首页 > 国家标准(GB) > GB/T 33624-2017 滚动轴承 清洁度测量及评定方法
GB/T 33624-2017

基本信息

标准号: GB/T 33624-2017

中文名称:滚动轴承 清洁度测量及评定方法

标准类别:国家标准(GB)

标准状态:现行

出版语种:简体中文

下载格式:.rar .pdf

下载大小:1008KB

相关标签: 滚动轴承 清洁度 测量 评定 方法

标准分类号

关联标准

出版信息

相关单位信息

标准简介

GB/T 33624-2017 滚动轴承 清洁度测量及评定方法 GB/T33624-2017 标准压缩包解压密码:www.bzxz.net

标准图片预览






标准内容

ICS 21.100.20
中华人民共和国国家标准
GB/T33624—2017
滚动轴承
清洁度测量及评定方法
Rolling bearingsTest and assessment methods for cleanliness2017-05-12 发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2017-12-01 实施
本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草本标由中国机械T业联合会提出。本标准由全国滚动轴承标准化技术委员会(SAC/TC98)归口。GB/T33624—2017
本标推起草单位:杭州轴承试验研究中心有限公司、进发轴承有限公司、天马轴承集团股份有限公司、宁夏勒昌滚动轴承制造有限公司、国家中小型轴承产品质量监督检验中心,浙江五洲新春集团股份有限公司、浙江环宇轴承有限公司、浙江辰通轴承有限公司。本标准主要起草人:张业军、陈芳华,徐敬贤、赵丽雅、李仙红、时大方、刘长明、杨伟吞、张迅雷、罗庆、郑小鹏、章宝嘲、陈玲芳、李兴林。1范围
滚动轴承清洁度测量及评定方法本标准规定了滚动轴承(以下简称轴承)和轴承零件清洁度测量及评定方法,GB/T 33624---2017
本标谁适用于各类开式轴藏及闭式轴求填脂前的测量与评定,也适用于轴承零件的测量与评定。2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的:凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡尽不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。SH00041990(2007)橡胶T.业用剂油3术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。3.1免费标准下载网bzxz
杂质impurity
粘附在轴承/轴承零件表面,对轴承性能有影响的颗粒,3.2
颗粒尺寸particle size
颗粒的最大尺寸(颗粒影像图轮廓线上最大的点与点之闻的距离),3.3
轴承/轴承零件清洁度
F bearing/bearing part cleanliness每套轴承/每件轴承零件杂质质凰的大小或单位表面积杂质质量的人小:每套轴承/每件轴承零件杂质颗尺寸的大小及数鼠的多少或单位表面积杂质颗粒尺寸的大小及数量的多少。3.4
纤维fibre
尺寸大于10)μm,且长与宽之比不小于10 的颗粒。3.5
图像分析仪imageanalyser
能分析滤膜上的颗籽,白动测盒颗粒尺寸和数量的假器。注;根据顺粒与背景的色差,可将退微镜下颗粒分布的视场逝过摄像机转换为视屏上的影像,并自动计算出题粒尺时与数量。
计算因数calculatiun factor
有效过滤面积(3.7)与计数面积(3.8)之比。3.7
