GB/T 6519-2013 变形铝、镁合金产品超声波检验方法 GB/T6519-2013 标准压缩包解压密码：www.bzxz.net

ICS 77.040.20
中华人民共和国国家标准
GB/T 6519—2013
代替GB/T6519—2000
变形铝、镁合金产品超声波检验方法Ultrasonic inspection of wrought aluminiun and magnesium alloy products2013-11-27发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2014-08-01实施
本标准按照CB/I1.12009给出的规则起草。本标雅代替GB/T6519~·2000《变形铝合金产品超市波检验方法》CB/T 6519-2013
本标准与GB/T6519-2000《变形合金产品超声波检验力法》相比，士要变化如下：---增加镁合金超市波检验方法；..-增加了横波检验方法；
对适用范围进行了修订：
一增加了引用标准：
对被检样品的要求进行了修订；一增加了对比试块的规格、种类及制作要求；增加广对超声波检验仪与探义组合使用性能测试方法和要求；一对探头的要求进行了修订；
对检验灵缴度调试、缺陷评定等检验方法进行了修订：一增加了产品的验收等级。
本标准使用重新起节法参考ASTMB594：2009《航空及字航用变形铅合金产品的超波检测》编制.与ASTMB594:2009的致性程度为非等效，本标准内全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC213)归口,本标准丰要起草单位：东北轻合金有限责任公司、中国有色金属工业标准汁量质量研究所、北京有色金属研究总院、西南铝业（集团）有限责任公司、中国铝业西北铝加T分公司，江宁忠旺集团有限公司、小东充矿轻合金有限公司、广州有色金属研究院、龙口市丛林材有限公可。本标谁主要起草人：张晓霞、下国车、葛立新、程辉、张伦兆、邱新东、周霞、李鹏伟、郭瑞、高振中、卢载浩、陈丽君、霍庆利、石常亮、韩世凑、王琦、郑超。本标准所代替标准的历次版本发布情况为：GB/T6519—1985;
-GB/T6519:2000.
1范围
变形铝、镁合金产品超声波检验方法GB/T 6519—2013
本标准规定了超波A型脉冲反射技术，检验变形铅.镁合金产品的方法概述和检验人员环境、设备与材料、样品准备、检验方法要求和记录、报告、结果说明等内容。本标准规定的方法适用于铝，镁合金轧制、挤压、锻造产品的超声波检验，适用的产品规格如下：一厚度不小于6mm的板材.锻件；横截面积不小于70mm、厚度不小于6mm的型材；内切圆直径不小下10mm的圆形.方形.六角形棒材；壁厚不小于20 mm的厚壁管材。
本标准不适用于铸件、焊接件及夹层结构，2规范性引用文件
下列文件对于木文件的应用是必不可少的。从是注H期的引用文件，仅注口期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修收单)适用下本文件。GB/T9445无损检测人员资格鉴定与认证GB/T12604.1无损检测术语超声检測GB/T18694无损检测超声检验探头及具出场的表征2无损检测超声检验量接触探头声束待性的参考试块和方法GB/T 18852
JB/T9214A型脉冲反射式超声探伤系统上作性能测试方法JB/T:10061A型球冲反射式超声探伤仪通用技术条件J13/亍10063超声探伤用1号标准试块技术条3术语和定义
GB/T12601.1界定的术和定义适用于本文件4方法概述
超声波在检样品中传播时，在遇到不同声阻抗介质的界而产生的反射波.折射波被探头接收，调整仪器参数，将探头接收的反射波信号与规定对比试块上的人工缺陷反射波信号进行比较，评定被检样品的质量。
