GB/T 2481.2-2020
基本信息
标准号： GB/T 2481.2-2020
中文名称：固结磨具用磨料 粒度组成的检测和标记第2部分:微粉
标准类别：国家标准(GB)
标准状态：现行
出版语种：简体中文
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标准分类号
关联标准
出版信息
相关单位信息
标准简介
GB/T 2481.2-2020.Bonded abrasives-Determination and designation of grain size distribution-Part 2 :Microgrits.
1范围
GB/T 2481的本部分规定了刚玉、碳化硅微粉F230~ F2000、J240~J 8000 的术语和定义、粒度组成与粒度分级、微粉的检测、检测方法、标记和标志。
GB/T 2481.2适用于制造固结磨具和一般工业用途的微粉,精密研磨用的微粉,从固结磨具回收的微粉，以及用于抛光的松散微粉。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 4676普通磨料取样 方法(GB/T 4676-2018, ISQ9138 :2015,MOD)
GB/T 16458磨料磨具术语
3术语和定义
GB/T 16458界定的以及下列术语和定义适用于本文件。
3.1
微粉microgrits
用沉降法或电阻法检验其粒度组成时,中值粒径ds50(或dv50)不大于64 μm的磨粒。
6检测方法
6.1X射线重力沉降法
6.1.1 总则
X射线重力沉降技术是利用重力沉降来检测分散在液体中的微粉的粒度组成的一种方法。通过监测对X射线的增量信号吸收来测量液体悬浮液中固体物质的浓度。这种测量粒度组成的方法适用于能分散在液体中的微粉或以浆体形式存在的微粉。分析的典型的颗粒尺寸范围从大约0.1μm到大约300μm。这种方法被用来测量那些包含具有大致相同化学成分且能使X射线适当不透明的颗粒材料。
6.1.2 检测装置
测试装置由样品泵、样品池、样品池的定位和移动系统、X射线源(通过样品池发射X射线到探测器)、把X射线强度转换为浓度的转换器,X-Y记录仪和相应的电源(结构框图见图1)。
1范围
GB/T 2481的本部分规定了刚玉、碳化硅微粉F230~ F2000、J240~J 8000 的术语和定义、粒度组成与粒度分级、微粉的检测、检测方法、标记和标志。
GB/T 2481.2适用于制造固结磨具和一般工业用途的微粉,精密研磨用的微粉,从固结磨具回收的微粉，以及用于抛光的松散微粉。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 4676普通磨料取样 方法(GB/T 4676-2018, ISQ9138 :2015,MOD)
GB/T 16458磨料磨具术语
3术语和定义
GB/T 16458界定的以及下列术语和定义适用于本文件。
3.1
微粉microgrits
用沉降法或电阻法检验其粒度组成时,中值粒径ds50(或dv50)不大于64 μm的磨粒。
6检测方法
6.1X射线重力沉降法
6.1.1 总则
X射线重力沉降技术是利用重力沉降来检测分散在液体中的微粉的粒度组成的一种方法。通过监测对X射线的增量信号吸收来测量液体悬浮液中固体物质的浓度。这种测量粒度组成的方法适用于能分散在液体中的微粉或以浆体形式存在的微粉。分析的典型的颗粒尺寸范围从大约0.1μm到大约300μm。这种方法被用来测量那些包含具有大致相同化学成分且能使X射线适当不透明的颗粒材料。
6.1.2 检测装置
测试装置由样品泵、样品池、样品池的定位和移动系统、X射线源(通过样品池发射X射线到探测器)、把X射线强度转换为浓度的转换器,X-Y记录仪和相应的电源(结构框图见图1)。
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标准内容
ICS 25.100.70
中华人民共和国国家标准
GB/T2481.2—2020
代替GB/T2481.2—2009
固结磨具用磨料
粒度组成的检测和标记
第2部分：微粉
Bonded abrasives-Determination and designation of grain size distribution-Part 2:Microgrits
