本标准适用于电子设备用膜固定电阻网络。本规范规定了膜固定电阻网络鉴定批准和能力批准用的分规范和详细规范中使用的标准术语、检验程序和试验方法。 GB/T 15654-1995 电子设备用膜固定电阻网络 第1部分:总规范 GB/T15654-1995 标准下载解压密码：www.bzxz.net

中华人民共和国国家标准
电子设备用膜固定电阻网络
第1部分：总规范
Fixed filri reststor networks fer use in electranic equipmentPart 1:Generic specificationGB/T 156541995
IEC 1045-1—1991
QC 390000
本标准等同采用国际标准1EC1045-1(1991)《电子设备用膜固定电阻网络第1部分：总规范》。1范围
本标谁适用于电子设备用膜固定电阻网络，本规范规定了膜固定电阻网络鉴定批准和能力批谁用的分规范和详细规范中使用的标准术语，检验程序和试验方法。
膜固定电阻网络可按照结构和制造工艺分类.如表1所示：表1
外贴元件
电路封装
2总则
2.1有关文件
TF:27-1(1971）电工技术用文学符号第1部分t总则IEC50国际电T技术词汇(IEV)
IE；62（1974）电阻器和电容器标志代码IEC G3(1963) H
电阻器和电容器优先数系
第1号修改单(1967)
第2号修政单（1977)
TEC68基本环境试验规程
JEC68-1(1988）第1部分：总则和导则试验A.寒冷
1EC 68-2-1(1974)
第1号修改单（1983）
HI:C 68-2-1A(1976）第1次补充IFC 68-2-2(19?4)
试验B：1热
EC 68-2-2A(1976)
第1次补充
国家技术监督局1995-07-24批准1）厚膜
2)海膜
1）各种电阻元件
1) 有封装
1996-04-01实施
CB/T15654—-1995
1EC: 68 2 3(1969)
试验Ca：稳态湿热
第1号修改单（1984)
1EC68-2-6（1982）试验Fc：振动（正弦的）第2号修改单（1985）
IEC 68-2-13(1966)
IEC 68-2-14(1974)
IEC 68-2-20(1979)
IFC 68- 2 2)(1983)
IEC:68-2-27(1987)
1EC 68-2-30(1969)
JEC 682-45(1980)
试验M：低气压
试验N.温度变化
试验T：锡焊
试验U:引出端和整体安装件的强度试验Ea和导则：冲击
试验Db：循环湿热（12十12小时循环）试验XA和导则：在清洗溶剂中漫溃JEC/102导则（1989）
电子元器件质量评定用规范结构（鉴定批准和能力批准）IEC191-2(1966)
IEC195(1965)
IEC:294(19G9)
固定电阻器电流噪声测量方法
有两个轴向引出端的圆柱体元件尺寸的测量计数检套抽样方案和程序
IEC 410(1973)
JEC 440(1973)
电阻器非线性测量方法
IEC 617图形符凸
1EC717(1981）单向引出端的电容器和电阻器所需空间的测定为法IEC748-20（1988）膜集成电路和膜混合集成电路总规范IFECQ/QC001001（198G）EC电子元器件质量评定体系（IFCQ）基本章程TECQ/QC:001002（1986）IEC电子元器件质量评定体系（IECQ）程序规则ISO3（1973）优先数一优先数系ISO497（1973）优光数系及其化整值选择指南IS0）1000（1981）国际单位及其倍数和某些其他单位用法的建议注：上述文件除IEC:68必须采用指定的版本外，其余均采用现行版本。2.2单位、符号和术语
2.2.1概述
单位、图形符号、文学符号和术语应尽可能从下列标准中选取：ISO1000
IEC 617
需要更多的项目时，应按上述文件的原则导出。2.2.2 型号 type
具有似的设计特征和相似的制造工艺.在鉴定批准或质量一效性检验中能把它们组合到一起的一组元件。
这些元件通常用一个单独的详细规范覆盖，注：在某些情况下，几个详细规范所规定的元件可以认为是属于同一型号的，因此可以把它们组合在起，以便进行鉴定批雅和质一致性梭验，
2.2.3品种stylc
通常根据尺寸因素对某一型号元件的再划分，一个品种叮以包括几个派生品种，通常是机械方面的。2.2.4 等级 grade
CB/T15654--1995
表示预定用途(例如：长寿命用)的附加一般特性的术语。*等级这个术语只能与··个或多个词组合起来使用(如长寿命等级)而不能用单个字母或数字表示
