本文件描述了平板显示用彩色光刻胶理化性能中固含量、黏度和后烘残膜率三项指标的测试方法。本文件适用于平板显示用彩色光刻胶的制造、质量控制以及研发工作。

ICS31.030
cCs L90
中华人民共和国国家标准銀
GB/T43793.1—2024
平板显示用彩色光刻胶测试方法第　1部分：理化性能
Test methods of color photoresist for flat panel displayPart 1:Physical and chemical properties2024-03-15发布
国家市场监督管理总局
国家标准化管理委员会
2024-10-01实施
GB/T43793.1—2024
第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则起草。
本文件是GB/T43793《平板显示用彩色光刻胶测试方法》的第1部分。GB/T43793已经发布了以下部分：
第1部分：理化性能：
第2部分：光学性能；
第3部分；可靠性。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。本文件由全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)提出并归口。本文件起草单位：合肥鼎材科技有限公司、北京鼎材科技有限公司、阜阳欣卖华材料科技有限公司、固安鼎材科技有限公司、广州赛西标准检测研究院有限公司、中国电子技术标准化研究院、先微康新材料科技有限公司、江阴润玛电子材料股份有限公司、天津久日半导体材料有限公司、方思得新材料科技(中山)有限公司。
本文件主要起草人：桑伟、刘咏祥、孙涛、任雪艳、黄瑜、李琳、赵明、黄常刚、赵俊莎、吴怡然、曹可慰、马瑞、石正贤、戈士勇、戈烨铭、何珂、贺杰、饶圣红。1
GB/T43793.1—2024
彩色滤光片是平板显示器(FPD)，尤其是液晶显示器(LCD）中最核心的部件之一，主要作用是将白色杂背光分离提纯为符合色度要求的红、绿、蓝三种纯色原色光，LCD的色域、亮度、对比度和饱和度均受彩色滤光片的控制。彩色滤光片的制备通常是将彩色光刻胶涂于玻璃基板上成膜，经紫外光光刻从而形成图案。
固含量、黏度、留膜率、色度、解度和对比度、耐化学性能、耐溶剂冲击性能和显影液中溶解性能是彩色光刻胶材料的重要指标，这些指标会影响彩色光刻胶的流动性、成膜性、质量、寿命、彩色滤光片制备工艺，甚至运输和制造成本。因此有必要确立彩色光刻胶性能测试方法。GB/T43793旨在给出彩色光刻胶各项性能测试方法，拟由三个部分构成。一第1部分；理化性能。目的是给出并提供彩色光刻胶理化性能的测试方法。一第2部分：光学性能。目的是给出并提供彩色光刻胶光学性能的测试方法。一第3部分：可靠性。目的是给出并提供彩色光刻胶可靠性的测试方法，1范围
平板显示用彩色光刻胶测试方法第1部分：理化性能
GB/T43793.1—2024
本文件描述了平板显示用彩色光刻胶理化性能中固含量、黏度和后烘残膜率三项指标的测试方法。本文件适用于平板显示用彩色光刻胶的制造、质量控制以及研发工作。2规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T13173—2021表面活性剂洗涤剂试验方法GB/T15357一2014表面活性剂和洗涤剂旋转黏度计测定液体产品的黏度和流动性质GB/T32647
平板显示器基板玻璃规范
JB/T20033热风循环烘箱
JJG1002旋转黏度计
JJG1036电子天平
3术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。3.1
固含量
fsolidcontent
在规定条件下烘干后，测试样品剩余部分占烘干前总量的质量百分数3.2
