GB/T 42848-2023
基本信息
标准号： GB/T 42848-2023
中文名称：半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法
标准类别：国家标准(GB)
英文名称：Semiconductor intergrated circuits—Test method of direct digital frequency synthesizer
标准状态：现行
发布日期：2023-08-06
实施日期：2023-12-01
出版语种：简体中文
下载格式：.pdf .zip
下载大小：5326010
标准分类号
标准ICS号：电子学>>31.200集成电路、微电子学
中标分类号：电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路
关联标准
出版信息
出版社：中国标准出版社
页数：36页
标准价格：59.0
相关单位信息
起草人：何善亮、蒲佳、杨阳、刘纪祖、范超、吴淼、王可、李锟
起草单位：成都振芯科技股份有限公司、中国电子技术标准化研究院
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
提出单位：中华人民共和国工业和信息化部
发布部门：国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
标准简介
本文件规定了半导体集成电路中直接数字频率合成器电特性的通用测试方法。
本文件适用于单通道及多通道直接数字频率合成器电路的测试。
标准图片预览
标准内容
ICS31.200
ccsL56
中华人民共和国国家标准
GB/T42848—2023
半导体集成电路
直接数字频率合成器测试方法
Semiconductorintergrated circuits-Testmethod ofdirectdigitalfrequency synthesizer2023-08-06发布
国家市场监督管理总局
国家标准化管理委员会
2023-12-01实施
1范围
2规范性引用文件
3术语和定义
4总则
4.1测试环境
4.2测试注意事项
4.3相关文件
5静态参数
5.1逻辑输入高电平电压V
5.2逻辑输入低电平电压VL
5.3逻辑输出高电平电压VoH
5.4逻辑输出低电平电压VoL
5.5逻辑输入高电平电流I
5.6逻辑输入低电平电流I
5.7增益误差Ec
5.8积分非线性INL
5.9微分非线性DNL
5.10满幅输出电流 Irs
5.11输出失调电流Ioo
电压适应范围VDAC
时钟输入偏置电压V
6动态参数测试
建立时间tsu
保持时间th
6.3输出电容C。
6.4时钟输入频率 fRECLK
6.5时钟输入幅度VREFCLk
6.6输出宽带无杂散动态范围SFDRw输出窄带无杂散动态范围SFDR
6.8通道隔离度ISOcH
6.9通道间输出幅度匹配误差△AcH通道间相位差△PcH
GB/T42848—2023
GB/T42848—2023
6.11相位噪声
6.12噪声功率谱密度
6.13功耗Pw
电源电流Ico
......................................................................................................................................23
GB/T42848—2023
本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出。本文件由全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC78)归口。本文件起草单位：成都振芯科技股份有限公司、中国电子技术标准化研究院。本文件主要起草人：何善亮、蒲佳、杨阳、刘纪祖、范超、吴淼、王可、李锟。m
1范围
半导体集成电路
直接数字频率合成器测试方法
GB/T 42848—2023
本文件规定了半导体集成电路中直接数字频率合成器(以下简称“器件”)电特性的通用测试方法。本文件适用于单通道及多通道直接数字频率合成器电路的测试。2规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
GB/T17574—1998
3半导体器件集成电路
第2部分：数字集成电路
3术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。3.1
满幅输出电流
full-scaleoutputcurrent
配置模拟输出端为满幅输出时的输出电流。3.2
增益误差
gainerror
对于电压或电流输出型的器件，器件转换电压或电流实际输出范围与理想输出范围之间的偏差。3.3