加在“等级“这个术语后面的数学应为阿拉伯数字。2.2.5门类(电子元件的）family(of electronic compunents）集甲丧现某-特定的物理特性和(或)完成某-规定功能的一组电子元件。2.2.6分门类(电乎元件的）sul-family(of elertrenic components)作一个门类内用样似的工艺方法制造的一组电子元件。2.2.7固定电阻网络fixed resistor network由若干电阻元件在物理上不可分地组合成的一种网络，从规范,试验、贸易和维修的观点而言，应把它着作是不可分割的
2.2.8混合膜网络filmhybrid networkH中至少安装上了一个有封装或无封装元件的--种膜网络。2.2.9无源混合膜网络Passive film hybrid network其中全部元件都是无源的·-混个膜网络。2.2. 10基片substrite
对膜电路元件和(或）外贴元件起支承基座作用的…-种片状材料。2.2.11多层膜网络multilayerfilmnctwork山一层以上的膜与连，并且至少被-层绝缘膜或间隙分隔并的…种网络。2.2.12 无源元件 passive elernenl士要是指起电阻，电容，电感作用或将它们组合起来完成某种电路功能的一种元件。注：例如自阻器，电容.滤波器、连导电带。2.2. 13薄膜网络thin-film rnet.work其膜层完全是用真空淀积技术，惑用真空凝积技术制膜后再用其他凝积技术增厚而制成的一种膜网络。
2.2. 14厚膜网络thick film nctwork其膜层通常是用丝网印刷技术制成的种膜网络。2.2.15标称阻值rated resistancc网络内各电阻元件设计确定的电阻值。2.2. 16临界阻值critical resistace额定也压等十元件极限电压时的阻值（见2.2.24和2.2.35)。在70℃环境温度下，允许加在电阻器两引出端上的最大电压，若阻值小于临界阻值时，是计算出的额定电压；若阻值大丁或等于临界阻值时，则是元件极限电压。在温度不是7U℃时，应考虑降功耗曲线和元件极限压来计算施加的电压。2.2. 17类别温度范围 category temperaturt range电阻网络设计所确定的能连续工作的环境温度范固该范围取快于它的相应类别的温度极限值。2.2.18上限类别温度upper category temperature电阻网络设计所确定的、在以其类别功耗形式标出的那一部分额定功耗下能连续工作的最高环境温度。
下限类别温度lowcrcategorytemperaiture2. 2. 19
阻网络设计所确定的能连续工作的最低环境温度，2.2.20表面最高温度
maxitnum surlace lemperatureGB/T15654-1995
在70C环境温度和网络额定功耗下连续工作时，该型号巾任何一种电阻网络的表面上所允许的最高温度。
2.2.21电阻元件额定功耗
ruted resistor clement dissipation在70℃环境温度下阻元件连续工作时能够耗散的最大允许功耗。2.2.22网络额定功耗ratednetworkdissipatinn在70℃环境温度下电阻网络连续工作时能够耗散的蚊大允许功耗。2.2.23类别功耗categarydissipation考虑到详细规范中规定的降功耗世线，由详细规范明确规定的可在上限类别温度下施加的那一部分网络额定功耗
注：类别功耗可以为零。
2.2-24额定电压ratd voltage(Ur）用标称阻值与元件额定功耗乘积的平方根计算出的各电阻元件的直流或交流有效值电压。注：由于电阻器的尺寸和结构上的原因，在高阻值时不允许施加定电压（2.2.35)。2.2.25绝缘电压isolationvoltae（仅适用于绝缘型电阻网络）在连续工作的条件下，在电阻网络的各引出端与任何导电安装表面之间可以施加的最大峰值电压。2.2.26绝缘型电阻网络insulated rcsistor nelwtrk满足耐电压和绝缘电阻试验要求的、而目在进行稳态湿热试验时安装在金属板工并施加极化电压的一种电阻网络。
2-2-27绝缘电阻insulatian resistance作考虑中。
2.2.28阻值随温度变化varialionof resistanccwithtemperature阻值随温度变化可接以下定义表示为温度特性或温度系数。2.2.28.1电阻温度特性temperature characteristic:f Tesistancc在类别温度内的规定温度范围内产生的阻值最大可逆变化。通常用相对于参考温度为20℃时的阻值百分比表示。
