GB/T 43784-2024
基本信息
标准号:
GB/T 43784-2024
中文名称:单光子源性能表征及测量方法
标准类别:国家标准(GB)
英文名称:Characterization and measurement of the performance of single-photon sources
标准状态:即将实施
发布日期:2024-03-15
实施日期:2024-10-01
出版语种:简体中文
下载格式:.pdf .zip
相关标签:
性能
测量方法
标准分类号
标准ICS号:计量学和测量、物理现象>>光学和光学测量>>17.180.20颜色和光的测量
中标分类号:综合>>计量>>A60光学计量
关联标准
出版信息
出版社:中国标准出版社
页数:12页
标准价格:29.0
相关单位信息
起草人:甘海勇、霍永恒、赵勇、武愕、许金时、傅杨挺、唐世彪、廖胜凯、王军民、王增斌、李文文、王浩敏、田颖、宋振飞、史学舜、包小辉、胡建勇、于春霖、王海龙、王柳、王明磊
起草单位:中国计量科学研究院、中国科学技术大学、科大国盾量子技术股份有限公司、华东师范大学、山西大学、中国电子信息产业集团有限公司、中国科学院上海微系统与信息技术研究所、中国计量大学、深圳中国计量科学研究院技术创新研究院、中国电子科技集团公司第四十一研究所等
归口单位:全国量子计算与测量标准化技术委员会(SAC/TC 578)
提出单位:全国量子计算与测量标准化技术委员会(SAC/TC 578)
发布部门:国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
标准简介
本文件描述了表征单光子源性能的参数和测量方法。
本文件适用于单光子源的性能评价和测试。
标准内容
ICS17.180.20
CCSA60
中华人民共和国国家标准
GB/T43784—2024
单光子源性能表征及测量方法
Characterizationandmeasurementoftheperformanceofsingle-photonsources2024-03-15发布
国家市场监督管理总局
国家标准化管理委员会
2024-10-01实施
GB/T43784—2024
1范围
2规范性引用文件
3术语和定义
4单光子源的性能表征
4.1概述
4.2确定性单光子源性能表征
4.3概率性单光子源性能表征
4.4准单光子源性能表征
5测量方法
5.1光子光谱分布
5.2光子空间分布
5.3光子通量
5.4光子时域分布
5.5光子偏振度
5.6光子发射速率带宽
5.7单光子纯度
5.8单光子产率
5.9光子全同度
5.10光子相干长度
测试报告
本文件按照GB/T1.1-2020《标准化工作导则起草。
GB/T43784—2024
第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。本文件由全国量子计算与测量标准化技术委员会(SAC/TC578)提出并归口。本文件起草单位:中国计量科学研究院、中国科学技术大学、科大国盾量子技术股份有限公司、华东师范大学、山西大学、中国电子信息产业集团有限公司、中国科学院上海微系统与信息技术研究所、中国计量大学、深圳中国计量科学研究院技术创新研究院、中国电子科技集团公司第四十一研究所、济南量子技术研究院。
本文件主要起草人:甘海勇、霍永恒、赵勇、武号、许金时、傅杨挺、唐世彪、廖胜凯、王军民、王增斌李文文、王浩敏、田颖、宋振飞、史学舜、包小辉、胡建勇、于春霖、王海龙、王柳、王明磊。1
1范围
单光子源性能表征及测量方法
本文件描述了表征单光子源性能的参数和测量方法。本文件适用于单光子源的性能评价和测试。规范性引用文件
GB/T437842024
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T3102.6—1993
3光及有关电磁辐射的量和单位
JF1032—2005
光学辐射计量名词术语及定义
术语和定义