通道间输出幅度匹配误差
matchingerrorofchannelsoutputlevel多通道器件各输出通道在相同的输入幅度配置下，输出幅度间的最大偏差绝对值与各通道中最小输出幅度值的百分比。
输出失调电流
outputcurrentoffset
配置模拟输出端为零点输出时的输出电流。3.5
输出电容
outputcapacitance
在规定条件下器件输出端的电容值。1
GB/T42848—2023
voltagecompliancerange
电压适应范围
在输出端所能承受的不引起满幅输出电流产生规定范围变化的最大电压范围。3.7
积分非线性integralnonlinearity;INL实际模拟输出与理想输出的最大偏差。3.8
微分非线性differentialnonlinearity;DNL实际转换特性曲线中相邻编码对应电压差值与理想1个最低有效位对应电压值之间的最大偏差。3.9
通道间相位差
phasevarianceofdifferenctchannels多通道器件各通道间同时配置相同频率、幅度和相位时，各通道输出波形的相位差绝对值的最大值。
时钟输入频率
fREFCLK
operationfrequency
器件参考时钟输入端所施加参考时钟信号的频率范围。3.11
时钟输入幅度
refclkinputleve
VREFCLK
器件参考时钟输入端所施加参考时钟信号的电压幅度范围。3.12
时钟输入偏置电压
refclk inputbiasvoltage
器件参考时钟输入端内部提供的直流偏置电压。3.13
输出宽带无杂散动态范围widebandspurious-freedynamicrangeSFDRw
额定奈奎斯特带宽范围内的基波信号的功率与最大杂散或谐波的功率之比。3.14
输出窄带无杂散动态范围narrowbandspurious-freedynamicrangeSFDRN
规定的窄带带宽范围内的基波信号的功率与最大杂散的功率之比。3.15
通道隔离度channelisolation
多通道器件各通道输出不同频点时，当前测试通道输出基波频率的幅度和其他通道输出频点馈通到当前测试通道的幅度之比。
相位噪声
phasenoise
器件在给定的偏移频率处的相位噪声定义为在该频率处1Hz带宽内的信号功率与载波功率的2
比值。
噪声功率谱密度
noisepowerspectrumdensity
器件在偏离载波规定频率间隔处的单位带宽噪声功率。4总则
4.1测试环境
GB/T42848—2023
除另有规定外，电测试环境温度或参考点温度为25*.号℃;其他试验环境温度或参考点温度为（25±10）℃;环境气压86kPa~106kPa。如果环境湿度对试验有影响，应在相关文件中规定4.2测试注意事项
测试期间，遵循以下注意事项：若无特殊说明，环境或参考点温度偏离规定值的范围符合相关文件的规定；a）
避免外界干扰对测试准确度的影响；测试设备在计量有效期内，测试设备引起的测试准确度偏差符合相关文件的规定；施于被测器件的电源电压与规定值偏差在土1%以内，施于被测器件的其他电参量的准确度符合相关文件的规定；
确保被测器件与测试外围电路连接良好；被测器件与测试系统连接或断开时，承受的电应力不超过相关文件中规定的最大非破坏应力条件；
避免因静电放电而引起器件损伤；g）
h）非被测输入端和输出端是否悬空符合相关文件的规定。4.3相关文件
本文件中的相关文件指与被测器件相关的产品详细规范、产品手册等技术文件。静态参数
5.1逻辑输入高电平电压ViH
5.1.1目的
配置器件为规定工作状态时，测试逻辑输入端所施加的最小高电平电压。5.1.2测试原理图
逻辑输入高电平电压的测试原理框图见图1。3
GB/T42848—2023
标引符号说明：
GND一地；
信号源
输入配置
参考时
钟输入
电压表
DDS一直接数字频率合成器；
VIH一逻辑输入高电平电压。
图1逻辑输入高电平电压测试原理框图5.1.3
3测试程序
测试期间，应按以下程序进行测试：a)
在规定的环境温度或参考点温度下，将被测器件接入测试系统；b)
施加规定的电源电压；Www.bzxZ.net
在器件参考时钟引脚输入规定频率和功率的参考时钟信号；在被测器件配置端口施加高电平为VIH、低电平为V的激励信号，将器件配置为规定的工作状态，测试该条件下待测试器件工作是否达到设计要求（一般使用动态指标如窄带无杂散动态范围来判断器件工作是否达到设计要求）。5.1.4规定条件
相关文件应规定下列条件：
环境温度或参考点温度；
电源电压；
参考时钟；
输入配置。
逻辑输入低电平电压Vi
，目的
配置器件为规定工作状态时，测试逻辑输入端所施加的最大低电平电压。测试原理图
逻辑输入低电平电压的测试原理框图见图2。4
标引符号说明：
GND一地；
信号源
输入配置
DDS一直接数字频率合成器；
ViL一逻辑输入低电平电压。
参考时
钟输入
电压表