电阻温度特性=
式中AR—-两个规定的环境温度之间的阻值变化；R—·参考温度下的阻值。
2.2.28.2电温度系数tempcraturecoefie-ientofresistancc(a）两个现定温度之间的阻值和对变化除以产牛这个变化的温度之差（平均系数）。优先用每摄氏度百方分之-（10-6/C)为单位表示。R—R
α= R,. A
式4：——规定的环境流度和参考温度之间的代数差，℃（计算见1.10.1)。注：应该说明采用该术语准不意味着这个函数的线性度，也不能作任何这样假设。2.2.29差分电阻温度特性differenitial resistance temperaturecharacteristic在给定温度范围内的某个给定温度下，同一个电阻网络中的任何两个规定电阻器之间的电阻温度特性之差。
计算示例：
AR%）
AR-100
A(R.T.C) -
式中：A（R.T.（)一两个规定心阻器之间的差分电阻温度特性，用%表示。R,和R.——两电阻器中每个电阻器在参考环境温度（一般为26℃）下的阻值。GB/T 15654-1995
么R，和一给定的环境温度与参考环境温度之间的阻值变化。这个给定的环境温度应在类别溫度范围之内。
2.2.30差分温度系数differential tcmperiture effieient在给定温度范围内的某个给定环境温度下，同一个电阻网络上任何两个规定电阻器之问的温度系数之差。
计算示例：
10Fi AR. _ AR
中：()
两个规定电阻器之间的差分也阻温度系数，用10*/心表示，R，和R：——两个电阻器中每个电阻器在参考环境温度（一般为20C)下的研值AR,和△R—一给定的环境温度与参考环境温度之间的阻值变化。这个给定的环境温度应准规定的类别温度范围内。
“参考环境温度与给定环境温度的代数差，用℃表示。4A
2.2.31分阻值变化differential resistaunce chanuge在--项试验结束时，同·网络中的作何两个规定电阻器之间的阻值变化之差。注：通常用%表示。
2.2.32可见损伤visible damage就电阻网络的预期用途而言，降低了其使用性的明显损伤。2.2.33阻值比resistanccratio
同-网络中的任何两舰定电阳阻器的电阻值之比，如果适用，这个比值的标称值及其允许偏差由详细规范给定：2.2.34功能特性functional c:haracieristics网络设计所确定的功能，必要时，详细规范中应对这些功能给出定义，并应规定测量方法，性能费求以及试验之前、试验期间、试验之后应测量哪些功能。2-2.35元件极限电压linitingclcmentvoltage可连续地施加在网络中每个电阻器引出端上的最大直流电压或交流存效值电压（元件极限电压通常取决于电限网络的尺寸和制造工艺)。本标准在使用“交流有效值电压\这个术语时，峰值电压不应超过其有效值电压的1.42倍。注，当阻值等于或高了临界阻值时只能对电阻器施痴这个电压。2-2.36汽相淀积技术vapour-phasc deposition technique(IEC748-20(1).2.4.25）用物理淀积或化学反应方法将汽相的原材料以汽相在固体基片上淀积导电膜、绝缘膜或半导体膜的技术。
sereen printing technique
2.2.37丝网印刷技术
用丝网和挤乐浆料的方法在基片上淀积膜层的技术。2.2.38电镀膜 platcd film(IFC748-20(1),2.4.27)用化学和/或电化学方法淀积制得的膜层。2.2.39号山端（引山线）termination（tcrminal)(IEC748-20(1),2.4.28）为网络提供外部电气通路的导体(如插脚、焊片、焊区等)。2.2.40封装Pac:kige
网络的全部或部分外壳，它提供：--机械保护：
环境保护；
外形尺寸。
GB/T15654-1995
封装还可以包括或提供引出端，这可能影响到网络的热特作，2.2.41包封cncapsutalion(IEC748-20(1),2.4.30)包封足在网络或元件周用如上保护介质，以预防机械和物理化学应力的通用工艺。2.2.42保护涂层protective couting(IEC748-20(1).2.4.31)滁丁电路元件上的一层绝缘材料，其目的是机械保护和防止污染。2.2.43灌封utmbedding(1HC74820(1),2.4.32)采用能周化的树脂对电子组件的主体进行埋置前形成一体的一种工艺。例如：铸塑：
浇灌：
没涂；
连续模正.
