本空白详细规范规定了制定半导体发光数码管详细规范的基本原则。制定该规范范围内的所有详细规范应尽可能与本空白详细规范相一致。 GB/T 15529-1995 半导体发光数码管空白详细规范 GB/T15529-1995 标准下载解压密码：www.bzxz.net

中华人民共和国国家标准
半导体发光数码管空白详细规范Blank detail specificatlon for LED numeric displaysGB/T15529-1995
本空白详细规范规定了制定半导体发光数码管详细规范的基本原则。制定该规范范围内的所有详细规范应尽可能与本空白详细规范相一致。本标准是与GB4589.1&半导体器件：分文器件和集成电路总规范\和GB12565半导体器件光电子器件分规范》有关的一系列空白详细规范中的一个。要求资料：
下列所要求的各项内容，应列入首页规定的相应空栏中。详细规范的识别：
（1）授权发布详细规范的国家机构名称。（2）IECQ详细规范号，
（3）总规范和分规范号。
（4）详细规范号、发布日期和国家体系要求的任何更多的资料。器件的识别：
（5）器件类型的简明说明。
（6）典型结构和应用资料。
如果设计一种器件满足几种应用，则应在详细规范中明确指出。其应用特性.极限值和检验要求均应予以满足。
（7）外形图和(或)引用有关的外形标准。（8）质书评定类别。
（9）能在器件型号之间比较的最重要特性的参考数据。[整个空白详细规范中，在方括号内给出的内容仅供指导制定详细规范时用，而不包括在详细规范中
[在极限值和特性的\数值\栏中，“×\表示在详细规范中应给出的具体值,］国家技术监督局1995-04-06批准1995-11-01实施
【授权发布详细规范的国家机构名称］评定器件质量的根据：
GB/T15529—1995
GB4589.1半导体器件
分立器件和集成电
路总规范》
GB12565《半导体器件光电子器件分规范》［器件型号】
订货资料：见本规范第7章
1机械说明
外形标准：
[IECQ详细规范号]
[详细规范号和发布日期
如果详细规范号与TECQ号重复，则本栏可以不用
(7）2
SI2684&半导体发光（可见光）器件外形尺寸
外形图和电原理图及引出端识别：[可在第10 章给出更多的细节］标惠：
根据GB4589.1的第2.5条或本规范第6章的规定，详细规范应规定在器件上标出的最少项的
简略说明
材料：
封装：空封或非空封
用途：
3质量评定类别
［根据GB4589.1第2.6条］
参考数据：
按本规范鉴定合格的器件的有关制造单位的资料，可在现行合格产品一栏表中查到(6)
4极限值（绝对最大题定值）
GB/T 15529--1995
除非另有规定，下列极限值在整个1作温度范谢内适用。「只重复使用带标题的条文号，任何附加值在适当的地方给出，但没有条文号。曲线最好在本规范第10章给出。
条文号
工作环境温度
贮存温度
反向电压(每段）
正向电流(每段）
脉冲条件下正向峰值电流\（每段）耗散功率（显示器全亮）
注：1）应规定脉冲宽度、占空因数。5光电特性
检验要求见本规范第8章。
最小值
最大值
[只重复使用带标题的条文号，任何附加特性应在适当地方给出，但没有条文号。[当在同一详细规范中规定儿种规格的器件时，有关的数值应以连续方式给出，以免相同值的重复
［曲线最好在第10章给出.]
条文号
特性和条件
除非另有规定，Tmb--25C
正向电压(每段）
在规定的下
反向电流(每段)
在 4. 3条规定的 V下
发光强度(每段)
在规定的 I下
发光强度均匀度!
