GB/T 16857.901-2020
基本信息
标准号： GB/T 16857.901-2020
中文名称：产品几何技术规范(GPS)坐标测量机的验收检测和复检检测第901部分:配置多影像探测系统的坐标测量机
标准类别：国家标准(GB)
标准状态：现行
出版语种：简体中文
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相关标签： 产品 几何 技术规范 坐标 测量机 验收 检测 配置 影像
标准分类号
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出版信息
相关单位信息
标准简介
GB/T 16857.901-2020.Geometrical product specifications (GPS)-Acceptance and reverification tests for coordinate measuring machines ( CMM )一Part 901 :CMMs with multiple imaging probing system.
1范围
GB/T 16857的本部分规定了对配置多影像探测系统的坐标测量机进行验收检测和复检检测的方法。
GB/T 16857.901所描述的检测结果包含坐标测量机和探测系统的各种误差的影响,是对使用单一视觉探测系统坐标测量机的探测误差及长度测量误差检测的补充。
GB/T 16857.901适用于配备多个影像探头的坐标测量机。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 18779.1产 品几何量技术规范(GPS)(工件与测量设备的测量检验第 1部分:按规范检验合格或不合格的判定规则(GB/T 18779.1-2002 ,eqv ISO 14253-1:1998)
ISO 10360-1产 品几何技术规范(GPS)坐 标测量机的验收检测和复检检测第1部分:词汇[Geometrical porduct specifications(GPS)一Acceptance and reverification tests for coordinate measuring machines(CMM)-Part 1 :Vocabulary]
ISO 10360-7产品几何技术规范(GPS)坐标测量机的验收检测和复检检测第7部分:使用视觉探测系统的坐标测量机[Geometrical product specifications (GPS)- Acceptance and reverification tests for coordinate measuring machines (CMM)- Part 7:CMMs equipped with imaging probing systems]
1范围
GB/T 16857的本部分规定了对配置多影像探测系统的坐标测量机进行验收检测和复检检测的方法。
GB/T 16857.901所描述的检测结果包含坐标测量机和探测系统的各种误差的影响,是对使用单一视觉探测系统坐标测量机的探测误差及长度测量误差检测的补充。
GB/T 16857.901适用于配备多个影像探头的坐标测量机。
2规范性引用文件
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GB/T 18779.1产 品几何量技术规范(GPS)(工件与测量设备的测量检验第 1部分:按规范检验合格或不合格的判定规则(GB/T 18779.1-2002 ,eqv ISO 14253-1:1998)
ISO 10360-1产 品几何技术规范(GPS)坐 标测量机的验收检测和复检检测第1部分:词汇[Geometrical porduct specifications(GPS)一Acceptance and reverification tests for coordinate measuring machines(CMM)-Part 1 :Vocabulary]
ISO 10360-7产品几何技术规范(GPS)坐标测量机的验收检测和复检检测第7部分:使用视觉探测系统的坐标测量机[Geometrical product specifications (GPS)- Acceptance and reverification tests for coordinate measuring machines (CMM)- Part 7:CMMs equipped with imaging probing systems]
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标准内容
ICS17.040.30
中华人民共和国国家标准
GB/T16857.901—2020
产品几何技术规范（GPS）
坐标测量机的验收检测和复检检测第901部分：配置多影像探测系统的坐标测量机
Geometrical product specifications (GPS)-Acceptance and reverification tests for coordinate measuring machines (CMM)-Part9o1:CMMswithmultipleimagingprobingsystem2020-03-31发布
国家市场监督管理总局
国家标准化管理委员会
2020-10-01实施
GB/T16857.901—2020
GB/T16857《产品几何技术规范（GPS）、坐标测量机的验收检测和复检检测》拟分为如下部分：第1部分：词汇；
第2部分：用于测量线性尺寸的坐标测量机；第3部分：配置转台的轴线作为第四轴的坐标测量机；第4部分：在扫描模式下使用的坐标测量机；第5部分：使用单探针或多探针接触式探测系统的坐标测量机；第6部分：计算高斯拟合要素误差的评定；第7部分：使用视觉探测系统的坐标测量机；第8部分：使用光学距离传感器的坐标测量机；第9部分：配置多种探测系统的坐标测量机；第901部分：配置多影像探测系统的坐标测量机；第10部分：用于测量点到点距离的激光跟踪仪；第12部分：铰接臂坐标测量机（CMM）。本部分为GB/T16857第901部分。本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。ca
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。本部分由全国产品几何技术规范标准化技术委员会（SAC/TC240)提出并归口。本部分起草单位：苏州天准科技股份有限公司、中机生产力促进中心、中国计量科学研究院、陕西威尔机电科技有限公司、深圳市计量质量检测研究院本部分主要起草人：王志伟、明翠新、王为农、曹葵康、杨聪、于冀平、施玉书、郭继平、张涛、朱悦1
GB/T16857.901—2020
本部分根据ISO10360-9Geometricalproductspecifications（GPS）Acceptanceandreverification tests for coordinate measuring systems (CMS)Part 9:CMMs with multipleprobing systems起草，是其在配置多个不同参数和方向的视觉探测系统坐标测量机（符合第7部分的定义）的特定条件下的具体应用，
iiKaeeiKAca
1范围
产品几何技术规范（GPS）
坐标测量机的验收检测和复检检测第901部分：配置多影像探测系统的坐标测量机
GB/T16857.9012020
GB/T16857的本部分规定了对配置多影像探测系统的坐标测量机进行验收检测和复检检测的方法。
本部分所描述的检测结果包含坐标测量机和探测系统的各种误差的影响，是对使用单一视觉探测系统坐标测量机的探测误差及长度测量误差检测的补充本部分适用于配备多个影像探头的坐标测量机。2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单)适用于本文件。GB/T18779.1产品几何量技术规范（GPS)工件与测量设备的测量检验第1部分：按规范检验合格或不合格的判定规则（GB/T18779.12002.eqvISO14253-1：1998）ISO10360-1产品几何技术规范（GPS）坐标测量机的验收检测和复检检测第1部分：词汇[Geometrical porduct specifications(GPS)-Acceptance and reverification tests for coordinate measur-ingmachines(CMM)—Partl:Vocabulary]ISO10360-7产品几何技术规范（GPS）坐标测量机的验收检测和复检检测第7部分：使用视觉探测系统的坐标测量机[Geometricalproductspecifications（GPS）一Acceptanceandreverificationtests for coordinate measuring machines (CMM)Part 7:CMMs equipped with imaging probing sys-tems
ISO10360-9产品几何技术规范（GPS）坐标测量机的验收检测和复检检测第9部分：配置多种探测系统的坐标测量机[Geometricalproductspecifications（GPS）一Acceptanceandreverificationtests for coordinate measuring systems (CMS)Part 9:CMMs with multiple probing systemsISO14253-1产品几何技术规范（GPS）工件与测量设备的测量检验第1部分：按规范检验合格或不合格的判定规则［Geometricalporductspecifications（GPS）Inspectionbymeasurementofworkpieces and measuring equipmentPart l:Decision rules for verifying conformity or nonconformity withspecifications