5检验人员
5.1从事超声波检验人员应符合GB/T9445要求。5.2超声波检验人员只能从事与其技术等级资格证书相应函技术工作。1
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6检验环境
6.1检验现场的温度及湿度以不影响超声波检验仪检验的跑定性和可靠性为原则。6.2检验现场不应在强磁、震动、高频、灰尘人，机械噪声大、有腐蚀性气体的环境中；场地应安全、光线适度，1作场地空间以不影响超声波检验人员止确操作结果评定为原则。7检验设备与材料
7.1试块
7.1.1标准试块
7.1.1.1标准试块是用于仪器、探头系统性能校准、检验校准的试块，标准试块应符合附录A.1的规定。
新购买的标准试块应通过计量检定机构监定，并有签发的鉴定合格证书。标准试快每5年送检定机构进行鉴定，使用单位应定期检查标准试块外观有无影响使用的表面损伤，如有损伤应送鉴定机构进行鉴定，鉴定合格后方可使用。7.1.2对比试块
对比试快用于谢整检验系统灵敏度、检验范围及评定缺陷当量大小和位置，保证检验结果的7.1.2.1
再现性。
7.1.2.2对比试块应符合附录A.2的规定。特殊形状被检样品的对比试块及人工缺陷反射体要求，由供需双方协商确定
7.1.2.3对比试快应标识材料牌号、人T缺陷尺寸，对比试块编号。7.2探头
7.2.1探头性能测试宜采用GB/T【869t和GB/T18852进行7.2.2应根据被检样品的几何形状、厚度，表面状况及要检出缺陷当量的最小尺寸和种类、表面分辨力等选举合适的探头：应依据被检样品检验部位的几何外形、厚度、检验范国等选择探头尺寸；探头频率应在2MIz~1!:MHz范用内选择，如需要选用其他率，应由供需双方协商确定，检验频率选择应能有效捡山、分辨和评定缺陷。应标识频率、尺寸，类别及其他参数。7.2.3纵波单品直探头的压电品片直径（或矩型长边）一般应在6mm--25mm之间，对缺陷进行评定时，应选压电品片直径不大于20Ⅱm的平探头。7.2.4纵波双品组合探义，根据被检样品厚度选择品片尺寸和楔块倾斜角度（或焦距）。检验灵敏度应满足衣5中检验等级要求，并有最小10dB的检验灵敏度余量。7.2.5聚焦探头的压电品片人寸及透镜曲率半径等参数应根据被检样品形状、检验范围、检验要求确定。
7.2.6用于接触达检验的斜探头折射角与标称值偏差大了2时，探头角皮成进行修正，否则不应使用。7.2.7测试纵波探头距离-波幅曲线时，应选择-组埋藏深度不同的、直径为2.0mm的平底孔纵波对比试块（当按9.2.7捡验等级调试检验灵敏度时，距离-波幅曲线应在检验要求等级上确定）.测其埋藏深度不同的平底孔反射波高或某一波高灵敏度值，记录测试参数，而出距离-波幅曲线。该探头检验前和捡验结束后垃进行一次距离波隔面线校验，校验点不少于三点，若反射波商与原距离波幅曲线相差土10另以上，应重新对探头进行评定。2
TTIKANYKACa
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7.2.8同声程、不同孔径的底凡反射波高与直径为 2.0 mm的平底孔反射波高之间的相对关系见1.
表1同声程、不同孔径的平底孔与直径为2.0mm的平底孔之间的关系粗声波对比或块
平底礼尺寸/
不同直径的证底孔与直为 2.0 mm 的-底孔反射波高灵敏度差/dB
不同径的平底孔与径为2.0mm的
平底托反射波假号幅度百分比/%1
