本文件提供了空间用纤维光学器件的测试总则、测试项目、测试方法、测试注意事项等指导。 本文件适用于针对空间应用的光纤传感、光纤通信及其他光电系统中使用的纤维光学器件的测试，其他应用领域参照执行。注：文中纤维光学器件包括带光纤尾纤的光发射器件及组件、光电探测器件及组件、光处理器件及组件。

ICS49.035
CCS V 25
中华人民共和国国家标准
GB/T43929——2024
空间用纤维光学器件测试指南
Testing guidelines of fibre optic components for space application2024-04-25发布
国家市场监督管理总局
国家标准化管理委员会
2024-08-01实施
规范性引用文件
术语和定义
测试目的
测试类型
测试环境
测试人员
测试文件
测试仪器
测试过程
测试文件编写免费标准bzxz.net
5测试项目
常温光电指标测试
5.2环境适应性测试
6测试方法
常温光电指标测试
试验中测试
7测试注意事项
7.1测试前准备
测试中器件防护
7.3其他防护
GB/T43929—2024
GB/T43929—2024
本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。本文件由全国宇航技术及其应用标准化技术委员会(SAC/TC425)提出并归口。本文件起草单位：北京航天时代光电科技有限公司、中国航天时代电子有限公司。本文件主要起草人：柳建春、相艳荣、丁东发、刘征宇、巩桂洽、单联洁、于海成、杨长望、汪飞琴、郑大坤、朱艳芸、王寸。
1范围
空间用纤维光学器件测试指南
GB/T43929—2024
本文件提供了空间用纤维光学器件的测试总则、测试项目、测试方法、测试注意事项等指导。本文件适用于针对空间应用的光纤传感、光纤通信及其他光电系统中使用的纤维光学器件的测试，其他应用领域参照执行。
注：文中纤维光学器件包括带光纤尾纤的光发射器件及组件、光电探测器件及组件、光处理器件及组件。2规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T12512一1990纤维光学衰减器第1部分：总规范GB/T13265.1—1997纤维光学隔离器第1部分：总规范GB/T14733.12电信术语光纤通信GB/T16850.1光放大器试验方法第1部分：单波道光放大器功率和增益参数GB/T16850.3光放大器试验方法第3部分：单波道光放大器噪声参数GB/T16850.4光纤放大器试验方法基本规范第4部分：模拟参数一一增益斜率的试验方法GB/T16850.5光纤放大器试验方法基本规范第5部分：反射参数的试验方法GB/T16850.6光纤放大器试验方法基本规范第6部分：泵浦泄漏参数的试验方法GB/T16850.7光纤放大器试验方法基本规范第7部分：带外插入损耗的试验方法GB/T18311.2纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-2部分：检查和测量单模纤维光学器件偏振依赖性GB/T18311.4纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-4部分：检查和测量衰减
GB/T18311.5纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-5部分：检查和测量衰减对波长的依赖性
GB/T18311.6纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-6部分：检查和测量回波损耗
GB/T18311.40纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第3-40部分：检查和测量带保偏光纤尾纤连接器的消光比GB/T24365—2009通信用光电探测器组件测试方法GB/T313592015半导体激光器测试方法GB/T38313宇航用纤维光学器件设计与验证要求SJ/T2749—2016半导体激光二极管测试方法SJ207852000超辐射发光二极管组件测试方法SJ20869—2003锯酸锂集成光学波导调制器测试方法YD/T894.2一2010光衰减器技术条件第2部分：光可变衰减器GB/T43929—2024