ISO/IECGuide99国际计量学词汇基础和通用概念及有关术语（VIM)[Internationalvocabu-laryof metrology-Basicandgeneral conceptsand associated terms (VIM)3术语和定义
ISO10360-1、ISO10360-7、ISO10360-9、ISO14253-1和ISO/IECGuide99界定的以及下列术语1
GB/T16857.901—2020
和定义适用于本文件。
影像探测系统imagingprobingSystem通过影像系统建立测量点的探测系统。注1：本部分主要是关于能在探测系统轴的横向方向进行测量的影像探测系统，注2：视频或视觉探测系统就是影像探测系统3.2
多影像探测系统坐标测量机CMMswithmultipleimagingprobingsystem配置多个影像探测系统的坐标测量机。3.3
（影像探测系统的）测量平面measuringplane（oftheimagingprobingsystem）影像探测系统视场定义的二维平面。3.4
平行多影像探测系统parallelmultipleimagingprobingsystem测量平面呈平行关系的多影像探测系统。3.5
非平行多影像探测系统nonparallelmultipleimagingprobingsystemKaeerKAca
测量平面不平行的多影像探测系统。3.6
检测圆testcircle
用于验收检测和复检检测的圆形实物标准器。3.7
检测球
testsphere
用于验收检测和复检检测的球形实物标准器3.8
parallel multipleimagingprobing systemformerror平行多影像探测系统形状误差
PForm.Ci.nx25:PMIPs
用平行多影像探测系统测量同一个检测圆，对所有影像探测系统的数据，用无约束最小二乘法拟合计算圆心，所有测量点到圆心的距离的极差即形状误差。3.9
parallel multipleimagingprobing system size error平行多影像探测系统尺寸误差
Psize.Cir.n×25::PMPs
用平行多影像探测系统测量同一个检测圆，对所有影像探测系统的数据，用无约束最小二乘法拟合计算直径，计算值与检测圆实际值的差值即尺寸误差。3.10
平行多影像探测系统位置误差parallelmultipleimagingprobingsystemlocationerrorLDia.Cir.nx25:PMIPs
用平行多影像探测系统测量同一个检测圆，对每个探测系统的数据，用无约束最小二乘法拟合计算圆心，包含各个圆心的最小外接圆的直径即位置误差。3.11
非平行多影像探测系统形状误差PFarm.Sph.nX 25:: NPMIP
nonparallel multiple imaging probing system form error用非平行多影像探测系统测量同一个检测球，对所有影像探测系统的数据，用无药束最小二乘法拟2
合计算球心，所有测量点到球心的距离的极差即形状误差。3.12
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非平行多影像探测系统尺寸误差nonparallelmultipleimagingprobingsystemsizeerrorP size.Sph.n× 25: : NPMIPS
用非平行多影像探测系统测量同一个检测球，对所有影像探测系统的数据，用无约束最小二乘法拟合计算直径，计算值与检测球实际值的差值即尺寸误差。3.13
非平行多影像探测系统位置误差nonparallelmultipleimagingprobingsystemlocationerrorLDiLSplLnX25::NPMIPs
用非平行多影像探测系统测量同一个检测球，对每个探测系统的数据，用无药束最小二乘法拟合计算球心，包含各个球心的最小外接球的直径即位置误差。3.14
平行多影像探测系统形状最大允许误差maximumpermissibleparallelmultipleimagingprobingsystem formerror
PForm.Cir.nX 25 : PMIPs.MPE
技术规范所允许的多影像探测系统的形状误差PForm.Cir.nx25:PMPs的极限值注：多影像探测系统形状最大允许误差，PFarm.Cirnx25:PMIPps.MPE，可用如下种形式之一表示；a）PFotn.Cir.nx2s::PMIPS.MPE=（A十Lp/K）和B中最小的b）PFarm.Cir.DX25HPMIPS.MPE-（A+Lp/K）c)PForm.Cir.nx25:PMPS,MPE-B
其中，A为大于零的常数，单位为um，由制造商提供-K为无量纲的大于零的常数，由制造商提供；L，为检测圆中心位置与参考位置的欧氏距离，单位为mm：B为制造商提供的最大允许误差，单位为um。3.15
maximumpermissibleparallel multiple imagingprobing平行多影像探测系统尺寸最大允许误差system size error
P size.Cir.ax 25:PMIPS.MPE
技术规范所允许的多影像探测系统的尺寸误差Psize.Cir.nx25:PMIrs的极限值。注：多影像探测系统尺寸最大允许误差，P25PMIPs，可用如下三种形式之一表示：a）Psine.Cr.nx25:PMIPs.MPE=（A+Lp/K）和B中最小的b)Psize.Cir.nx25:PMIPs.MPg=(A+Lp/K)C)Psix. Cr.nX25:PMIPs.Mpg =B其中，A为大于零的常数，单位为m，由制造商提供；K为无量纲的大于零的常数，由制造商提供；L为检测圆中心位置与参考位置的欧氏距离，单位为mm；B为制造商提供的最大允许误差，单位为um。3.16
平行多影像探测系统位置最大允许误差maximumpermissibleparallelmultipleimagingprobingsystemlocationerror
LDia.Cir.nX 25::PMIPs.MPE
技术规范所允许的多影像探测系统的位置误差LDin.Ci.nx25:PMps的极限值。注：多影像探测系统位置最大允许误差，LD品CS.MPE，可用如下三种形式之一表示：a）LCr.xPMIPs.MPE=（A+Lp/K）和B中最小的b) LDizCir.nx 25:PMIPs.MPE=(A+Lp/K)c)Lic
25:PMIP
其中，A为大于零的常数，单位为m，由制造商提供；K为无量纲的大于零的常数，由制造商提供；Lp为检测圆中心位置与参考位置的欧氏距离，单位为mm；B为制造商提供的最大允许误差，单位为um。3
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非平行多影像探测系统形状最大允许误差probing system form error
P FormLSph.nx 25: NPMIPS.MPEmaximumpermissiblenonparallelmultipleimaging技术规范所允许的多影像探测系统的形状误差PFormn.Splinx25:NPMIPps的极限值。注：多影像探测系统形状最大允许误差，PFurm.shnX25:NPMIPS.MPE，可用如下三种形式之一表示：Prarm.Splhnx2:NPPs.MP=（A+L/K）和B中最小的a）
P FormSpl.nx25: NPMIPS,MPE=(A + Lp/K)b)
PFarm.Spb.nx 25 H: NPMIPS.MPEBc）
其中，A为大于零的常数，单位为um，由制造商提供；K为无量纲的大于零的常数，由制造商提供；Lp为检测球中心位置与参考位置的欧氏距离，单位为mm；B为制造商提供的最大允许误差，单位为μm。3.18
非平行多影像探测系统尺寸最大允许误差probing system size error
P sixe.Sph.n× 25 :NPMIPS.MPEmaximumpermissiblenonparallelmultipleimaging技术规范所允许的多影像探测系统的尺寸误差Psize.sph.nx25:NPMiPs的极限值。注：多影像探测系统尺寸最大允许误差，Psix.Spknx25:NPMIPs，可用如下三种形式之一表示：ca
Psiuesph.nx25NPMiPS.MPE=（A+Lp/K）和B中最小的b）
Pse Sph.nx25HINPMIPS.MPE=(A+Lp/K)c)
P se Sphaxz NPMIPS.MPE =B
其中，A为大于零的常数，单位为um，由制造商提供；K为无量纲的大于零的常数，由制造商提供；Lp为检测球中心位置与参考位置的欧氏距离，单位为mm；B为制造商提供的最大允许误差，单位为μm。3.19
非平行多影像探测系统位置最大允许误差maximumpermissiblenonparallelmultipleimagingprobing system location errorLia.Sphux 25:NPMIPs.MPE
技术规范所允许的多影像探测系统的位置误差LpDim.Sphnx25:NPMIPs的极限值。注：多影像探测系统位置最大允许误差，LDix.SphinX25:NPMIPS.MPE，可用如下三种形式之一表示：a)
LD.Sph.nx25:NPMIPS.MPE=（A+Lp/K）和B中最小的LDiLSph.ax 25:NPMIPS.MPE=(A+Lp/K)e
L Di.Sph.nx 25:NPMIPS.MPE =B其中，A为大于零的常数，单位为um，由制造商提供：K为无量纲的大于零的常数，由制造商提供：L为检测球中心位置与参考位置的欧氏距离，单位为mm；B为制造商提供的最大允许误差，单位为um。符号
本部分所使用的符号如表1。
表1符号
Ppom.Cw.nx25iPMms
Psize.Ci.nx 95: PMIPS
Lnia.Cir.nx25PMiPs
平行多影像探测系统形状误差
平行多影像探测系统尺寸误差
平行多影像探测系统位置误差
PFurm.Sph.nX25:NPMIPS
Psee,Sphkax5:NPMps
L Dig.Sph.nX25: NPMIPS
PFarm.Cir.