2.2.44 工艺试样 procesx text vehicle是一种样品，不一定是个电路.但至少能代表拟鉴定电路生产线上的道工序，并可对其进行各种试验，以验证一个或儿个工艺过程的控制是否有效。2.2.45能力鉴定电路（CQC）capabilityyualifyingcireuit(CQC)能力鉴电路是用来部分或全面评价申报能力的种试样，它可以是·种专门设计的试样，或是种标准电路产品，或是这两若的组合。2.2.46半成品元件part-compleedtomponent卡成品亢件是从生产线上取到的种末完工的元件。它不能按照适用于它止式完工阶段的规范进行全而评价，
2.2.47外贴元件addedcomponient在机械和电气」连接在基片上的元件。2.2.48筛选#crccning
对一批中的全部产品都要进行的检验或试验。2.2.49评定水assessment lcvel反映采购方得到的元件符合规范的保证程度，它表示逐批和周期检验之间以及捆样方案中检查水的严酷度与合格质量水（AQL)之间的乎衡（见IEC102导则）。2.3优先值
2.3.1概送
每个分规范应规定适用于该分门类产品的优先值，对丁标称阻值还应见2.3.2条。2.3.2标称阻值的优先值
标称阻值的优先值应从1EC63规定的数系中选收。2.3.3优先尺寸
尺十应优先从IEC191-2中选取。2.4标总
2.4.1概述
2-4.1.1标志中给出的内容从下述项日单中选取，每项的相对重要性以其准项日单中的位置来表示：能够按详细规范识别每个元件的网络识别标志；a.
按详细规范给定的引出端识别标志：制造日期：
详细规范编号及品种号，
制造厂的名称或商标：
合格标志和评定水（适用时）。GB/T15654—1995
2. 4. 1. 2网络上应清楚地标出上述的a和 b 项,并尽可能多地标出其余的各项网络上的标点内容应避免事复，
2. 4. 1. 3网络的包装件上应清楚地标出,上述a,,d、e利f 项的内容。2.4.1. 4增加们何标志时应不致引起混淆。2.4.2代码
当阻值、阻值允许偏差或制造日期采用代码时，其方法应从[E62中选取。3质量评定程序
3.1鉴定批准/质丧评定体系
3.1.1当这些文件用于全面的质量评定体系一-例如IEC电子元器件质域评定体系（1ECQ)讨鉴定批难和质丧一致性检脸应遵守3.4和3.5条的程序。3.1.2当这些文件在IECQ这种质量评定体系之外作为设计验证或型式试验之用时，可以使用3.%a的程序和要求，但试验项日和部分试验项日应按试验一览表给定的顾序进行。3.2初始制阶段
初始制造阶段足在基片表而上制造第一层膜。3.3非1ECQ成员国内被批准的制造厂商的工厂制造阶段和分包3.3.1非[ECQ成员国内被批准的制造厂商的工厂制造阶段a在非IEC成员国内被批准的制造」商的工厂中生产的网络，只有布满足了IECQ/QCC01002第10.3条的系件时才能在本体系内放行b．分规范应指山（只考虑技术原因）制造厂商批准的扩展原则是否不适用于给定的分门类或网络型号。
3.3.2制造过程的分包
在被批雅的制造厂商之外的工厂局部制造的固定电附网络，只有在满是了IECQ/QC001002第10.3条利第11章的条件时才能在本体系内放行。分包的加丁过程可以是下：
膜的制造；
或元件的调整；
或元件的装配：
或包：