后烘残膜率postbakeresidualfilmratio彩色光刻胶在高温后烘工艺阶段造成的，后烘后与后烘前膜厚度变化比率。3.3
前烘softhake
彩色滤光片制作过程中，在涂胶工艺结束后，通过短时间（100s左右)的低温加热方式（100℃左右）将彩色光刻胶中大部分溶剂脱除，以便彩膜进入曝光工艺段的工艺过程3.4
后烘posthake
曝光工艺段之后，通过较长时间(20min左右)的高温加热方式(230℃左右)使彩色光刻胶中未完全参与光聚合的不饱和键在高温下充分聚合，并形成具有一定硬度的彩色滤光片的工艺过程。注：又称高温坚膜工艺。
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环境条件
除非另有规定，测试应在下列条件下进行：a）测试过程全程避光，可为实验室中光源加滤光膜，滤除紫外线（500nm以下）；环境温度；23℃±2℃；
相对湿度：30%～70%。
固含量测试
5.1原理
测试样品在一定温度下加热一定时间，将易挥发物烘于，测定测试样品质量与烘于前测试样品质量的百分比。
5.2仪器
5.2.1电子天平
灵敏度应不低于1mg，按照JJG1036的规定检定和校准电子天平。5.2.2热风循环烘箱
热风循环烘箱设定温度与实际温度的误差应不超过土2℃，并具有超温报警功能，按照JB/T20033测定烘箱温度误差。
5.2.3容器
培养皿，材质为薄剖面玻璃，宜选择公称直径为60mm的玻璃培养皿。5.2.4干燥器
干燥器，含有氧化硅胶干燥剂。5.3测试条件
固含量测试条件应符合表1的规定表1固含量测试条件
测试条件
温度/℃
时间/min
培养血直径/mm
取样量/g
110±2
180±5
烘干湿度110℃，适用于含有丙二醇甲醚醋酸酯(PGMEA)或者其他沸点相近的溶剂的测试样品。当测试样品中含有沸点更高的溶剂时，烘于温度和时间由供需双方协商确定
培养Ⅲ应提前烘干保持干燥
培养Ⅲ直径为其他值时，取样量应相应调整5.4样品测试
按照以下步骤顺序进行测试。
称量培养血质量，精确至1mg，该质量为m。a)
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取1g土0,01g样品于培养血中，称量其质量，该质量为M，精确至1mg。轻轻晃动容器使样b)
品在培养血血底充分摊平，使其铺满底盖并保持液膜厚度均匀。e
将盛有样品的散口培养血血底放入已预先达到测试温度的热风循环烘箱内，测试时间按5.3规定。
从烘箱中取出盛有测试样品的培养血，放入干燥器中冷却至室温，称量其质量，精确至1mg，该d)
质量为M2
5.5数据处理
测试样品的固含量以X(质量分数)表示，按公式(1)计算：X= (M2-m) / (Mm) X 100%
式中：
M一一烘干前测试样品和培养血的质量，单位为克（g)；m-
—培养血的质量，单位为克(g);M2一一烘干后测试样品和培养皿的质量，单位为克（g）(1)
样品的固含量按5.4进行3次测试，取平均值，保留3位有效数字，相对标准偏差（RSD）应不超
过5%。
5.6测试报告
测试报告应包含以下信息：
样品来源、名称和批号等：
b）采用的测试方法标准编号(本文件编号）：测试条件：
测试日期；
获得的测试结果。
6黏度测试
6.1原理
在规定的剪切速率下，测定彩色光刻胶基于剪切应力随剪切速率变化的动力黏度，乘以所选转子及转速由仪器给定的系数，得到样品黏度。6.2仪器
6.2.1旋转黏度计
测量范围1mPas~102mPa·S，
6.2.2恒温水浴箱
再现性士5%，按照JJG1002的规定检定和校准黏度计。用于保持测试样品在温度25℃士0.1℃以内。3
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6.3测试条件