25:PMIPS.MPE
Pse.CGr.nx 85:PMIPs.MPE
L Di.Cir.nx 25::PMIPS.MPE
P porm.5ph.nX 25: NPMIPS:MPEPstSyhax25:NPMIPS.MPE
L DiLsph.aX25::NPMIPS,MPE
计量特性要求
1一般要求
表1（续）
非平行多影像探测系统形状误差非平行多影像探测系统尺寸误差非平行多影像探测系统位置误差含义
平行多影像探测系统形状最大允许误差平行多影像探测系统尺寸最大允许误差平行多影像探测系统位置最大允许误差非平行多影像探测系统形状最大允许误差非平行多影像探测系统尺寸最大充许误差非平行多影像探测系统位置最大允许误差Aca
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在参照本部分进行检测之前，应首先参照GB/T16857.7对坐标测量机使用各个探测系统分别进iiKae
行探测误差及长度测量误差的检测。5.2
多影像探测系统的误差
误差PFom.CrnX25HPMPs、PsxeCi;PMPs、LLDa.Cir.nx25PMIPs及PForm.Sph.nx25:NPMIPs、Psize.sph.nx25NPMIPs、LDia.sSphnx25NPMIPs不应超过对应的最大允许误差PFormLCir.nx25PMIPs.MPE、Psixe.Cir.nx25PMIPs.MPE、Lpia.ci.nx25:PMIPS.M及Pom.sphnxX25HNPMIPS.MPE、Psiae.sphnx25:NPMTS.MPE、LDin.Sph.nX25PMIPS.PE。这些最大允许误差值的表述：
验收检测，由制造商规定；
一复检检测，由使用方规定。
误差及其相应的最大允许误差以微米（μm）表示。5.3
环境条件
环境条件的允许极值，包括坐标测量机安装场地影响测量工作的温度、湿度和振动等，规定如下：验收检测.由制造商规定；
复检检测，由使用方规定，
在这两种情况下，使用方都可以在允许极值范围内任意选择环境条件验收检测中，使用方有责任为坐标测量机提供制造商技术指标中规定的环境。如果环境不符合规范，不能要求验证本部分中的最大允许误差或最大允许差值。5.4操作条件
对于第6章规定的检测，应按照制造商操作手册给出的程序来操作坐标测量机，应遵守操作手册的规范，主要包括：
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一机器启动/预热；
所有被检测的探测系统应满足其额定工作条件；探测系统、标准器的清洁程序；一探测系统的标定；
如果制造商有规定，标准器应安装在操作手册规定的位置上。探测系统标定之前，应清洁探测系统的所有关键部件，如透镜、反射镜、标准器等，以清除可能影响测量或检测结果的残留物。
探测系统标定及检测过程中，应确保探测系统基本达到热平衡。6验收检测和复检检测
6.1概述
验收检测应根据制造商规定的规范和程序执行，此规范和程序应符合本部分的相关要求；复检检测应根据使用方规定的规范和制造商规定的程序执行。6.2原则
本章的检测方法用于检测多影像探测系统的最大允许误差。每个探测系统均应在设备制造商规定的条件下工作，并且所有探测系统的操作均应符合坐标测量机制造商的正常操作程序。检测方法的原则是：
a）使用已校准的检测圆，确定配置平行多影像探测系统的坐标测量机的测量特性满足规定的形状最大允许误差Prorm.Civ.nx25:：PMIPs、尺寸最大允许误差Psic.Cin.nx25:PMIPs、位置最大允许误差L Dia.Cir.nx251:PMIPs;
使用已校准的检测球，确定配置非平行多影像探测系统的坐标测量机的测量特性满足规定的b）1
形状最大允许误差PForm.Sph.ax5：NPMIPs、尺寸最大允许误差Psuc.Sph.nx25::NPMIPs、位置最大允许误差L Dia.Sph.nx25::NPMIPS。
对于多探测轴坐标测量机，如果各探测轴的测量空间高度重叠，则其检测流程与在单探测轴上配置多个探测系统的坐标测量机的检测流程相同。如果测量空间重叠较小，则应分别检测每个探测轴的探测系统。
对于多探测轴坐标测量机，建议在每个探测轴上至少参照GB/T16857.7检测一个探测系统的误差。如果各探测轴的测量空间重叠较大，可以协商，参照GB/T16857.7只检测一个探测系统的误差，但应增加检测位置的数量。
6.3平行多影像探测系统bzxz.net
6.3.1测量设备
采用检测圆作为实物标准器，其标称直径应不小于10mm且不大于51mm。如果影像探测系统采用同一视场内测量模式，检测圆的直径应为该探测系统视场对角线的10%～66%。检测圆的尺寸和形状应进行校准。由于形状和尺寸偏差会影响检测结果，因此在证明符合或不符合相关规范时，应使用GB/T18779.1考虑检测圆的尺寸和形状的影响。建议检测圆的形状误差不超过Prom.Ci.nx25:PMIPs.MPe的20%。6.3.2程序
将标准器放置到3个不同的位置进行检测。其中一个位置接近标定位置，另外两个位置离标定位6
GB/T16857.901—2020
置尽量远，但距离不超过坐标测量机行程的50%。使用方可以在充许范围内任意选择标准器的位置。对于n个平行影像探测系统中的每一个，在3个检测位置中的每一处测量检测圆。每个圆取25个点，这些点应在角度范围内近似均匀分布（参见ISO10360-7：2011)。6.3.3检测数据分析
对3个位置的检测数据分别进行分析。在每个位置，对所有n个平行影像探测系统所取得的n×25个点，用无约束最小二乘法拟合圆，得到1个拟合圆。计算所有n×25个测量点到拟合圆圆心的距离，所有距离的极差（Rx一R）为该检测位置的形状误差PFarCir.ax25::PMIPS。该拟合圆的直径与检测圆直径校准值的差值的绝对值，为该检测位置的尺寸误差Psiue.Cit.nx25::PMIPs在每个位置，对n个平行影像探测系统的25个测量点分别用无约束最小二乘法拟合圆，总共可得n个拟合圆，包含所有拟合圆圆心的最小外接圆直径为该检测位置的位置误差LDin.Cir.nx25:PMIPs。6.4非平行多影像探测系统
6.4.1测量设备
采用检测球作为实物标准器，其标称直径应不小于10mm且不大于51mm。如果影像探测系统采用同一视场内测量模式，检测球的直径应为该探测系统视场对角线的10%～66%。检测球的尺寸和形状应进行校准。由于形状和尺寸偏差会影响检测结果，因此在证明符合或不符合相关规范时.应使用GB/T18779.1考虑检测圆的尺寸和形状的影响。建议检测球的形状误差不超Kaee
过PPomn.SphnX25:NPMIPS,MPE的20%。6.4.2程序
将标准器放置到3个不同的位置进行检测。其中一个位置接近标定位置，另外两个位置离标定位置尽量远，但不超过坐标测量机行程的50%。使用方可以在允许范围内任意选择标准器的位置。对于n个非平行多影像探测系统中的每一个，在3个检测位置中的每一处测量平行于该影像探测系统测量平面的检测球的大圆。每个圆取25个点，这些点应在角度范围内近似均匀分布（参见IS010360-7：2011)。
对于配置万向测座的影像探测系统，可视为非平行多影像探测系统的一种。探测系统在5个不同的转角位置测量检测球的形状、尺寸和位置，在每个转角位置，对检测球的一个大圆测量25个点，5个位置总共125个点。5个转角位置包括平行于测头轴线方向的二个角度和位于垂直于测头轴线的一个平面内，且互呈90的4个角度构成。在一些坐标测量机的配置中，上述5个转角位置，其中一些可能难以实现或者不能实现。在这种情况下，转角位置可以相对坐标测量机配置的X轴或Y轴旋转士90°。6.4.3检测数据分析
