GB/T 2481.2-2009
基本信息
标准号： GB/T 2481.2-2009
中文名称：固结磨具用磨料 粒度组成的检测和标记 第2部分：微粉
标准类别：国家标准(GB)
标准状态：现行
发布日期：2009-04-23
实施日期：2009-12-01
出版语种：简体中文
下载格式：.rar .pdf
下载大小：12726685
标准分类号
标准ICS号：机械制造>>切削工具>>25.100.70磨料磨具
中标分类号：机械>>工艺装备>>J43磨料与磨具
关联标准
替代情况：GB/T 2481.2-1998
出版信息
页数：32页
标准价格：30.0 元
计划单号：20064351-T-604
相关单位信息
首发日期：1981-02-17
起草单位：郑州磨料磨具磨削研究所、淄博金纪研磨材有限公司、珠海欧美克科技有限公司、平顶山煤业（集团）易成碳化硅制品有限公司
归口单位：全国磨料磨具标准化技术委员会
发布部门：中国机械工业联合会
主管部门：中国机械工业联合会
标准简介
GB/T 2481的本部分规定了刚玉、碳化硅微粉F230～F2000、#240～#8000的粒度组成、粒度标记和检测方法。本部分适用于制造固结磨具和一般工业用途的微粉，精密研磨用的微粉，从固结磨具回收的微粉，以及用于抛光的松散微粉。 GB/T 2481.2-2009 固结磨具用磨料 粒度组成的检测和标记 第2部分：微粉 GB/T2481.2-2009 标准下载解压密码：www.bzxz.net
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标准内容
ICS_25.100.70
中华人民共和国国家标准
GB/T2481.2—2009
代替GB/T2481,2—1998
固结磨具用磨料
粒度组成的检测和标记
第2部分：微粉
Bonded abrasives-
Determination and designation of grain size distribution-Part 2:Microgrits
2009-04-23发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2009-12-01实施
规范性引用文件
术语和定义
粒度组成与粒度分级
微粉的检测
测量仪器：技术说明与测量方法·标记
附录A（资料性附录）
用光电沉降仪检测F系列微粉粒度的计算表格++..
附录B(资料性附录）
参考文献
GB/T2481.2—2009
用沉降管粒度仪检测F系列微粉、J系列微粉粒度的记录表格24www.bzxz.net
+粒度组成的检测和标记》分为两个部分：GB/T2481&固结磨具用磨料
第1部分：粗磨粒F4～F220；
第2部分：微粉。
本部分为GB/T2481的第2部分。
GB/T2481.2—2009
本部分代替GB/T2481.2—1998《固结磨具用磨料第2部分：微粉
粒度组成的检测和标记
F230~F1200》。
本部分与GB/T2481.2—1998相比主要变化如下：增加了F1500和F2000号微粉的粒度组成（本部分的4.3)；增加了F系列微粉最大粒直径的许可值，d。值(本部分的4.3)；-增加了电阻法颗粒计数器测定微粉粒度组成的方法(本部分的6.4)；—增加了J系列微粉粒度组成的检测及标记。本部分的附录A和附录B为资料性附录。本部分由中国机械工业联合会提出。本部分由全国磨料磨具标准化技术委员会(SAC/TC139)归口。本部分起草单位：郑州磨料磨具磨削研究所、淄博金纪元研磨材有限公司、珠海欧美克科技有限公司、平顶山煤业(集团)易成碳化硅制品有限公司。本部分主要起草人：王伟涛、丁建平、张福根、曲丽伟、包华、夏军。本部分所代替标准的历次版本发布情况为：GB/T2477—1983,GB/T2481—1983;—GB/T2481.2—1998。
1范围
固结磨具用磨料
粒度组成的检测和标记
第2部分：微粉
GB/T2481.2—2009