YD/T964—19981310
0nm/1550nm波分复用器技术要求和测试方法YD/T1689—2007机械式光开关技术要求和测试方法YD/T3128—2016通信用基于波长检测的光纤布拉格光栅3术语和定义
GB/T14733.12、GB/T38313界定的术语和定义适用于本文件。4总则
4.1测试目的
器件测试目的如下：
a）验证器件是否满足该器件详细规范、用户技术文件或合同的要求；b）发现器件缺陷，用于改进器件设计和生产工艺；发现器件失效原因，用于进行产品的失效分析。c）
4.2测试类型
器件测试类型包括以下内容。
常温性能测试：常温试验室环境下测试器件的各种性能指标。a)
环境适应性测试：测试规定的环境条件对器件性能指标的影响。环境条件一般包含温度、力b)
学、真空、空间辐照等。
注：在测试条件允许的情况下，测试尽可能采取实时连续采集的方式4.3测试环境
常规测试大气条件
常规测试大气条件：
a）温度：18℃~28℃；
b)气压：86kPa~106kPa;
c）相对湿度：30%~70%
仲裁测试大气条件
如被测器件参数取决于温度、气压、湿度，则宜在以下仲裁测试大气条件下进行测试：a）温度：25℃±1℃；
b)气压：86 kPa~106kPa;
c）相对湿度：45%~55%。
4.4测试人员
测试人员宜满足：
经过培训和岗位考试并取得上岗证后才能参加测试工作；a）
b）每次测试前，测试人员按规定对测试仪器、工具、测试作业文件进行检查后才能进行测试。4.5
5测试文件
测试文件宜满足：
a）对测试现场文件进行管理，保证现场测试文件齐全且现行有效；b）测试文件的管理由非测试执行者的专人执行。4.6测试仪器
测试仪器宜满足：
a）有检定合格证，并在有效期内；b）保证现场测试仪器的准确度、精度和量程满足测试要求。4.7测试过程
测试过程宜满足：
a）不定期检查是否按测试指导文件进行测试；GB/T43929—2024
b）当发生异常现象或不合格器件较多时，宜停止测试，并报告有关部门，查出原因后再继续进行。4.8测试文件编写
测试全过程宜编写的测试文件包括测试大纲、测试细则或测试作业指导书、测试数据跟踪卡或记录单、测试异常分析报告(若有)、测试总结报告等。5测试项目
5.1常温光电指标测试
5.1.1光发射器件及组件测试项目选择包括带光纤尾纤的光发射半导体激光二极管光源及组件(LD)、超辐射发光二极管光源及组件(SLD)、掺光纤光源(ASE)。常温下光电性能测试项目见表1。表1光发射器件及组件测试项目
器件类型
测试项目
输出光功率
峰值功率
工作电流
工作电压
峰值波长
中心波长
光谱宽度(—13dB)
边模抑制比
偏振度
阈值电流
灾变性光学镜面损伤
(COD)阅值
重复频率
脉冲宽度
测试方法
GB/T31359—2015中5.1
GB/T31359—2015中5.3
GB/T31359—2015中5.7
GB/T31359—2015中5.8
GB/T31359—2015中5.13
GB/T31359—2015中5.15
GB/T31359—2015中5.14
GB/T31359—2015中5.22
GB/T31359—2015中5.16
GB/T31359—2015中5.9
SJ/T2749—2016中5.7
GB/T31359—2015中5.17
GB/T31359—2015中5.18
脉冲激光器
对称型光谱
脉冲激光器
脉冲激光器
GB/T 43929—2024
器件类型
测试项目
输出光功率
工作电流
工作电压
中心波长
平均波长
表1光发射器件及组件测试项目(续）测试方法
SJ20785—2000中2001
GB/T31359—2015中5.7
SJ20785—2000中1001
GB/T31359—2015中5.15
光谱宽度(—3dB)
光谱调制系数
光谱波纹
偏振消光比
输出光功率
工作电流
平均波长
光谱宽度(加权）
偏振消光比
光电探测器件及组件
SJ20785—2000中2003