对3个位置的检测数据分别进行分析。G
在每个位置，对所有n个非平行影像探测系统所取得的n×25个点，用无约束最小二乘法拟合球，得到1个拟合球。计算所有n×25个测量点到拟合球球心的距离，所有距离的极差（Rmx一R）为该检测位置的形状误差PForm.sphx25::NPMIPSs。该拟合球的直径与检测球直径校准值的差值的绝对值，为该检测位置的尺寸误差Psize.Sphnx25:NPMIrs。在每个位置，对n个非平行影像探测系统的25个测量点分别用无约束最小二乘法拟合圆，总共可得n个拟合圆，包含所有拟合圆的圆心的最小外接球直径为该检测位置的位置误差LDiasph.nx25:NPMirs。GB/T16857.901—2020
7验收合格性判定
7.1验收检测
如满足如下条件，则多影像探测系统坐标测量机验收检测合格：a）在3个检测位置测得的多影像探测系统的形状误差PFrrm.cCir.nx25PMIPs（PrormLSph.nx25::NPMIps）均不大于由制造商规定的最大允许误差PForm.Cir.n×25:：PMIPsMPE（PForm.Sph.nx25:NPMIPs.MPE），且按照ISO14253-1考虑测量不确定度。b）在3个检测位置测得的多影像探测系统的尺寸误差Psix.Cr.nx25:PMips（Psin.sphnx25:NPMips）均不大于由制造商规定的最大允许误差Psie.Ci.nx25PMIPs.MPe（Psie.Sph.nx25:NPMiPs.MPE），且按照ISO14253-1考虑测量不确定度。
c）在3个检测位置测得的多影像探测系统的位置误差Lrpa.Cirnx25:PMips（Lrpa.Sph.ax25:NPMips）均不大于由制造商规定的最大允许误差LDom.ci.nx25:pMrs.Mre（Lpn.sph.nx25：Nprs.Mpe），且按照ISO14253-1考虑测量不确定度
如果经过所有的相关检测，其特性未合格，则所有测量设备应彻底检查是否有影响测量结果的灰尘、污垢或操作者引起的问题，还应检查确认坐标测量机、标准器和所有探测系统组件处于热平衡状态。将所有问题纠正后，从探测系统标定开始到采用相同的目标探测点，但仅可再重复检测一次。7.2复检检测
如满足如下条件，则多影像探测系统坐标测量机验收检测合格：a）在3个检测位置测得的多影像探测系统的形状误差PFarmcCi,nx25:PMips（Prorm.sph.nx25:NPMIps）均不大于由使用方规定的最大允许误差PFormCir.nx25:PMIrs.MPE（PFormsph.nx25:NPMIrps.MPE），且按照ISO14253-1考虑测量不确定度。在3个检测位置测得的多影像探测系统的尺寸误差Psiz.Cir.ix25:PMIPs（Psic.sph.nx25:NPMIps）均不大于b）
由使用方规定的最大允许误差Psimcit.nx25:PMIPS.MPE（Psw.Sph.nx25：NPMIPs.MPE），且按照ISO14253-1考虑测量不确定度。
c）在3个检测位置测得的多影像探测系统的位置误差Lpm.Cit.nx25:PMips（Lrm.sph.ax25:NPMIps）均不
于由使用方规定的最大允许误差LDin.Cir.nx2PMPs.MPe（LDa.sph.nx25NpMirs.MPE），且按照ISO14253-1考虑测量不确定度
如果经过所有的相关检测，其特性未合格，则所有测量设备应彻底检查是否有影响测量结果的灰尘、污垢或操作者引起的问题，还应检查确认坐标测量机、标准器和所有探测系统组件处于热平衡状态。将所有问题纠正后，从探测系统标定开始到采用相同的目标探测点，但仅可再重复检测一次。8应用
8.1验收检测
在制造商和使用方签订了采购、维护、修理、改造或升级等合约时，本部分所规定的验收检测，可用于验证配置多影像探测系统的坐标测量机系统特性，由制造商和使用方一致同意来确定最大充许误差和最大允许差值。
8.2复检检测
本部分所规定的复检检测可用于组织内部的质量保证体系，用于验证配置多影像探测系统的坐标8
GB/T16857.901—2020
测量机的系统性能，由使用方应根据适用和实际情况来确定最大允许误差和最大允许差值，8.3中间检查
在组织内部的质量保证系统中，周期性地使用简化的复检检测来检查坐标测量机是否符合7.2所规定的最大充许误差和最大充允许差值的要求。建议定期检查坐标测量机的测量性能，并在任何可能严重影响测量性能的事件发生之后（例如发生碰撞、坐标测量机组件的更换）对整机的测量性能立即进行检测9
产品文件和数据页的说明
表2给出了在产品文件、图纸、数据表等中可二选一使用的符号及对应标识。多数二选一符号已简化成下标文字，从而提高了可读性和清晰度。2产品文件、图纸、数据表等符号和对应标识表2
本部分中使用的符号
Peotm.CGr.aX25:HPMS
PsiCn.a 25: PMIPS
LDi.Ca.ax25::PMIP
P Form.Sph.n× 25 : NPMIPs
P sut.5ph.aX 25:NPMIPS
LDi sphnX25:NPMIPS
Pporm.CirnX25:PMIP5,MPE
Ps.Gr.nx 25: PMIPs.MPF
L DCir.nX 25:: PMIPS,MPE
PForm.SphinX 25: NPMIPS.MPE
Psixe.sjhax5:NPMPS.MPR
Lpi.Sph.nx25::NPMIPs.MPE
P[Form.Cir.nX25::PMIPS]
P[Size.Cir.nX25::PMIPS]
L[Dia.Cir.nX25::PMIPS]
P[Form.Sph.nX25::NPMIPS]
P[Size.Sph.nX25::NPMIPS
L[Dia.Sph.nX 25::NPMIPS]
对应标识
MPE(P[Form.Cir.n× 25::PMIPS))MPE(P[Size.Cir.nX25::PMIPS])MPE(L[Dia.Cir.nX25::PMIPS])
MPE(P[Form.Sph.nX25::NPMIPS])MPE(P[Size.Sph.nX25::NPMIPSJ)MPE(L[Dia.Sph.nX25::NPMIPSJ)
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中华人民共和国国家标准
GB/T16857.901—2020
产品几何技术规范（GPS）
坐标测量机的验收检测和复检检测第901部分：配置多影像探测系统的坐标测量机
Geometrical product specifications (GPS)-Acceptance and reverification tests for coordinate measuring machines (CMM)-Part9o1:CMMswithmultipleimagingprobingsystem2020-03-31发布
国家市场监督管理总局
国家标准化管理委员会
2020-10-01实施
GB/T16857.901—2020
GB/T16857《产品几何技术规范（GPS）、坐标测量机的验收检测和复检检测》拟分为如下部分：第1部分：词汇；