在规定的I下
蜂值发射波长
在规定的下
光谱幅射带宽(适用时）
在规定的I下
开关时间(适用时）
在规定的直流偏置电流、脉冲
宽度和占空因数下
注：1）小数点除外。
最小值
最大值
检验分组
6标志
GB/T 15529—1995
除在本规范第1章第（7)栏和（或)GB4589.1第2.5条所给出的标志外，任何其他资料应在本章具体给出。」
7订货资料
[除非另有规定，订购一种具体器件至少需要以下资料；型号：
h详细规范号和版本号，
C按GB4589.1第2.6条规定的质量评定类别和（或）按GB12565第3.6条规定的筛选等级；d任何其他细节。』
8试验亲件和检验要求
「在以下各表中给出的试验条件和检验要求，其所再数值和确切的条件，应按给定型号的要求和有关规范中规定的有关试验子以规定。[制定详细规范时，对于二种以上的替换试验或试验方法要加以选择。「当在同一详细规范中包括几种规格的器件时，有关的条件和（或)数值应以连续方式给l，以尽可能避免相同的条件和（或>数值的重复。除非另有规定，本章中引用的条文号对啦了G34589.1的条文号。本章中所用测试方法引用的条文号与GB12565—致。
L根据适用的质量评定类别，抽样要求可从GB12565第3.7条查得。对于A组检验，制定详细规范时应选定 AQI.或I.TPD 方案。
A 组——逐批
LSL规范下限值
USL 规范上限值
全部试验都是非破坏性的（见第3.6.6条）条件
检验或试验
A1分组
外部目检
A2a分组
不工作器件
发光强度(每段)
正询电压(每段）
反向电流(每段）
引用标准
本规范附录 A
除非另有规定
Tmb= 25
[在规定的 I下]
[在规定的「F下]
[在规定的 Vr下]
最小值
根据本规范第5章
检验要求
最大值
棕验或试验
A2b分组
光电特性
发光强度（每段）
正向电压(每段)
反向电流（每段）
发片强度的句度
GB/T15529--1995
引用标准
本规范附录 A
本规范附录 A
除非另有规定
7gmb= 25 C
[在规定的 I 下
[在规定的 I 下
［在规定的VR下_
[在规定的下
B组 逐批
只有标明(D)的试验是破坏性的（见第3.6.6条）条件
检验或试验
B1分组
B3分组
引出端强度弯曲(D)
B4分组
可焊性
B5分组
温度快速变化
继之以
循环湿热(D）
（对非空封器件）
密封(适用时)
（对空封器件）
最后测试
发光强度（每段）
引用标准
CB 12565 附录 R
GB 49371: ,2- 1. 2
GB 4937,2. 2. 1
Gl3 4937.3. 1. 1
SJ/7. 9016*, . 4
GB 4937.3. 7
本规范附录A
最小值
检验要求
最大值
LSI.规范下限值
根据本规范第5章
USL规范上限值
检验要求
除非另有规定
Tamb- 25 ℃
［在详细规范中具体规
「在详细规范中具体规
定，忧先采用样槽法！
严醛度：
温度：55c
循环数+2
[在规定的下]
最小值
最大值
见本规范第1章
无损坏
润湿良好
外观颜色无明显变化
检验或试验
正向电压（每段）
反向电流(每段）
B8分组
电耐久性
最后测试
发北强度（每段）
正向电压(每段）
反向电流(每段）
B9分组
高温贮存
最后测试
同分组
CRRL分组
GB/T15529—1995
引用标准
GR49383和
本规范附录
B2或B3
本规范附录 A
GB 1937.3.2
同B5分组
除非另有规定
Tab - 25'C
[在规定的 IP下]
[在规定的 V下]
T作寿命
时间：168h
显示器全亮
[在规定的门
[在规定的 I们]
【在规是的V，下］
温度：最高T.r
时间：168h
同135分组
最小值
检验要求
最大值
外观颜色无明显变
同135分组
提供B3、B4、B5,B6,B9 的计数数据,提供B8分组前后的计量数据注：1）GB4937半导体分立器件机械和候试验方法》。2）SJ/7.9016半导体器件机械和候试验方法》。3）GB4938半导体分立器件接收和可靠性\。C组——周期
LSL规范下限值
根据本规范第5章
USL规范上限值
只有标明(D)的试验是破坏性的（见第3.6.6条）条件
检验或试验
C1分组
C2a分组
光电特性
引用标难
GB 12565 附球 B
除非另有规定
T 25 ℃
最小值
检验要求
最大值
见本规范第1章
检验或试验
开关时间(适用时)
蜂值发射波长
光谱发射带宽（适用时）
C3分组
引出端强度拉力(D)
C4 分组
耐焊接热(D)
最后测试
间B5分组
C6分维
（对空封器件）
机械冲击
继之以
慎定如速度
最后测试
同B5分组
C7 分组
稳态湿热(D)
(对空封器件）
衢环湿热(D)
（对非空封器件）
最后测武
同 B8 分组
C8 分组
电耐久性
最后测试
同B8分组
GB/T 15529—1995
引用标摊
GB 4937,2. 1. 1
GB 4937,2.2. 2
同 B5分组
GB 4937,2. 4
GB 4937.2.3
GB 4937.2.5
同 B5 分组
GB 4937.3.5
SJ/Z 9016, 1.4
商88分组
GB4938和本规范
谢录 B2 或 B3
同B8分组
除非另有规定
[在规定的直流偏置电
流,脉冲宽度和占空因数
5.5条规定的 I下
5. 5 条规定的 I下
[在详细规范中具体规楚
方法1A
同R5分组
[在详细规范中其体规定】
同 B5 分组
严格度：4d
严酷度：55℃
循环数：G
同38分组
工作寿命
时间：1000h
显示器全亮
同B8分组
最小值
检验要求
最大值
无损坏
同 B5 分组
同B5分组
同B8分组
向 BB 分组
检验或试验
C9 分组
高温贮存
最后测试
同 B8 分组
C11分组
标志的耐久性
CRRL分组
9 D组—鉴定批准试验
GB/T 15529--1995
引用标准
GB 4937,3.2
同B8分组
本规范附录 C
除非另有规定
Tmb=25 ℃
温度：最高T.