GB/T2481的本部分规定了刚玉、碳化硅微粉F230～F2000、#240～#8000的粒度组成、粒度标记和检测方法。
本部分适用于制造固结磨具和一般工业用途的微粉，精密研磨用的微粉，从固结磨具回收的微粉，以及用于抛光的松散微粉。
2规范性引用文件
下列文件中的条款通过GB/T2481的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。
GB/T2481.1一1998固结磨具用磨料粒度组成的检测和标记第1部分：粗磨粒F4～F220(eqvISO8486-1:1996）
3术语和定义
GB/T2481.1一1998确立的以及下列术语和定义适用于GB/T2481的本部分。3.1
微粉microgrits
用沉降法检验其粒度组成时，中值粒径d.不大于60μum的磨粒。4粒度组成与粒度分级
4.1微粉系列
本部分规定的微粉包括F系列微粉和J系列微粉两个系列，粒度号前分别冠以字母“F”和字符“#”。
4.2粒度组成
F系列微粉和J系列微粉的粒度组成根据下列准则确定：最大粒直径不应超过d。（d）)的最大许可值；a)
b）在粒度组成曲线的3%点处，其粒径（理论粒径)不应超过d。（d）的最大许可值：c）在粒度组成曲线的50%点处，其中值粒径(理论粒径)应在规定的dso(d.so)允许范围内；d）在粒度组成曲线的94/95%点处，其粒径(理论粒径)应达到ds4/gs(ds4/9s）的最小许可值。此四条准则应同时满足。F系列微粉各粒度号的规定值见表1（适用于光电沉降仪，对应于94%值)、表2(适用于沉降管粒度仪，对应于95%值)；J系列微粉各粒度号的规定值见表3(适用于沉降管粒度仪，对应于94%值)、表4(适用于电阻法颗粒计数器，对应于94%值)。注：d,是用沉降法测得的粒径，称作斯托克斯(Stokes)粒径，d,是用电阻法测得的粒径，称作等效体积(Volume）粒径。
GB/T2481.2-—2009
粒度分级
F系列微粉若按光电沉降法测量分为13个粒度号，中值粒径从53μm至1.2μm（见表1);F系列微粉若按沉降管法测量分为11个粒度号，中值粒径从55.7μm至7.6μm(见表2)。本系列与F系列粗磨粒的最细粒度号F220(63μm)衔接，并采用同样的公比，即。J系列微粉若按沉降管法测量分为15个粒度号，中值粒径从60um开始到5.7μm结束（见表3)；J系列微粉若按电阻法测量分为18个粒度号，中值粒径从57μm开始到1.2μm结束（见表4)。表1F23D～F2000微粉的粒度组成（光电沉降仪）粒度标记
粒度标记
ds最大值/
da最大值/
ds粒度中值/
53.0±3.0
44.5±2.0
36.5±1.5
29,2±1.5
22.8±1.5
17.3±1.0
12.8±1.0
F230～F1200微粉的粒度组成（沉降管粒度仪）dg最大值/
da最大值/
dse粒度中值/
55.7±3.0
47.5±2.0
39.9±1.5
32.8±1.5
26.7±1.5
21.4±1.0
17.1±1.0
13.7±1.0
11.0±1.0
dg最小值/
1.0(80%处)
0.8(80%处)
0.5(80%处)
das最小值/
2.4(80%处）
粒度标记
粒度标记
#240～#3000微粉的粒度组成（沉降管粒度仪）d最大值/
de最大值/
d粒度中值/
60.0±4.0
52.0±3.0
46.0±2.5
40.0±2.0
34,0±2.0
28.0±2.0
24,0±1.5
21.0±1.3
18.0±1.0
15.5±1.0
13,0±1.0
10.5±1.0
5,.7±0.5
#240~#8000微粉的粒度组成（电阻法颗粒计数器）de最大值/
da最大值/
d粒度中值/
57.0±3.0
48.0±3.0
40.0±2.5
35.0±2.0
30.0±2.0
25.0±2.0
20.0±1.5
17.0±1.3
14.0±1.0
11.5±1.0
GB/T2481.2—2009
da最小值/
dw最小值/
0.6(75%处）
GB/T2481.2-2009