第2部分：用于测量线性尺寸的坐标测量机；第3部分：配置转台的轴线作为第四轴的坐标测量机；第4部分：在扫描模式下使用的坐标测量机；第5部分：使用单探针或多探针接触式探测系统的坐标测量机；第6部分：计算高斯拟合要素误差的评定；第7部分：使用视觉探测系统的坐标测量机；第8部分：使用光学距离传感器的坐标测量机；第9部分：配置多种探测系统的坐标测量机；第901部分：配置多影像探测系统的坐标测量机；第10部分：用于测量点到点距离的激光跟踪仪；第12部分：铰接臂坐标测量机（CMM）。本部分为GB/T16857第901部分。本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。ca
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。本部分由全国产品几何技术规范标准化技术委员会（SAC/TC240)提出并归口。本部分起草单位：苏州天准科技股份有限公司、中机生产力促进中心、中国计量科学研究院、陕西威尔机电科技有限公司、深圳市计量质量检测研究院本部分主要起草人：王志伟、明翠新、王为农、曹葵康、杨聪、于冀平、施玉书、郭继平、张涛、朱悦1
GB/T16857.901—2020
本部分根据ISO10360-9Geometricalproductspecifications（GPS）Acceptanceandreverification tests for coordinate measuring systems (CMS)Part 9:CMMs with multipleprobing systems起草，是其在配置多个不同参数和方向的视觉探测系统坐标测量机（符合第7部分的定义）的特定条件下的具体应用，
iiKaeeiKAca
1范围
产品几何技术规范（GPS）
坐标测量机的验收检测和复检检测第901部分：配置多影像探测系统的坐标测量机
GB/T16857.9012020
GB/T16857的本部分规定了对配置多影像探测系统的坐标测量机进行验收检测和复检检测的方法。
本部分所描述的检测结果包含坐标测量机和探测系统的各种误差的影响，是对使用单一视觉探测系统坐标测量机的探测误差及长度测量误差检测的补充本部分适用于配备多个影像探头的坐标测量机。2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单)适用于本文件。GB/T18779.1产品几何量技术规范（GPS)工件与测量设备的测量检验第1部分：按规范检验合格或不合格的判定规则（GB/T18779.12002.eqvISO14253-1：1998）ISO10360-1产品几何技术规范（GPS）坐标测量机的验收检测和复检检测第1部分：词汇[Geometrical porduct specifications(GPS)-Acceptance and reverification tests for coordinate measur-ingmachines(CMM)—Partl:Vocabulary]ISO10360-7产品几何技术规范（GPS）坐标测量机的验收检测和复检检测第7部分：使用视觉探测系统的坐标测量机[Geometricalproductspecifications（GPS）一Acceptanceandreverificationtests for coordinate measuring machines (CMM)Part 7:CMMs equipped with imaging probing sys-tems
ISO10360-9产品几何技术规范（GPS）坐标测量机的验收检测和复检检测第9部分：配置多种探测系统的坐标测量机[Geometricalproductspecifications（GPS）一Acceptanceandreverificationtests for coordinate measuring systems (CMS)Part 9:CMMs with multiple probing systemsISO14253-1产品几何技术规范（GPS）工件与测量设备的测量检验第1部分：按规范检验合格或不合格的判定规则［Geometricalporductspecifications（GPS）Inspectionbymeasurementofworkpieces and measuring equipmentPart l:Decision rules for verifying conformity or nonconformity withspecifications
ISO/IECGuide99国际计量学词汇基础和通用概念及有关术语（VIM)[Internationalvocabu-laryof metrology-Basicandgeneral conceptsand associated terms (VIM)3术语和定义
ISO10360-1、ISO10360-7、ISO10360-9、ISO14253-1和ISO/IECGuide99界定的以及下列术语1
GB/T16857.901—2020
和定义适用于本文件。
影像探测系统imagingprobingSystem通过影像系统建立测量点的探测系统。注1：本部分主要是关于能在探测系统轴的横向方向进行测量的影像探测系统，注2：视频或视觉探测系统就是影像探测系统3.2
多影像探测系统坐标测量机CMMswithmultipleimagingprobingsystem配置多个影像探测系统的坐标测量机。3.3
（影像探测系统的）测量平面measuringplane（oftheimagingprobingsystem）影像探测系统视场定义的二维平面。3.4
平行多影像探测系统parallelmultipleimagingprobingsystem测量平面呈平行关系的多影像探测系统。3.5
非平行多影像探测系统nonparallelmultipleimagingprobingsystemKaeerKAca
测量平面不平行的多影像探测系统。3.6
检测圆testcircle
用于验收检测和复检检测的圆形实物标准器。3.7
检测球
testsphere
用于验收检测和复检检测的球形实物标准器3.8
parallel multipleimagingprobing systemformerror平行多影像探测系统形状误差
PForm.Ci.nx25:PMIPs
用平行多影像探测系统测量同一个检测圆，对所有影像探测系统的数据，用无约束最小二乘法拟合计算圆心，所有测量点到圆心的距离的极差即形状误差。3.9
parallel multipleimagingprobing system size error平行多影像探测系统尺寸误差
Psize.Cir.n×25::PMPs
用平行多影像探测系统测量同一个检测圆，对所有影像探测系统的数据，用无约束最小二乘法拟合计算直径，计算值与检测圆实际值的差值即尺寸误差。3.10
平行多影像探测系统位置误差parallelmultipleimagingprobingsystemlocationerrorLDia.Cir.nx25:PMIPs
用平行多影像探测系统测量同一个检测圆，对每个探测系统的数据，用无约束最小二乘法拟合计算圆心，包含各个圆心的最小外接圆的直径即位置误差。3.11