时间：1000h
同B8分组
最小值
检验要求
最大值
外观颜色无明显变化
外形无明显形变
同B8分组
标志应保持清晰
提供C3,C4,C6,C7.B9 的计数数据，提供 BB 分组前后的计量数据[当要求时，本试验应在详细规范中规定（只供鉴定批准用)。］10附加资料(不做检验用）
[只要器件规范和使用需要，就应给出附加资料。例如：有关极限值的温度降额曲线：
测试电路或补充的完整说明：
详细的外形图和电原理图及引出端识别。」单位
GB/T15529--1995
附录A
半导体发光数码管发光强度(I,)和发光强度均匀度（M)的测试方法（补充件）
AT发光强度(I,)测试方法
A1.1国的
在规定工作条件下，测试数码管发光段法线方向辐射出的发光强度。A1.2测试原理图
测试原理图如图Al。
光强测试仪
图A1谢试理图
)：数码管发光段平面与光强测试仪接收面的距离；L一数码管发光段长度A1.3测试步骤
将被测数码管与发光强度测试仪置于暗箱内，并使1L/D≤1/10；a
调节数码管位置，使被测发光段中心与光强测试仪接收面中心置于同一轴线上h
接通测试电源，施加规定的工作条件使被测发光段发光，并记录光强测试仪读数；d.
重复上述步骤，逐次测试数码管各段发光强度。A2发光强度均匀度(M)的测试方法A2.1目的　
在规定条件下，测试半导体发光数码管各发光段中发光强度最大的发光段光强值Im与发光强度最小的发光段光强值1v之比。
A2.2测试原理图
测试原理图同图A1。
A2.3测试步骤
按图A1和A1.3条逐次测试数码管各段发光强度，找山发光强度最大的发光段光强值Imx和发光强度晟小的发光段光强值Ivmia，并按下面公式计算数码管发光强度均匀度（M)。M = I mez/Iumin
式中：Imx-发光强度最大的发光段的光强值Imin-一发光强度最小的发光段的光强值。-(A1)
B1总则
GB/T15529—1995
附录B
电耐久性试验方法
(补充件)
电耐久性试验采用GB4938标准中的有关规定：并对工作寿命试验条件作如下规定。B2直流电耐久性试验方法
直流电耐久性试验方法的电原理图见图B1。恢沉器件
图B1直流电耐久性试验方法的电原理图试验条件：电流按本规范第 4. 4 条的规定,温度按 GB 4938 第 2. 2. 1. 3 条的规定。B3动态电耐久性试验方法
动态电耐久性试验的电原理图见图B2。被试器件
图B2动态电耐久性试验的电原理图试验条件：电流按本规范第4.5条的规定，温度按GB4938第2.2.1.3条的规定。C目的
GB/T15529-1995
附录C
标志耐久性的试验方法
（补充件）
本试验的目的是要检验器件标志的耐久性2方法
应用浸湿无水乙醇溶液的棉布或棉球把器件标志擦三次，采用与初始检查相同的条件下，标志应保持清晰。bZxz.net
附加说明：
本标准由中华人民共和国电子工业部提出。本标由电子工业部电子标准化研究所归口本标准由苏州半导体总厂负责起草。本标推主要起草人周慈平、陈锡萍。
小提示：此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容，若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。