SJ20785—2000中2004
SJ 20785—2000中2005
SJ20785—2000中2001
GB/T31359—2015中5.7
SJ20785—2000中2005
对称型光谱
不规则光谱
包括带光纤尾纤的、多种波段的、光电二极管探测器(PIN）和雪崩光电二极管探测器(APD）光电探测器件及组件，常温光电性能测试项目见表2，表2
光电探测器件及组件测试项目
测试项目
电流响应度
电压响应度
光谱响应度
暗电流
无光噪声电压
灵敏度
动态范围
饱和光功率
光回波损耗
频率带宽
光处理器件及组件
测试方法
GB/T24365—2009中4.3.10
GB/T 24365—2009中4.3.1
GB/T24365—2009中4.3.11
GB/T24365—2009中4.3.2
GB/T24365—2009中4.3.3
GB/T24365—2009中4.3.3
GB/T24365—2009中4.3.5
GB/T24365—2009中4.3.6
包括用于光传输和光处理的无源纤维光学器件，常温光电性能主要测试见表3。
器件类型
光纤隔离器
光纤衰减器
光调制器件
光纤耦合器
波分复用器
光纤偏振器
测试项目
工作波段及带宽
插入损耗
隔离度
光回波损耗
工作波段及带宽
衰减精度
光回波损耗
动态范围
分辨率
工作波段及带宽
插入损耗
半波电压
残余强度调制
波形斜度
分光比
偏振串音
光回波损耗
工作波段及带宽
插入损耗
分光比
附加损耗
偏振依赖性
光回波损耗
偏振串音
工作波段及带宽
插入损耗
光回波损耗
隔离度
偏振相关损耗
工作波段及带宽
插入损耗
偏振串音
光处理器件及组件测试项目
测试方法
GB/T13265.1—1997中4.5.7
GB/T13265.1—1997中4.5.3
GB/T13265.1—1997中4.5.4
GB/T13265.1—1997中4.5.6
GB/T12512—1990中27.4
GB/T12512—1990中27.2
YD/T894.2—2010中5.3.7
GB/T12512—1990中27.3
YD/T 894.2—2010中5.3.7
YD/T894.2—2010中5.3.7
GB/T18311.5
SJ20869—2003中方法1001
SJ20869—2003中方法1004
SJ20869—2003中方法1006
SJ20869—2003中方法1005
SJ20869—2003中方法1002
SJ20869—2003中方法1003
SJ20869—2003中方法1007
GB/T18311.5
GB/T18311.4
GB/T 18311.2
GB/T18311.6
GB/T18311.40
YD/T964—1998中6.9
YD/T964—1998中6.4
YD/T964—1998中6.5
YD/T 964—1998中6.6
YD/T964—1998中6.8
GB/T18311.5
SJ20869—2003中方法1001
SJ20869—2003中方法1003
43929—2024
等同插入损耗
可变衰减器
保偏耦合器
不局限
1310nm/1550nm波分
复用器，其他波段器
件除波长外，测试方
法等同采用
GB/T 43929—2024
器件类型
光纤光栅
测试项目
中心波长
边模抑制比
反射率
透射率(插入损耗)
光纤反射镜
光开关
光纤放大器
工作波段及带宽
反射率
插入损耗
偏振相关损耗
回波损耗
开关时间
重复性
光功率
噪声系数
增益斜率
泵浦泄露
插入损耗
环境适应性测试
试验前后测试项目选择
光处理器件及组件测试项目（续）测试方法
YD/T3128—2016中5.3.4
YD/T3128—2016中5.3.4
YD/T3128—2016中5.3.4
YD/T3128—2016中5.3.5
YD/T3128—2016中5.3.5
GB/T18311.5
YD/T1689—2007中6.3.1
YD/T1689—2007中6.3.2
YD/T 1689—2007中6. 3. 3
YD/T1689—2007中6.3.4
-2007中6.3.5
YD/T1689—2007中6.3.6