图2逻辑输入低电平电压测试原理框图测试程序
测试期间，应按以下程序进行测试：a)
在规定的环境温度或参考点温度下，将被测器件接入测试系统；施加规定的电源电压；
在器件参考时钟引脚输入规定频率和功率的参考时钟信号；GB/T42848—2023
在被测器件配置端口施加高电平为VH，低电平为Vi的激励信号，将器件配置为规定的工作状态，测试该条件下待测试器件工作是否达到设计要求（一般使用动态指标如窄带无杂散动态范围来判断器件工作是否达到设计要求）。规定条件
相关文件应规定下列条件：
环境温度或参考点温度；
电源电压；
参考时钟；
输入配置。
逻辑输出高电平电压VoH
5.3.1目的
测试规定条件下的逻辑输出高电平电压。5.3.2
测试原理图
逻辑输出高电平电压的测试原理框图见图3。5
GB/T42848—2023
标引符号说明：
GND一地；
输入时钟
输入配置
DDS一直接数字频率合成器；
VoH一逻辑输出高电平电压；
VoL一逻辑输出低电平电压。
参考时
钟输入
电压表
电流表
电流源
图3逻辑输出高、低电平电压测试原理框图5.3.3测试程序
测试期间，应按以下程序进行测试：a)
在规定的环境温度或参考点温度下，将被测器件接入测试系统；施加规定的电源电压；
在器件参考时钟引脚输入规定频率和功率的参考时钟信号；通过电流源在器件被测逻辑输出引脚施加规定的拉电流；将器件被测逻辑输出引脚配置为高电平；使用电压表测量器件被测逻辑输出引脚的高电平电压VoH。5.3.4
规定条件
相关文件应规定下列条件：
环境温度或参考点温度；
电源电压；
参考时钟；
输入配置；
逻辑输出引脚拉电流。
4逻辑输出低电平电压V。
测试规定条件下的逻辑输出低电平电压。5.4.2
测试原理图
逻辑输出低电平电压的测试原理框图见图3。5.4.3
测试程序
测试期间，应按以下程序进行测试：a）
在规定的环境温度或参考点温度下，将被测器件接入测试系统；6
施加规定的电源电压；
在器件参考时钟引脚输入规定频率和功率的参考时钟信号；通过电流源在器件被测逻辑输出引脚施加规定的灌电流；将器件被测逻辑输出引脚配置为低电平；使用电压表测量器件被测逻辑输出引脚的低电平电压VoL。规定条件
相关文件应规定下列条件：
环境温度或参考点温度；
电源电压；
参考时钟；
输入配置；
逻辑输出引脚灌电流。
逻辑输入高电平电流IH
测试规定条件下的逻辑输入高电平电流。5.5.2测试原理图
逻辑输入高电平电流的测试原理框图见图4。电源
输入配置
电压源
标引符号说明：
GND一地；
DDS一直接数字频率合成器；
IH一逻辑输入高电平电流；
IL一逻辑输入低电平电流。
纯翁入
电流表
被测输入
图4逻辑输入高、低电平电流测试原理框图3测试程序
测试期间，应按以下程序进行测试：a)
在规定的环境温度或参考点温度下，将被测器件接入测试系统；施加规定的电源电压；
通过电压源在器件被测逻辑输入引脚施加规定的高电平电压；器件其他逻辑输入引脚施加规定的配置；使用电流表测量器件被测逻辑输入引脚的高电平电流IH。GB/T 42848—2023
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ccsL56
中华人民共和国国家标准
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半导体集成电路
直接数字频率合成器测试方法
Semiconductorintergrated circuits-Testmethod ofdirectdigitalfrequency synthesizer2023-08-06发布
国家市场监督管理总局
国家标准化管理委员会
2023-12-01实施
1范围
2规范性引用文件
3术语和定义
4总则
4.1测试环境
4.2测试注意事项
4.3相关文件
5静态参数
5.1逻辑输入高电平电压V
5.2逻辑输入低电平电压VL
5.3逻辑输出高电平电压VoH
5.4逻辑输出低电平电压VoL
5.5逻辑输入高电平电流I
5.6逻辑输入低电平电流I
5.7增益误差Ec
5.8积分非线性INL
5.9微分非线性DNL
5.10满幅输出电流 Irs
5.11输出失调电流Ioo
电压适应范围VDAC
时钟输入偏置电压V
6动态参数测试
建立时间tsu
保持时间th
6.3输出电容C。
6.4时钟输入频率 fRECLK
6.5时钟输入幅度VREFCLk
6.6输出宽带无杂散动态范围SFDRw输出窄带无杂散动态范围SFDR
6.8通道隔离度ISOcH
6.9通道间输出幅度匹配误差△AcH通道间相位差△PcH
GB/T42848—2023
GB/T42848—2023
6.11相位噪声
6.12噪声功率谱密度
6.13功耗Pw
电源电流Ico