(ISO 8486-2:2007,Bonded abrasivesDetermination and designation of grain sizedistributionPart2:MicrogritsF230otoF2o00,MOD)2020-04-28发布
国家市场监督管理总局
国家标准化管理委员会
2020-11-01实施
规范性引用文件
术语和定义
粒度组成与粒度分级
微粉系列
粒度组成
粒度分级
微粉的检测
充允许偏差
检测方法的标记
6检测方法
X射线重力沉降法
电阻法
沉降管法
标志·
附录A（资料性附录）
本部分与ISO8486-2:2007相比的结构变化情况GB/T2481.2—2020
附录B（资料性附录）
用沉降管粒度仪检测F系列微粉、J系列微粉粒度的记录表格.附录C（资料性附录）电熔刚玉粒度组成检测数据处理示例23
Hii Kaeer KAca
GB/T2481《固结磨具用磨料粒度组成的检测和标记》分为以下2个部分：第1部分：粗磨粒F4F220；
第2部分：微粉。
本部分为GB/T2481的第2部分。
本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。GB/T 2481.2—2020
本部分代替GB/T2481.2—2009《固结磨具用磨料粒度组成的检测和标记第2部分：微粉》，与
GB/T2481.22009相比.除编辑性修改外主要技术变化如下：一修改了微粉的定义（见第3章，2009年版的第3章）；将检测方法中\光电沉降仪法”修改为“X射线重力沉降法”（见6.1.2009年版的6.2)；增加了电阻法检测F系列微粉粒度组成的内容（见6.2.7.1)；修改了沉降管法检测的相关内容（见6.3，2009年版的6.3）。本部分使用重新起草法修改采用ISO8486-2：2007《固结磨具用磨料粒度组成的检测和标记第2部分：微粉F230～F2000》。
本部分与ISO8486-2:2007相比在结构上有较多调整：附录A中列出了本部分与ISO8486-2:2007的章条编号对照一览表。
本部分与ISO8486-2：2007的技术性差异及其原因如下：一关于规范性引用文件，本部分做了具有技术性差异的调整，以适应我国的技术条件，调整的情况集中反映在第2章“规范性引用文件”中，具体调整如下：：删除了ISO8486-1；
·增加引用了GB/T4676；
·增加引用了GB/T16458
修改了微粉的定义，以完善其内容，并与我国标准体系一致增加了精密研磨用J240～J8000微粉的内容，以满足我国的实际生产和应用需要；删除了ISO8486-2:2007中4.2的计算内容，因为其仅适用于表1中的粒度系列，而不适用于其他粒度系列；
删除了ISO8486-2:2007中X射线重力沉降法检测的原理内容，因为实际检测中并不需要利用其进行计算；
删除了IS08486-2：2007中的表11、表12和表13，同时增加了参数K值的详细计算公式，以适应我国的实际情况。
本部分做了下列编辑性修改：
修改了标准名称；
—一修改了范围的表述方式；
删除了ISO8486-2:2007中的资料性附录A。本部分由中国机械工业联合会提出。本部分由全国磨料磨具标准化技术委员会（SAC/TC139)归口本部分起草单位：郑州磨料磨具磨削研究所有限公司、珠海真理光学仪器有限公司、淄博金纪元研磨材有限公司、平顶山易成新材料有限公司。m
GB/T2481.2—2020
本部分主要起草人：包华、张良、张福根、丁建平、夏军、王伟涛、苏燕、马亚飞。本部分所代替标准的历次版本发布情况为：—GB/T2477—1983.GB/T2481—1983;—GB/T2481.2—1998GB/T2481.2—2009。HiiKaeeiKAca
1范围
固结磨具用磨料粒度组成的检测和标记第2部分：微粉
GB/T2481.2—2020
GB/T2481的本部分规定了刚玉、碳化硅微粉F230～F2000、J240～J8000的术语和定义、粒度组成与粒度分级、微粉的检测、检测方法、标记和标志。本部分适用于制造固结磨具和一般工业用途的微粉，精密研磨用的微粉，从固结磨具回收的微粉：以及用于抛光的松散微粉