这叫项指定的工过程的分包不得多于一项；当分包初始制造阶段时，则只允许这项，膜层布线的设计业务不得分包。分包加工过程时.采用下述条件：a成使国家监督检查机构(NSI)确信，按IECQ休系规定，已向电附网络制造厂游的总检查员（该检查员足证明电路质量的)提供门充分的质量保证和IFCQ以外生产设施的检验文件，并山他对分包者的检验程序负责。提供的文作应包括检验过的产品每个样本的检验记录，1.应向总检含员提供生产线工艺流程图、确定的检查点、每个阶段的检验要求和质量控制要求，以及零件从制造地点到（证明元件质量的）被批准的制造厂商之间运输程序。NSI应得到通知并能利用这些文件，以便能核实这些要求的实施情况C.检查要求和制造程序的征何改变，都应向经IFI'Q认可的制造」商的总检查员（该检查员是证明元件质量的)报哲。这些改变应在随同运输零件的文件上写明。再要的改变应通过经认可的制造厂商的总检查员向NSI报告。
d.经IECQ认可的制造厂商的总检食员应使NSI确信成品的质保证并末闪此而降低，3.4制造厂商的批准
GB/T15654—1995
为了获得制造批准，制造厂商应满足1ECQ/QC001002的要求，并应按第1章表1说明谋求批准的技术种类。
3.5批准程序
为了鉴定电路，不论是用户定制的，或者是标准的/产品日录上的电路，均可采用下列两种程序小的任种程序，这些程序』IECQ/QC001002第2章的规定相致。为了凝盖电了市场各个方而的不同要求.按照分规范所述规定了I),F,F和G四个评定水平以供批谁之用、
详细规范可以引入-些附加试验项和/或严于有关分规范的检查方案，但引入的内容不能降低总规范和分规范以及空白详细规范的要求。详细规范和合格证书应指出来用的是鉴定批准程序还是能力批准程序，以及采用了哪一个评定水平。
a.鉴定批推
按照3.6条以及有关分规范和空白详细规范中规定的相应评定水平和严酷度对网络进行鉴定的试验程序和许划，
h.能方批摊
按照3,7条和有关分舰范的规定，将网络和能力鉴定电路合在一起进行试验，并在证实设计舰则、丁艺和质量控制程序有效的基础上对制造厂给以批准。注：对丁能力批准，除「进行产品的试验之外，制造厂商还应在能力手册中规定他的设计程序、材料、工艺过程，并接受NS1对了这些的监挖。对所有放行的产品进行逐批试验，并对能力鉴定电路（CQC)进行周期试验，以及适用时，还要对工艺试样进行试验，通过这些试验的综合来快行控制以证实其能力在常规基础上是否有效。对于以通用设计原则为基础的结构类似的膜电阻网络，采用一组通用的工艺进行少地或大垦的生产时,即使它们的电气功能可能不同，能力批准通带仍是很方便的。在用户定制网络的情况下，用户和制造厂商要对详细规范进行协商。3.6鉴定批准程序wwW.bzxz.Net
3.6.1鉴定批准的授予
为了获得鉴定批涯，制造广商应遵守：-1FCQ/QC(001002第11.3条规定的关于鉴定批准的程序规则的--般要求。木规范3.2条规定的初始制造阶段的要求。3.6.2除了3+6.1条的要求之外，还应采用下述的程序a或程序b：组．制造厂商应在尽可能短的时间内进行三个批次的逐批检验和个批次的厨期检验，以证明符合规范的要求。在组成检验批的周期内，制造工艺应无重大改变。样品应从符合IEC:410见附录A》规定的批中抽取，样本中应包括该批最高值和最低阻值以及临界阻值（当临界阻值处于最高和最低迅值中间时)的代表样品。这样选取的最高阻值和最低阻值，就确定了授予鉴定批准的阻值范围。应采用止常检查·但当样本大小是按零个不合格品予以接受时，应增如样品数以满足按个不合格品予以接收所需的样本大小。
b。制造厂商应按分规范规定的固定样本大小试验·览表进行试验，以证明符合规范的要求。这些样品应从现行生产的产品中随机抽取，或按与国家临督检查机构的协议抽取。3.6.3鉴定批准的维持
作为质量评定体系组成部分所获得的鉴定批推应该通过符合质量一致性要求的常规试验米维持（见3.8条）。钙则，该鉴定批准必须用IEC电子元器件质量评定体系程序规则（IECQ/QC001002第11.5.2条和第11.5.3条）规定的鉴定批准维持规则来检验。3.6.4结构类似元件