7.2.9应在 A.2.3 规定的对比试块 1:测试横波探头距离-波幅曲线,用模波对比试块测其埋薦深度不同的反射体反射波高或某一波高灵敏度值，记求测试参数，画出距离-波幅曲线。7.2.10对于特殊几何形状的被检样品，如需采用其他专用探义，应根据被检样品加工工艺的特点和质量验收要求，由供需双方协商确定探头形状、尺寸、技术性能及检验方法。7.3超声波检验仪
超声波检验仪最低使用性能应满足表2要求，表2中测试躲头直径不大于 11mm:仪器在规定7.3.1
的检验频率和所要求的※敏度下其有对接收反射冲进行稳定的线性放大能力，超声波检验仪性能测试方法见附录 B3。
表2超声波检验最低使用性能
性能指标
垂直被限/%
垂直线性上限/%
垂直线性下限/%
灵敏度/
信噪比
人射面最大分辨力/m
反射面最大分辩力/mm
水平极限/贤
水平线性范围/%
衰瀛器
灵敏度测试、信染比测试,应按附录B.3要求测试，人射面分辨力、反射面分辩力应按附录B4要求测试，5.0
额净/MHz
现附录13.5
。15 MHz不足所有议器都需要有的指标,只有当使用这个频率时仪器应满足这个措标,15
7.3.2经供需双方商定，也可依据JB/T10061，按JB/19214规定的方法测试超声波检验仪性能。供3
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需双方也可协商选用同一型仪器，并协商确定技术指标和测试方祛，用于满足某一产品的检验要求。7.3.3超声波检验仪每年至少应检定次使用性能，每次检定的数据应保存备查，新仪器在使用前或仪器检修后成进行性能指标测试。7.3.4超声波检验仪在信号帖度调整到显示屏满刻度50%的情说下、如果电压波动引起的幅度变化超过满刻度的土2.5%应加憩压器或更换电泄：7.4辅助装置
7.4.1辅助装置主要指满足液浸检验使用的液槽、探义与被检品耦合装置、扫否装置、探头专用来具、白动检验机传动装置及电气控制等辅助部分，辅助置版便声能有效传人被检样品中、抗干优能力强，操作方便、使用安拿、运行稳定可靠。7.4.2液槽或给水装置应能浸没被检样品被检部位，使液层厚度满足检验要求。7.4.3水浸自动检验时，传动装置应便探头在所需检验范围内平稳运动，应能精确调试探头角度：桥架成有足够的强度，为操纵器提供刚性支持.并能谁确定位探头。在检验过程中，探头扫描定位精度应满足检验要求。当专用探头支撑固定架可满足操纵器和桥架的规定要求，使检測结果等效时，可以使用这些专用阅定渠。
7.4.4接触法检验时,在检验过程通常将探头放置于被检样品检验面而「，如果用专用固定装置能保证检验结果的一致性，则采用接触法时可使用这种专用固定装置。7.4.5手动液没法检验时，应使用可控制水层距离和探头波束角度的夹持器，探头夹持器应保证探头与被检样品保持一定的水层距离，在检验过程中应使探头角度不变、水距稳定。7.5耦合剂
7.5.1液泛法使用的耦合剂应采用无气泡、无杂质、清洁的室温水。如有必，经相关技术部门同意，可在水中加人适量的防蚀剂和润湿剂.但须确认所有添加剂应对设备、被检样品及相关装置无腐蚀和损害。
7.5.2接触法使用的帮合剂应透卢性好、清洁，对被检样品，探头及人体无伤害，耦合剂黏度及表面润湿性应根据被检样品衣面制糙度选择，成保证声能狠好地传入被检样品中。7.5.3灵敏度调试、被检样品的检验、缺陷评定使用的耦合剂应相同，8样品准备
8.1检验前应检查被检样品表面状况是否满足检验要求，被检样品检验而应清洁、光滑、平直，无影响检验的划伤和斑衰，对不符合检验要求的表面应进行表面处理。被检样品的温度应控制准22℃二15范围内
8.2被检样品的捡验表面粗度（Ra)应满足表3要求，被检样品表面车削应采用圆头刀具。表3被捡样品表面粗糙度要求
检验等级
表面粗髓度Ra/un
薇浸法
8.3被检样品逝行超声波检验时，噪声显示信号幅度比检验要求检出最小缺陷显示信号幅度至少低6eB.
