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GB/T 33523.603-2022

基本信息

标准号: GB/T 33523.603-2022

中文名称:产品几何技术规范(GPS) 表面结构 区域法 第603部分:非接触(相移干涉显微)式仪器的标称特性

标准类别:国家标准(GB)

英文名称:Geometrical product specifications (GPS)—Surface texture:Areal—Part 603:Nominal characteristics of non-contact (phase-shifting interferometric microscopy) instruments

标准状态:现行

发布日期:2022-12-30

实施日期:2023-04-01

出版语种:简体中文

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相关标签: 产品 几何 技术规范 表面 结构 区域 接触 干涉 仪器 标称 特性

标准分类号

标准ICS号:计量学和测量、物理现象>>长度和角度测量>>17.040.20表面特征

中标分类号:机械>>机械综合>>J04基础标准与通用方法

关联标准

采标情况:ISO 25178-603:2013,IDT

出版信息

出版社:中国标准出版社

页数:32页

标准价格:54.0

相关单位信息

起草人:尉昊赟、闫鹏、马俊杰、刘俭、施玉书、代鲲鹏、朱悦

起草单位:清华大学、山东大学、深圳市中图仪器股份有限公司、哈尔滨工业大学、中机生产力促进中心有限公司、中国计量科学研究院、广州计量检测技术研究院、中机研标准技术研究院(北京)有限公司

归口单位:全国产品几何技术规范标准化技术委员会(SAC/TC 240)

提出单位:全国产品几何技术规范标准化技术委员会(SAC/TC 240)