非平行多影像探测系统形状误差PFarm.Sph.nX 25:: NPMIP
nonparallel multiple imaging probing system form error用非平行多影像探测系统测量同一个检测球，对所有影像探测系统的数据，用无药束最小二乘法拟2
合计算球心，所有测量点到球心的距离的极差即形状误差。3.12
GB/T16857.901—2020
非平行多影像探测系统尺寸误差nonparallelmultipleimagingprobingsystemsizeerrorP size.Sph.n× 25: : NPMIPS
用非平行多影像探测系统测量同一个检测球，对所有影像探测系统的数据，用无约束最小二乘法拟合计算直径，计算值与检测球实际值的差值即尺寸误差。3.13
非平行多影像探测系统位置误差nonparallelmultipleimagingprobingsystemlocationerrorLDiLSplLnX25::NPMIPs
用非平行多影像探测系统测量同一个检测球，对每个探测系统的数据，用无药束最小二乘法拟合计算球心，包含各个球心的最小外接球的直径即位置误差。3.14
平行多影像探测系统形状最大允许误差maximumpermissibleparallelmultipleimagingprobingsystem formerror
PForm.Cir.nX 25 : PMIPs.MPE
技术规范所允许的多影像探测系统的形状误差PForm.Cir.nx25:PMPs的极限值注：多影像探测系统形状最大允许误差，PFarm.Cirnx25:PMIPps.MPE，可用如下种形式之一表示；a）PFotn.Cir.nx2s::PMIPS.MPE=（A十Lp/K）和B中最小的b）PFarm.Cir.DX25HPMIPS.MPE-（A+Lp/K）c)PForm.Cir.nx25:PMPS,MPE-B
其中，A为大于零的常数，单位为um，由制造商提供-K为无量纲的大于零的常数，由制造商提供；L，为检测圆中心位置与参考位置的欧氏距离，单位为mm：B为制造商提供的最大允许误差，单位为um。3.15
maximumpermissibleparallel multiple imagingprobing平行多影像探测系统尺寸最大允许误差system size error
P size.Cir.ax 25:PMIPS.MPE
技术规范所允许的多影像探测系统的尺寸误差Psize.Cir.nx25:PMIrs的极限值。注：多影像探测系统尺寸最大允许误差，P25PMIPs，可用如下三种形式之一表示：a）Psine.Cr.nx25:PMIPs.MPE=（A+Lp/K）和B中最小的b)Psize.Cir.nx25:PMIPs.MPg=(A+Lp/K)C)Psix. Cr.nX25:PMIPs.Mpg =B其中，A为大于零的常数，单位为m，由制造商提供；K为无量纲的大于零的常数，由制造商提供；L为检测圆中心位置与参考位置的欧氏距离，单位为mm；B为制造商提供的最大允许误差，单位为um。3.16
平行多影像探测系统位置最大允许误差maximumpermissibleparallelmultipleimagingprobingsystemlocationerror
LDia.Cir.nX 25::PMIPs.MPE
技术规范所允许的多影像探测系统的位置误差LDin.Ci.nx25:PMps的极限值。注：多影像探测系统位置最大允许误差，LD品CS.MPE，可用如下三种形式之一表示：a）LCr.xPMIPs.MPE=（A+Lp/K）和B中最小的b) LDizCir.nx 25:PMIPs.MPE=(A+Lp/K)c)Lic
25:PMIP
其中，A为大于零的常数，单位为m，由制造商提供；K为无量纲的大于零的常数，由制造商提供；Lp为检测圆中心位置与参考位置的欧氏距离，单位为mm；B为制造商提供的最大允许误差，单位为um。3
GB/T16857.901—2020
非平行多影像探测系统形状最大允许误差probing system form error
P FormLSph.nx 25: NPMIPS.MPEmaximumpermissiblenonparallelmultipleimaging技术规范所允许的多影像探测系统的形状误差PFormn.Splinx25:NPMIPps的极限值。注：多影像探测系统形状最大允许误差，PFurm.shnX25:NPMIPS.MPE，可用如下三种形式之一表示：Prarm.Splhnx2:NPPs.MP=（A+L/K）和B中最小的a）
P FormSpl.nx25: NPMIPS,MPE=(A + Lp/K)b)
PFarm.Spb.nx 25 H: NPMIPS.MPEBc）
其中，A为大于零的常数，单位为um，由制造商提供；K为无量纲的大于零的常数，由制造商提供；Lp为检测球中心位置与参考位置的欧氏距离，单位为mm；B为制造商提供的最大允许误差，单位为μm。3.18
非平行多影像探测系统尺寸最大允许误差probing system size error
P sixe.Sph.n× 25 :NPMIPS.MPEmaximumpermissiblenonparallelmultipleimaging技术规范所允许的多影像探测系统的尺寸误差Psize.sph.nx25:NPMiPs的极限值。注：多影像探测系统尺寸最大允许误差，Psix.Spknx25:NPMIPs，可用如下三种形式之一表示：ca
Psiuesph.nx25NPMiPS.MPE=（A+Lp/K）和B中最小的b）
Pse Sph.nx25HINPMIPS.MPE=(A+Lp/K)c)
P se Sphaxz NPMIPS.MPE =B
其中，A为大于零的常数，单位为um，由制造商提供；K为无量纲的大于零的常数，由制造商提供；Lp为检测球中心位置与参考位置的欧氏距离，单位为mm；B为制造商提供的最大允许误差，单位为μm。3.19
非平行多影像探测系统位置最大允许误差maximumpermissiblenonparallelmultipleimagingprobing system location errorLia.Sphux 25:NPMIPs.MPE
技术规范所允许的多影像探测系统的位置误差LpDim.Sphnx25:NPMIPs的极限值。注：多影像探测系统位置最大允许误差，LDix.SphinX25:NPMIPS.MPE，可用如下三种形式之一表示：a)
LD.Sph.nx25:NPMIPS.MPE=（A+Lp/K）和B中最小的LDiLSph.ax 25:NPMIPS.MPE=(A+Lp/K)e
L Di.Sph.nx 25:NPMIPS.MPE =B其中，A为大于零的常数，单位为um，由制造商提供：K为无量纲的大于零的常数，由制造商提供：L为检测球中心位置与参考位置的欧氏距离，单位为mm；B为制造商提供的最大允许误差，单位为um。符号
本部分所使用的符号如表1。
表1符号
Ppom.Cw.nx25iPMms
Psize.Ci.nx 95: PMIPS
Lnia.Cir.nx25PMiPs
平行多影像探测系统形状误差
平行多影像探测系统尺寸误差
平行多影像探测系统位置误差
PFurm.Sph.nX25:NPMIPS
Psee,Sphkax5:NPMps
L Dig.Sph.nX25: NPMIPS
PFarm.Cir.