GB/T15654-1995
用同样的丁艺和材料制造的比阻网结，即使尺寸和阻值可能不同，可以认为是结树类似的阻网络。对于紧定批准和质量一致性检验用的结构类似元件的划分应在分规池中规是。3.6.5材料.零件和元作
也可以使用未经IECQ体系批准的材料，零件和无件，但要制逆厂商的总检查员确信它们是符合有关规范，而且不效于使用了它们而使成品电路的质量下降。这可用下述方法实现：。规定合适的购货文件：以及
b．采用合适的销惜方评价，控制程序和验收试验等。NSI应能得到制造厂商总检查员验收这类物品所依据资料。3.6.6制造批准的改变
见1ECQ/QC001002第11.4条。
出这种致变不彩批准的元件质量时不要求正式的批难试：但是总检查员根据自已的判渐可要求提供支持数据或试验以证实这科判断，3.6.7周期试验不合格时的程序
应采用1ECQ/QC001002第12.6条的相应要求。3.7能力批推程序
3.7.1能力
3.7.1.1概述
任何指定电阻网络技术的能力包括：a，完整的设计、材料的准备和制造过程，包括控制程序和试验；b工艺T.程和产品要求的性能极限，即对CQC和任何其他有关工艺试样规定的性能极限；c.授予批准的机械结构范围；
使用的外贴元件的范围。
能力可以随时扩展或缩减，以适合制造厂离预报的需要。所有有关的收变均应通知NSI.3.7.5条将进一步详细说明。
制造商应按3.7.7条编制能力手册。3.7.1.2能小极限
制造」商按照他采用的设计、膜式元作和成品在能力手册中标出各种保证的性能极限。这些性能极限应按3.7.2条和能力手册的最新版本定期进行评定。3.7.1.3外贴元件
所有外贴元件均应按照制造！商能力手册给定的程序进行采购，捡杏和试验。应使制造厂商总检查员确信，外贴死件符合有关元件规范，并且不致由于使用「这类外贴元件而使成品电路的质量下降。NSI应能得到总检验员验收这些外贴元件所依据的资料。3-7.1.3. 1鉴定合格的元件
可以使用TECQ体系内鉴定合格的元件面无需再进行专门试验。3.7.1.3-2未经签定的元件
未经鉴定的元件，有在将其做为能力鉴定电璐的组成部分，按照分规范初始能力批准的试验览表进行试验、而且其后进行的逐批和周期试验符合有关元件规范的要求时才允许使用，结构类似规则按照与IEL元件舰范相关的分规范的规定。3. 7. 2能力批准的授予
为了获得能力批准，制造厂商应：a.采用IECQ/QC001002第11-7条涉放本程序的规则h．按本规范第3.7.7条并参照有关分规范的附录B,编制能力手册提交绘NS1验收：使NS1确信，根据分规范所述的结构类似规则选择的能力鉴定电路（CQC)对要放行的电路具C
GB/T15654—1995
有代表性，并能充分评定能力于册中要求的所有能力边界、材料和元件的范围（包括所用的货源)以及产品的范圈：
d．向NSI说明初始能力批准的试验览表和有关试验的严酷度；e．按照初始能力批准试验和制造厂商的有关CQC规范以及有关工艺试样规范执行试验计划；f.向NSI提交试验结果以求批准；准备一份能力批准报告，其内容包括：1）能力手册的版本号和日期：
2）接照如上c和详述的能力批准计划：3）执行该计划期间所获得的试验结果：4）能力说明的摘要；
5）能力的维持计划。
3.7.3能力批准的维持
3.7.3.1能力批准证按有关详细规范通过质世一致性检验的递批和周期试验来维持3.7.3.2制造厂商应使NSTI确信：a.CQCs的选择对行的产品仍具有代表性，并符合分规范所述的结构类似规则；b.能力维持计划继续满足周期试验相应组的要求，而且适用时还包括工艺试样的要求：对每个试验序列，按照结构类似规则选择的作为放行产品代表的CQ门应按该试验序列规定的数甘分别灿取：
