厂的建议或协议水平放置固化。如果需浸渍多次，则浸渍、滴干和固化试样需垂直颠倒方向连续处理。注：对于高粘度或触变性浸渍漆，需改变处理方法。5.3试样数量
试验结果的准确度很大程度上取决于每个老化温度下的试样数量，如果每个老化温度试样结果分散性大，为实现可接受的准确度就需要较多的试样数量。经验表明，21个非浸渍试样和11个浸渍试样通常能得到具有允许公差的平均寿命，至少应用11个试样。
5.4试样架
5.4.15.1.1规定的试样
已经发现，单独操作扭绞试样会产生早期失效，因此建议将试样放人图6所示的试样架内。宜将试样架设计成可保护扭绞试样免于遭受外部机械损伤和扭曲。其结构应能使扭绞的两端头伸出试样架，如图7所示，以便为耐电压试验进行电气连接。试样架宜至少容纳11个试样以减少操作时间。5.4.25.1.2规定的试样
将试样悬挂在烘箱中，无需托架。6老化温度
本章给出了试样的推荐老化温度。表2给出了推荐的每周期老化温度和时间。一个试验周期包括一个老化期和室温耐电压试验（20℃～30℃）。应将试样直接放人烘箱或从烘箱内取出，无需控制加热和冷却速度。试验前将烘箱加热到规定的温度。GB/T4074.7—2009/IEC60172:1987将试样放在一强迫通风烘箱内老化。烘箱应能使试样保持在选定的老化温度，温度波动小于2℃。选定老化时间，使试样在每个温度达到失效时间之前经受约10个周期的老化。从经受平均小于8个周期或大于20个周期的试样得到的热寿命值可能不可靠，不宜用来预估漆包线的温度等级。因此，为保证平均失效周期数在上述范围内，对某个老化温度，可选择比表中规定的长些或短些的老化时间。
试样按某个特定的周期老化后，可以适当增加或减少周期时间以控制达到失效时间所要求的周期数。
试样宜至少老化于三个温度，最好四个温度。最低的老化温度宜能产生大于5000h失效时间。产生小于100h失效时间的老化温度一般认为太高。各老化温度之间相差不宜超过20℃。由试验结果推断的温度指数的准确度随老化温度接近绝缘使用时温度而增加。最低老化温度不应比漆包线预估温度指数高25℃。
表2推荐的老化时间（天/周期）老化温度
105~109
120~130
150159
预估温度指数
180~189
注：表2中的推荐值与IEC60216中的不同，但已经发现更适合于漆包线。a一个周期包括一个老化期和其后的一个耐电压试验。试验电压及其施加方法
200~209
220~229
240~249
施加的电压应为交流电压，标称频率50Hz或60Hz，近似正弦波形，峰值系数在/z（1士5%）（即1.34～1.48)范围内。试验变压器至少应具有500VA的额定功率，并应提供在试验条件下波形基本不畸变的电流。
当5mA或大于5mA的电流流经高压回路时，过电流装置应动作，以检查试样是否失效。试验电源应具有当供出检测电流大于或等于5mA时最大10%的电压降。从烘箱中取出试样，冷却至室温。对于5.1.1规定的试样，按表3规定施加电压；对于5.1.2规定的试样，按表4规定施加电压。
GB/T4074.7-2009/IEC60172:1987绝缘厚度
小于或等于
表3漆包圆线试验电压
电压(有效值)
绝缘厚度
小于或等于
薄膜绕包圆线、扁线和漆包扁线试验电压绝缘厚度
小于或等于
电压(有效值)
绝缘厚度
小于或等于
电压(有效值)
电压(有效值）
施加在试样上的试验电压应持续约1s。施加时间较短是为了降低电晕及介质疲劳的影响。应注意避免试样机械损伤。剔除耐电压试验失效的试样，其余试样放回烘箱作另一次老化试验，8计算
8.1试样失效时间
取试样到耐电压试验失效时的老化总小时数和失效前一周期老化总小时数的中间点作为一个老化温度下某个试样的失效时间。这是假设试样可能在最后一个老化周期进行到一半时失效，因此，试样失效时间即为失效时的总小时数减去最后一个老化周期小时数的二分之一。8.2失效时间
可通过中位数值或对数平均值来计算一个老化温度一组试样的失效时间。对很多材料，中位数值在统计上是有效的。多数情况下，使用中位数值会大大缩短试验时间，因为一旦得到了中位数值就可以停止试验了。
当使用中位数值时，按下述计算失效时间：如果一组试样总数为n，则该组试样的失效时间为：a）如果n为奇数，等于第（n十1）/2个试样的失效时间（见8.1）；b）如果n为偶数，等于n/2个试样和（n十2)/2个试样失效时间的平均值（见8.1）。例如，如果n=12，则该组试样的失效时间等于第六个和第七个试样失效时间的平均值。如果采用中位数值计算失效时间，为方便起见，建议试样总数为奇数，这样可简化计算。当使用对数平均值时，则该组试样的失效时间等于各试样失效时间（见8.1）对数之和除以试样总数n所得平均值的反对数。
8.3数据的线性下载标准就来标准下载网
为避免不准确的外推（见8.4），应按附录B计算相关系数，以衡量线性度。如果相关系数r等于或大于0.95，则有充分根据认为数据是线性的，试验结果的数据点接近于条直线。若相关系数小于0.95，认为是非线性的，宜在比之前的最低试验温度还低的温度下进行一个附加试验。
新的温度点可以比之前的最低试验温度低10℃，在重新计算温度指数和相关系数时，可从最高的t
试验温度开始，删除一个温度点，使新的温度点参与计算。GB/T4074.7-2009/IEC60172：1987如果漆包线、薄膜绕包线或浸渍后的漆包线、薄膜绕包线热老化过程为一种化学反应，则数据是线性的。非线性可能表明：
a）在试验期间不同温度上有两种或两种以上具有不同活化能（斜率）的化学反应起支配作用：或者：
b）取样方式和（或)试验过程引人误差。非线性数据不宜用来外推。
8.4计算及绘制热寿命图和温度指数在纵坐标标有时间的对数、横坐标标有绝对温度的倒数的图纸上绘制失效时间（见8.2）-老化温度图，即为热寿命图。按附录A中的一级回归计算法估算2000h和20000h的老化温度，在坐标图上通过这两点绘出回归线。这条回归线则表示漆包线、薄膜绕包线的热寿命（见图8）。漆包线、薄膜绕包线温度指数是回归线与20000h线交点所对应的摄氏温度的数值。温度指数无需标明摄氏度。
如果需要对试验结果作进一步统计分析，可参见IEC60216-3：1980。试验报告
试验报告应包括下述信息：
1）漆包线漆或薄膜绕包线用薄膜的品种或型号，等级和导体种类（例如铜、铝等）；2）
浸渍漆的品种或型号及浸渍工艺；3)
每个老化温度下每组试样的失效时间；通过各失效时间值的一级回归线的图；温度指数(T.I.)。
图1制作试样用装置
GB/T4074.7—2009/IEC60172:1987材料：硅有机玻璃层压板。
Φ6.5的销子，紧压配合
注：架内槽口圆角按图示。
钻两个与线径匹配的孔
图2隔片
图3扭绞对成型架
单位为毫米
单位为毫米
材料：铝
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