effective filtration area; EFA有效过崽面积
过滤时液体流经滤膜形成的圆形面积,GB/T 33624---2017
计数面积count area
图像分析仪摄像机摄取的有效视场面积,注:一般图像分析仪摄取的有效视场面积可调,摄取的有效视场面积越大,计数的不确定度越小,3.9
空白试验blankexperimene
为检验谢量紊件(如溶剂、器血,滤膜制作过程等)可能带米的附加污染而进行的试验4测量原理
4.1称重法测量原理
用溶剂将茶质从轴承/轴承零件(以下称为试样)裹面清洗下来制取液样,再理真空过滤将杂质收集到滤膜,通过称量滤膜质量量杂质质量。用每套/件试样茶质质量或试样单位表而积茶质质量来评定轴承/轴承零件清洁度。
注:轴承计数单莅为套,轴承零件计数单位为件。4.2颗粒计数法测量原理
用与称重法相同的方将架质收集到滤膜「:,通过影像分辨測量和统计颗粒的尺寸与数量,用每套/件试样颗粒尺于与数量毁试样单位表面积的颗粒尺与数量评定轴承/轴承零件清洁度。5测量环境条件
5.1清洁度测量案应具有良好的防尘和通风设施。5.2清法度测量室连续24h单位面积降尘量W。不应超过40mg/m,其测量方法见附录A。测量装置、器臭、材料及器县清洗见附录B,
7测盈程序
7.1空白试验
测量前应进行空白试验,以检验测量条件带来的附加污染对測量结果的影响可否被接受,空自试验程序见附录C。称重法空自试验结果人于0,5mg或颗粒计数法空白试验输出结果巾有个项日超过限值的10%时,则按R.3的要求重新清洗器具或用0.15μm孔径滤膜重新过滤溶剂后,重新做空白试验。
7.2称重法测量程序
7.2.1液样制取
7.2.1.1除非试样清洁度太差影啊液样过速度,否则称重法一般可多套/件并清洗和测量7.2.1.2
诚样拆封后不应逝行任何擦洗。没泡清洗。用溶剂将试样在容器中浸池2h以上,逐一据动或转动,便试样表而杂质脱落进人7.2.1.3
溶剂。溶剂用量应使试样在容器中被完全浸没10mm以上。GB/T 33624—2017
7.2.1.4超声波清洗。将试样再经超声波清洗两次,每次清洗时间为2min。每次溶剂用量不应少丁200mL,且溶剂在容器中的高度不应低于试样高度的两倍。允许多套/件一并清洗,但不允许试样重叠或错登。
7.2.1.5对带沟糖类,卷边类试样冲洗。用洗瓶中的溶剂冲洗试样表面,使杂质被完全冲洗下来,冲洗液收人容器啦。
7.2.1.6所有洗液均为液样。
7.2.2滤膜制作及称量
7.2.2.1用镊子取两张孔径为1.2m的滤膜,分别放入两只标有试(s)”和\控(k)”的称量瓶内,并使称量瓶半开着放人60℃士5C的恒温箱内烘干60min,再将称量瓶盖1.盖了后放人干燥器内冷却30min,然后用分析天平分别对两张滤膜进行侦重称量,记录m,和mkl。滤膜应进行两次烘干称量,两次称量的差值不应人于0.2mg,若差值超过0.2mg,则应再次进行烘干称量,以最终称量结果为准。7.2.2.2用镊子从称最瓶中取出滤膜,放在溶剂中浸润后平放丁微孔过滤器上,下膜为控制滤膜(k),J膜为试验滤膜(s),
7.2.2.3将上部漏斗压在滤膜.[,用夹紧装置夹紧上部漏斗、滤膜、微孔过滤器、下部漏斗和吸滤瓶,并连上防静电装置,将真空装置连接到吸滤瓶侧臂上。7.2.2.4用烧杯将液样倒人上部漏斗,再用洗瓶中的溶剂冲洗液样容器和烧杯内壁,并将洗液倒入漏斗真空抽。
7.2.2.5当漏斗内液样滤至较小体积(例如20ml.)时,艾闭真空泵,用洗瓶中的溶剂按螺旋方向冲洗漏斗内壁,使杂质完全收集到滤膜1,冲洗时不要使液流搅动滤膜表面的颗粒然后真空抽滤至滤膜十燥。7.2.2.6用镊子从微孔过滤器上取下上滤膜,放入标有“试(s)\的称量瓶内,取下下滤膜平放人标有“控(k)”的称量瓶内,取改滤膜应小心操作,避免滤膜上的颗粒掉落。7,2.2.7按7.2.2.1对滤膜进行烘干和称量,记录ma和mz。7.3颗粒计数法测量程序