25:PMIPS.MPE
Pse.CGr.nx 85:PMIPs.MPE
L Di.Cir.nx 25::PMIPS.MPE
P porm.5ph.nX 25: NPMIPS:MPEPstSyhax25:NPMIPS.MPE
L DiLsph.aX25::NPMIPS,MPE
计量特性要求
1一般要求
表1（续）
非平行多影像探测系统形状误差非平行多影像探测系统尺寸误差非平行多影像探测系统位置误差含义
平行多影像探测系统形状最大允许误差平行多影像探测系统尺寸最大允许误差平行多影像探测系统位置最大允许误差非平行多影像探测系统形状最大允许误差非平行多影像探测系统尺寸最大充许误差非平行多影像探测系统位置最大允许误差Aca
GB/T16857.901—2020
在参照本部分进行检测之前，应首先参照GB/T16857.7对坐标测量机使用各个探测系统分别进iiKae
行探测误差及长度测量误差的检测。5.2
多影像探测系统的误差
误差PFom.CrnX25HPMPs、PsxeCi;PMPs、LLDa.Cir.nx25PMIPs及PForm.Sph.nx25:NPMIPs、Psize.sph.nx25NPMIPs、LDia.sSphnx25NPMIPs不应超过对应的最大允许误差PFormLCir.nx25PMIPs.MPE、Psixe.Cir.nx25PMIPs.MPE、Lpia.ci.nx25:PMIPS.M及Pom.sphnxX25HNPMIPS.MPE、Psiae.sphnx25:NPMTS.MPE、LDin.Sph.nX25PMIPS.PE。这些最大允许误差值的表述：
验收检测，由制造商规定；
一复检检测，由使用方规定。
误差及其相应的最大允许误差以微米（μm）表示。5.3
环境条件
环境条件的允许极值，包括坐标测量机安装场地影响测量工作的温度、湿度和振动等，规定如下：验收检测.由制造商规定；
复检检测，由使用方规定，
在这两种情况下，使用方都可以在允许极值范围内任意选择环境条件验收检测中，使用方有责任为坐标测量机提供制造商技术指标中规定的环境。如果环境不符合规范，不能要求验证本部分中的最大允许误差或最大允许差值。5.4操作条件
对于第6章规定的检测，应按照制造商操作手册给出的程序来操作坐标测量机，应遵守操作手册的规范，主要包括：
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一机器启动/预热；
所有被检测的探测系统应满足其额定工作条件；探测系统、标准器的清洁程序；一探测系统的标定；
如果制造商有规定，标准器应安装在操作手册规定的位置上。探测系统标定之前，应清洁探测系统的所有关键部件，如透镜、反射镜、标准器等，以清除可能影响测量或检测结果的残留物。
探测系统标定及检测过程中，应确保探测系统基本达到热平衡。6验收检测和复检检测
6.1概述
验收检测应根据制造商规定的规范和程序执行，此规范和程序应符合本部分的相关要求；复检检测应根据使用方规定的规范和制造商规定的程序执行。6.2原则
本章的检测方法用于检测多影像探测系统的最大允许误差。每个探测系统均应在设备制造商规定的条件下工作，并且所有探测系统的操作均应符合坐标测量机制造商的正常操作程序。检测方法的原则是：
a）使用已校准的检测圆，确定配置平行多影像探测系统的坐标测量机的测量特性满足规定的形状最大允许误差Prorm.Civ.nx25:：PMIPs、尺寸最大允许误差Psic.Cin.nx25:PMIPs、位置最大允许误差L Dia.Cir.nx251:PMIPs;
使用已校准的检测球，确定配置非平行多影像探测系统的坐标测量机的测量特性满足规定的b）1
形状最大允许误差PForm.Sph.ax5：NPMIPs、尺寸最大允许误差Psuc.Sph.nx25::NPMIPs、位置最大允许误差L Dia.Sph.nx25::NPMIPS。
对于多探测轴坐标测量机，如果各探测轴的测量空间高度重叠，则其检测流程与在单探测轴上配置多个探测系统的坐标测量机的检测流程相同。如果测量空间重叠较小，则应分别检测每个探测轴的探测系统。
对于多探测轴坐标测量机，建议在每个探测轴上至少参照GB/T16857.7检测一个探测系统的误差。如果各探测轴的测量空间重叠较大，可以协商，参照GB/T16857.7只检测一个探测系统的误差，但应增加检测位置的数量。
6.3平行多影像探测系统bzxz.net
6.3.1测量设备
采用检测圆作为实物标准器，其标称直径应不小于10mm且不大于51mm。如果影像探测系统采用同一视场内测量模式，检测圆的直径应为该探测系统视场对角线的10%～66%。检测圆的尺寸和形状应进行校准。由于形状和尺寸偏差会影响检测结果，因此在证明符合或不符合相关规范时，应使用GB/T18779.1考虑检测圆的尺寸和形状的影响。建议检测圆的形状误差不超过Prom.Ci.nx25:PMIPs.MPe的20%。6.3.2程序
将标准器放置到3个不同的位置进行检测。其中一个位置接近标定位置，另外两个位置离标定位6
GB/T16857.901—2020
置尽量远，但距离不超过坐标测量机行程的50%。使用方可以在充许范围内任意选择标准器的位置。对于n个平行影像探测系统中的每一个，在3个检测位置中的每一处测量检测圆。每个圆取25个点，这些点应在角度范围内近似均匀分布（参见ISO10360-7：2011)。6.3.3检测数据分析
对3个位置的检测数据分别进行分析。在每个位置，对所有n个平行影像探测系统所取得的n×25个点，用无约束最小二乘法拟合圆，得到1个拟合圆。计算所有n×25个测量点到拟合圆圆心的距离，所有距离的极差（Rx一R）为该检测位置的形状误差PFarCir.ax25::PMIPS。该拟合圆的直径与检测圆直径校准值的差值的绝对值，为该检测位置的尺寸误差Psiue.Cit.nx25::PMIPs在每个位置，对n个平行影像探测系统的25个测量点分别用无约束最小二乘法拟合圆，总共可得n个拟合圆，包含所有拟合圆圆心的最小外接圆直径为该检测位置的位置误差LDin.Cir.nx25:PMIPs。6.4非平行多影像探测系统
6.4.1测量设备
采用检测球作为实物标准器，其标称直径应不小于10mm且不大于51mm。如果影像探测系统采用同一视场内测量模式，检测球的直径应为该探测系统视场对角线的10%～66%。检测球的尺寸和形状应进行校准。由于形状和尺寸偏差会影响检测结果，因此在证明符合或不符合相关规范时.应使用GB/T18779.1考虑检测圆的尺寸和形状的影响。建议检测球的形状误差不超Kaee
过PPomn.SphnX25:NPMIPS,MPE的20%。6.4.2程序
将标准器放置到3个不同的位置进行检测。其中一个位置接近标定位置，另外两个位置离标定位置尽量远，但不超过坐标测量机行程的50%。使用方可以在允许范围内任意选择标准器的位置。对于n个非平行多影像探测系统中的每一个，在3个检测位置中的每一处测量平行于该影像探测系统测量平面的检测球的大圆。每个圆取25个点，这些点应在角度范围内近似均匀分布（参见IS010360-7：2011)。
