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GB/T 42025-2022

基本信息

标准号: GB/T 42025-2022

中文名称:智能制造 射频识别系统 超高频RFID系统性能测试方法

标准类别:国家标准(GB)

英文名称:Intelligent manufacturing—Radio frequency identification system—Test methods for UHF RFID system performance

标准状态:现行

发布日期:2022-10-12

实施日期:2023-05-01

出版语种:简体中文

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下载大小:8475332

相关标签: 智能 制造 射频 识别系统 超高频 RFID 系统 性能 测试方法

标准分类号

标准ICS号:信息技术、办公机械设备>>信息技术应用>>35.240.50信息技术在工业上的应用

中标分类号:电子元器件与信息技术>>电子测量与仪器>>L85电子测量与仪器综合

关联标准

出版信息

出版社:中国标准出版社

页数:28页

标准价格:49.0

相关单位信息

起草人:刘文莉、冯敬、王大庆、王立、管超、金学明、王文赫、时汉、陈柯、姚茜、周吉天白、张建平、冯进、王金龙、周立雄、孟毅、蒋宗清

起草单位:中国电子技术标准化研究院、北京中科佐迪克电子科技发展有限公司、广东中科臻恒信息技术有限公司、睿芯联科(北京)电子科技有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、重庆唯申科技有限公司、四川华大恒芯科技有限公司、爱康普科技(大连)有限公司、高新兴智联科技有限公司等

归口单位:全国信息技术标准化技术委员会(SAC/TC 28)

提出单位:全国信息技术标准化技术委员会(SAC/TC 28)