5微粉的检测
5.1总则
F系列微粉粒度组成的检测用沉降管粒度仪、光电沉降仪或基于校正砂的其他方法进行；J系列微粉的检测用沉降管粒度仪、电阻法颗粒计数器或基于校正砂的其他方法进行。F系列微粉和J系列微粉粒度组成的检测准则：a）最大粒的粒径(ds/d值)；
b）粒度组成曲线3%点处的理论粒径(da/da值）；c）粒度组成曲线50%点处的理论粒径（ds5o/d%值)；d）粒度组成曲线94/95%点处的理论粒径(ds4/95/d94/95值），5.2允许偏差
测量会产生误差，表5、表6给出了F系列微粉的允许偏差。F系列微粉产品的粒度组成允许值，应为表1、表2之值分别加上此偏差。表5因测试技术误差的允许偏差-基于校正砂的测量方法
(例如，用光电沉降法或电阻法检测）粒度标记
粒度标记
da(da)/μm
允许偏差值
d.so(d.so)/μm
因测试技术误差的允许偏差
沉降管粒度仪
允许偏差值
da/μm
dso/μm
dg(du)/μm
—0.4(80%处)
一0.3(80%处）
—0.2(80%处)
daes /μm
—1.5(80%处）
5.3检测方法的标记
微粉检测方法的标记应包括所使用的测量仪器：检测-F微粉—光电沉降仪；
检测-F微粉——沉降图像系列；检测-F微粉(J微粉)—沉降管粒度仪检测-F微粉(J微粉)——电阻法颗粒计数器；检测-F微粉(J微粉)-其他(能得到同等结果的其他仪器）。5.4检测方法
5.4.1微粉校正砂》
GB/T 2481.2-2009
检测方法以微粉校正砂为基准。每份F微粉或J微粉校正砂均附有粒度标定值，所测值应以校正砂的标定值为基准进行校正。
5.4.2试验操作
应按照所用仪器的说明书进行检测。5.4.3测量结果的校正
如果样品是F微粉或J微粉，并且是用基于校正砂的方法测量的，那么测量结果需要校正以后才能进行评估。
原理是将F微粉校正砂或丁微粉校正砂给出的中值(50%)粒径与在实验室用自已的仪器测得的中值粒径相比较。
两个值的代数值差将加到样品的3%、50%和94/95%值上：应用方法(以F微粉为例)：
a）测定微粉校正砂的dso（dso）值，计算此值与合格证上对应值之差；测定样品的da（dva）、dss（dvs）和ds4/s（d4）值，并加上如上测定的校正砂代数值差；b)
c）将校正后的测量结果与微粉粒度组成允许值比较。示例：
SiCF240,dso值：
校正砂：
合格证上的dso值
测得的d品值
样品：
测得值
样品校正值
对照表1,此值在F240的d,so值的误差范国内。5.4.4评价
F系列微粉样品的da（da）、dso（dso）和d4/95（d）值在表1和表2的允许范围内，则符合本标准。由于测试技术的误差，检测结果应有允许偏差，根据ISO循环试验的允许偏差列于表5和表6中。F系列微粉的粒度组成允许值，应为表1和表2之值加上此偏差。J系列微粉样品的da（d）、d,5s(dso）和d（d）值在表3和表4的允许范围内，则符合本标准。6测量仪器：技术说明与测量方法6.1总则
本章说明光电沉降仪、沉降管粒度仪、电阻法颗粒计数器的使用方法。1）有关微粉校正砂的详细信息可咨询全国膳料瞻具标准化技术委员会秘书处。5
GB/T2481.22009
6.2光电沉降仪
6.2.1光电沉降仪组成
光电沉降仪主要由以下部分组成：a）带有一个水套并具有高透光度的沉降管（圆筒简测量容器），通过温度调节器使其温度稳定在(20±0.5）℃；
光源，其发出之光束，穿过沉降管照射在光电管上；b)
检流计，记录测量过程的任意时刻照射在光电管上的光强度及沉降管吸收的光量；沉降管高度调节装置，使光束限定在最大沉降高度(hmax10cm)内。d)
光电沉降仪的沉降装置结构原理如图1所示。单位为厘米
外壳(不透光）；
一热水套；
光束口；
一偏光校镜；
-沉降管(圆简测量容器)；
容器调节螺丝；
热水套的玻璃水道；
光电警：
光电管转换器；
屏蔽；
热水套进水口；
带有狭继的屏蔽。
图1光电沉降仪的沉降装置结构原理6.2.2实验配备
6.2.2.1沉降介质
