本部分适用的金属熔化焊焊接接头的金属包括钢、铜及铜合金、铝及铝合金、钛及钛合金、镍及镍合金。焊接接头的型式包括板及管的对接接头对接焊缝、插入式和安放式接管角接接头对接焊缝和管子-管板角焊缝（参考附录A）。

ICS77.040.20
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NB/T47013.2—2015
代替JB/T4730.2—2005
承压设备无损检测
第2部分：射线检测
Nondestructive testing of pressure equipments-Part 2: Radiographic testing2015-04-02发布
国家能源局
2015-09-01实施
规范性引用文件
术语和定义
一般要求
检测工艺及其选择
承压设备焙化焊焊接接头射线检测结果评定和质量分级承压设备管子及压力管道熔化焊环向炼接接头射线检测结果评定和质量分级检测记录和报告
附录A（资料性附录）
附录B（规范性附录）
附录C（资料性附录）
附录D（资料性附录》
附录E（资料性附录）
附录F（资料性附录）
附录G（规性附录）
附录H（规范性鹏录）
附录I（资料性附录）
附录」（规范性附录）
附录K（资料性附录）
附录L（规范性附录）
管子管板角焊继射线照相技术要求工业射线胶片系统的特征指标，黑度计（光学密度计）定期核查方法暗室安全照射时间确定
典型透照方式示意图
环向对接炼缝透服次数确定方法焦点尺寸计算方法
几何不清晰度（U，）计算方法
滤光板…
定位标记的放置原则
底片硫代硫酸盐离子浓度测量方法对比试块的型式和规格·
NB/T 47013.2—2015
NB/T47013.2—2015
本标准NB/T47013《承压设备无损检测》分为以下13个部分：第1部分：通用要求；
第2部分：射线检测；
第3部分：超声检测；
第4部分：磁粉检测；
第5部分：渗造检测；
第6部分：涡流检测；
第7部分：目视检测；
第8部分：泄漏检测；
第9部分：声发射检测：
第10部分：衔射时差法超声检测；第11部分：X射线数字成像检测；第12部分：漏磁检测；
第13部分：脉冲涡流检测。
本部分为NB/T47013的第2部分：射线检测。本部分按GBT1.1一2009《标准化工作导则第1部分：标准的结构和编写》给出的规则起草。第2部分：射线检测》，与JB4730.2本部分代替JB/T4730.2—2005《承压设备无损检测2005相比，主要技术变化如下：一扩大了标准的适用范围，增加插人式管座角接接头对接焊缝、安放式管座角接接头对接焊缝和管子-管板角焊缝的X射线及射线检测技术和质量分级要求，并取消了钢的分类；修改和增加了部分规范性引用文件：；增加了射线检测专用术语和定义的内容：增加了Tm170和Yb169射线源应用的规定；修改了工业射线胶片系统分类，将胶片分为C1、C2、C3、C4、C5和C6类。胶片类型的选择按照新的分类标准重新进行修订，同时补充了胶片灰雾度测量的相关要求：修改了黑度计核查时机的内容；增加了标准密度片的黑度范围和测量点数目的相关规定；-增加了内偏心透照（F一增加了暗室安全服射时间确定的内容；-增加了射线检测工艺文件的基本要求和验证的相关规定；22
修改了特殊条件下射线检测技术等级允许效宽原则；NB/T47013.2—2015
修改了检测时机要求，明确检测时机应满足相关法规、规范、标准和设计技术文件的要求，同时还应满足合同双方商定的其他技术要求；增加了焊接接头检测区宽度范围确定的内容；增加了双胶片透照技术和底片观察技术应用的内容；增加了管座角焊缝、精圆形封头和媒形封头小产区的焊缝，以及其他曲率连续变化的焊缝一次透照长度确定的原则；
增加了有效评定区搭接的技术要求；修改了结构受限的特殊情况下小径管的透照原则：增加了安放式和插人式管座角焊缝采用源在内透照方式时了的放宽原则；增加了胶片与被检工件之间距离的放置原则；一增加了？射线源零光时间限值和限制使用多源腰光的规定，以及球继全录爆光像质计摆放要求；