发布部门:国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会

标准简介

本文件规定了相移干涉法(PSI)轮廓和区域表面结构测量显微镜的计量特性。


标准图片预览






标准内容

ICS 17.040.20
CCS J 04
中华人民共和国国家标准
GB/T33523.603—2022/IS025178-603:2013产品几何技术规范(GPS)
表面结构
区域法
第603部分:非接触(相移干涉显微)式仪器的标称特性
Geometrical product specifications (GPS)Surface texture : Areal-Part 6o3 :Nominal characteristics of non-contact (phase-shifting interferometricmicroscopy) instruments
(IS025178-603:2013,IDT)
2022-12-30发布
国家市场监督管理总局
国家标准化管理委员会
2023-04-01实施
规范性引用文件
术语和定义
影响量的描述
GB/T33523.603—2022/ISO25178-603:2013次
附录A(资料性)
相移干涉(PSI)显微镜的组件
附录B(资料性)
附录C(资料性)
附录D(资料性)
参考文献
相移干涉(PSI)显微镜的工作原理相移干涉(PSI)显微镜的误差和修正与GPS矩阵模型的关系
GB/T33523.603—2022/ISO25178-603:2013前言
本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则起草。
第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定构区域法》的第603部分。GB/T33523本文件是GB/T33523《产品儿何技术规范(GPS)表面结构
已经发布了以下部分:Www.bzxZ.net
第1部分:表面结构的表示法;
一第2部分:术语、定义及表面结构参数;一第3部分:规范操作集;
-第6部分:表面结构测量方法的分类;一第70部分:实物测量标准;
一第71部分:软件测量标准;
一第72部分:XML文件格式x3p;第601部分:接触(触针)式仪器的标称特性;第602部分:非接触(共聚焦色差探针)式仪器的标称特性:第603部分:非接触(相移干涉显微)式仪器的标称特性;一第604部分:非接触(相干扫描干涉)式仪器的标称特性;第605部分:非接触(点自动对焦探针)式仪器的标称特性;一第606部分:非接触(变焦)式仪器的标称特性;一第701部分:接触(触针)式仪器的校准与测量标准。本文件等同采用ISO25178-603:2013《产品几何技术规范(GPS)分:非接触(相移干涉显微)式仪器的标称特性》。本文件增加了“规范性引用文件”一章。表面结构
区域法第603部
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。本文件由全国产品几何技术规范标准化技术委员会(SAC/TC24O)提出并归口。本文件起草单位:清华大学、山东大学、深圳市中图仪器股份有限公司、哈尔滨工业大学、中机生产力促进中心有限公司、中国计量科学研究院、广州计量检测技术研究院、中机研标准技术研究院(北京)有限公司。
本文件主要起草人:蔚臭赞、闫鹏、马俊杰、刘俭、施玉书、代鲲鹏、朱悦Ⅲ
GB/T33523.603—2022/ISO25178-603:2013引言
随着国家产品质量提升计划的实施,对产品设计、制造、测量和检验过程中使用的统一规范或原则的需求越来越迫切。原有产品几何技术规范中表面结构的表示方法及相关标准已不能满足产品制造过程中的表面质量控制要求
GB/T33523《产品几何技术规范(GPS)表面结构区域法》基于新一代GPS产品何规范体系,通过数字化测量技术、软件分析技术及计量评定等手段,构建一套全新的三维表面结构测量与分析的推荐性国家标准。GB/T33523在提出表面结构表示法、表面结构参数及规范操作集的基础上,分析了表面结构测量的方法,给出了使用的测量技术及仪器的标称特性。特别是,GB/T33523在涵盖接触式测量仪器的同时,重点引人了在高精度测量应用中具有重要价值但缺乏标准支撑的多种非接触式测量仪器。标准还规范了实物测量和软件测量标准,给出了软件文件标准和表面结构测量的计量特性。GB/T33523实现了从二维轮廓测量到三维表面结构测量的跨越,为GPS产品几何规范体系提供了计量测试支撑。
GB/T33523拟由14个部分构成。
第1部分:表面结构的表示法。目的在于规定产品技术文件(例如图纸、规范、合同和报告)中利用图形符号表示区域表面结构的规则。一一第2部分:术语、定义及表面结构参数。目的在于规定用区域法评定表面结构的术语、定义和参数。
一第3部分:规范操作集。目的在于规定适用于区域法评定表面结构(尺度限定表面)的完整规范操作集。
一第6部分:表面结构测量方法的分类。目的在于规定主要用于表面结构测量方法的分类体系,定义三类方法,描述三类方法之间的关系,并对具体方法做简要说明。第70部分:实物测量标准。目的在于规定用于定期验证和调整区域法表面结构测量仪器的实物测量标准的特性。
第71部分:软件测量标准。目的在于规定用于测量仪器软件校验的S1型和S2型软件测量标准(标准具)的术语定义。
一第72部分:XML文件格式x3p。目的在于规定用于存储和交换形貌及轮廓数据的XML文件格式x3p。
一第601部分:接触(触针)式仪器的标称特性。目的在于规定表面结构区域法接触(触针)式仪器的标称特性。
第602部分:非接触(共聚焦色差探针)式仪器的标称特性。目的在于规定使用基于白光轴向色散特性的共聚焦色差探针测量表面结构的非接触式仪器的设计与计量特性。第603部分:非接触(相移干涉显微)式仪器的标称特性。目的在于规定相移干涉法(PSI)轮廓和区域表面结构测量显微镜的计量特性。第604部分:非接触(相干扫描干涉)式仪器的标称特性。目的在于规定用于表面高度三维映射的相干扫描干涉(CSI)测量系统的计量特性第605部分:非接触(点自动对焦探针)式仪器的标称特性。目的在于规定使用点自动对焦探针测量表面结构的非接触式仪器的计量特性。第606部分:非接触(变焦)式仪器的标称特性。目的在于规定使用变焦(FV)传感器测量表面结构的非接触式仪器的设计与计量特性。IN
GB/T33523.603—2022/IS025178-603:2013第701部分:接触(触针)式仪器的校准与测量标准。目的在于规定区域法表面结构接触(触针)式仪器用作测量标准的实物量具的特性,残余误差的评定方法,校准、验收和周期检定的检测方法。
1范围
GB/T33523.603—2022/ISO25178-603:2013产品几何技术规范(GPS)
表面结构区域法
第603部分:非接触(相移干涉显微)式仪器的标称特性
本文件规定了相移干涉法(PSI)轮廓和区域表面结构测量显微镜的计量特性,2规范性引用文件
本文件没有规范性引用文件。
3术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。3.1与所有区域表面结构测量方法相关的术语和定义3.1.1
arealreference
区域基准
仪器的一个组成部分,它确定一个基准表面用于表面形貌测量。3.1.2
仪器坐标系
coordinatesystemoftheinstrument(,y,之)坐标轴的右手定则笛卡儿直角坐标系,其中:(r,y)是由仪器的区域基准构建的平面(注:有的光学仪器没有实际的区域导向基准);一对光学仪器而言,Z轴沿光轴方向且垂直于(,y)平面;对触针类仪器而言,Z轴位于触针轨迹平面内且垂直于(,y)平面。注1:通常对水平面内扫描的仪器而言,X轴是扫描轴,Y轴是步进轴注2:亦可参见“规范坐标系”[GB/T33523.2—2017,3.1.2]和\测量坐标系”[GB/T33523.6—2017,3.1.1]。见图1。
GB/T33523.603—2022/ISO25178-603:2013标引序号说明:
仪器坐标系;
测量回路。
图1仪器的坐标系和测量回路
各measurementloop
测量回路
个封闭链,包括连接被测工件和探头的全部单元,例如:定位工具、紧固夹具、测量底座、驱动单元、探测系统,
注:测量回路可能受外部和内部干扰而影响测量不确定度见图1。
工件的实际表面
real surface of a workpiece
实际存在并将整个工件与周围介质分开的要素集。注1:实际表面是表面的一种数学表达,其独立于测量过程注2:亦可参见“机械表面”[GB/T33523.2—2017,3.1.1.1或“电磁表面”[GB/T33523.2—2017,3.1.1.2]。注3:不同类型的光学仪器可采用不同的电磁表面。3.1.5
表面探头
surfaceprobe
测量过程中将表面高度转换为信号的器件。注:在早期标准中,它被称为“传感器”。3.1.6
空间测量范围
measuringvolume
由仪器三个坐标的测量极限范围限定的仪器测量范围。注:对区域法表面结构测量仪器而言,空间测量范围由X向和Y向驱动单元的运动范围和Z向探测系统的测量范围确定。
[来源:GB/T33523.601—2017,3.4.1]2
响应曲线
response curve
描述实际量与测得量之间函数关系的图形表示,GB/T33523.603—2022/ISO25178-603:2013注1:一个X(Y或Z)方向的实际量对应于一个测得量am(ym或2m)。注2:响应曲线可用于调整和误差修正。见图2。
标引序号说明:
1---—响应曲线;
2——用多项式近似法评定的响应曲线;3——测得量;
4—输人量。
图2非线性响应曲线示例
[来源:GB/T33523.601—2017,3.4.2,有修改3.1.8
amplification coefficient
放大倍数
由响应曲线(3.1.7)得到的线性回归曲线的斜率。见图3。
注1:X、Y、Z方向的量都会有适用的放大倍数注2:理想的响应是一条斜率等于1的直线,表示测得量等于实际量注3:亦可参见“测量系统灵敏度”[ISO/IEC指南99:2007,4.12]3
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