GB/T2481.22009
以电导率≤5μs的蒸馏水或蒸馏水与1,2-乙二醇(甘醇)的混合液作沉降介质。某些情况下可添加二磷酸四钠作为分散剂。
不同粒度的刚玉和碳化硅所用的沉降介质及分散剂的浓度列于表7。为了达到测量标准，混合液应具有表7规定的黏度。
6.2.2.2沉降介质的校准
馏水-1，2-乙二醇沉降介质的黏度应利用黏度计精确校准。黏度值的允许偏差不应超过表7规定值的士0.1mPa·S。
6.2.3样品制备
检验前样品应于（600士20）℃下加热至少10min。用超声波等方法对样品分处理5min以消除结团。
6.2.4检测步骤
6.2.4.1零点调节
首先，光束开关置于关位置。然后利用“光值校准”旋钮微调光点，直到光点对准刻度盘左端的零点。
刚玉和碳化硅粒度检验用沉降介质与分散剂表7
粒度号
6.2.4.2空白值的调节与校准
沉降介质（(20℃）
1,2-乙二醇95%
黏度15.2mPa·
密度1.107g/cm
1,2-乙二醇74%
粘度7.7mPa·s
密度1.091g/cm
蒸馏水
电导率≤5μ8
蒸馏水
电导率≤5
2磷酸4销分散剂/(g/L）
碳化硅
不添加
将纯净的沉降液注人测量瓶一半以上，并置入定位装置，使上金属屏蔽板边缘位于瓶体高度刻度尺的10cm处。然后，光束开关置于开位置。此时光束应通过纯净的沉降介质而不受液面阻碍。光路置于开启位置，用“校准刻度盘右端”旋钮，使光点指示器的中线置于0顶点)或100（底点）。用类似方法调节刻度盘左端。光路关闭，用“校准刻度盘左端”旋钮调节至co（项点）或0(底点）。应重复调节刻度盘左、右端的值。记录下分档开关的位置作为“清零值”。GB/T2481.2—2009
将沉降液充满测量瓶至顶部标记处，校对清零值。6.2.4.3测定
将待测磨料（分散处理过的样品)全部倒人测量瓶内，小心播动后，应有1.31.7的初始消光。应避免气泡。
用橡皮塞塞住测量瓶，然后通过温度调节器控制的循环水加热至（20士0.5）℃，至少保持10min。开始测量前，将测量瓶180°左右翻转2min(每分钟10次，不必摇动），使测量瓶中之物均匀。此时也应避免有气泡。
然后，将测量瓶置于试验仪器中。开始测量。按照表8第1栏给出的时间间隔，读出并记录消光值。在一定的时间周期内，消光会趋近常数，与样品的粒度组成有关。测量点之间0.01消光单位的微小误差可以忽略不计。磨料颗粒沉降的真正开始由光强度的增强指示。6.2.5评价
6.2.5.1粒度组成的评价
在粒度分级适当的情况下，由斯托克斯(Stokes)定律和朗伯特-贝尔(Lambert-Beer)定律导出的以下计算方法，可得到满意结果。由此，磨粒的质量百分含量与连续测量的消光差和瘤粒直径乘积成正比。表8的第1栏中是沉降时间，第2栏是沉降高度第3栏至第8栏是根据斯托克斯定律计算出的粒度，与刚玉、碳化硅磨粒在三种沉降介质中的沉降时间与沉降高度相对应。
沉降时间
沉降高度/
粒度为沉降时间与沉降高度的函数4
1,2-乙二醇
74%/μm
粒度(理论粒径d)
1,2-乙二醇
95%/μm
水*/μm
碳化硅
1,2-乙二醇
74%/μm
22、3
1,2-乙二醇
95%/μm
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中华人民共和国国家标准
GB/T2481.2—2009
代替GB/T2481,2—1998
固结磨具用磨料
粒度组成的检测和标记
第2部分：微粉
Bonded abrasives-
Determination and designation of grain size distribution-Part 2:Microgrits
2009-04-23发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2009-12-01实施
规范性引用文件
术语和定义
粒度组成与粒度分级
微粉的检测
测量仪器：技术说明与测量方法·标记
附录A（资料性附录）
用光电沉降仪检测F系列微粉粒度的计算表格++..
