本标准规定了用活性炭累积吸附，γ能谱分析测定建筑物表面氡析出率的方法。本标准适用于建筑物平整表面的氡析出率的测定。 GB/T 16143-1995 建筑物表面氡析出率的活性炭测量方法 GB/T16143-1995 标准下载解压密码：www.bzxz.net

中华人民共和国国家标准
建筑物表面氢析出率的活性炭测量方法Charcoel canister method for measuring2Rn exhal atlnn rate From building surface1主题内容与适用范围
GB/T16143-1995
本标准规定了用活性炭累积吸附，能谱分析测定建筑物表面氧析出率的方达。本适用丁建筑物（含建筑构件)平整表面的氢析出率的测定.各种土壤、岩石表面的氯析出率的测定可参照使用。
2术语
2.1建筑物表面building surfad本标准中建筑物表面是指建筑物的天花板、楼面、地面、内墙和外墙等平整表面。2.2氯及子体radonanditsdaughters本标谁中氧仅指\+Rn，氢子体是指“Rn的短寿命衰变产赖\\Pu,\Pb，\Bi和2*Po。2.3面积氢析出率area adon exhalation 上ale在单位时间内自单位建筑物表面析出并进入空气的氢活度，其单位用Ba-m-·-1表示。3仪器和设备
3.1活性炭盒
3.1.1容器
活性炭盒系采用低放射性材料(如聚乙烯，有机玻璃，不锈等)制成的内装活性炭的圆柱形容器，其底部直径应等于或稍小于丫探测器的直径，高度以直径的三分之一到三分之一为宜，3.1.2活性效免费标准下载网bzxz
选用微孔结构发达，比表面积大、粒径为18～28月的优质挪壳颗粒状活性炭。3.1.3网罩
选用具有良好透气性的材料，例如，尼龙纱网，金屏筛网或纱布，罩于活性炭盒开口表面，网罩栅孔密度应与活性炭粒径相匹配。
3.1.4真空封泥
用于封活性炭盒和待测介质表面之间的缝隙，固定它们之间的相对位。3. 2 能谱仪
3.2.1探测器
a闪炼探测器Nal(TI)由不小于.5cm×7.5em的调柱形Nal(TI>晶体和低噪声光电倍增管组成。探测器对urCs的661.6keV7射线的分辨率应优于9%，b.半导达探测薪Ge(Li)或高纯储(HPGe）其灵敏体积大于50tn\对\Co的1332.5keV的特征Y射线的分辨率应优于2.2keV.国家技术监督局1995-12-15批准1996-07-01实施
3.2.2屏鼓室
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应选用放射性核索含盘低且无衰面污染的屏敲材料.操测器应置于壁厚不小于10cm铅当量的屏蔽室中央，屏蔽室内壁距探测器表面的最小距离应大-13c11，铅空的内衬应由原子序数逐渐递减的多层屏获材料组成,从外问里可依次由1. 6mm的,0. 4 mm的锯及2~3mm享的有机玻璃材料等组或。屏蔽室应有便于取放样品的门。3.2.3高电源
应有保证探测器稳定工作的高压电源，其纹波电压不大于=0.01%，对半寻体操测器高压应作0~5 kV范围为连续可调。
3.2.4谱放大器
应有与前暨放大器及脉冲高度分析器匹配的具有波形谢节的放大器。3. 2. 5 脉冲高度分析器
Nal(T1)7谱仪的道效应不少于256道。对于高分辨半导休谱仪其适数立不小于4096道。3. 2. 6数据打印机
3.2.7数据处理装置
?谱仪可以与专用或用微机联接，进行计算机在线能谱数据处理，亦可以用计算器人工处理。4析出氯的收集和测量
4.1活性炭盒的制备
4. 1. 1将活性炭置于烘箱内.在120℃下烘烤7~-8h,以去除活性炭中残存的象气4.1.2将烘烤过的活性炭装满活性凝盒容器-称重，各炭盒间重虽差应小于0.5%然后加网罩、加盖。密封符用。
4.1.3留1～2个新制备的，安有暴露于氧和子体的活性炭盒<简称新鲜\炭盒）实验室中，作为本底计数测量用。
4.2桁出氧的收集
4.2.1去除实际微测建筑物表面的灰尘和砂粒，打开活性炭盒，倒扣于该去面，周围用真窄泥固定和封严，记下开始收集析出氯的时刻。所出鐵收集持续5～7天。4.2.2收集结束时，除去真空泥，小心取下活性炭盒，如盖密封，记录结束时刻，带回实验室。4.3氢的盘
4.3.1川**Rs检验源检查和调整谱仅徒之处十正常工作状态。4.3.2在与样显测母相同的条作下，在？谐仪上测呈“新鲜\活性最盒的本底丫能谱。4.3.3收集结束后的活性炭盒放置Si以L。当H高分辨谱双时.测基\Bi的0. R59M:V、214Pb的0.241,0.295和0.352Mr:V其中的一个戎几个射缓峰计数率；当用NaI(T1)谱仪时+测量上速能基相虚能区的计效率
5析出率的计算
建筑物表面氧析出率按式(1)计算：(n. - n) -exp(,).A
expt-A)
中：R—氧的南积析出率,Bg·m.g活性炭盒内所选定的氧下体？射线峰成能区的计数率，，Ih:
与相对应的“新鲜”活性炭盒的计数率，活性嵌渡收类析出氨的射间，
