GB/T 35007-2018
基本信息
标准号： GB/T 35007-2018
中文名称：半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
标准类别：国家标准(GB)
标准状态：现行
出版语种：简体中文
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标准简介
GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
GB/T35007-2018
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标准内容
ICS.31.200
中华人民共和国国家标准
GB/T35007—2018
半导体集成电路
低电压差分信号电路测试方法
Semiconductor integrated circuits-Measuring method of low voltage differential signaling circuitry2018-03-15发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2018-08-01实施
规范性引用文件
术语和定义
测试环境要求
测试注意事项
5静态参数测试
单端数字接口参数
输入高电平阅值电压（VTH）
输人低电平阅值电压（VTL）.
输人电流（IIN）
电源关断输入漏电流（IIN-OFF）输出LVDS高电压（VoHL）
输出LVDS低电压（VoLL）
共模输出电压（Vas）.
互补态共模输出电压变化（△Vos）差分输出电压（Vop）
互补态差分输出电压变化（△VoD）LVDS输出短路电流（IosL）.
电源关断输出漏电流（I0-OFF）LVDS输出高阻态电流（IozL).
内置差分输人电阻（Rn）
内置差分输出电阻（RoT）
静态电源电流（IDD）
关断电源电流（IDDz）
6动态参数测试
输人电容（C)和输出电容（Co）动态电源电流（IDDA）
最高工作频率（fMAx）
最低工作频率（fMIN）
最大数据率（DRMAx）
输出由低电平到高电平传输延迟时间（tPLH）输出由高电平到低电平传输延迟时间（tPHL）输出由高阻态到高电平传输延迟时间（tpzH）输出由高阻态到低电平传输延迟时间（trzL）6.10
输出由高电平到高阻态传输延时间（tpHz）次
GB/T35007—2018
GB/T35007—2018
输出由低电平到高阻态传输延迟时间（tPLz）输出由低电平到高电平转换时间（tTLH）输出由高电平到低电平转换时间（tTHL）脉冲时滞（tsKp）.bZxz.net
通道间时滞（tsko）
眼图高度（eH）
眼图宽度（ew）
确定性抖动（D,）
随机抖动（R，）
总抖动（J）
附录A（资料性附录）
眼图测试对仪器的要求
iiKANiKAca
本标准按照GB/T1.1—2009给出的规定起草GB/T35007—2018
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。本标准由全国半导体器件标准化技术委员会（SAC/TC78)归口。本标准起草单位：成都振芯科技股份有限公司，工业和信息化部电子工业标准化研究院、工业和信息化部电子第五研究所、深圳市国微电子有限公司、深圳市众志联合电子有限公司、中国电子科技集团公司第二十九研究所。
本标准主要起草人：陈雁、罗彬、郭超、王会影、李、蔡志刚、邬海忠、钟科。iKAoNi KAca
-iiiKAoNniKAca
1范围
半导体集成电路
低电压差分信号电路测试方法
GB/T35007—2018
本标准规定了半导体集成电路低电压差分信号（LVDS，lowvoltagedifferentialsignaling）电路（以下称为“器件”）静态参数，动态参数测试方法的基本原理本标准适用于低电压差分信号电路静态参数、动态参数的测试。2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T17574一1998半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路3术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。3.1
脉冲时滞
pulse skew
同一通道内，输出由低电平到高电平的传输延迟时间与输出由高电平到低电平传输延迟时间的差值。
channel-to-channel skew
通道间时滞
针对多通道器件，不同通道间传输延迟时间的差值。3.3
eye diagram
用余辉的方式累计叠加显示采集到的串行信号的比特流的结果，叠加后的图形为眼孔状3.4
眼图高度
eye diagram height
眼图在垂直方向张开的幅度。
眼图宽度
eye diagram width
眼图在水平方向张开的幅度。
jitter
信号在某个时刻，相对于其理想时间位置上的短期偏离。3.7
确定性抖动
deterministic jitter
由可识别的干扰信号造成的，该抖动幅度有限，具备非随机的产生原因。1
iiiKANiKAca
GB/T35007—2018
随机抖动
random jitter
由时序或相位的无规律变化导致的抖动，可采用正态（高斯)分布进行统计。3.9
总抖动
total jitter
随机抖动与确定性抖动之和。
4总则
测试环境要求
除另有规定外，测试按如下条件：环境温度：15℃～35℃；
环境气压：86kPa106kPa；
如果环境湿度对试验有影响，应在相关文件中规定。4.2
测试注意事项
测试期间，应遵循以下事项：