......................................................................................................................................23
GB/T42848—2023
本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出。本文件由全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC78)归口。本文件起草单位：成都振芯科技股份有限公司、中国电子技术标准化研究院。本文件主要起草人：何善亮、蒲佳、杨阳、刘纪祖、范超、吴淼、王可、李锟。m
1范围
半导体集成电路
直接数字频率合成器测试方法
GB/T 42848—2023
本文件规定了半导体集成电路中直接数字频率合成器(以下简称“器件”)电特性的通用测试方法。本文件适用于单通道及多通道直接数字频率合成器电路的测试。2规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
GB/T17574—1998
3半导体器件集成电路
第2部分：数字集成电路
3术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。3.1
满幅输出电流
full-scaleoutputcurrent
配置模拟输出端为满幅输出时的输出电流。3.2
增益误差
gainerror
对于电压或电流输出型的器件，器件转换电压或电流实际输出范围与理想输出范围之间的偏差。3.3
通道间输出幅度匹配误差
matchingerrorofchannelsoutputlevel多通道器件各输出通道在相同的输入幅度配置下，输出幅度间的最大偏差绝对值与各通道中最小输出幅度值的百分比。
输出失调电流
outputcurrentoffset
配置模拟输出端为零点输出时的输出电流。3.5
输出电容
outputcapacitance
在规定条件下器件输出端的电容值。1
GB/T42848—2023
voltagecompliancerange
电压适应范围
在输出端所能承受的不引起满幅输出电流产生规定范围变化的最大电压范围。3.7
积分非线性integralnonlinearity;INL实际模拟输出与理想输出的最大偏差。3.8
微分非线性differentialnonlinearity;DNL实际转换特性曲线中相邻编码对应电压差值与理想1个最低有效位对应电压值之间的最大偏差。3.9
通道间相位差
phasevarianceofdifferenctchannels多通道器件各通道间同时配置相同频率、幅度和相位时，各通道输出波形的相位差绝对值的最大值。
时钟输入频率
fREFCLK
operationfrequency
器件参考时钟输入端所施加参考时钟信号的频率范围。3.11
时钟输入幅度
refclkinputleve
VREFCLK
器件参考时钟输入端所施加参考时钟信号的电压幅度范围。3.12
时钟输入偏置电压
refclk inputbiasvoltage
器件参考时钟输入端内部提供的直流偏置电压。3.13
输出宽带无杂散动态范围widebandspurious-freedynamicrangeSFDRw
额定奈奎斯特带宽范围内的基波信号的功率与最大杂散或谐波的功率之比。3.14
输出窄带无杂散动态范围narrowbandspurious-freedynamicrangeSFDRN
规定的窄带带宽范围内的基波信号的功率与最大杂散的功率之比。3.15
通道隔离度channelisolation
多通道器件各通道输出不同频点时，当前测试通道输出基波频率的幅度和其他通道输出频点馈通到当前测试通道的幅度之比。
相位噪声
phasenoise
器件在给定的偏移频率处的相位噪声定义为在该频率处1Hz带宽内的信号功率与载波功率的2
比值。
噪声功率谱密度
noisepowerspectrumdensity
器件在偏离载波规定频率间隔处的单位带宽噪声功率。4总则
4.1测试环境
GB/T42848—2023
除另有规定外，电测试环境温度或参考点温度为25*.号℃;其他试验环境温度或参考点温度为（25±10）℃;环境气压86kPa~106kPa。如果环境湿度对试验有影响，应在相关文件中规定4.2测试注意事项
测试期间，遵循以下注意事项：若无特殊说明，环境或参考点温度偏离规定值的范围符合相关文件的规定；a）
避免外界干扰对测试准确度的影响；测试设备在计量有效期内，测试设备引起的测试准确度偏差符合相关文件的规定；施于被测器件的电源电压与规定值偏差在土1%以内，施于被测器件的其他电参量的准确度符合相关文件的规定；
确保被测器件与测试外围电路连接良好；被测器件与测试系统连接或断开时，承受的电应力不超过相关文件中规定的最大非破坏应力条件；
避免因静电放电而引起器件损伤；g）