增加了滤光板应用的推荐技术要求：修改了定位标记和识别标记的放置原则：增加了胶片暗室处理试剂选用原则、胶片处理延迟时间及其底片处理质量检验的内容；修改了底片质量要求的内容，增加了底片保存的内容；修改了不同透照厚度应达到的像质计灵敏度，对应的材料厚度范围有所扩大，并增加了孔型像质计的灵敏度要求；
焊接接头射线检测结果评定和质量分级部分增加了适用的焊接结构型式；-增加和修订了射线检测记录和报告的内容取消了“专用像质计的型式和规格”的内容；修改了小径管专用对比试块。
本部分由全国锅炉压力容器标准化技术委员会（SAC/TC262）提出并归口。本部分起草单位：中国特种设备检测研究院、江苏省特种设备安全监督检验研究院、中广核工程有限公司、甘肃蓝科石化高新装备股份有限公司、东方电气（广州）重型机器有限公司、广东省待种设备检测研究院、黑龙江省特种设备检验研究院、天津诚信达金属检测技术有限公司、辽宁仪表研究所有限责任公司、江苏中特创业设备检测有限公司。本部分主要起草人：强天鹏、梁丽红、沈功田、朱从斌、李军、程怒涛、陈玉宝、普壮辉、孙患波、李洪国。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为：JB47301994、JB/T4730.2—2005。23
1范围
承压设备无损检测
第2部分：射线检测
NB/T 47013.2—2015
1.1NB/T47013的本部分规定了承压设备金属熔化焊焊接接头X射线和Y射线检测技术和质量分缓要求。
1.2本部分适用的金属熔化焊焊接接头的金属包括钢、铜及钢合金、铝及铝合金、钛及钛合金、镍及镍合金。焊接接头的型式包括板及管的对接接头对接焊缝（以下简称“对接焊继”）、插人式和安放式接管角接接头对接焊缝（以下简称“管座角焊缝”）和管子-管板角焊缝（参考附录A）。1.3承压设备其他金属材料、支承件和结构件的焊接接头的射线检测也可参照使用。2
规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB11533
GB/T12604.2
GB18871
GB/T19348.1
GB/T19348.2
GB/T19802
GB/T23901.2
GBZ117
GBZ132
NB/T47013.1
JB/T5075
JB/T7902
3术语和定义
标准对数视力表
无损检测
术语射线照相检测
电离额射防护及辅射源安全基本标准无损检测
无损检测
无损检测
无损检测
工业射线照相胶片第1部分：工业射线照相胶片系统的分类工业射线照相胶片第2部分：用参考值方法控制胶片处理工业射线照相观片灯最低要求
射线照相底片像质第2部分：阶梯孔型像质计十像质指数的测定
工业X射线探伤放射卫生防护标准工业射线探伤放射防护标准
承压设备无损检测第1部分：通用要求无损检测射线照相检测用金属增感屏射线照相用线型像质计
GB/T12604.2和NB/T47013.1界定的以及下列术语和定义适用于本部分。3.1
透照厚度Wpenetratedthickness射线照射方向上材料的公称厚度。多层透照时，透照厚度为通过的各层材料公称厚度之和。3.2
工件至胶片距离bobject-to-filmdistance沿射线束中心测定的工件受检部位射线源侧表面与胶片之间的距离。25
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射线源至工件距离source-to-objectdistance沿射线束中心测定的射线源与工件受检部位射线源侧表面之间的距离。3.4
焦距Ffocaldistance
沿射线束中心测定的射线源与胶片之间的距离。3.5
射线源尺寸dsoureesize
射线源的有效您点尺寸。
圆形缺陷
roundflaw
长宽比不大于3的气孔、夹法和夹钨等缺陷。3.7
条形缺陷
stripyflaw
长宽比大于3的气孔、夹渣和夹钨等缺陷。3.8