环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合相关文件的规定：b）
施于被测器件的电源电压应在规定值的士1%以内，施于被测器件的其他电参量的准确度应符合器件相关文件的规定；
被测器件与测试系统连接或断开时，不应超过器件的使用极限条件：d）
应避免因静电放电而引起器件损伤；e)
非被测输人端和输出端是否空应符合相关文件的规定5静态参数测试
单端数字接口参数
单端数字接口参数包括输入高电平电压（VH）、输人低电平电压（VL）输出高电平电压（VoH）、输出低电平电压（Vot）、输人高电平电流（Im）、输人低电平电流（Iu）、输出高电平电流（IoH）、输出低电平电流（IoL）输人钳位电压（VcL）、输出低电平短路电流（IosL）、输出高电平短路电流（IosH）、输出高阻态电流（Ioz）等的测试方法应符合GB/T17574—1998的规定。5.2
输入高电平阅值电压（VTH）
测试输入端的最小差分电压的值，以反映器件输入端的电平识别能力，5.2.2测试原理图
VTH测试原理图如图1所示。
iiiKAoNiKAca
5.2.3测试条件
输入端
：输入端
相应输出端
！其他
输出端
图1输入高电平阈值电压Vm测试原理图相关文件应规定下列条件：
a）环境温度或参考点温度；
电源电压：
输入端施加的共模电压；
输人端施加的差分电压；
输出端电压或输出状态。
5.2.4测试程序
测试程序如下：
将被测器件接入测试系统中；
在电源端施加规定的电压V
在其他输入端和输出端施加规定的条件；在被测输人端施加规定的共模电压VcM；GB/T35007—2018
调节被测输人端的差分电压V，使输出端电压V。为规定高电平电压时的最小差分电压即为输人高电平阅值电压VTH；
多通道器件按c）~e）的规定，测试各对应被测输人端注1：输入共模电压指正向LVDS输人端电压与反向LVDS输入端电压的平均值，即VcM=0.5(V++V-）。注2：输人差分电压指正向LVDS输人端电压与反向LVDS输入端电压的差值，即Vm=Vi+-Vi-。5.3输入低电平阀值电压（V）
5.3.1目的
测试输入端的最大差分电压的值，以反映器件输入端的电平识别能力。5.3.2测试原理图
VL的测试原理图如图2所示。
GB/T35007—2018
5.3.3测试条件
输入端
：输入端
相应输出端
！其他
！输出端
图2输入低电平阐值电压V测试原理图相关文件应规定下列条件：
环境温度或参考点温度；
b）电源电压；
输端施加的共模电压；
输人端施加的差分电压；
输出端电压或输出状态。
5.3.4测试程序
测试程序如下：
将被测器件接入测试系统中；
在电源端施加规定的电压VPD：
在其他输人端和输出端施加规定的条件：d)
在被测输人端施加规定的共模电压VcM；调节被测输人端的差分电压Vn，使输出端电压Vo为规定低电平电压时的最小差分电压即为输入低电平阅值电压VTL;
多通道器件按c）～e)的规定，测试各对应被测输入端。注1：输人共模电压指正向LVDS输人端电压与反向LVDS输入端电压的平均值，即VeM=0.5(V++V,）注2：输人差分电压指正向LVDS输人端电压与反向LVDS输入端电压的差值，即Vm=V+一V-。5.4
输入电流（IN）
测试流人或流出被测输人端的电流，以反映器件的输人端漏电流水平，5.4.2测试原理图
IiN测试原理图如图3所示。
测试条件
相关文件应规定下列条件：
a）环境温度或参考点温度；
电源电压：
被测输入端
IN-OFF
Vhp-OV
3输入电流IIN测试原理图
被测输人端输人确定范围的电压。测试程序
测试程序如下：
将被测器件接入测试系统中；
在电源端施加规定的电压VDD
在其他输人端和输出端施加规定的条件；被测输入端电压ViN调到规定的电压极值；在被测输人端测得输人电流IIN；多通道器件按c)～e)的规定，测试各对应被测输人端。电源关断输入漏电流（IIN-OF）5.5.1
测试器件在电源断电时的输人端漏电流水平。测试原理图
IIN-OFP测试原理图如图4所示。GB/T35007—2018
GB/T35007—2018
5.5.3测试条件
被测输入端
IIN-UFH
Von-oV
电源关断输入漏电流IIN-OF测试原理图图4
相关文件应规定下列条件：
环境温度或参考点温度；
电源电压：
被测输人端输入确定范围的电压。测试程序
测试程序如下：
将被测器件接人测试系统中：
电源端接OV电压；
在其他输人端和输出端施加规定的条件；被测输人端电压VIN调到规定的电压极值；在被测输人端测得输人电流IIN-OFF；多通道器件按c)～e)的规定，测试各对应被测输人端输出LVDS高电压（VoL）
测试器件单端输出为逻辑高值时的输出高电平范围。5.6.2测试原理图
VoHL测试原理图如图5所示。
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中华人民共和国国家标准
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半导体集成电路
低电压差分信号电路测试方法
Semiconductor integrated circuits-Measuring method of low voltage differential signaling circuitry2018-03-15发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2018-08-01实施
规范性引用文件
术语和定义
测试环境要求
测试注意事项
5静态参数测试
单端数字接口参数
输入高电平阅值电压（VTH）
输人低电平阅值电压（VTL）.