附录B(资料性附录）
参考文献
GB/T2481.2—2009
用沉降管粒度仪检测F系列微粉、J系列微粉粒度的记录表格24www.bzxz.net
+粒度组成的检测和标记》分为两个部分：GB/T2481&固结磨具用磨料
第1部分：粗磨粒F4～F220；
第2部分：微粉。
本部分为GB/T2481的第2部分。
GB/T2481.2—2009
本部分代替GB/T2481.2—1998《固结磨具用磨料第2部分：微粉
粒度组成的检测和标记
F230~F1200》。
本部分与GB/T2481.2—1998相比主要变化如下：增加了F1500和F2000号微粉的粒度组成（本部分的4.3)；增加了F系列微粉最大粒直径的许可值，d。值(本部分的4.3)；-增加了电阻法颗粒计数器测定微粉粒度组成的方法(本部分的6.4)；—增加了J系列微粉粒度组成的检测及标记。本部分的附录A和附录B为资料性附录。本部分由中国机械工业联合会提出。本部分由全国磨料磨具标准化技术委员会(SAC/TC139)归口。本部分起草单位：郑州磨料磨具磨削研究所、淄博金纪元研磨材有限公司、珠海欧美克科技有限公司、平顶山煤业(集团)易成碳化硅制品有限公司。本部分主要起草人：王伟涛、丁建平、张福根、曲丽伟、包华、夏军。本部分所代替标准的历次版本发布情况为：GB/T2477—1983,GB/T2481—1983;—GB/T2481.2—1998。
1范围
固结磨具用磨料
粒度组成的检测和标记
第2部分：微粉
GB/T2481.2—2009
GB/T2481的本部分规定了刚玉、碳化硅微粉F230～F2000、#240～#8000的粒度组成、粒度标记和检测方法。
本部分适用于制造固结磨具和一般工业用途的微粉，精密研磨用的微粉，从固结磨具回收的微粉，以及用于抛光的松散微粉。
2规范性引用文件
下列文件中的条款通过GB/T2481的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。
GB/T2481.1一1998固结磨具用磨料粒度组成的检测和标记第1部分：粗磨粒F4～F220(eqvISO8486-1:1996）
3术语和定义
GB/T2481.1一1998确立的以及下列术语和定义适用于GB/T2481的本部分。3.1
微粉microgrits
用沉降法检验其粒度组成时，中值粒径d.不大于60μum的磨粒。4粒度组成与粒度分级
4.1微粉系列
本部分规定的微粉包括F系列微粉和J系列微粉两个系列，粒度号前分别冠以字母“F”和字符“#”。
4.2粒度组成
F系列微粉和J系列微粉的粒度组成根据下列准则确定：最大粒直径不应超过d。（d）)的最大许可值；a)
b）在粒度组成曲线的3%点处，其粒径（理论粒径)不应超过d。（d）的最大许可值：c）在粒度组成曲线的50%点处，其中值粒径(理论粒径)应在规定的dso(d.so)允许范围内；d）在粒度组成曲线的94/95%点处，其粒径(理论粒径)应达到ds4/gs(ds4/9s）的最小许可值。此四条准则应同时满足。F系列微粉各粒度号的规定值见表1（适用于光电沉降仪，对应于94%值)、表2(适用于沉降管粒度仪，对应于95%值)；J系列微粉各粒度号的规定值见表3(适用于沉降管粒度仪，对应于94%值)、表4(适用于电阻法颗粒计数器，对应于94%值)。注：d,是用沉降法测得的粒径，称作斯托克斯(Stokes)粒径，d,是用电阻法测得的粒径，称作等效体积(Volume）粒径。
GB/T2481.2-—2009
粒度分级
F系列微粉若按光电沉降法测量分为13个粒度号，中值粒径从53μm至1.2μm（见表1);F系列微粉若按沉降管法测量分为11个粒度号，中值粒径从55.7μm至7.6μm(见表2)。本系列与F系列粗磨粒的最细粒度号F220(63μm)衔接，并采用同样的公比，即。J系列微粉若按沉降管法测量分为15个粒度号，中值粒径从60um开始到5.7μm结束（见表3)；J系列微粉若按电阻法测量分为18个粒度号，中值粒径从57μm开始到1.2μm结束（见表4)。表1F23D～F2000微粉的粒度组成（光电沉降仪）粒度标记
粒度标记
ds最大值/
da最大值/
ds粒度中值/
53.0±3.0
44.5±2.0
36.5±1.5
29,2±1.5
22.8±1.5
17.3±1.0