c在初始批准后十二个月之内，而H此后每两年一次，按照周期试验的规定其能极限成功通过了重新评定。
注：在初始批准之后，批准的极限的扩展需要按照各白的批准日期重新评定。3.7.3.3制造」商应按下述规定维持连续生产，a.能力手册中规定的.工艺过程（包括初始能力批准以来NSI同意的补充/删除）和分包的工序保特不变；
b．制道场所(包括分包加亡的场所)和最后试验地点没有改变；c．制造厂申报的能力维持计划没有超过六个月的中断。3.7.4结构类似性
为厂进行初始能力批准和质量一致性检验，结构类似电路（包括CQC和工艺试样）的划分应该在有关分规范中规定。
3.7.5批准能力的改变
见IECQ/Q(001002第11.7-3.4条并采用下述细则：当这种改变不影响初始能力批推时，不要求正式的批准试验，但是总检查员根据自己的判断门要求提供支持数据或试验以证实其判断。3-7.5.1能力的缩减
当制造厂商需要缩减H批准的能力范固耐，应使NST确信.修改过的能力手册、CQC和工艺试样的选择能正确地确定和评定缩减后的能力。3.7.6周期试验不合格时的程序
应来用1ECQ/QC001002第12.6条的相应要求，当采用IECQ/QC001002第11.7.3.6条的要求时.其缺陷应在六个月之内得到纠正。如果这些要求不能够得到满足，则能力批准应相应缩减3.7.7能力手册
能力于册的内容应符合有关分规范的要求（见IEC10452.附录B)。能力手册应直接或通过引用内部制造文件给出所需要的资料。NS1应把制造」商的能力予册当做机密文件来对待，如果制遗厂商愿意，可将其部分或全部透游给第三方．
3.8量-致性检验
GB/T15654—1995
与分规范相关的空详细规范应规定质量一敏性检验的试验一览表，这种一览表还应规定逐批和周期检验组别的划分、抽样和周期。检查水平(IL)以及台格质域水平(AQL)应从IEC410中选取。如果需要，还可以规定个以「的“-览表，3.8.1放行批证明记录
见IECQ/QC001002第12.3条并采用下述细则：有关规范规定有放行批证明记录而且用户要求时，至少应给出下列内容：一用期检验中各分组试验的计数数据（即受试网络数利不合格网络数）而不涉及造成拒收的参数。
1 000 h耐久性试验后阻值变化的变基数据。3.8.1.1让数数据
当有关详细规范要求记录计数数据时，应来用下列程序：n：当某分组出单项试验组成时，应把拒收的电阻网络总数与出现不合格品的这个试验项日--起录下来，但不涉及造成拒收的参数。h．当某-分组用若干项试验组成时，有关详细规范应说明是按照每项试验记录试验结果还是将若干项试验作为组来记录试验结果。对本规范而、气候顺序应做为·个单项试验来看待，3. 8. 1. 2测量数据
有关详细规范应说明那些试验项目在放行批证明记录叶是用测数据来报告的，还应说明名下结果是否可以汇集起来，例如对额定功耗、标称阻值范围等。至少，企部比气耐久性试验的结果应该用测量数据来表示。注：改行批记求的内案应遵守TFC电广元器件质量评定体系程序规则(IECQ/QC.001002第14.3策）规定的要求。3.8.2延期发货
保存周期超过两年(除非分规范中另有规定)的固定电阻网络，这种批在发货之前，应按详细规范A组和1组检验的规定重新检验可焊性和阻值之后放行。山制遣！商的总检查员所采取的軍新检验程序应山国家监督检查机构认可，口某一批满意地通过了重新检验，H质量就再次保证一个规定的周期，3.8.3B组检验完成之前的发货的放行对于B组所有的试验，当IEC410转为放宽检查的条件得到满足时，允许制！商在这此试验究成之前放行元件。