输人电流（IIN）
电源关断输入漏电流（IIN-OFF）输出LVDS高电压（VoHL）
输出LVDS低电压（VoLL）
共模输出电压（Vas）.
互补态共模输出电压变化（△Vos）差分输出电压（Vop）
互补态差分输出电压变化（△VoD）LVDS输出短路电流（IosL）.
电源关断输出漏电流（I0-OFF）LVDS输出高阻态电流（IozL).
内置差分输人电阻（Rn）
内置差分输出电阻（RoT）
静态电源电流（IDD）
关断电源电流（IDDz）
6动态参数测试
输人电容（C)和输出电容（Co）动态电源电流（IDDA）
最高工作频率（fMAx）
最低工作频率（fMIN）
最大数据率（DRMAx）
输出由低电平到高电平传输延迟时间（tPLH）输出由高电平到低电平传输延迟时间（tPHL）输出由高阻态到高电平传输延迟时间（tpzH）输出由高阻态到低电平传输延迟时间（trzL）6.10
输出由高电平到高阻态传输延时间（tpHz）次
GB/T35007—2018
GB/T35007—2018
输出由低电平到高阻态传输延迟时间（tPLz）输出由低电平到高电平转换时间（tTLH）输出由高电平到低电平转换时间（tTHL）脉冲时滞（tsKp）.bZxz.net
通道间时滞（tsko）
眼图高度（eH）
眼图宽度（ew）
确定性抖动（D,）
随机抖动（R，）
总抖动（J）
附录A（资料性附录）
眼图测试对仪器的要求
iiKANiKAca
本标准按照GB/T1.1—2009给出的规定起草GB/T35007—2018
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。本标准由全国半导体器件标准化技术委员会（SAC/TC78)归口。本标准起草单位：成都振芯科技股份有限公司，工业和信息化部电子工业标准化研究院、工业和信息化部电子第五研究所、深圳市国微电子有限公司、深圳市众志联合电子有限公司、中国电子科技集团公司第二十九研究所。
本标准主要起草人：陈雁、罗彬、郭超、王会影、李、蔡志刚、邬海忠、钟科。iKAoNi KAca
-iiiKAoNniKAca
1范围
半导体集成电路
低电压差分信号电路测试方法
GB/T35007—2018
本标准规定了半导体集成电路低电压差分信号（LVDS，lowvoltagedifferentialsignaling）电路（以下称为“器件”）静态参数，动态参数测试方法的基本原理本标准适用于低电压差分信号电路静态参数、动态参数的测试。2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T17574一1998半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路3术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。3.1
脉冲时滞
pulse skew
同一通道内，输出由低电平到高电平的传输延迟时间与输出由高电平到低电平传输延迟时间的差值。
channel-to-channel skew
通道间时滞
针对多通道器件，不同通道间传输延迟时间的差值。3.3
eye diagram
用余辉的方式累计叠加显示采集到的串行信号的比特流的结果，叠加后的图形为眼孔状3.4
眼图高度
eye diagram height
眼图在垂直方向张开的幅度。
眼图宽度
eye diagram width
眼图在水平方向张开的幅度。
jitter
信号在某个时刻，相对于其理想时间位置上的短期偏离。3.7
确定性抖动
deterministic jitter
由可识别的干扰信号造成的，该抖动幅度有限，具备非随机的产生原因。1
iiiKANiKAca
GB/T35007—2018
随机抖动
random jitter
由时序或相位的无规律变化导致的抖动，可采用正态（高斯)分布进行统计。3.9
总抖动
total jitter
随机抖动与确定性抖动之和。
4总则
测试环境要求
除另有规定外，测试按如下条件：环境温度：15℃～35℃；
环境气压：86kPa106kPa；
如果环境湿度对试验有影响，应在相关文件中规定。4.2
测试注意事项
测试期间，应遵循以下事项：
环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合相关文件的规定：b）
施于被测器件的电源电压应在规定值的士1%以内，施于被测器件的其他电参量的准确度应符合器件相关文件的规定；
被测器件与测试系统连接或断开时，不应超过器件的使用极限条件：d）