ratio of max,and min.penetrated thickness透照厚度比K
一次透照长度范固内射线束穿过母材的最大厚度和最小厚度之比。3.9
effectiveareaofasingleexposure一次透照长度
符合标准规定的单次曝光有效检测长度。3.10
底片评定范围
film evaluation scope
本部分规定的底片上必须观察和评定的范围。3.11
缺陷评定区
defect evaluation zone
在质量分级评定时，为评价缺陷数量和密集程度而设置的一定尺寸区域，可以是正方形或长方形。
双胶片透照技术
double film technique
暗盒内装两张胶片和三片增感屏（前、中、后屏）进行螺光，在观片灯上采用双片叠加方式进行底片观察的透照技术。
small diameterfube
小径管
外直径D。小于或等于100mm的管子。4一般要求
4.1检测人员
从事射线检测的人员应消足NB/T47013.1的有关规定。4.1.1
从事射线检测的人员在上岗前应进行辐射安全知识的培训，并按照有关法规的要求取得相应证书。
NB/T 47013.2—2015
4.1.3射线检测人员未经矫正或经矫正的近（距）视力和远（距）视力应不低于5.0（小数记录值为1.0），测试方法应符合GB11533的规定。从事评片的人员应每年检查一次视力。4.2检测设备和器材
4.2.1射线装置
可以使用两种射线源：
a）由X射线机和加违器产生的X射线；b）由Co60、Ir192、Se75、Yb169和Tm170射线源产生的射线。4.2.1.2经合同双方商定，允许采用其他新型射线源。采用其他射线源时，有关检测技术要求仍应参照本部分的规定执行。
4.2.2射线胶片
胶片系统按照GB/19348.1分为六类，即C1、C2、C3、C4、C5和C6类。C1为最高类4.2.2.1
别，C6为最低类别，胶片系统的特性指标见附录B。4.2.2.2胶片制造商应对所生产的胶片进行系统性能测试并提供类别和参数。胶片处理方法、设备和化学药剂可按GB/T19348.2的规定，用胶片制造商提供的预先爆光胶片测试片进行测试和控制。不得使用超过胶片制造商规定的使用期限的胶片。胶片应按制造商推荐的湿度和度条件予以保存，并应避免受任何电离辐射的照射。4.2.3观片灯
观片灯的主要性能应符合GB/T19802的有关规定，最大亮度应能满足评片的要求。4.2.4黑度计（光学密度计）
4.2.4.1黑度计可测的最大黑度应不小于4.5，测量值的误差应不超过±0.05。4.2.4.2黑度计首次使用前应进行核查。以后至少每六个月应进行一次核查。核查方法可参照附录C的规定进行，每次核查后应填写核查记录。在工作开始时或连续工作超过8h后应在拟测量黑度范围内选择至少两点进行检查。4.2.5标准密度片
标准密度片应至少有8个一定间隔的黑度基准，且能覆盖0.3~4.5黑度范围，应至少每2年校准一次。必须特别注意标准密度片的保存和使用条件。4.2.6增感屏
4.2.6.1射线检测一般应使用金属增感屏或不用增感屏，金属增感屏应满足JB/T5075的要求，增感屏应完全干净、描光和无纹道。4.2.6.2使用增感屏时，胶片和增感屏之间应接触良好。增感屏的选用应符合表1的规定。27
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射缆源
X射线（≤100kV）
X射续
( > 100 kV - 150kv)
X射线
(>150kV~250kv)
X射线4
(>250kV-500kv)
Co60 b
(IMeV ~4MeV)
X射线
( 4MeV ~ 12MeV)
铜或铜
（A级、AB级）
钢或锅
（A级、AB级）
铜、钢或组
（A级、AB级）
增感屏的材料和厚度
厚度/mm
不用或≤0.03
0.02 ~ 0.10
0.02.~0.15
不用或≤0.03
0.02-0.15
A级0.02~0.20