收集结束时刻到测基始时刻的时间问隔，3！GB/T 16143 1995
与n相应的丫射线障能量或能区处的探测效率：S一被测表面的面积，m
A.---氢的放射唑衰变常数,2. 1 ×10-s-1 6探测效率刻度
6.1体标难源的制备
6.1.1标准源基质与活性炭盒所用的活性炭种类相后且等重，6.1.2用万分之·天平准确称取由国家法计虽部门认定的已知比活度的嵌酸锁铺标准粉末，其总活度应作52~500 Prl范围内.比活度的相对标准偏差,双大于4%。6.1.3将标准粉末于5心0ml.烧环中，以1mol盐酸溶液落解.再用0.1mol的带酸稀释到所需体积（应尼以使活性炭基质全影法入），倒入活性炭颗拉，并不断搅拌，6.1.4将活性教在红外灯下烘烤、使其水分不断蒸发，作将近恒重时.转移到另一十净绕杯中，用少量.：mnl盐酸洗液清洗用过的00mL烧杯，将清洗液倒入活性中（汁意不要与H前盛放活性炭的干净烧杯壁接触），再用红外灯烘焰，不断搅勾，直至恒重，6. 1.5，将泛性嵌转入空的活性荧盒内，铺平,加需,密封、放管30 天,得=\Ra与氧及其了体处于放射性平衡片备用
6. 1. 6标准源的综合不雄定度( -培标准偏差),或控制在士!:%以内。6.2刻度
6.2.1按照便用说明书的要求正确安装和调整谱义系统，包括探测部、与源、前放大器、谱仪放大器,脉冲病度分所器和计算机系统,使其处于最佳下件状态。6.2.2在与样品测量司条件下,分别获取上述已知\Rn活度的体标准源丫能谱和\新鲜”活性家盒。本底谱。
6.2.3从净谱选择氢的子体\*Pb的0.241.0.295.0.3352MeV以及1Bi的0.509MeV中的一个或几个射线的全能峰,并计算其净峰计数垂。 妮果使用 NaI(TI>闪烁探测器,在上述几个 射线峰不能清楚分开时+亦可计算包含上述一个以上峰的能区净计数：6.2.4：根据所选丫射线的全能峰(或所选能区)净计数率，计算探测效率。7测量的相对标准偏整
面职氧析出率测量结果的相对标准偏差,为o.ru = Voall - c
式巾：w
总相对标准偏茎，%
效率刻度的相对标准偏差,%;
一测量计数相对标准偏差，火。.可用下式计算：
VN./E+N/E
N,hh.N/tr
式中：N.
活性龄盒内选的氢子体了射线峰或能区的积分计数：与N，相对应的“新鲜”活性炭盒的积分计数，样品计数时间，
t.一,本底计数时间。
干扰和影响因素
B. 1 活性炭盒例打于宫筑表面,所得结果不代表H然状态下氧的析出率.而相当十外界空气中氯浓271
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度为0时氢的析出率，耶最大析出率。这种方法不考虑外界空气风速、交换率的影响。但可能引起活性炭盘所扣处被溉材料局部含水量的变化，对氧的析出率产生微小干扰。8.2在收巢析出氯期间，面积氢析出率实际上受周围环境的气象，温度、湿度、气压、风速变化等彩响，因此,测量结果只代表在对应的环境条件下收巢期间内面积氧析出率的平均值。B. 3在用 Nal(T1)Y 谱仪确定活性炭盒所收集的氧活度时,氧子体Pb 的 0. 242 MeV 射线峰受 Th射气子体22Pb 的 0. 238 MeV Y射践峰的干扰,该干扰对测结果的影响小于 1%,用高分辨率的半导体探测器测量，不存在这种干扰。8. 4本方祛的探测下限主要取决于所用 Y谱仪探测下限+参见附录件 A(参考件)。272
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附录A
意筑物衰面氯析出率的探测下限(参考件）
A1建筑物表面氧析出率的探测下限主要取光于所用丫谱仪的探测下随，该探测下限是在给定置信度情况下该系统可以测到的最低活度。A2 以计数,为单位的操测下限可表示,为LD(K.+K,)
式中, LLD-
探测下限；
与选的错误判断放射性存在的风险几率(n)相应的标准正态变量的上限百分位数值：与探测放射性存在的预选查信度(1-)相应的值：α—净样品放射性测照的计数统计标准偏差。对于各种&和β水平，K值如表AI所示。表A1
.0. 02
如巢 α和 β值在同—水平上,如 K-Rs=K。LLD2Ko
A3以计数率为单位的探测下限,是作给定条件下,最小可探测的计数率、如果后性炭盒内氢的放射性活度与本底接近时,最小可探测计数率为，ULD-2/2.KVN/t
或中： LLD
最小可探测让数率：
本底谱测盈时间：
本底谱中相应于某一全能峰取能区的本底计数。A4根据最小可探测计数率.按式(1)可以计算出最小可探测表面氢析出率。附加说明：
本标准由中华人民共和国卫生部提出。本标准由北京市放射卫生防护所负责起草。本标准主要起草人林莲卿。
本标准由卫生部委托技术归口单卫生部工业卫生实验所负贵解释。（A3)
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