规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件GB/T4676普通磨料取样方法（GB/T4676—2018ISO9138:2015.MOD）aeeiKA
GB/T16458磨料磨具术语
3术语和定义
GB/T16458界定的以及下列术语和定义适用于本文件。ii
microgrits
用沉降法或电阻法检验其粒度组成时，中值粒径d（或dso）不大于64μm的磨粒。4粒度组成与粒度分级
4.1微粉系列
本部分规定的微粉包括一般工业用途的F系列微粉和精密研磨用的J系列微粉两个系列，粒度号前分别冠以字母“F”和\J”。4.2wwW.bzxz.Net
2粒度组成
F系列微粉和J系列微粉的粒度组成根据下列准则确定：a）
最大粒粒径不应超过d，（或d)的最大许可值；b）在粒度组成曲线的3%点处，其粒径（理论粒径)不应超过d（或d）的最大许可值；在粒度组成曲线的50%点处，其中值粒径（理论粒径）应在规定的d.5o（或dv50）允许范围内；c
在粒度组成曲线的80%/75%、94%/95%点处，其粒径（理论粒径）应达到d8（或dvs）、ds94/95d）
（或d4）的最小许可值。
此四条准则应同时满足。F系列微粉各粒度号的规定值见表1（适用于X射线重力沉降法和电阻法，对应于80%、94%值），表2（适用于沉降管法，对应于80%、95%值）；J系列微粉各粒度号的规定值1
GB/T2481.2—2020
见表3（适用于沉降管法，对应于94%值），表4（适用于电阻法，对应于75%、94%值）。4.3
粒度分级
F系列微粉若按X射线重力沉降法和电阻法测量分为13个粒度号，中值粒径从53μm～1.2um（见表1)，本系列与F系列粗磨粒的最细粒度号F220(63μm）衔接，并采用同样的公比，即/2；F系列微粉若按沉降管法测量分为11个粒度号，中值粒径从55.7um~7.6μm（见表2)。J系列微粉若按沉降管法测量分为15个粒度号，中值粒径从60μm～5.7μm（见表3）；J系列微粉若按电阻法测量分为18个粒度号，中值粒径从57um~1.2μm（见表4)。表1
F230～F2000微粉的粒度组成（X射线重力沉降法和电阻法粒度标记
粒度标记
d..最大值/μm
d.最大值/um
d最大值/μm
dso中值粒径/μm
53.0±3.0
44.5±2.0
36.5±1.5
29.2±1.5
22.8±1.5
17.3±1.0
.9.3±1.0
do最小值/μm
F230～F1200微粉的粒度组成（沉降管法）ds最大值/μm
d.so中值粒径/μm
55.7±3.0
47.5±2.0
39.9±1.5
32.8±1.5
26.7±1.5
21.4±1.0
17.1±1.0
13.7±1.0
11.0±1.0
daa最小值/μum
dso最小值/μm
ds最小值/μm
粒度标记
粒度标记
d.最大值/μm
dm最大值/μm
J240～J3000微粉的粒度组成（沉降管法）d最大值/μm
dso中值粒径/μm
60.0±4.0
52.0±3.0
46.0±2.5
40.0±2.0
34.0±2.0
28.0±2.0
24.0±1.5
21.0±1.3
18.0±1.0
15.5±1.0
13.0±1.0
10.5±1.0
J240～J8000微粉的粒度组成（电阻法）dv最大值/umrdwao中值粒径/um
57.0±3.0
48.0±3.0
40.0±2.5
35.0±2.0
30.0±2.0
25.0±2.0
20.0±1.5
17.0±1.3
14.0±1.0
11.5±1.0
d最小值/μm
GB/T2481.2—2020
ds4最小值/μm
d4最小值/μm
GB/T 2481.2—2020
5微粉的检测
5.1总则
微粉的粒度组成用X射线重力沉降法、电阻法或沉降管法进行检测。粒度组成的检测准则：
最大粒的粒径(ds或d值）；
粒度组成曲线3%点处的理论粒径（d。或dv值）；b)
粒度组成曲线50%点处的理论粒径（d5或d5值）d)
粒度组成曲线80%/75%、94%/95%点处的理论粒径（d或dv5vds94/95或dg值）。5.2允许偏差
当对测量结果复测时，应给出由于测量技术变化（取样、样品制备、不同的操作人员和仪器等）的允许误差。表5、表6给出了F系列微粉的允许偏差。F系列微粉产品的粒度组成允许值，应为表1、表2之值分别加上此偏差。
表5因测试技术误差的允许偏差—X射线重力沉降法和电阻法