6.3.1选择适当测试量程和精度的旋转黏度计和测量单元测定样品黏度，应按GB/T15357一2014中6.3的规定选择转子、剪切速率和剪切时间。6.3.2水浴温度控制在25℃，精确至土0.1℃，按照GB/T13173一2021中第4章的规定制备和保存均匀的实验室样品，在室温下静置至空气泡消除。6.3.3每次测试后，应用溶剂将容器和转子清洗、擦拭干净，宜使用乙醇溶剂，晾干或吹干后再进行下一次测试。
6.4测试步骤
按照以下步骤顺序进行测试：
a）取出测试样品，避免产生空气泡：b）将盛有测试样品的容器置于恒温水箱中，直至测试样品温度达到选定的测试温度；将所选的转子放入测量容器内接到转轴上，转子浸在测试样品中心，测试样品液面在转子液位c)
标线，并防止转子产生气泡；
d）选择适宜的转子和转速，使黏度读数在刻度盘的20%～8%范围内。6.5数据处理bzxZ.net
连续进行测试黏度，直至3次连续测试结果的相对标准偏差(RSD）不超过2%。取3次测试的平均值。
6.6测试报告
测试报告应包括以下信息：
测试样品来源、名称和批号等；b）
采用的测试方法标准编号（本文件编号）；c)
测试温度，所用的仪器和转子、转速，读取时间：d)
测试日期：
获得的测试结果。
后烘残膜率测试
7.1原理
在透明玻璃板上涂布特定膜厚的彩色光刻胶，经曝光显影成膜。使用台阶仪测量后烘前后膜厚度变化，膜厚变化的百分比即为残膜率。7.2仪器和测试用具
7.2.1光刻设备
包括但不限于将彩色光刻胶涂于透明玻璃基板上，制备成具有特定均一膜厚的彩色滤光片的设备。7.2.2台阶仪
垂直测量范围：5nm~250000
垂直分辨率；不低于1nm。
7.2.3热风循环烘箱
GB/T43793.1—2024
热风循环烘箱设定温度与实际温度的误差应不超过土2℃，温度范围可满足工序双方协商的温度需求，并具有超温报警功能，按照.JB/T20033测定烘箱温度误差7.2.4玻璃基板
玻璃基板尺寸应满足测试需求，表面粗糙度和性能应符合GB/T32647的要求7.3样品制备
前烘、曝光、显影条件由供需双方协商确定，曝光量应不低于形成固化像素的最小要求，7.4测试步骤
按照以下步骤顺序进行测试。
使用光刻设备在玻璃基板上涂布特定膜厚的彩色光刻胶，经曝光显影形成彩色像素，像素长度a）
应符合台阶仪测试要求，宽度宜为100Ⅱm。膜厚会影响后烘残膜率，对比测试后烘后膜厚度应与测试样品一致，具体膜厚和像素宽度由供需双方协商确定。b
使用台阶仪测试像素膜厚度T，标记测试点位置，台阶仪测试长度应大于像素长度，测试样品像素膜厚度可从台阶仪中直接读取。同一个测试样品在同一个测试点连续测试3次，取平均值，3次膜厚的相对标准偏差（RSD）应不超过0.2%。e）测试样品经过烘箱一定温度后烘一定时间，在上述标记位置按7.4b）测试后烘后测试样品像素膜厚度T2，同一个测试样品在同一个测试点连续测试3次，取平均值，3次膜厚的相对标准偏差(RSD）应不超过0.2%。
注：后烘温度和时间由供需双方协商确定。7.5数据处理
测试样品的后烘残膜率按式(2)计算：R=T2/T1×100%
式中：
R一一测试样品的后烘残膜率；
T:—后烘后测试样品的膜厚，单位为微米（μm);T
一后烘前测试样品的膜厚，单位为微米（um)。...(②
膜厚度应保留5位有效数字，后烘残膜率应保留3位有效数字。连续制作3个测试样品，3个测试样品的后烘残膜率相对标准偏差（RSD）应不超过5%。7.6测试报告
测试报告应包括以下内容：
测试样品来源、名称和批号等；a)
b）采用的测试方法标准编号(本文件编号）；c
仪器设备型号、测试条件（后烘温度和时间）：d)
获得的测试结果（后烘前后膜厚、后烘残膜率）。
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