8.4产品最终检验应在包装出厂前、最终热处理后进行，产品如再次进行热处理或可塑性变形需进行重新检验。被检样品如需要机械加工成工件时，应在精加工前完成超声波检验。4
KNTKAca
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8.5被检样品声束人射面的几何形状及表面粗糙度应与对比试块相同或相近有影响时，应加以修正补偿8.6采用水浸法自动检验的棒材、板材，厚壁管应平直，每米弯曲度应不大下2mm，全长变曲度不应超过m,
8.7被检样品检验亡区应出供需双方协商确认，9检验方法
9.1检验方法的选择
9.1.1应采用超声波纵波检测技术对被检样品进行检验，对直径小于40mm的棒材宜采用液没法进行检验。
9.1.2经供需双方协商确定，也可采用超声波横波检测技术进行附加检验。9.1.3条件允许采用接触法和液浸法时，优先采用液浸法。9.2纵波检验
9.2.1检验面、检验范围
9.2.1.1被检面应根据被检样品的加工变形特点，缺陷的分布规律、使用要求，出供需双方协商确定。道常，声束人射方而的选择应使声束中心轴线与缺陷主平面垂直。锻作、挤压件、轧制件等声束应垂于金属流线方向（即检验面平行于金属流线方向)。9.2.1.2横截面长边和短边长度比小丁3：1的矩形截面体应沿两个相邻面分别进行检验。9.2.1.3正方形自由缎件至少在三个相邻凶面进行检验。9,2.1.4被检样品检验厚度小于3倍的近场长度时，应采用试块比较法进行检验；被检样品厚度大于等于3倍的场长度时，如没有相应的同声程对比试块，河供需双方商定采用当量计算法或其他方法进行检验。
9.2.1.5对于所选检验面、若最大有效金属声程使得仅从一面检验无法检出所规定要求验收等级的最小缺陷时，应从对面进行再次检验9.2.1.6当检验信噪比大于6dB时，声人射面分辨不能有效分辨辩接近人射而的缺陷时，应从对面巡行附加检验，也可由供需双方协商确定选择育区小的纵波效晶纠合探头进行附加方法检验，或其他附加检验方法。
9,2.1.7在未给定人射面圳工余量的情况下，人射面分辨辩力应满足图1要求：1.5
被检样品草度/mm
图1入射面分辨力要求
9,2.1.8件型材等被检样品应在检验工艺图上标识检验面、被检样品的加T余量9.2.1.9对于特殊规格的被检样品，供需双方应协商确定捡验而,检验范围，并制定检验验收规程。5
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9.2.1.10对丁不在木标准规定的适用产品范的被检样品：供需双方可协商确定这些被检样品缺陷等级控制范围，并应在被检样品加工图1对待检验样品的区域进行标识，图祥1应标出样品关键区，被如工的部分和如「余量。
9.2.2检验基准灵敏度调试
9.2.2.1根据验收标准要求及被检样品检验范用,按 9.2.7选择一组与验收级别相一致的对比试快进行基准灵敏度调试，最少选择一块不同埋藏深度的底孔对比试块，调试仪器检验基准灵敏度。9.2.2.2第一块对比试块平底孔埋藏深度应不大于被检样品人射面的加工余量：第二块对比试块平底孔理藏深度应为被检样品厚度的·半；第三坎对比试缺平底孔埋藏深度应为被检样品要求最大检验深度。
9.2.2.3探头分别对：块对比试块进行扫查，调试超声波检验仪相关参数，移动探头的位置，找平底孔最人反射波，调节衰减器较减量或增益量·使来白任·对比试块中平底孔的反射波高牟少为显示屏满刻度的80为，在检验范围内以平底孔反射波高最低的对比试块调试检验系统基准灵敏度，灵敏度调试使平底孔反射波高为显示屏满刻度80%，并以此灵敏度对被检样品进行检验。均可用距离波辐曲线调试检验基准灵敏度.应在被检样品的最大检验范围内确定·个最低响应的对比试块，调试检验系统基准灵敏度使最低询应的对比试块平底孔反射波高为显示屏满刻度的80为，此时的灵敏度为被检样品检验基准灵敏度。