粒度标记
充许偏差值
单位为微米
粒度标记
5.3检测方法的标记
表6因测试技术误差的允许偏差
沉降管法
允许偏差值
微粉检测方法的标记如下（应包括指明所使用的测量仪器）：检测-F微粉一X射线重力沉降法；检测-F微粉沉降管法；
检测-J微粉一电阻法。
检测方法
X射线重力沉降法
6.1.1总则
GB/T 2481.2—2020
单位为微米
X射线重力沉降技术是利用重力沉降来检测分散在液体中的微粉的粒度组成的一种方法。通过监测对X射线的增量信号吸收来测量液体悬浮液中固体物质的浓度。这种测量粒度组成的方法适用于能分散在液体中的微粉或以浆体形式存在的微粉。分析的典型的颗粒尺寸范围从大约0.1um到大约300um。这种方法被用来测量那些包含具有大致相同化学成分且能使X射线适当不透明的颗粒材料。6.1.2检测装置
测试装置由样品泵、样品池、样品池的定位和移动系统、X射线源（通过样品池发射X射线到探测器）、把X射线强度转换为浓度的转换器，X-Y记录仪和相应的电源（结构框图见图1）。GB/T 2481.2—2020
说明：
-样品池：
狭缝：
X射线探测器：
强度-浓度转换器；
ADC（模/数转换器）；
浓度信号（Y）：
微控制器和接口控制器；
DAC(数/模转换器）；
位置信号（X）：
6.1.3检测配备
沉降介质
数字/位置转换器；
泵速；
样品泵：
分散的样品及混合室；
高压电源和灯丝变压器；
X射线管；
颗粒尺寸（X轴）与颗粒的质量分数(Y轴）曲线：电脑、测量和输出软件。
图1X射线重力沉降粒度仪结构框图用蒸馏水或蒸馏水与1，2-乙二醇的混合液作沉降介质，应满足表7的要求。6.1.3.2分散剂
用二磷酸四钠(Na,P,O,)作为分散剂.应满足表7的要求。6.1.3.3黏度
通过改变沉降介质中水的含量来调节黏度。黏度应精确测量。黏度值的允许偏差不应超过表7规定值的士0.1mPa·s。6
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中华人民共和国国家标准
GB/T2481.2—2020
代替GB/T2481.2—2009
固结磨具用磨料
粒度组成的检测和标记
第2部分：微粉
Bonded abrasives-Determination and designation of grain size distribution-Part 2:Microgrits
(ISO 8486-2:2007,Bonded abrasivesDetermination and designation of grain sizedistributionPart2:MicrogritsF230otoF2o00,MOD)2020-04-28发布
国家市场监督管理总局
国家标准化管理委员会
2020-11-01实施
规范性引用文件
术语和定义
粒度组成与粒度分级
微粉系列
粒度组成
粒度分级
微粉的检测
充允许偏差
检测方法的标记
6检测方法
X射线重力沉降法
电阻法
沉降管法
标志·
附录A（资料性附录）
本部分与ISO8486-2:2007相比的结构变化情况GB/T2481.2—2020
附录B（资料性附录）
用沉降管粒度仪检测F系列微粉、J系列微粉粒度的记录表格.附录C（资料性附录）电熔刚玉粒度组成检测数据处理示例23
Hii Kaeer KAca
GB/T2481《固结磨具用磨料粒度组成的检测和标记》分为以下2个部分：第1部分：粗磨粒F4F220；
第2部分：微粉。
本部分为GB/T2481的第2部分。
本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。GB/T 2481.2—2020
本部分代替GB/T2481.2—2009《固结磨具用磨料粒度组成的检测和标记第2部分：微粉》，与
GB/T2481.22009相比.除编辑性修改外主要技术变化如下：一修改了微粉的定义（见第3章，2009年版的第3章）；将检测方法中\光电沉降仪法”修改为“X射线重力沉降法”（见6.1.2009年版的6.2)；增加了电阻法检测F系列微粉粒度组成的内容（见6.2.7.1)；修改了沉降管法检测的相关内容（见6.3，2009年版的6.3）。本部分使用重新起草法修改采用ISO8486-2：2007《固结磨具用磨料粒度组成的检测和标记第2部分：微粉F230～F2000》。