发布部门:国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会

标准简介

本文件描述了用于智能制造的超高频RFID的系统性能测试的一般方法。本文件适用于智能制造领域超高频RFID系统性能的测试。


标准图片预览






标准内容

ICS35.240.50
CCSL85
中华人民共和国国家标准
GB/T42025—2022
智能制造
射频识别系统
超高频RFID系统性能测试方法
Intelligent manufacturingRadio frequencyidentification system-TestmethodsforUHFRFIDsystemperformance2022-10-12发布
国家市场监督管理总局
国家标准化管理委员会
2023-05-01实施
规范性引用文件
术语和定义
符号和缩略语
般测试要求
测试项目选择
标准大气条件
预处理
默认允差
测量不确定度
识别测试
读写测试
通信参数
标签排列
长度采样步长
速度采样步长
移动方向
测试报告
读写器抗扰度
测试目的
测试布置
测试步骤
测试报告
密集型读写器互扰
测试目的
测试布置
测试步骤
测试报告
标签环境适应性·
测试目的
测试布置:
测试步骤
测试报告
堆垛标签性能
测试目的
GB/T42025—2022
GB/T42025—2022
测试布置
测试步骤·
测试报告
典型应用场景下的多标签访问能力10.1
测试目的
测试布置
测试步骤
测试报告此内容来自标准下载网
典型应用场景下的移动速度
测试目的
测试布置
测试步骤
测试报告
附录A(规范性)
附录B(资料性)
参考文献
典型应用场景
测试报告记录信息
GB/T42025—2022
创第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任本文件由全国信息技术标准化技术委员会(SAC/TC28)提出并归口本文件起草单位:中国电子技术标准化研究院、北京中科佐迪克电子科技发展有限公司、广东中科臻恒信息技术有限公司、睿芯联科(北京)电子科技有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、重庆唯申科技有限公司、四川华大恒芯科技有限公司、爱康普科技(大连)有限公司、高新兴智联科技有限公司、上海天臣射频技术有限公司、青岛海尔洗衣机有限公司、品冠物联科技有限公司。本文件主要起草人:刘文莉、冯敬、王大庆、王立、管超、金学明、王文赫、时汉、陈柯、姚茜、周吉天白、张建平、冯进、王金龙、周立雄、孟毅、蒋宗清。1范围
告射频识别系统
智能制造
超高频RFID系统性能测试方法
本文件描述了用于智能制造的超高频RFID的系统性能测试的一般方法。本文件适用于智能制造领域超高频RFID系统性能的测试2
规范性引用文件
GB/T42025—2022
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T17626.2—2018
GB/T17626.3—2016
GB/T17626.4—2018
GB/T17626.5—2019
GB/T17626.6—2017
GB/T17626.8—2006
GB/T17626.11—2008
GB/T29261.3—2012
电磁兼容
电磁兼容
电磁兼容
电磁兼容
电磁兼容
电磁兼容
电磁兼容
信息技术
试验和测量技术
试验和测量技术
试验和测量技术
试验和测量技术
试验和测量技术
试验和测量技术
试验和测量技术
静电放电抗扰度试验
射频电磁场辐射抗扰度试验
电快速瞬变脉冲群抗扰度试验
浪涌(冲击)抗扰度试验
射频场感应的传导骚扰抗扰度
工频磁场抗扰度试验
电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度自动识别和数据采集技术
词汇第3部分:射频识别
GB/T29768—2013
信息技术射频识别800/900MHz空中接口协议3术语和定义
GB/T29261.3一2012界定的以及下列术语和定义适用于本文件。3.1
读/写标签效率
read/write tag(s) efficiency单位时间(s)内成功读/写标签的次数3.2
tag read sensitivity
标签识读灵敏度
标签成功完成一系列命令所需的最小载波功率。3.3
标签反向散射功率
tagbackscatterpower
标签处于某一灵敏度水平时,成功完成一系列命令后返回的功率。符号和缩略语
下列符号和缩略语适用于本文件。1
GB/T42025—2022
D:标签几何中心与读写器天线之间的距离D.:读写器a天线与标签之间的距离D:读写器b天线与标签之间的距离D。:读写器天线之间的距离
RFID:射频识别(RadioFrequencyIdentification)UID:用户标签标识符(UserTagIdentifier)5一般测试要求
测试项目选择
本文件包含的测试项目分为实验室环境下的基础性能测试以及现场环境下的应用性能测试两大类。
基础性能测试采用测试仪器对标签或读写器进行测试,得出标签或读写器的性能参数,具体包含以下测试项目:
读写器抗扰度;
一标签环境适应性;
一堆垛标签性能
应用性能测试采用标签和读写器进行互测,得出整体系统的性能参数,具体包含以下测试项目:密集读写器互扰;
堆垛标签性能;
—典型应用场景下的多标签访问能力;一典型应用场景下的移动速度。5.2
标准大气条件
除非另有规定,应在下列标准大气条件下进行测试a
温度:15℃~35℃;
相对湿度:25%75%;
大气压86kPa~106kPa
3预处理
测试对象应在测试环境中存放24h后再进行测试。5.4
默认允差
除非另有规定,所给出量值的默认允差为士5%。5.5
测量不确定度
应对测量结果进行不确定度分析。识别测试
测试过程中以读写器获取标签UID为准。读写测试
测试数据采用0xAA和0x55分别进行。除非另有要求,读写操作对标签用户区第一个地址和最后一个地址进行。如对其他存储地址进行测试,应在测试记录中注明。测量时标签宜粘接于与其匹配的2
GB/T42025—2022
介质材料上,且在测试记录中注明介质材料。若测量时将标签置于周围分布有干扰物体的环境下,在测试记录中应注明干扰物体的位置、排列等。5.8通信参数
测试过程中应依据GB/T29768一2013对测试对象的通信参数进行配置。5.9
标签排列
当采用两个以上的标签进行测试时,这组标签构成标签群。标签群的儿何排列可以是一维、二维和三维,分别见图1、图2和图3。在规定的几何排列中标签的间距应是一致的。标签的间距应是相邻标签几何中心之间的距离。标签的最小间距应不小于标签天线长度最大值的2倍。图1一维标签排列
图2二维标签排列
图3三维标签排列
GB/T42025—2022
长度采样步长
距离和范围测试应对系统的识别过程、读数据过程和写数据过程分别进行。为了控制采样点的数量,缩短测试时间,可对不同的系统选取合适的采样步长,参考数值见表1。表1