GB/T16850.3
GB/T16850.4
GB/T16850.5
GB/T16850.6
GB/T16850.7
反射型光栅
透射型光栅
不局限机械式光开关，
其他光开关测试
等同采用
包括掺饵光纤放大器、
其他掺杂有源光纤放
大器、拉曼光纤放大
器、半导体放大器
试验中施加的环境条件对器件参数造成不可能恢复的影响，或者恢复缓慢，宜在试验后限定的时间内完成测试，并与试验前测试参数进行对比判断。测试项目与试验环境相关，环境试验前、后测试一般包括表4中项目。
器件类型
光发射器件及
测试项目
输出光功率
平均波长
光谱宽度
阈值电流
COD阈值
边模抑制比
试验前、后指标测试项目
热真空
测试方法
同表1
或中心波长/峰值波长
LD器件
因测试后器件损伤，试验
前后COD阅值测试对比可
采用同型号同批次器件
器件类型
光探测器件及
隔离器
衰减器
光调制器件
耦合器
波分复用器
偏振器
光纤反射镜
光开关
放大器
测试项目
响应度
暗电流
无光噪声电压
频率带宽
插入损耗
隔离度
光回波损耗
插入损耗
半波电压
偏振串音
插入损耗
附加损耗
偏振串音
插入损耗
隔离度
插入损耗
偏振串音
中心波长
反射率
透射率
反射率
插入损耗
回波损耗
开关时间
重复性
光功率
噪声系数
增益斜率
注：“●”代表推荐做项目；
试验前、后指标测试项目（续）温度
热真空
“一”代表不做项目，
“0”代表选做项目：
测试方法
同表2
同表3
GB/T43929—2024
电压或电流响应度
带起偏功能调制器
保偏耦合器
反射型光栅
透射型光栅
GB/T43929—2024
5.2.2试验中测试项目选择
试验中测试项目一般包括表5中列出的项目。环境试验如存在试验时间较长(如温度试验)或时间过短（如冲击试验）、危险且无法现场操作（如辐照试验）等情况，宜采用自动化实时采集数据的测试方法。试验过程中详细情况如下。a）对于需要有输入参数参与计算的器件指标(如插入损耗、响应度、增益等)，宜把输入设备置于试验环境外的稳定环境，输入指标视为常值。通过对采集的器件输出参数的计算（计算过程中常值被约分），获得器件指标的变化量(如插入损耗变化量、响应度变化量、增益变化量等）。b）温度环境试验，测试前宜设定温箱温度范围、温变速率、保温时间，保温时间设定确保受试器件在保温期间达到温度设定值。试验过程中，宜对器件尾纤进行固定处理，避免温箱内、外气流对光纤扰动造成测试影响。
c）力学环境试验包括振动试验和机械冲击试验，试验前先把器件及其尾纤固定在试验台面上。带螺钉安装孔的器件，螺钉拧紧力矩满足标准要求。管脚直插器件采用压条安装或插孔焊接安装，压条安装保护好器件管脚且不能造成器件变形或损伤。钢管封装的无源器件在卡槽内压紧安装，在卡槽内涂胶或粘接胶带，避免器件在卡槽内因安装不稳而相对活动造成损伤。在试验测试过程中，带管脚的器件一般附带夹具或焊接导线，宜避免夹具或焊接导线悬空而造成管脚剪切断裂或损伤。测试中自动采集的采样速率能确保发现器件振动过程中的频率共振点或冲击过程中被测参数的突变点。d）辐照环境试验包括射线电离总剂量试验，中子、质子、重粒子射线位移损伤试验等。辐射剂量率、总剂量、粒子能量等条件的设定宜考虑器件的材料厚度对粒子束穿透深度的影响。延长测试用的光纤光缆和电导线在试验室内安全布线，考虑因延长传输而带来的光路损耗、噪声、压降等因素，宜优先选用光缆和屏蔽线。试验过程中，做好人员和测试设备的防护，对有辐射残留的受试样品，在残余辐射降到安全值以下前，避免接触。考虑试验中二次辐射对试验结果的影响。低能质子或重粒子辐照，受试样品需要在真空环境进行，提前制作保证密封效果的光纤过孔法兰。
热真空环境试验中通过热传导和热辐射进行温度控制，试验中确保器件与热沉板良好接触无遮挡。提前制作保证密封效果的光纤过孔法兰。表5器件环境适应性指标测试项目器件类型
光发射器件及组件
光探测器件及组件
测试项目
光功率变化率
平均波长变化量
启动时间
响应度变化量
噪声电压最大值
热真空
测试方法
或中心波长/峰值波长
组件，带制冷
电压或电流响应度
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