GB/T3102.6—1993和JF1032—2005界定的以及下列术语和定义适用于本文件。3.1
单光子源
single-photonsource
在测量或应用的有效周期内发射非零光子数等于1的概率为100%的光源。注:理想的单光子源是指在测量或应用的有效周期内发射光子数等于1的概率为100%的光源。3.2
光子通量
photonflux
单位时间间隔内发射、传输或接收的光子数。注:单位为每秒(s1)。
光子光谱分布
光子相对光谱
photonspectraldistribution
photon relativespectrum
光子通量(3.2)在不同频率(或真空波长)上的相对密集度。3.4
光子空间分布
photon spatialdistribution
光子通量(3.2)在空间上的相对密集度。3.5
光子时域分布
photontemporaldistribution
光子通量(3.2)在时域上的相对密集度。3.6
光子发射速率日
photonemissionrate
光源在单位时间间隔内发射光子的次数。1
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单光子纯度single-photonpurity光源在连续多个测量或应用的有效周期内发射光子数等于1的周期内的总光子数与所有周期总光子数的比值。
光子偏振photonpolarization
光子电场在与光子传播方向垂直的平面内振荡的方向。3.9
光子全同度
photonindistinguishability
两个光子模态的不可区分程度。3.10
光子相干长度photoncoherencelength光子在传播方向上保持相干性的距离。3.11
单光子产率single-photonyield光源受到一次有效激励后发射出一次单光子的概率。3.12
确定性单光子源deterministicsingle-photonsource能在未来任意指定时刻作为单光子源(3,1)的光源,3.13
原probabilisticsingle-photonsource概率性单光子源
无法在未来任意指定时刻作为单光子源(3,1),但通过光子发射时的关联物理现象能确定某些时刻作为单光子源(3.1)的光源。
淮单光子源quasi-single-photonsource性能不完全符合但接近单光子源(3.1)、能在测量或应用中代替单光子源(3.1)使用的光源。4单光子源的性能表征
4.1概述
常见单光子源主要包括3种:确定性单光子源、概率性单光子源和准单光子源。不同性能参数用于表征单光子源接近理想单光子源以及满足量子测量和应用需求的程度。4.2确定性单光子源性能表征
确定性单光子源利用脉冲光、电、磁等方式对单原子、单离子、单分子、单量子点或单缺陷等量子系统进行有效激励而实现。单光子的发射确定在有效激励之后的特定时间间隔内发生。表征确定性单光子源的主要性能参数包括光子光谱分布、光子空间分布、光子通量、光子时域分布、光子偏振度、光子发射速率带宽、单光子纯度、单光子产率、光子全同度及光子相干长度。4.3概率性单光子源性能表征
概率性单光子源又称预报式单光子源,通过自发参量下转换、四波混频等方式产生的关联光子对来实现,对非局域关联共轭光路中的其中一路进行单光子纯度检测,确定该路具有单光子源特性的时刻,从而确定另一路作为单光子源的时刻。表征概率性单光子源的主要性能参数包括光子光谱分布、光2
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子空间分布、光子通量、光子时域分布、光子偏振度、单光子纯度、单光子产率、光子全同度及光子相干长度。
4.4准单光子源性能表征
准单光子源的性能表征主要针对其在测量或应用中代替单光子源的性能参数,一种常见的准单光子源通过将激光光源在测量或应用周期内的平均光子数衰减到远小于1的方法来实现,在二阶相干度上仍然表现为相干光源,但在测量或应用的有效周期内光子数等于1的概率远大于光子数大于1的概率,符合光子数统计分析等测量和应用的要求。表征准单光子源的主要性能参数包括光子光谱分布、光子空间分布、光子通量、光子时域分布、光子偏振度、单光子纯度及单光子产率。5测量方法