AB级、B级
A级0.02~0.20
AB极、B级
0.10 ~0.20
0.25~0.70
0.25~0.70
厚度/mm
0.02 ~ 0.15
0.02 0.15
0.02 ~ 0.20
不用或≤0.03
0.02 ~0.15
A级0.02~0.20
AB级、B级
0.10 ~ 0.20
A级0.020.20
AB级.B级
0.10 0.20
0.25 ~0.70
0.50 ~ 2.0
0.25 ~ 0.70
0.50 ~2.0
铜、钢≤1.0
组≤0.50
中屏“
厚度/mm
2 × 0.02 ~ 2 × 0.10
2 × 0.02 ~ 2 × 0.10
2 × 0.02 ~ 2 × 0.10
2 × 0.02 ~ 2 × 0.10
2x0.10mm或不用
2×0.10mm或不用
：如果AB级、B级使用前屏≤0.03mm的真空包装胶片，应在工件和胶片之间加0.07mm-0.15mm厚的附加舒屏。
采用Co60射线源透照有延迟裂纹倾向或标准抗拉强度下限值Rg540MPa材料时，AB级和B级应采用b
钢或铜增感屏。
双胶片透照技术应增加使用中屏。采用X射线和Yb169射规源时，每层中屏的厚度应不大于前屏厚度。4.2.7
像质计
4.2.7.1底片影像质量采用线型像质计或孔型像质计测定。通用线型像质计和等径线型像质计的型号和规格应符合JB/T7902的规定，孔型像质计型号和规格应满足GB/T23901.2的规定。像质计的材料代号、材料和不同材料的像质计适用的工件材料范围可按表2的规定执4.2.7.2
行，像质计材料的吸收系数应尽可能的接近或等同于被检材料的吸收系数，任何情况下不能高于被检材料的吸收系数。
像质计材料代号
像质计材料
适用材料范图
表2不同材料的像质计适用的材料范围Al
工业纯铝
铝，铝合金
4.2.8暗室安全照射时间确定
工业纯钛
缺，钛合金
碳索钢
NB/T 47013. 2—2015
镍-铬合金
锦-锦合金
38纯期
铜、铜合金
胶片应在胶片制造商所推荐的安全灯光条件下进行暗室处理，暗室安全照射时间的确定方法可参考附录D进行。
4.3检测技术等级
低灵敏度技术；AB级-中灵敏度技术：B级4.3.1射线检测技术分为三级：A级一——高灵
敏度技术。
4.3.2射线检测技术等级选择应符合相关法规、规范、标准和设计技术文件的要求，同时还应满足合同双方商定的其他技术要求。承压设备焊接接头的射线检测，一般应采用AB级射线检测技术进行检测。对重要设备、结构、待殊材料和特殊焊接工艺制作的焊接接头，可采用B级技术进行检测。
4.3.3当检测中某些条件不能满足AB级（或B级）射线检测技术的要求时，经合同双方商定，在采取有效补偿措施（例如选用更高类别的胶片）的前提下，若底片的像质计灵度达到了AB级（或B级）射线检测技术的规定，则可认为按AB级（或B级）射线检测技术进行了检测。4.3.4承压设备在用检测中，检测的某些条件不能满足AB级射线检测技术的要求时，经合同双方商定，在采取有效补偿措施（例如选用更高类别的胶片）后可采用A级技术进行射线检测，但应同时采用其他无损检测方法进行补充检测。4.4检测工艺文件
检测工艺文件包插工艺规程和操作指导书。4.4.1
工艺规程除满足NB/T47013.1的要求外，还应规定下列相关因素的具体范固或要求；如相关因素的变化超出规定时，应重新编制或修订工艺规程：a)
适用范围中的结构、材料类别及厚度；射线源种类、能量及焦点尺寸：检测技术等级；
透照技术；
透照方式；
胶片型号及等级；
像质计种类；
增感屏和滤光板型号（如使用）；暗室处理方法或条件：
底片观察技术。
应针对具体检测对象根据标准和工艺规程编写操作指导书，其内容除满足NB/T47013.1的要求外，至少还应包括：
缩制依据；
适用范围：被检测工件的类型（形状、结构等）、尺寸范围（厚度及其他几何尺寸）、所用b）
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