标签与读写器天线之间的距离(D)D≤5cm
5cm20cm1m速度采样步长
采样步长
参考步长值
移动速度测试应对系统的识别过程、读数据过程和写数据过程分别进行。为了控制采样点的数量,缩短测试时间,可对不同的系统选取合适的速度初始值和速度步长值,参考数值见表2。表2
速度初始值(建议)
移动方向
速度初始值和步长值
参考速度步长值
标签几何中心的原始位置与读写器天线的相对运动方向定义如图4所示,本文件采用X、Y、Z三个方向作为特征测试方向。对于实际应用场景中的不规则方向,可根据应用需要采用合适的运动方向。防向车
标签儿何中心的
原始位置
读写器
测试报告
测试报告应至少包括如下信息:4
标签移动方向示意图
测试环境:测试地点、温度、湿度、大气压等;b)
标签:标签UID等;
读写器:读写器型号、天线特性、通信协议等;测试结果:测试数值;
附加说明:标签数量、标签群排列形式、标签方向和贴附材料等。读写器抗扰度
测试目的
GB/T42025—2022
本测试规定了在工业环境中的连续、暂态、传导和辐射骚扰以及包括静电放电情况下工作的读写器的抗扰度试验要求。
6.2测试布置
受试设备(EUT)应在符合正常使用的最敏感的工作方式下进行试验。应变动受试设备的布置以获得与典型使用和实际装置一致的最大敏感度如果设备是系统的一部分,或者可以连接辅助设备,那么设备在进行试验时应连接数量最少且有代表性的辅助设备。
如果制造商的技术规范特别要求外部保护装置或措施,并已在用户使用手册中明确做出规定,则应在具有外部保护装置或措施的情况下进行试验试验期间的布置和工况都应准确地记录在试验报告中。对设备的每一项功能未必都能进行试验,在这种情况下,要选择最关键的工况来试验。如果设备有许多类似的端口,或许多端口有类似的连接,那么应选择足够数量的端口来模拟实际工作状态,以保证涉及所有不同类型的终端应在产品规定的温度、湿度和气压范围内,以额定电源电压进行试验,除非基础标准另有规定。读写器抗扰度试验布置如图5所示。外壳端口
信号端口
功能接地端口
6.3测试步骤
本项测试的步骤如下。
读写器抗扰度试验布置
被测样品在测试前应保证功能和性能正常b)
在无干扰状态下测量被测设备读写标签的效率。c)
AC电源端口
IXC电源端口
被测设备处于连续读写标签状态,按照表3、表4、表5、表6和表7测试要求进行测试,试验应以单个的试验依次逐项进行,试验顺序是任意的。测量试验期间被测设备的读/写标签效率。试验结束后,测量被测设备读/写标签效率。d)
计算被测设备读/写标签效率的变化范围。5
GB/T42025—2022
环境现象
工频磁场
射频调幅电磁场
接触放电
静电放电
空气放电
测试要求
80~1000
80%AM(1kHz)
土4(充电电压)
土8(充电电压)
外壳端口抗扰度试验
只应用于设备中包含有对磁场敏感的装置。遵循标准
GB/T17626.82006
GB/T17626.32016
GB/T17626.2—2018
应该在适当的供电频
率下进行试验,当打
算只在具有其中一个
频率供电的区域中使
用设备时,则仅对该
频率进行试验
规定的试验值是未调
制的载波的有效值
接触放电适用于导
体外壳,空气放电适
用于绝缘体外壳
附加性
能判据
附加性能判据为A:在试验期间和试验之后,设备应能按预定方式连续运行。当设备按预定方式使用时,其性能降低或功能丧失不应低于无干扰的正常读写效率的50%。附加性能判据为B在试验之后,设备应能按预定方式连续运行。当设备按预定方式使用时,其性能降低或功能丧失不应低于无干扰的正常读写效率的50%。在试验期间,允许性能降低,但实际工作状态或存储的数据不允许改变。
环境现象
射频共模
快速瞬变
浪涌(冲击)
测试要求
80%AM(1kHz)
土1(充电电压)
5/50(T./T.)
5(重复频率)
1.2/50(8/20)(T./T)
土1(开路电压)
信号端口抗扰度试验
遵循标准
GB/T17626.6—2017
GB/T17626.4—2018
GB/T17626.5—2019
试验值也可以按注人150负载的等效电流来确定。注释
规定的试验值是未
调制的载波的有
使用容性藕合夹
仅适用于连接有电缆地端口,根据制造商地功能技术规范,那些电缆的总长度可超过3m。仅适用于连接有电缆地端口,根据制造商地功能技术规范.那些电缆的总长度可超过30m。附加性
能判据
附加性能判据为A:在试验期间和试验之后,设备应能按预定方式连续运行。当设备按预定方式使用时,其性能降低或功能丧失不应低于无干扰的正常读写效率的50%。附加性能判据为B:在试验之后,设备应能按预定方式连续运行。当设备按预定方式使用时,其性能降低或功能表失不应低于无干扰的正常读写效率的50%。在试验期间,允许性能降低,但实际工作状态或存储的数据不允许改变。
环境现象
射频共模
快速瞬变
浪涌(冲击)
线-地
线-线
直流电源输入、输出抗扰度试验表5
测试要求
80%AM(1kHz)
土2(充电电压)
5/50(T./T)
5(重复频率)
1.2/50(8/20)(T./T)
土0.5(开路电压)
士0.5(开路电压)
试验值也可以按注人150Q负载的等效电流来确定。遵循标准
GB/T17626.6—2017
GB/T17626.4—2018
GB/T17626.5—2019
GB/T42025—2022
规定的试验值是未
调制的载波的有
附加性
能判据
适用于打算与蓄电池或者充电时应从设备移开或断开的充电电池相连接的输入端口对打算与交直流电源适配器一起使用的带有直流输人端口的设备,应对制造商规定的交直流电源适配器的交流电源输人端口进行试验,而在没有做这样规定的地方,使用一个典型的交一直流电源适配器。本测试不适用于打算长度小于10m的电缆固定连接的直流电源输入端口附加件性能判据为A在试验期间和试验之后,设备应能按预定方式连续运行。当设备按预定方式使用时,其性能降低或功能丧失不应低于无干扰的正常读写效率的50%。附加件性能判据为B:在试验之后,设备应能按预定方式连续运行。当设备按预定方式使用时,其性能降低或在试验期间,允许性能降低,但实际工作状态或存储的数功能丧失不应低于无干扰的正常读写效率的50%。据不允许改变
环境现象
射频共模
快速瞬变
浪涌(冲击)
线-地
线-线
电压暂降
测试要求
80%AM(1kHz)
±2(充电电压)
5/50(T./T)
5(重复频率)
交流电源输入、输出抗扰度试验单位
1.2/50(8/20)(T./T,)
土2(开路电压)
土1(开路电压)
30(减少)
0.5(周期)
60(减少)
5(周期)
60(减少)
50(周期)
遵循标准
GB/T17626.6
GB/T17626.4
GB/T17626.5
GB/T17626.11
规定的试验值是未
调制的载波的有
见GB/T17626.5
2019第5章第3段
电压在过零处变动
附加性
能判据
对0.5个
对5个和
50个周期
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