7.3.1有效过滤面积(EFA)校准
采用颗粒计数法测量时,上部漏斗有效过滤面积的校准应在有效期内。使用一个新上部漏非前应进行校准,以后每五年校祚一次。有效过滤面积(EFA)校准程序见附录(。7.3.2颗粒计数法测量一般原则
7.3.2,1采用颗粒计数法测量时,轴承一般单套清洗和测量轴承零件则可多件一并清洗和测量。可采用图像分析仪辅助功能在视屏上检查颗粒重登,错登现象,若出现较多大颗粒重登、错登现象,则应减少一并清洗和测量的试样数显。
7.3.2.2根辨评定要求选择的最小计数颗粒心寸,至少应包括下列尺寸的部分或全部:5μm、15μm25um,50μm和100μtm。
7.3.2.3根据诈定要求选择的计数颗粒八寸段,一般选择下列尺小范围的部分或全部:大于5μn到15μm;大于15μ到25μ大于25μm到50um大于50um到100μm大于100μm7.3.3液样制取与计数滤膜制作
7.3.3.1按 7,2.1.2 ~7.2,1,6 制取液样。7.3.3.2根据最小讨数题粒尺小选择--张合适孔径的滤膜,用镊子夹取滤膜在溶剂中浸润后平放于微3
GB/T 33624--2017
孔冠滤器上
7.3.3.3按7.2.2.3~~7.2.2.5进行液伴过滤和杂质收集7.3.3.4用镊了从微孔过滤器上取下滤膜,放入称量瓶内。7.3.3.5将称量瓶半开着放入60℃士5℃的恒温箱内烘十60min,然后盖上.盖了放人十燥器内冷却30min,
7.3.4计数程序
7.3.4.1如果试样需要采用称重法与颗粒计数法相组合的方法进行评定,则将试验滤膜作为计数滤膜,控制滤膜不计数。
7.3.4.2用锻了将计数滤膜从称量瓶内取出,小心地平放到滤膜固定器托盘上,盖紫压盖后装入显微镜载物台的爽持装置中
7.3.4.3根据评定的最小计数颗粒尺寸,选择合适倍率物镜,并对显微镜进行毫度调整和明暗度修正,设置有效过滤面积直径、计数面积直径、最小计数颗粒尺寸,计数颗粒尺寸设等参数后,对计数滤膜进行扫描、题粒尺寸测量和数量统计,7.3.4.4根据评定项月输出测量结果。评定项目可包括低不限十大于最小计数尺寸颗粒总数、各尺寸段颗粒数、各八寸段反光颗粒数与非反光颗粒数、晟大颗粒尺寸等。7.3.4.5对大颗粒尺小有异疑时,可用图像分析仪辅助功能在视屏[.对其形貌进行辨认,用计算机系统对错登颗粒进行去除较小叠加颗粒处理,处现后再重新输出测量结果。8清洁度评定
8.1对一批轴承/轴承零件进行清洁度评定应采取随机抽样的方法进行抽样测量,抽样数量不应少于表1的规,
表 1清洁度测抽样数量
量方法
Ds80 mm
称重法
颗粒计数法
轴承公称外径D
80 mm≤Ds200 mrm l D200 tmm
,轴承岑件包钢球、滚了、保持架、防尘盖和密封阈等。轴承零件
80 mm8套轴承用
5变轴承用
S套轴碳用能
3套轴承用蛋
3套轴用量
2套轴承用
8.2称重法测量时,采用每套/件试样杂质质量或试样单位表面积杂质质量评轴承/轴承零件清洁度,对于可接收的轴承/轴承零件,消洁度不应大干双方协定的限值。来用每套试样杂质质量评定时,心球轴承洁度限值可参见附录D。按式(1)计算每套/件试样杂质质量W,按式(2)计算试样单位表面积杂质质量Ws:
(ma-m.)-(mka-m)
(mgz2-mg:)-(m k2 - mki)
W。试样杂质质量,单位为毫克每套(作)[nmg/套(件):4
试样单位表面积杂质质量,单位为毫克每半方毫米(mg/mm\);试后试验滤膜质量,单位为毫克(mg);试前试验滤膜质量.单位为毫克(mg);试后控制滤膜质量,单位为毫克(mg);试前控制滤膜质量.单位为毫克(mg):—试样数量,单位为套或件,
GB/T336242017
试样表面积(轴承试样表面积为各零件表面积总和),单位为方毫米每套(件)mm/套件。