水设自动检验基准灵敏度调试出距离-波幅曲线确定。9.2.2.4对于棒材,厚壁管材或被检面是曲面的被检样品，检验基准灵敏度调试成选用与被检样品曲率平径相--致或相近的同类对比试块。根势验收标准要求按9.2.7选择相应的平底孔行尺敏度调试，找不同里藏深度半底孔的最人反射波，调试仪器灵敏度，使其中个最低反射波高的平底孔为显示屏满刻度80%.此时的灵敏度为被检样品检验基准灵缴度，9.2.2.5液浸法检验时，液层厚度它在50mm~9Cmm范围内调试，被检样品检验厚度大于200mm时，可根据公式（1)计算选取液层厚度，最小液层厚度应使被检样品二次表而反射波出现在被检样品的次底而反射波之后，液层厚度应愁定。2
式中：
-液层厚度.单位为毫米（mm）；h
被检样品厚度，单位为毫米（mm）；水中纵波声速，单位为毫米每秒(nm/s)；Uz—被检样品纵波声速、单位为毫米每砂（mm/s）{
9.2.2.6液浸法检验时，灵敏度调试、被检样品检验、缺陷当量八寸定的液层厚度应相同，被层厚度波动范国不应超过+6 mm。
9.2.2.7液浸法检验时，应通过调试声束人射角，使声束垂直人射界面，获得最高反射波幅。固定探义夹具，检验时探头角度偏离不应人于土0，5\，当入射界而为曲面时，应有曲面跟踪装置，保持产束垂自人射界面。
9.2.3传输修正
在对比试块与被检样品之间存在有声传输特性的差异时·应考虑进行声传输修正。修正方法通过选取与被检样品等厚度对比试快，测试对比试块底面反射波幅值与被检样品底面反射波幅值的分贝差，如传输修正值大于土6dB，则该对比试块不应使用。9.2.4有效波束宽度的测量
9.2.4.1对丁圆形品片探头，将探头放对比试块上进行扫查，找平底孔最大反射波高，调试仪器灵敏6
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度，使最大反射波高为鼎示屏满刻度80%，分别沿平底孔克径方向两边移动探头，使反射波高降至40为，此时探头两点间的中心距离，即为该声旌下波束有效宽度。9.2.4.2对于双品探头和矩形品片操头,将探头放在对比试块[:进行扫查，获得平底的最大反射波高，调试仪器灵敏度，使反射波高为显示屏满刻度的80，沿双品探头隔声层纵向取向或矩形晶片长轴方向相平行的方向横过平底孔直径分划问两边移动探头-使反射波高降至10%，此时两点间距离.即为该声程下波束的有效度。
9.2.5样品扫查
9.2.5.1对需要检验的区域应全部扫查到。一股情况下，扫查问距不应大于9.2.2所选用的对比试块巾最小存效波束宽度的二分之一。9.2.5.2对于双晶组合探头，其隔声层的纵间取而应与缺陷可能延仲的方向平行。对于矩形晶片，其晶片长轴方向应与缺陷可能延伸的方向平行。9.2.5.3探头扫查时的移动方尚均应与缺陷可能延伸的方向垂直，9.2.5.4在扫查过程中，应保持超声波人射声束和人射面之间的角度为90°士2°9.2.5.5检验速度应满足被检样品在规定验收等级中能有效检出最小缺陷。在-般情况下，手动检验时的扫升速度应不大于254mm/s，白动检验时，当重复频率满足扫查速度要求时，可提高扫查速度。9.2.5,6在评定缺陷当量时，当被检样品与对比试块由于表面因素存在较大差异时,应加以修止。如条件允许的情况下，可对该检验面进行表面处理，排除由表面粗糙度引起的检验误差。9.2.5.7在检验基准灵敏度下，出现以下三种情况之一应进行作细检验或采用其方法分析。9.2.5.7.1H现缺陷反射波幅值大于40%时，应在缺陷附近细致扫查.已获得缺陷最大反射波。如水浸检验，可通过调鼠操实角度以获得缺陷最人友射波9.2.5.7.2噪声信号比正常值大两倍时.应检奔被检样品表面状态，或查看操头选择否正确等影响因素。
当底波反射信号降低50%时，应检查被检样品被检部位上下表面是否倾斜，或看衰面状态9.2.5.7.3