3.9替代的试验方法
有关规范中规定的试验和测其方法不一定是可以采用的唯一方法.供是，制造」商应使国家慌聲检查机构确信它可能采用的任何替代方法所得到的结果能与用规定方法所获得的结果柑等效。在有孕议的情沉下，只能使用规定的方法进行判定和仲裁。3.10不检验的参数
只有在详细规范中亡有规定并且必须进行过试验的元件参数，才能认为处在规定的機限之内。不应认为没有规的参数对于每个元件都是一样的，闪此，些由桌神埋由有必要还要控制：·个或多个参数时，应该采用一个新的更如广泛的规范增加的试验力法应该充分地加以说明·并应规定相应的被限值AQI.值和检查水平，
4试验和测量程序
GB/T15654—1995
分规范和（或）空白详细规范应列表说明需要进行的各种试验，每项试验或每个试验分组前后需要进行哪些测基以及试验和测量的顺序。每项试验的各个阶段应按规定顺序进行。初始测抵和最后测量的测量条件应相同。
如果在质量评定体系内的国家规范中包括的方法与上述文件规定的方法不同时，则应充分地加以说明。
在2.1中给出了本章采用的IEC68各项试验的版本和修订情况。4.2标滞大气条件
4.2.1试验的标准大气条件
除非另有规定，所有试验和测虽都应在IEC68-1第5.3条规定的试验的标准人气条件下进行：温度：15~35℃，
相对湿度145%~75%！
气压：86~106kPa(860~1060mbar)。进行测量之前，电阻网络应在洲量温度下放置足够长的时间，以使整个电阻网络达到该温康。按照试验后的恢复时间规定这个时问通常就足以达到这个目的。当不在规定的温度下进行测量时，必要时，应按规定的温度校止测量结果。测量期间的环境温度应在试验报告中说明。在有争议的情况下，应采用仲裁湿度之（接4.2.3条规定)重复测域，而其他条件应按本热范规定。
当按某一序列进行试验时，一个试验的最后测量可以作为下一个试验的初始测量。注：在测量期间，电阻网络不应受到气流，日光直射或可能产生误茎的其他影响。4.2.2恢复条件
除非另有规定，恢复应在试验的标准大气条件（4.2.1条）下进行。如果恢复需在严格控制的条件下进行，应采用1E68-1第5.4.1条的控制恢复条件。4.2.3仲裁条件
供作件裁用的仲裁试验的标准大气条件应从IEC68-1第5-2条规定的如下条件中选定-种：相对温度
23+1℃
25±1℃
27±1C
4.2.4基准条件
63%~67%
48%～52%
48%～52%
63%~67%
86~106 kPa(860~-1 060 mbar)
86~106kPa(8601060mbar)
86~~106kPa(860~1060mbar)
86-106kPa(8601060mhar)
供作基准用的标准大气茶件采用IEC68-1第5.1条规定的基准标准大气条件。温度：20℃；
气压，101.3kPa(1013mbar)。
4.3下燥
当规定了下燥时，任测量之前，电阻网络应按详细规范的规定采用程序I或程序1进行处理。程序1：在温度为55土2℃和相对温度不超过20%的烘箱中放置24+4b。程序，在100土5℃的烘箱中放置96十4h。然后，应将电阻网络从箱中取出，将其放在具有适当干燥剂（如活性氧化铝或硅胶）的干燥器中冷却作保持到既定的试验开始。
4.4外观和尺寸检查
4.4.1外观和标志检查
除非另有规定，外观检查（见2.2.32条)应在正常的工厂照明和观察条件下进行。检查应包括下列项目：
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