注:(rnk2一mu)的作用为消除系统误差。8.3颗粒计数法测量时,采用每套/件试样杂质颗粒数及颗粒尺寸或试样单位表而积杂质颗粒数及颗粒尺小评定轴承/轴承零件清洁度,清洁度限值由双方协定。可采用下列某种或某儿种相组合的方法进行评定:
a)大于最小计数尺小颗数不超过某限值;b)某·-或某些尺寸段颗粒数不超过某限值;c)最大颗粒尺寸不超过某限值;d)大于某尺寸的颗粒数不超过某限值;e)大于某尺寸的反光颗粒数不超过某限值。8.4可采用称重法和颗粒计数法相组合的方法评定轴承/轴承零件的清洁度GB/T33624—2017
测量装置及器具
附录A
(规范性附录)
清洁度测量室单位面积降尘摄测方法A.1.1灰尘承接板,白瓷盘或磨边玻璃,心寸不小于300mm×250mml。A.1.2绸布,原色。
A.1.3其余测量装置及器具同B.1.1和B.1.2。A.2材料
A.2.1滤膜,孔径为0.45m.0.8μm及1.2μm,其他要求同B.2.2。0.15μm孔经用于溶剂过滤,0.8μm孔径用于润滑油过滤,1.2um孔径用于滤膜制作,A.2.2润滑油,如L-AN15全损耗系统用油,或其他等效润澈油。润滑油应经0.8以m孔径滤膜过滤,A,2.3溶剂,同B.2,1。
A.3降尘量测量
A,3.1按B.3的要求清洗灰尘承接板、绑布及所用器具,A.3.2灰尘承接板和绷布下燥后,用绸布将润滑油均句涂抹于灰尘承接板表面,并将其涂油面朝上单放于测量室操作台面1:,同时记录开始时间。A.3.3放置24h后,用溶剂将灰尘承接板上的降落物全部清洗下来制取液样。A.3.4按7.2.2进行滤膜制作及称滑。A.3.5按式(1)计算灰尘承接板上降落物总质量W,,其中N取1.A.4单位面积降尘量计算
鞍式(A.1)计算连续24 h单位间积降尘量W。:W.-We/s.
式中:
W,连续24 h单位面积降少量,单位为毫克每平方米(mg/m2);Sp—-灰尘承接板接尘总面积,单位为平方米(m2);W一一灰承接板上降落物总质量.单位为毫克(Ⅱg),6
B.1测量装置及器具
B.1.1滤膜制作装置及器具
附录B
(规范性附录)
清洁度测量装置、器具、材料及器具清洗GB/T 33624—2017
B.1.1.1容器,用于浸泡或清洗试样、收集液样、储放溶剂等。规格按试样大小、液样或溶剂多少选取一般可选择不锈钢或玻璃容器。B.1.1.2超声波清洗机,规格按试样大小选取。B.1.1.3手套,质软、耐油,与溶剂相容。B.1.t.4过滤装置,如图B.1所示,主要由下列元件构戒:-斗盖;
一上部漏斗,一般容量不小于250mL;一微孔过滤器,用于支撑滤膜,—下部瀛斗
夹紧装置,用于将上部漏斗、滤膜、微孔过滤器、下部溺斗、吸滤瓶夹持在一起;防静电装置,防止在真空过滤时产生静电的装置,如接地线:一吸滤瓶,用于支撑微孔过滤器,存留液样,一般容量不小于2.5L说明:
蒲斗盖:
2—.上部漏斗 +
-微孔过滤器;
下部漏斗,
5米紧装置:
防静电装置
7-吸滤瓶。
图 B.1过滤装置示意图
GB/T33624-2017
真空装置,用丁对吸滤瓶真空减求。可选择抽气速率30I./min的真空泵,B.1.1.5
洗瓶,用于喷射溶剂冲洗器具及试样的压方瓶:B.1.1.6
镊子,用十夹取滤膜,夹持部位扁平光滑,材质以不锈钢为宜。B,1.1.7
称量瓶、一般选取规格60mm×30mm。B. 1.1.8
恒温箱,能将温度控制在60℃士5℃范制内。B.1.1.9
烧杯,用于加注液样。
1燥器,-般选规格300mm.
B.1.2杂质称量仪器及器真
B. 1.,2. 1
锻子,同 B.1.1.7,
称量瓶,同 B3,1,1.8
分析天平,分度值不大于0.1mg。B.1.3颗粒计数仪器及器具
缓子,同 B.1.1.7。