应避免因静电放电而引起器件损伤；e)
非被测输人端和输出端是否空应符合相关文件的规定5静态参数测试
单端数字接口参数
单端数字接口参数包括输入高电平电压（VH）、输人低电平电压（VL）输出高电平电压（VoH）、输出低电平电压（Vot）、输人高电平电流（Im）、输人低电平电流（Iu）、输出高电平电流（IoH）、输出低电平电流（IoL）输人钳位电压（VcL）、输出低电平短路电流（IosL）、输出高电平短路电流（IosH）、输出高阻态电流（Ioz）等的测试方法应符合GB/T17574—1998的规定。5.2
输入高电平阅值电压（VTH）
测试输入端的最小差分电压的值，以反映器件输入端的电平识别能力，5.2.2测试原理图
VTH测试原理图如图1所示。
iiiKAoNiKAca
5.2.3测试条件
输入端
：输入端
相应输出端
！其他
输出端
图1输入高电平阈值电压Vm测试原理图相关文件应规定下列条件：
a）环境温度或参考点温度；
电源电压：
输入端施加的共模电压；
输人端施加的差分电压；
输出端电压或输出状态。
5.2.4测试程序
测试程序如下：
将被测器件接入测试系统中；
在电源端施加规定的电压V
在其他输入端和输出端施加规定的条件；在被测输人端施加规定的共模电压VcM；GB/T35007—2018
调节被测输人端的差分电压V，使输出端电压V。为规定高电平电压时的最小差分电压即为输人高电平阅值电压VTH；
多通道器件按c）~e）的规定，测试各对应被测输人端注1：输入共模电压指正向LVDS输人端电压与反向LVDS输入端电压的平均值，即VcM=0.5(V++V-）。注2：输人差分电压指正向LVDS输人端电压与反向LVDS输入端电压的差值，即Vm=Vi+-Vi-。5.3输入低电平阀值电压（V）
5.3.1目的
测试输入端的最大差分电压的值，以反映器件输入端的电平识别能力。5.3.2测试原理图
VL的测试原理图如图2所示。
GB/T35007—2018
5.3.3测试条件
输入端
：输入端
相应输出端
！其他
！输出端
图2输入低电平阐值电压V测试原理图相关文件应规定下列条件：
环境温度或参考点温度；
b）电源电压；
输端施加的共模电压；
输人端施加的差分电压；
输出端电压或输出状态。
5.3.4测试程序
测试程序如下：
将被测器件接入测试系统中；
在电源端施加规定的电压VPD：
在其他输人端和输出端施加规定的条件：d)
在被测输人端施加规定的共模电压VcM；调节被测输人端的差分电压Vn，使输出端电压Vo为规定低电平电压时的最小差分电压即为输入低电平阅值电压VTL;
多通道器件按c）～e)的规定，测试各对应被测输入端。注1：输人共模电压指正向LVDS输人端电压与反向LVDS输入端电压的平均值，即VeM=0.5(V++V,）注2：输人差分电压指正向LVDS输人端电压与反向LVDS输入端电压的差值，即Vm=V+一V-。5.4
输入电流（IN）
测试流人或流出被测输人端的电流，以反映器件的输人端漏电流水平，5.4.2测试原理图
IiN测试原理图如图3所示。
测试条件
相关文件应规定下列条件：
a）环境温度或参考点温度；
电源电压：
被测输入端
IN-OFF
Vhp-OV
3输入电流IIN测试原理图
被测输人端输人确定范围的电压。测试程序
测试程序如下：
将被测器件接入测试系统中；
在电源端施加规定的电压VDD
在其他输人端和输出端施加规定的条件；被测输入端电压ViN调到规定的电压极值；在被测输人端测得输人电流IIN；多通道器件按c)～e)的规定，测试各对应被测输人端。电源关断输入漏电流（IIN-OF）5.5.1
测试器件在电源断电时的输人端漏电流水平。测试原理图
IIN-OFP测试原理图如图4所示。GB/T35007—2018
GB/T35007—2018
5.5.3测试条件
被测输入端
IIN-UFH
Von-oV
电源关断输入漏电流IIN-OF测试原理图图4
相关文件应规定下列条件：
环境温度或参考点温度；
电源电压：
被测输人端输入确定范围的电压。测试程序
测试程序如下：
将被测器件接人测试系统中：
电源端接OV电压；
在其他输人端和输出端施加规定的条件；被测输人端电压VIN调到规定的电压极值；在被测输人端测得输人电流IIN-OFF；多通道器件按c)～e)的规定，测试各对应被测输人端输出LVDS高电压（VoL）
测试器件单端输出为逻辑高值时的输出高电平范围。5.6.2测试原理图
VoHL测试原理图如图5所示。
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