本部分与ISO8486-2:2007相比在结构上有较多调整：附录A中列出了本部分与ISO8486-2:2007的章条编号对照一览表。
本部分与ISO8486-2：2007的技术性差异及其原因如下：一关于规范性引用文件，本部分做了具有技术性差异的调整，以适应我国的技术条件，调整的情况集中反映在第2章“规范性引用文件”中，具体调整如下：：删除了ISO8486-1；
·增加引用了GB/T4676；
·增加引用了GB/T16458
修改了微粉的定义，以完善其内容，并与我国标准体系一致增加了精密研磨用J240～J8000微粉的内容，以满足我国的实际生产和应用需要；删除了ISO8486-2:2007中4.2的计算内容，因为其仅适用于表1中的粒度系列，而不适用于其他粒度系列；
删除了ISO8486-2:2007中X射线重力沉降法检测的原理内容，因为实际检测中并不需要利用其进行计算；
删除了IS08486-2：2007中的表11、表12和表13，同时增加了参数K值的详细计算公式，以适应我国的实际情况。
本部分做了下列编辑性修改：
修改了标准名称；
—一修改了范围的表述方式；
删除了ISO8486-2:2007中的资料性附录A。本部分由中国机械工业联合会提出。本部分由全国磨料磨具标准化技术委员会（SAC/TC139)归口本部分起草单位：郑州磨料磨具磨削研究所有限公司、珠海真理光学仪器有限公司、淄博金纪元研磨材有限公司、平顶山易成新材料有限公司。m
GB/T2481.2—2020
本部分主要起草人：包华、张良、张福根、丁建平、夏军、王伟涛、苏燕、马亚飞。本部分所代替标准的历次版本发布情况为：—GB/T2477—1983.GB/T2481—1983;—GB/T2481.2—1998GB/T2481.2—2009。HiiKaeeiKAca
1范围
固结磨具用磨料粒度组成的检测和标记第2部分：微粉
GB/T2481.2—2020
GB/T2481的本部分规定了刚玉、碳化硅微粉F230～F2000、J240～J8000的术语和定义、粒度组成与粒度分级、微粉的检测、检测方法、标记和标志。本部分适用于制造固结磨具和一般工业用途的微粉，精密研磨用的微粉，从固结磨具回收的微粉：以及用于抛光的松散微粉
规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件GB/T4676普通磨料取样方法（GB/T4676—2018ISO9138:2015.MOD）aeeiKA
GB/T16458磨料磨具术语
3术语和定义
GB/T16458界定的以及下列术语和定义适用于本文件。ii
microgrits
用沉降法或电阻法检验其粒度组成时，中值粒径d（或dso）不大于64μm的磨粒。4粒度组成与粒度分级
4.1微粉系列
本部分规定的微粉包括一般工业用途的F系列微粉和精密研磨用的J系列微粉两个系列，粒度号前分别冠以字母“F”和\J”。4.2wwW.bzxz.Net
2粒度组成
F系列微粉和J系列微粉的粒度组成根据下列准则确定：a）
最大粒粒径不应超过d，（或d)的最大许可值；b）在粒度组成曲线的3%点处，其粒径（理论粒径)不应超过d（或d）的最大许可值；在粒度组成曲线的50%点处，其中值粒径（理论粒径）应在规定的d.5o（或dv50）允许范围内；c
在粒度组成曲线的80%/75%、94%/95%点处，其粒径（理论粒径）应达到d8（或dvs）、ds94/95d）
（或d4）的最小许可值。
此四条准则应同时满足。F系列微粉各粒度号的规定值见表1（适用于X射线重力沉降法和电阻法，对应于80%、94%值），表2（适用于沉降管法，对应于80%、95%值）；J系列微粉各粒度号的规定值1
GB/T2481.2—2020
见表3（适用于沉降管法，对应于94%值），表4（适用于电阻法，对应于75%、94%值）。4.3
粒度分级
F系列微粉若按X射线重力沉降法和电阻法测量分为13个粒度号，中值粒径从53μm～1.2um（见表1)，本系列与F系列粗磨粒的最细粒度号F220(63μm）衔接，并采用同样的公比，即/2；F系列微粉若按沉降管法测量分为11个粒度号，中值粒径从55.7um~7.6μm（见表2)。J系列微粉若按沉降管法测量分为15个粒度号，中值粒径从60μm～5.7μm（见表3）；J系列微粉若按电阻法测量分为18个粒度号，中值粒径从57um~1.2μm（见表4)。表1