等影响因素，
9.2.5.8在检验过程中，检验参数发生变化或检验仪参数旋扭发生变动时，应对检验基准灵敏度按9.2.2 进行重新校验。
9.2.5.9在连续工作2 h 以上或检验工作完贼后,应按 9,2.2进行校验。9.2.5.10在检验过程中,如更换仪器、探头、探头导线、耦合剂等,应对检验录敏度按 9.2.2 进行重新校验。
校验后，如果灵敏度增加，应对上一次调试仪器参数到检测校验期问检验的被检样品，所检出9.2.5.11
的缺陷进行重新评定，如果灵敏度降低，应对上一次调试的仪器参数检验的所有被检样品进行重新检验，
9.2.5.12在检验基准灵敏度下进行检验时，发现噪声信号增大或第一次底波降低时，按9.2.5.7检验，存细捡查人射面和底面，确认声或底波损失不是出几何形状，尺寸，表而状态等因素引起的，应停止检验，按9.2.5.13、1.2.5.11和9.2.5.15进行底波衰减量测试，9.2.5.13在检验中，当发现噪声信号增大或第一次底波降低时，将探头放在与被检样品几何形状，八寸表面状态、合金牌号、热处理状态等相同的同部位止常样品上，移动探头，使第一次底反射波最高，调试仪器敏度，为显示屏满刻度的80%，9.2.5.14将探头重新移到被检样品噪声增大或底波降低的位置，使第一次底反射波最高。9.2.5.15将9.2.5.13测试的底波高度与9.2.5.11测试的底波高度进行比较。9.2.5.16如果其他方法测试的结果等效于5.2.5.15测试的结果，则可用其他方法测试底波损失。GB/T6519—2013
9.2.6缺陷评定
9.2.6.1缺陷平面位置的确定
与需要对缺陷精确定位时，应使缺陷处十远场区，将探头放在被检样品检验面移动扫查，当获得缺陷最大反射波高时，则探头所在心位置即为缺陷的位置。9.2.6.2缺陷埋藏深度的确定
当发现缺陷时、根据缺陷波在显示屏「.的显示位置，用同声程半底孔对比试块进行比较，测试缺陷埋藏深度。当同声程乎底孔对比试块时，缺陷埋藏深度的确定可通过测试平底孔埋藏深度与缺陷埋藏深度相邻的两块对比试块，用插人法确定，或利用被检样品的已知厚度与缺陷波，底波在显示屏上的显小位置采用比例法确定。被检样品缺陷的测试深度偏差应满足表4要求。表 4缺陷埋藏深度测试偏差
缺陷埋藏深度/mm
>7G--150
缺陷当量尺寸的评定
9.2.6.3.1单点缺陷当量尺寸的评定缺陷理凝深度测试偏型
±3.2 ms:
9.2.6.3.1.1在检验条件相同的情说下，若单点缺陷的埋藏深度与平底孔人T.缺陷的理深度相同，耳缺陷当量尺寸小于探头声束的有效截面，将缺陷当量反射波高与同声程对比试坎乎底孔反射波高相比较，如两波高幅值相等时，则该平底孔的尺寸为缺陷的当量尺寸。若两波高幅值不等，调试仪器灵敏度，使缺陷波高与平底孔波高相等，记录衰减器衰减量或增益量。当单个缺陷面积大于探头声束有效截面时，按9.2.6.3.3对缺陷当量尺逃行评定。9.2.6.3.1.2当缺陷的埋藏深度与所用对比试块中乎底孔的埋藏深度不同时，可用与之相近的两个平底孔埋藏深度的对比试块采用插人法进行比较，似不允诈用外推法。9.2.6,3.2多个缺陷当量尺寸的评定9.2.6.3.2.1对多个单点缺陷，按9.2.6.3.1对每个缺陷当量的最人反射波信号的中心位置进行定位，确定相邻缺陷之间的距离，对于缺陷分布不在同一水面时，可用间接的方法（几何图形)进行计算确定，比较任意两个缺陷之间的离，以最小的距离根据表5，按相应验收等级要求进行评定。9.2.6.3.2.2对于而积型或长条形缺陷应按0.2.6.3.3对每个缺陷边界位置进行评定，测出相邻缺陷边界之间的最短距离，根据表5.按相应验收等级要求进行评定。9.2.6.3.3缺陷当量尺寸长度的评定在扫查过程巾发现有长条缺陷时，按表5中长条形缺陷当量尺寸验收等级要求，选取平底凡埋藏深度与缺陷埋藏深度相同的对比试块，将探头放在对比试块上，移动探头找平底孔的最大反射波高，调8