对于配置万向测座的影像探测系统，可视为非平行多影像探测系统的一种。探测系统在5个不同的转角位置测量检测球的形状、尺寸和位置，在每个转角位置，对检测球的一个大圆测量25个点，5个位置总共125个点。5个转角位置包括平行于测头轴线方向的二个角度和位于垂直于测头轴线的一个平面内，且互呈90的4个角度构成。在一些坐标测量机的配置中，上述5个转角位置，其中一些可能难以实现或者不能实现。在这种情况下，转角位置可以相对坐标测量机配置的X轴或Y轴旋转士90°。6.4.3检测数据分析
对3个位置的检测数据分别进行分析。G
在每个位置，对所有n个非平行影像探测系统所取得的n×25个点，用无约束最小二乘法拟合球，得到1个拟合球。计算所有n×25个测量点到拟合球球心的距离，所有距离的极差（Rmx一R）为该检测位置的形状误差PForm.sphx25::NPMIPSs。该拟合球的直径与检测球直径校准值的差值的绝对值，为该检测位置的尺寸误差Psize.Sphnx25:NPMIrs。在每个位置，对n个非平行影像探测系统的25个测量点分别用无约束最小二乘法拟合圆，总共可得n个拟合圆，包含所有拟合圆的圆心的最小外接球直径为该检测位置的位置误差LDiasph.nx25:NPMirs。GB/T16857.901—2020
7验收合格性判定
7.1验收检测
如满足如下条件，则多影像探测系统坐标测量机验收检测合格：a）在3个检测位置测得的多影像探测系统的形状误差PFrrm.cCir.nx25PMIPs（PrormLSph.nx25::NPMIps）均不大于由制造商规定的最大允许误差PForm.Cir.n×25:：PMIPsMPE（PForm.Sph.nx25:NPMIPs.MPE），且按照ISO14253-1考虑测量不确定度。b）在3个检测位置测得的多影像探测系统的尺寸误差Psix.Cr.nx25:PMips（Psin.sphnx25:NPMips）均不大于由制造商规定的最大允许误差Psie.Ci.nx25PMIPs.MPe（Psie.Sph.nx25:NPMiPs.MPE），且按照ISO14253-1考虑测量不确定度。
c）在3个检测位置测得的多影像探测系统的位置误差Lrpa.Cirnx25:PMips（Lrpa.Sph.ax25:NPMips）均不大于由制造商规定的最大允许误差LDom.ci.nx25:pMrs.Mre（Lpn.sph.nx25：Nprs.Mpe），且按照ISO14253-1考虑测量不确定度
如果经过所有的相关检测，其特性未合格，则所有测量设备应彻底检查是否有影响测量结果的灰尘、污垢或操作者引起的问题，还应检查确认坐标测量机、标准器和所有探测系统组件处于热平衡状态。将所有问题纠正后，从探测系统标定开始到采用相同的目标探测点，但仅可再重复检测一次。7.2复检检测
如满足如下条件，则多影像探测系统坐标测量机验收检测合格：a）在3个检测位置测得的多影像探测系统的形状误差PFarmcCi,nx25:PMips（Prorm.sph.nx25:NPMIps）均不大于由使用方规定的最大允许误差PFormCir.nx25:PMIrs.MPE（PFormsph.nx25:NPMIrps.MPE），且按照ISO14253-1考虑测量不确定度。在3个检测位置测得的多影像探测系统的尺寸误差Psiz.Cir.ix25:PMIPs（Psic.sph.nx25:NPMIps）均不大于b）
由使用方规定的最大允许误差Psimcit.nx25:PMIPS.MPE（Psw.Sph.nx25：NPMIPs.MPE），且按照ISO14253-1考虑测量不确定度。
c）在3个检测位置测得的多影像探测系统的位置误差Lpm.Cit.nx25:PMips（Lrm.sph.ax25:NPMIps）均不
于由使用方规定的最大允许误差LDin.Cir.nx2PMPs.MPe（LDa.sph.nx25NpMirs.MPE），且按照ISO14253-1考虑测量不确定度
如果经过所有的相关检测，其特性未合格，则所有测量设备应彻底检查是否有影响测量结果的灰尘、污垢或操作者引起的问题，还应检查确认坐标测量机、标准器和所有探测系统组件处于热平衡状态。将所有问题纠正后，从探测系统标定开始到采用相同的目标探测点，但仅可再重复检测一次。8应用
8.1验收检测
在制造商和使用方签订了采购、维护、修理、改造或升级等合约时，本部分所规定的验收检测，可用于验证配置多影像探测系统的坐标测量机系统特性，由制造商和使用方一致同意来确定最大充许误差和最大允许差值。
8.2复检检测
本部分所规定的复检检测可用于组织内部的质量保证体系，用于验证配置多影像探测系统的坐标8
GB/T16857.901—2020
测量机的系统性能，由使用方应根据适用和实际情况来确定最大允许误差和最大允许差值，8.3中间检查
在组织内部的质量保证系统中，周期性地使用简化的复检检测来检查坐标测量机是否符合7.2所规定的最大充许误差和最大充允许差值的要求。建议定期检查坐标测量机的测量性能，并在任何可能严重影响测量性能的事件发生之后（例如发生碰撞、坐标测量机组件的更换）对整机的测量性能立即进行检测9
产品文件和数据页的说明
表2给出了在产品文件、图纸、数据表等中可二选一使用的符号及对应标识。多数二选一符号已简化成下标文字，从而提高了可读性和清晰度。2产品文件、图纸、数据表等符号和对应标识表2
本部分中使用的符号
Peotm.CGr.aX25:HPMS
PsiCn.a 25: PMIPS
LDi.Ca.ax25::PMIP
P Form.Sph.n× 25 : NPMIPs
P sut.5ph.aX 25:NPMIPS
LDi sphnX25:NPMIPS
Pporm.CirnX25:PMIP5,MPE
Ps.Gr.nx 25: PMIPs.MPF
L DCir.nX 25:: PMIPS,MPE
PForm.SphinX 25: NPMIPS.MPE
Psixe.sjhax5:NPMPS.MPR
Lpi.Sph.nx25::NPMIPs.MPE
P[Form.Cir.nX25::PMIPS]
P[Size.Cir.nX25::PMIPS]
L[Dia.Cir.nX25::PMIPS]
P[Form.Sph.nX25::NPMIPS]
P[Size.Sph.nX25::NPMIPS
L[Dia.Sph.nX 25::NPMIPS]
对应标识
MPE(P[Form.Cir.n× 25::PMIPS))MPE(P[Size.Cir.nX25::PMIPS])MPE(L[Dia.Cir.nX25::PMIPS])
MPE(P[Form.Sph.nX25::NPMIPS])MPE(P[Size.Sph.nX25::NPMIPSJ)MPE(L[Dia.Sph.nX25::NPMIPSJ)
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