12.8±1.0
F230～F1200微粉的粒度组成（沉降管粒度仪）dg最大值/
da最大值/
dse粒度中值/
55.7±3.0
47.5±2.0
39.9±1.5
32.8±1.5
26.7±1.5
21.4±1.0
17.1±1.0
13.7±1.0
11.0±1.0
dg最小值/
1.0(80%处)
0.8(80%处)
0.5(80%处)
das最小值/
2.4(80%处）
粒度标记
粒度标记
#240～#3000微粉的粒度组成（沉降管粒度仪）d最大值/
de最大值/
d粒度中值/
60.0±4.0
52.0±3.0
46.0±2.5
40.0±2.0
34,0±2.0
28.0±2.0
24,0±1.5
21.0±1.3
18.0±1.0
15.5±1.0
13,0±1.0
10.5±1.0
5,.7±0.5
#240~#8000微粉的粒度组成（电阻法颗粒计数器）de最大值/
da最大值/
d粒度中值/
57.0±3.0
48.0±3.0
40.0±2.5
35.0±2.0
30.0±2.0
25.0±2.0
20.0±1.5
17.0±1.3
14.0±1.0
11.5±1.0
GB/T2481.2—2009
da最小值/
dw最小值/
0.6(75%处）
GB/T2481.2-2009
5微粉的检测
5.1总则
F系列微粉粒度组成的检测用沉降管粒度仪、光电沉降仪或基于校正砂的其他方法进行；J系列微粉的检测用沉降管粒度仪、电阻法颗粒计数器或基于校正砂的其他方法进行。F系列微粉和J系列微粉粒度组成的检测准则：a）最大粒的粒径(ds/d值)；
b）粒度组成曲线3%点处的理论粒径(da/da值）；c）粒度组成曲线50%点处的理论粒径（ds5o/d%值)；d）粒度组成曲线94/95%点处的理论粒径(ds4/95/d94/95值），5.2允许偏差
测量会产生误差，表5、表6给出了F系列微粉的允许偏差。F系列微粉产品的粒度组成允许值，应为表1、表2之值分别加上此偏差。表5因测试技术误差的允许偏差-基于校正砂的测量方法
(例如，用光电沉降法或电阻法检测）粒度标记
粒度标记
da(da)/μm
允许偏差值
d.so(d.so)/μm
因测试技术误差的允许偏差
沉降管粒度仪
允许偏差值
da/μm
dso/μm
dg(du)/μm
—0.4(80%处)
一0.3(80%处）
—0.2(80%处)
daes /μm
—1.5(80%处）
5.3检测方法的标记
微粉检测方法的标记应包括所使用的测量仪器：检测-F微粉—光电沉降仪；
检测-F微粉——沉降图像系列；检测-F微粉(J微粉)—沉降管粒度仪检测-F微粉(J微粉)——电阻法颗粒计数器；检测-F微粉(J微粉)-其他(能得到同等结果的其他仪器）。5.4检测方法
5.4.1微粉校正砂》
GB/T 2481.2-2009
检测方法以微粉校正砂为基准。每份F微粉或J微粉校正砂均附有粒度标定值，所测值应以校正砂的标定值为基准进行校正。
5.4.2试验操作
应按照所用仪器的说明书进行检测。5.4.3测量结果的校正
如果样品是F微粉或J微粉，并且是用基于校正砂的方法测量的，那么测量结果需要校正以后才能进行评估。
原理是将F微粉校正砂或丁微粉校正砂给出的中值(50%)粒径与在实验室用自已的仪器测得的中值粒径相比较。
两个值的代数值差将加到样品的3%、50%和94/95%值上：应用方法(以F微粉为例)：
a）测定微粉校正砂的dso（dso）值，计算此值与合格证上对应值之差；测定样品的da（dva）、dss（dvs）和ds4/s（d4）值，并加上如上测定的校正砂代数值差；b)
c）将校正后的测量结果与微粉粒度组成允许值比较。示例：
SiCF240,dso值：
校正砂：
合格证上的dso值
测得的d品值
样品：
测得值
样品校正值
对照表1,此值在F240的d,so值的误差范国内。5.4.4评价
F系列微粉样品的da（da）、dso（dso）和d4/95（d）值在表1和表2的允许范围内，则符合本标准。由于测试技术的误差，检测结果应有允许偏差，根据ISO循环试验的允许偏差列于表5和表6中。F系列微粉的粒度组成允许值，应为表1和表2之值加上此偏差。J系列微粉样品的da（d）、d,5s(dso）和d（d）值在表3和表4的允许范围内，则符合本标准。6测量仪器：技术说明与测量方法6.1总则