5.1光子光谱分布
使用具有光子测量灵敏度且相对光谱光子通量响应度经过标定的光谱仪,采用傅里叶变换干涉或者色散分光等方法进行测量,测量结果经过归一化表示为光子光谱分布函数。光子光谱分布的测量步骤如下:采用标准光谱光子通量源对光谱仪相对光子通量响应度进行标定,也可采用标准光谱光子亮a)
度、照度或强度源在特定空间条件下进行标定:6)
将单光子源发射的光子导入光谱仪;c)
测量光谱仪在不同频率(或真空波长)上的响应:d)
将光谱仪在不同频率(或真空波长)上的响应值根据标定的光谱仪相对光子通量响应度换算成光谱光子通量,归一化得到单光子源的光子光谱分布函数。5.2光子空间分布
单光子源的光子空间分布通过扫描测量以单光子源为原点的空间各个方向上的光子通量进行表征。光子空间分布测量结果经过归一化得到光子空间分布函数。光子空间分布的测量有以下几个步骤。将单光子源放在基于光子探测器的空间变角扫描系统的坐标原点。当单光子源在空间各个方a)
向上具有不同的光子光谱分布时,应采用具有光谱选择或扫描能力的光子探测器进行测量,包括但不限于具有光子测量灵敏度的光谱仪。在特定空间范围内,调节空间变角扫描系统的方位角和仰角,采集各个空间方向上的光子,记b)
录光子探测器的采集立体角和单位时间光子响应数。c)
对光子探测器在客个方位角和仰角测得的结果进行归一化,得到特定空间范围内的光子空间分布函数。
5.3光子通量
单光子源在窄带频率(或真空波长)上以及特定空间方向上的特定采集立体角内的光子通量采用光子探测器测量产生的单位时间光子响应数进行表征,结合经过标定的光谱探测效率进行推算。整个光谱范围内的光子通量可根据特定频率(或真空波长)上的光子通量和光子光谱分布进行推算。光子通量的测量有以下几个步骤。在特定窄带频率(或真空波长)和以单光子源为原点的特定空间方向上采用具有特定采集立体a)
角和光谱选择和扫描能力的光子探测器进行收集。记录光子探测器测量产生的响应速率。b)
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根据公式(1)计算得到单光子源在特定频率(或真空波长)上的特定带宽内以及特定空间方向上的特定采集立体角内的光子通量:中o,k(k,e,w)=D/n
式中:
中.k(k,e,w)一在特定频率(或真空波长)上的特定带宽内以及特定空间方向上的特定采集立体角内的光子通量,其中,Q为特定空间方向上的特定采集立体角,k为频率v或真空波长入.△k为频率v或真空波长入上的特定带宽,e为方位角w为仰角;
一响应速率;
一光子探测器的光谱探测效率。d)单光子源在特定空间方向上的特定采集立体角内以及特定光谱范围内的光子通量根据公式(2)计算得到:
中a.s(e,w)=sapa.ak(k.e,w)/akdk式中:
中a.s(O,w)一在特定空间方向上的特定采集立体角内以及特定光谱范围内的光子通量,S表示特定光谱范围。
单光子源在窄带频率(或真空波长)上的特定带宽内以及特定空间范围内的光子通量根据公式e
(3)计算得到:
pg.(k)=.apa.ak(k,e,w)/(aeaw)dedw....式中:
...(3)
中G.k(k)一在窄带频率(或真空波长)上的特定带宽内以及特定空间范围内的光子通量,G表示特定空间范围。
f)单光子源在特定空间范围以及特定光谱范围内的光子通量根据公式(4)计算得到:pG.s =sapo.ak (k,e,w)/(aeawak)dedwdk式中:
....(4)
中G.s一在特定空间范围以及特定光谱范围内的光子通量,G表示特定空间范围,S表示特定光谱范围。
5.4光子时域分布
单光子源的光子时域分布采用光子通量随时间的变化进行表征。通常采用具有时域高分辨能力的光子探测器进行连续测量。如果所采用光子探测器的探测效率为100%,直接测量得到单光子源的光子时域分布;但实际所采用光子探测器的探测效率一般小于100%,单次测量得到的是单光子源光子时域分布的一个采样,则通过重复测量增加采样次数对具有周期性规律的光子时域分布进行重构。光子时域分布的测量步骤如下:单光子源发射的光子被具有时域分辨能力6t的光子探测器收集;a