F230～F2000微粉的粒度组成（X射线重力沉降法和电阻法粒度标记
粒度标记
d..最大值/μm
d.最大值/um
d最大值/μm
dso中值粒径/μm
53.0±3.0
44.5±2.0
36.5±1.5
29.2±1.5
22.8±1.5
17.3±1.0
.9.3±1.0
do最小值/μm
F230～F1200微粉的粒度组成（沉降管法）ds最大值/μm
d.so中值粒径/μm
55.7±3.0
47.5±2.0
39.9±1.5
32.8±1.5
26.7±1.5
21.4±1.0
17.1±1.0
13.7±1.0
11.0±1.0
daa最小值/μum
dso最小值/μm
ds最小值/μm
粒度标记
粒度标记
d.最大值/μm
dm最大值/μm
J240～J3000微粉的粒度组成（沉降管法）d最大值/μm
dso中值粒径/μm
60.0±4.0
52.0±3.0
46.0±2.5
40.0±2.0
34.0±2.0
28.0±2.0
24.0±1.5
21.0±1.3
18.0±1.0
15.5±1.0
13.0±1.0
10.5±1.0
J240～J8000微粉的粒度组成（电阻法）dv最大值/umrdwao中值粒径/um
57.0±3.0
48.0±3.0
40.0±2.5
35.0±2.0
30.0±2.0
25.0±2.0
20.0±1.5
17.0±1.3
14.0±1.0
11.5±1.0
d最小值/μm
GB/T2481.2—2020
ds4最小值/μm
d4最小值/μm
GB/T 2481.2—2020
5微粉的检测
5.1总则
微粉的粒度组成用X射线重力沉降法、电阻法或沉降管法进行检测。粒度组成的检测准则：
最大粒的粒径(ds或d值）；
粒度组成曲线3%点处的理论粒径（d。或dv值）；b)
粒度组成曲线50%点处的理论粒径（d5或d5值）d)
粒度组成曲线80%/75%、94%/95%点处的理论粒径（d或dv5vds94/95或dg值）。5.2允许偏差
当对测量结果复测时，应给出由于测量技术变化（取样、样品制备、不同的操作人员和仪器等）的允许误差。表5、表6给出了F系列微粉的允许偏差。F系列微粉产品的粒度组成允许值，应为表1、表2之值分别加上此偏差。
表5因测试技术误差的允许偏差—X射线重力沉降法和电阻法
粒度标记
充许偏差值
单位为微米
粒度标记
5.3检测方法的标记
表6因测试技术误差的允许偏差
沉降管法
允许偏差值
微粉检测方法的标记如下（应包括指明所使用的测量仪器）：检测-F微粉一X射线重力沉降法；检测-F微粉沉降管法；
检测-J微粉一电阻法。
检测方法
X射线重力沉降法
6.1.1总则
GB/T 2481.2—2020
单位为微米
X射线重力沉降技术是利用重力沉降来检测分散在液体中的微粉的粒度组成的一种方法。通过监测对X射线的增量信号吸收来测量液体悬浮液中固体物质的浓度。这种测量粒度组成的方法适用于能分散在液体中的微粉或以浆体形式存在的微粉。分析的典型的颗粒尺寸范围从大约0.1um到大约300um。这种方法被用来测量那些包含具有大致相同化学成分且能使X射线适当不透明的颗粒材料。6.1.2检测装置
测试装置由样品泵、样品池、样品池的定位和移动系统、X射线源（通过样品池发射X射线到探测器）、把X射线强度转换为浓度的转换器，X-Y记录仪和相应的电源（结构框图见图1）。GB/T 2481.2—2020
说明：
-样品池：
狭缝：
X射线探测器：
强度-浓度转换器；
ADC（模/数转换器）；
浓度信号（Y）：
微控制器和接口控制器；
DAC(数/模转换器）；
位置信号（X）：
6.1.3检测配备
沉降介质
数字/位置转换器；
泵速；
样品泵：
分散的样品及混合室；
高压电源和灯丝变压器；
X射线管；
颗粒尺寸（X轴）与颗粒的质量分数(Y轴）曲线：电脑、测量和输出软件。
图1X射线重力沉降粒度仪结构框图用蒸馏水或蒸馏水与1，2-乙二醇的混合液作沉降介质，应满足表7的要求。6.1.3.2分散剂
用二磷酸四钠(Na,P,O,)作为分散剂.应满足表7的要求。6.1.3.3黏度
通过改变沉降介质中水的含量来调节黏度。黏度应精确测量。黏度值的允许偏差不应超过表7规定值的士0.1mPa·s。6
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