本章说明光电沉降仪、沉降管粒度仪、电阻法颗粒计数器的使用方法。1）有关微粉校正砂的详细信息可咨询全国膳料瞻具标准化技术委员会秘书处。5
GB/T2481.22009
6.2光电沉降仪
6.2.1光电沉降仪组成
光电沉降仪主要由以下部分组成：a）带有一个水套并具有高透光度的沉降管（圆筒简测量容器），通过温度调节器使其温度稳定在(20±0.5）℃；
光源，其发出之光束，穿过沉降管照射在光电管上；b)
检流计，记录测量过程的任意时刻照射在光电管上的光强度及沉降管吸收的光量；沉降管高度调节装置，使光束限定在最大沉降高度(hmax10cm)内。d)
光电沉降仪的沉降装置结构原理如图1所示。单位为厘米
外壳(不透光）；
一热水套；
光束口；
一偏光校镜；
-沉降管(圆简测量容器)；
容器调节螺丝；
热水套的玻璃水道；
光电警：
光电管转换器；
屏蔽；
热水套进水口；
带有狭继的屏蔽。
图1光电沉降仪的沉降装置结构原理6.2.2实验配备
6.2.2.1沉降介质
GB/T2481.22009
以电导率≤5μs的蒸馏水或蒸馏水与1,2-乙二醇(甘醇)的混合液作沉降介质。某些情况下可添加二磷酸四钠作为分散剂。
不同粒度的刚玉和碳化硅所用的沉降介质及分散剂的浓度列于表7。为了达到测量标准，混合液应具有表7规定的黏度。
6.2.2.2沉降介质的校准
馏水-1，2-乙二醇沉降介质的黏度应利用黏度计精确校准。黏度值的允许偏差不应超过表7规定值的士0.1mPa·S。
6.2.3样品制备
检验前样品应于（600士20）℃下加热至少10min。用超声波等方法对样品分处理5min以消除结团。
6.2.4检测步骤
6.2.4.1零点调节
首先，光束开关置于关位置。然后利用“光值校准”旋钮微调光点，直到光点对准刻度盘左端的零点。
刚玉和碳化硅粒度检验用沉降介质与分散剂表7
粒度号
6.2.4.2空白值的调节与校准
沉降介质（(20℃）
1,2-乙二醇95%
黏度15.2mPa·
密度1.107g/cm
1,2-乙二醇74%
粘度7.7mPa·s
密度1.091g/cm
蒸馏水
电导率≤5μ8
蒸馏水
电导率≤5
2磷酸4销分散剂/(g/L）
碳化硅
不添加
将纯净的沉降液注人测量瓶一半以上，并置入定位装置，使上金属屏蔽板边缘位于瓶体高度刻度尺的10cm处。然后，光束开关置于开位置。此时光束应通过纯净的沉降介质而不受液面阻碍。光路置于开启位置，用“校准刻度盘右端”旋钮，使光点指示器的中线置于0顶点)或100（底点）。用类似方法调节刻度盘左端。光路关闭，用“校准刻度盘左端”旋钮调节至co（项点）或0(底点）。应重复调节刻度盘左、右端的值。记录下分档开关的位置作为“清零值”。GB/T2481.2—2009
将沉降液充满测量瓶至顶部标记处，校对清零值。6.2.4.3测定
将待测磨料（分散处理过的样品)全部倒人测量瓶内，小心播动后，应有1.31.7的初始消光。应避免气泡。
用橡皮塞塞住测量瓶，然后通过温度调节器控制的循环水加热至（20士0.5）℃，至少保持10min。开始测量前，将测量瓶180°左右翻转2min(每分钟10次，不必摇动），使测量瓶中之物均匀。此时也应避免有气泡。
然后，将测量瓶置于试验仪器中。开始测量。按照表8第1栏给出的时间间隔，读出并记录消光值。在一定的时间周期内，消光会趋近常数，与样品的粒度组成有关。测量点之间0.01消光单位的微小误差可以忽略不计。磨料颗粒沉降的真正开始由光强度的增强指示。6.2.5评价
6.2.5.1粒度组成的评价
在粒度分级适当的情况下，由斯托克斯(Stokes)定律和朗伯特-贝尔(Lambert-Beer)定律导出的以下计算方法，可得到满意结果。由此，磨粒的质量百分含量与连续测量的消光差和瘤粒直径乘积成正比。表8的第1栏中是沉降时间，第2栏是沉降高度第3栏至第8栏是根据斯托克斯定律计算出的粒度，与刚玉、碳化硅磨粒在三种沉降介质中的沉降时间与沉降高度相对应。
沉降时间
沉降高度/
粒度为沉降时间与沉降高度的函数4
1,2-乙二醇
74%/μm
粒度(理论粒径d)
1,2-乙二醇
95%/μm
水*/μm
碳化硅
1,2-乙二醇
74%/μm
22、3
1,2-乙二醇
95%/μm
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