在给定时间段内以不小于6t的采样时间间隔连续记录光子探测器响应值;b)
如果通过多次重复测量,发现单光子源发射的光子在时域上具有周期性规律,基于充分采样的c
测量结果和光子探测器的光谱探测效率对光子时域分布进行完整重构。5.5光子偏振度
单光子源的光子偏振度采用光子偏振在与光子传播方向垂直的平面内不同方向上的密集度来表征。当光子偏振具有轴对称特点时,例如线偏振、圆偏振、椭圆偏振等,采用在两个正交方向上分别具有极大和极小密集度的对比度作为量化指标。4
光子偏振度的测量步骤如下:
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在与单光子源发射光子的传播方向垂直的平面内放置线偏振器,采用光子探测器接收通过线a)
偏振器的光子并记录给定时间段内测量产生的响应数;旋转线偏振器的偏振许可方向,记录测定时间段内在各个方向上光子探测器的响应数;6)
将各个方向上的光子探测器响应数进行归一化表示,得到光子偏振分布函数;c)
当光子偏振分布为线偏振、圆偏振、椭圆偏振等状态时,采用在两个正交方向上的光子探测器响应数的极大值和极小值,根据公式5)计算得到单光子源的光子偏振度:Dp=(N,-N-)/(N,+N-)
式中:
一单光子源的光子偏振度;
N+、N-一在两个正交方向上的光子探测器响应数的极大值和极小值。5.6光子发射速率带宽
单光子源的光子发射速率带宽可采用光子发射速率饱和方法或光子激发态寿命统计方法进行表征。
光子发射速率饱和方法测量步骤如下:a)
采用短脉冲激励源以较慢的重复频率激励单光子源发射出光子;1)
采用高速光子探测器采集单光子源发射的光子,并记录测量产生响应的速率;2)
由慢至快遂步提高激励源的重复频率,直至光子探测器响应速率达到饱和:确定光子探测器响应速率为饱和响应速率的50%时的激励重复频率,作为光子发射速率带宽的量化指标。
b)光子激发态寿命统计方法测量步骤如下:1)
采用具有较慢重复频率的激励源激励单光子源发射出光子:采用具有时域分辨能力的高速光子探测器采集单光子源发射的光子,重复测量并统计;2)
根据光子统计结果计算单光子源的激发态寿命,以其倒数作为光子发射速率带宽的量化指标。
5.7单光子纯度
单光子源的单光子纯度通过光子数统计法或者汉伯里·布朗-特维斯(HanburyBrown-Twiss.HBT)干涉实验法进行表征。
a)光子数统计法:采用光子数分辨探测器测量光子数统计分布,计算连续多个测量或应用的有效周期内发射光子数等于1的周期内的总光子数与所有周期总光子数的比值作为量化指标,该指标越接近1越好。测量有以下几个步骤。1)将单光子源发射光子导入光子数分辨探测器进行测量。2)测量给定时间段内多个连续有效周期内光子数分辨探测器的响应数,记录统计结果P。(np),其中np为单个有效周期内探测到的响应数(非负整数),P。为具有该探测响应数的有效周期的概率。
3)当光子数分辨探测器的探测效率寻=100%时所测得的光子数续计结果即为单光子源发射光子的光子数院计结果P(#:)=P(n)其中ne为单个有效周期内单光子源发射的光子数(非负整数)为单光子源发射该光子数的有效周期的概率当光子数分辨探测器的探测效率n<100%时,所测得的光子数分辨探测器的响应统计结4)
果Po(np)相当于单光子源所发射光子的统计分布P:(ne)的采样测量。采用具有特定平均光子数和光子统计分布类型的标准光子通量源、测量得到光子数分辨探测器对该标5
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准光子通量源的平均响应数和响应统计分布,获得光子数分辨探测器的采样规律,并结合待测单光子源的平均光子数、光子数分辨探测器平均响应数和响应统计分布推算得到待测单光子源的发射光子统计分布Pe(ne)。根据公式(6)计算得到单光子源的单光子纯度p:5)