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试仪器灵敏度，使波高为显示屏满刻度80为，分别沿平底孔直径方向两边移动操头，记录波高降至品示屏满刻度10%的探头中心点，测两点之间距离为L，。在仪器调试不变的情况下，将探头重新移到被检样品长条形缺陷「，探头分别沿缺陷长度方间移动，记录长条形缺陷两端点波高降至显示屏满刻度10%的探头中心点，测两点间的距离为L。将测试的距离L2减去测试的距离L」，即为缺陷当量尺可的指示长度。
9.2.7质量检验等级
9.2.7.1超声波检验分AAA级、AA级、A级、B级、C级五个等级。工.程图纸中应注明所要求的检验等级。当被检样品须用多个等级验收对，在图纸上应划出区或注明每个区域所要求检验的验收等级，9.2.7,2在AAA级、AA级、A级、B级,C级中允许的缺陷当量值符合表5规定。表5超声波捡验验收等级
单个缺陷当虽
当量半底孔直径/
多个缺陷当蛋
每个当重平底孔
直径/mm
不要求
间距/mE
长条状缺陷当蛋
当虽乎底孔
直径/mm
不要求
指示长度
9.2.7.3超过规定的超声波检验验收等级的缺陷，若在随后的机械加工中可被除去，供需双方可经协商后认定其合格。免费标准bzxz.net
9.2.7.4对检出的缺陷应进行准确标记，详细记录缺陷位置、深度，当量侦等检验态数。对底波严重降低或噪声增大的区域应做好标记和记录。9.2.7.5底波损失不应使第·-次底波降低到正带被检样品的第次底波的50关或更低。若衰减原因是由噪声信号引起的，则应进行冶金分析确定其原因，并决定验收与否，若对底反射波损失有其他要求，应根据供需效方协商确定。9.2.7.6对检验不合格的被检样品的缺陷位置应进行明显标记,以防混料。9.3横波检验方法
9.3.1对垂直于检验面或与检验面成-楚角度的缺陷，应采用超声波横波检测技术进行检验。模被检验最少进行两次扫食，第一次扫查声束传播方向与第二次扫查声束传播方向应相反。9.3.2当被检样品检验面为平而时，检验厚度不大于25rtm，来用6C折射角进行检验，检验厚度大于25mm，采用45°折射角进行检验。基准灵敏度应在附录A.2.3.1所要求的对比试快上调试。如有特殊要求，应由供需双方协商确定探头折射角。9.3.3摔材如需要横波进行检验时.应采用附录A.2.3.2对比试块巾相应的人上快陷进行灵敏度调试。如采用水浸法进行检验时，水层厚度应按式(2)调试，12
()2(x μ)
［2】
GB/T6519—2013
--水层厚度,单位为毫米(mm);
被检棒材直径，单位为毫米(mm)水巾纵波声速，单位为毫米每秒(mm/s)：U:--被检棒材横波山速，单位为毫米每砂(min/s)；X偏心距，单位为毫米（mm）。
9.3.4对比试块的直径应与被检棒材相同，调试探头横波的人射角度，以埋藏深度不同的人:1.缺陷反射波高均达到显示屏满刻度的80%以上，作为检验灵敏度，液浸法圆棒周向横波检验方法如示意图2所示，接触法圆棒周向横波检验方法如示意图3所示。探头应沿桥材周向正反网个方向分别进行扫查。上
1水层厚度
入射声束
入射角
折射角
折射卢束
披枪持材
图2液浸法圆摔周向横波检验示意图有机鼓璃楔块
天射声束
入射拍
手射角
斯射声束
检挥材
图3接触法圆棒周向横波检验示意图9.3.5当对被检样品需要采用横波检测技术进行检验时，应制定检验规程，验收标准应由供需双方协设确定。
10检验记录
检验肥录应包括以下内容：
a）产品名称、产品规格、合金牌号、状态、批号、熔次、样品编号；b）超声波检验仪型号、探头规格、检验频率；检验方法、耦合剂：
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