滤膜固定器,媚图3.2所示,用于固定滤膜的装置。由压盖和托盘组成,托盘直径与滤膜直径B.1.3,2
相匹配。压盖孔径应人于计数面积直径3mm以_上。说明:
1压盖;
2 .—-托。
图 B.2滤膜固定器示意图
B.1.3.3金相显微镜,带有摄像日镜镜头,能测定尺寸不小下5um的颗粒,并配有以下装置:载物台。可白动控制移的机械载物台,使滤膜计数面积内的颗粒被完全描摄取。持装置。在机械载物台上,用于夹持滤膜固定器的装置。注:可选用光源稳定的挖制软件,在自动调节光源和亮度转换时减小亮度的被动。B.1.3.4图像分析仪,将滤膜计数面积内的颗粒通过摄像机显示在视屏1.利用电子装置和计算机对视屏上颗粒影像区域进行分辨.测量并计算颗粒的尺寸及数量。B.2材料
B.2.1溶剂,用下清洗试样及器具:溶剂应与试样相容。般可选择符合S110004—1990(2007)的NY120剂洲或其他等效溶剂,溶剂应经().45μm孔径滤膜过滤,8
GB/T33624—2017
警告:为避免人体吸入这些有害的溶剂,应采取适当的预防措施。通常可选用合适的手套、口罩等防护设备,使室内通风,以保证人体的安全和健康。B.2.2滤膜,白色、无格,表面应Y整洁净,无针眼、破损等缺陷。滤膜材料应与溶剂相容且不易变形滤膜直径一般为47mm或50mm,允许使用不同径的滤膜。滤膜孔径为0.45μm1.2um及其他规格,其中0.45μm孔径用下溶剂过滤,1.2um孔径用于称重法滤膜制作.1.2μm及其他规格孔径用于颗粒计数法滤膜制作。
注:赖粒计数法滤膜制作可根据评定需要选择孔径较大的滤膜。若川孔径较人的滤膜,对较小尺于的题粒收集率会降低,计数的最小颗粒尺寸会增大。最小计数颗粒尺寸一般为滤膜平均孔径的1.5倍或以[。B.3器具清洗
B.3.1露清洗的器具包括容器、漏斗盖、上部漏斗、下部漏斗、微孔过滤、吸滤瓶、夹紧装置、镊子、称量瓶、烧杯.滤膜固定器、洗瓶、绸布、灰尘承接板等所有在试验过程中与试样、皴样、滤膜接触的器具。B.3.2器具清洗后的清洁度应使其带来的附加污染对测量结果的影响可被接受。GB/T 33624—2017
C.1空白试验程序
附录C
(规范性附录)
空白试验程序和有效过滤面积(EFA)校准程序C.1.1空白试验时,用200 mL溶剂代替液样,倒入测重所用容器中,倒入后晃动容器使容器内表面粘附的颗粒进入溶剂,再将溶剂倒人下一容器,直至最后“只容器,并用洗瓶中的溶剂冲洗每一容器内表闻.最后用烧杯将溶剂和冲洗液衡入上部漏斗真空过滤。C.1.2 称重法测量时,按 7.2,2,1~7.2.2.7 进行称重法空白试验,按式(1)计算空白试验结果,其中 N取1。
C.1.3颗粒计数法测量时,按7.3.3.2~7.3.3.5和7.3.1.2-~7.3.1.5逊行颗粒计数法空白试验,按试样消洁度评定所需项目输空白试验结果。C.2有效过滤面积(EFA)校准程序C.2.1制备-一种适合着色的有色粉未悬浮液样,通过滤膜过滤,校准滤膜的有效过滤面积。宜选用红色氧化物作为着色粉末,加入一定剂量的溶剂,按约1mg/L浓度制备,充分光动并用超声波发生器弥散1 min
C,2.2在过滤装置中装人一片 1.,2 μm孔径的滤膜并夹紧,过滤约25 mL 1述悬浮液样或能使滤膜消楚着色的其他悬浮液样,真空抽滤至滤膜干燥,C.2.3打开夹紧装置,从微孔过滤器[:取下滤膜,在滤膜着色边缘内 0.1 III 处测量着色面积直径(有效过滤直径)。根据不同方位至少两次测量结果的平均值计算有效过滤面积(EFA),并在上部凝斗做合适的标记,在相的校准记录表市记录结果1C
小提示:此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容,若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。