p= Pe(1) / Z[iPe(i)]
式中:
一单光子源的单光子纯度;
Pe(1)一单光子源单个有效周期内发射的光子数为1的概率;........(6)
i——单光子源单个有效周期内发射的光子数,取值为1~所有正整数;Pε(i)一单光子源单个有效周期内发射的光子数为i的概率。b)
HBT干涉实验法:采用零时差归一化二阶相干度值作为量化指标,该指标越接近0越好。测量步骤如下:
1)将单光子源发射的光子导入HBT干涉仪;调节HBT干涉仪两路信号的时间差T,测量给定时间段内光子探测器A和光子探测器2)
B的各自独立探测到光子的响应数Na和N以及光子探测器A和光子探测器B的同时探测到光子的响应数Nc;
根据公式(7)计算二阶相干度g(2)(t):3)
式中:www.bzxz.net
g(2) (T) =(Na +Ng)Nc/(NaNg)
g(2)(t)一T时刻的二阶相干度;T
....(7)
一光子从HBT干涉仪对的分束器开始分别达到两个光子探测器A和光子探测器B、产生响应再传输到符合计数端口进行测量整个过程的时间差;Na、N:一光子探测器A或光子探测器B各自独立在t时刻的给定时间段内探测到的光子的响应数;
一光子探测器A和光子探测器B同时探测到光子的响应数。当调节HBT干涉仪两路信号的时间差至=0时得到二阶相干度零时差值g21(0》作为单光子纯度的量化指标。通常g(0值越小,表示单光子纯度越高,单光子纯度为100%的单光子源的g(0)为0。
5.8单光子产率
单光子源的单光子产率通过测量给定时间段内特定条件下产生单光子的数量与有效激励的次数进行表征,采用两者的比值作为量化指标。试验中采用响应带宽大于单光子源激励信号重频的光电探测器、时域信号分析仪以及具有光子数分辨能力的光子探测器。单光子产率的测量步骤如下:
通过光电探测器和时域信号分析仪测量单光子源激励信号的时域和周期特性;b)按照5.7光子数统计法测得单光子源在与激励信号同周期的特定时间间隔内发射光子数为1的概率,即为单光子产率。
5.9光子全同度
单光子源的光子全同度通过洪-欧-曼德尔(Hong-Ou-Mandel,HOM)干涉试验进行表征,采用HOM干涉可见度作为量化指标。
光子全同度的测量步骤如下:
a)将单光子源发射光子导入具有光子测量灵教度的HOM干涉仪进行测量;6
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测量给定时间段内在HOM干涉仪两个光路不同时间差T下两个光子探测器同时探测到光子的响应数Nb)
根据公式(8)计算得到HOM千涉可见度,以表征光子全同度:Vm = (N.t>>At,dip -NH.t=o)/NH.T>>&t_dip式中:
一HOM干涉可见度;
△t_dip一光子波包重叠处的干涉波谷宽度;NH.t>>&t-dp—远离干涉波谷区域的同时探测到光子数的事件数;NH.AT- o
一位于干涉波谷底部的同时探测到光子数的事件数。HOM干涉可见度V.取值在0
1数值越大,表示全同度越好。
5.10光子相干长度
..(8)
单光子源的光子相干长度通过马赫-曾德尔(Mach-Zehnder,M-Z)或者迈克尔逊(Michelson)干涉试验进行表征,采用单光子能发生干涉的最大光程差作为量化指标。光子相干长度的测量步骤如下:将单光子源发射的光子导入具有光子测量灵敏度的M-Z干涉仪或者迈克尔逊干涉仪:a)
调节干涉仪的两路光程至光程差为0时,干涉仪的光子测量响应速率达到最大:c)
将干涉仪的其中一条路径的光程朝相反的两个方向精细调节,分别记录两个方向第一次将光子测量响应速率调节至最大光子测量响应速率的50%时的位置,计算两个位置的光程差,即为光子相干长度。测试报告
测试报告至少应包括:一本文件编号:
一性能测试所使用的方法;一测试结果;一观察到的异常现象:一测试日期,
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