h）非被测输入端和输出端是否悬空符合相关文件的规定。4.3相关文件
本文件中的相关文件指与被测器件相关的产品详细规范、产品手册等技术文件。静态参数
5.1逻辑输入高电平电压ViH
5.1.1目的
配置器件为规定工作状态时，测试逻辑输入端所施加的最小高电平电压。5.1.2测试原理图
逻辑输入高电平电压的测试原理框图见图1。3
GB/T42848—2023
标引符号说明：
GND一地；
信号源
输入配置
参考时
钟输入
电压表
DDS一直接数字频率合成器；
VIH一逻辑输入高电平电压。
图1逻辑输入高电平电压测试原理框图5.1.3
3测试程序
测试期间，应按以下程序进行测试：a)
在规定的环境温度或参考点温度下，将被测器件接入测试系统；b)
施加规定的电源电压；Www.bzxZ.net
在器件参考时钟引脚输入规定频率和功率的参考时钟信号；在被测器件配置端口施加高电平为VIH、低电平为V的激励信号，将器件配置为规定的工作状态，测试该条件下待测试器件工作是否达到设计要求（一般使用动态指标如窄带无杂散动态范围来判断器件工作是否达到设计要求）。5.1.4规定条件
相关文件应规定下列条件：
环境温度或参考点温度；
电源电压；
参考时钟；
输入配置。
逻辑输入低电平电压Vi
，目的
配置器件为规定工作状态时，测试逻辑输入端所施加的最大低电平电压。测试原理图
逻辑输入低电平电压的测试原理框图见图2。4
标引符号说明：
GND一地；
信号源
输入配置
DDS一直接数字频率合成器；
ViL一逻辑输入低电平电压。
参考时
钟输入
电压表
图2逻辑输入低电平电压测试原理框图测试程序
测试期间，应按以下程序进行测试：a)
在规定的环境温度或参考点温度下，将被测器件接入测试系统；施加规定的电源电压；
在器件参考时钟引脚输入规定频率和功率的参考时钟信号；GB/T42848—2023
在被测器件配置端口施加高电平为VH，低电平为Vi的激励信号，将器件配置为规定的工作状态，测试该条件下待测试器件工作是否达到设计要求（一般使用动态指标如窄带无杂散动态范围来判断器件工作是否达到设计要求）。规定条件
相关文件应规定下列条件：
环境温度或参考点温度；
电源电压；
参考时钟；
输入配置。
逻辑输出高电平电压VoH
5.3.1目的
测试规定条件下的逻辑输出高电平电压。5.3.2
测试原理图
逻辑输出高电平电压的测试原理框图见图3。5
GB/T42848—2023
标引符号说明：
GND一地；
输入时钟
输入配置
DDS一直接数字频率合成器；
VoH一逻辑输出高电平电压；
VoL一逻辑输出低电平电压。
参考时
钟输入
电压表
电流表
电流源
图3逻辑输出高、低电平电压测试原理框图5.3.3测试程序
测试期间，应按以下程序进行测试：a)
在规定的环境温度或参考点温度下，将被测器件接入测试系统；施加规定的电源电压；
在器件参考时钟引脚输入规定频率和功率的参考时钟信号；通过电流源在器件被测逻辑输出引脚施加规定的拉电流；将器件被测逻辑输出引脚配置为高电平；使用电压表测量器件被测逻辑输出引脚的高电平电压VoH。5.3.4
规定条件
相关文件应规定下列条件：
环境温度或参考点温度；
电源电压；
参考时钟；
输入配置；
逻辑输出引脚拉电流。
4逻辑输出低电平电压V。
测试规定条件下的逻辑输出低电平电压。5.4.2
测试原理图
逻辑输出低电平电压的测试原理框图见图3。5.4.3
测试程序
测试期间，应按以下程序进行测试：a）
在规定的环境温度或参考点温度下，将被测器件接入测试系统；6
施加规定的电源电压；
在器件参考时钟引脚输入规定频率和功率的参考时钟信号；通过电流源在器件被测逻辑输出引脚施加规定的灌电流；将器件被测逻辑输出引脚配置为低电平；使用电压表测量器件被测逻辑输出引脚的低电平电压VoL。规定条件
相关文件应规定下列条件：
环境温度或参考点温度；
电源电压；
参考时钟；
输入配置；
逻辑输出引脚灌电流。
逻辑输入高电平电流IH
测试规定条件下的逻辑输入高电平电流。5.5.2测试原理图
逻辑输入高电平电流的测试原理框图见图4。电源
输入配置
电压源
标引符号说明：
GND一地；
DDS一直接数字频率合成器；
IH一逻辑输入高电平电流；
IL一逻辑输入低电平电流。
纯翁入
电流表
被测输入
图4逻辑输入高、低电平电流测试原理框图3测试程序
测试期间，应按以下程序进行测试：a)
在规定的环境温度或参考点温度下，将被测器件接入测试系统；施加规定的电源电压；
通过电压源在器件被测逻辑输入引脚施加规定的高电平电压；器件其他逻辑输入引脚施加规定的配置；使用电流表测量器件被测逻辑输入引脚的高电平电流IH。GB/T 42848—2023
小提示：此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容，若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。